Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
Jesús Julián Barrón Moreno, Rebeca Vega Escamilla
La técnica para formar una imagen
topográfica en escalas de micras fue
desarrollada por Gerd Binning y
Heinrich Rohrer. Ambos fueron
galardonados con el premio Nobel de
física en el año 1986 por sus avances
en la microscopía efecto túnel.
Técnicas SPM
La Microscopía de sonda de barrido
consiste en cualquier técnica de
medida basada en una interacción
muy cercana entre una punta y la
muestra. Esta técnica tiene el
principio básico de que cuando las
moléculas de la punta interactúan con
la muestra, entonces habrá una
interacción molecular o eléctrica que
hará posible medir la topografía en Z
de la muestra.
Las técnicas SPM se dividen en dos
categorías:
STM, Microscopía de efecto túnel
AFM, Microscopía de fuerza atómica
Microscopía de efecto túnel (STM)
El STM se basa en interacciones y
migraciones electrónicas entre la
punta y la muestra. Se utiliza una
punta conductora, la cual, al
acercarse 10 A a la muestra, los
electrones más superficiales de esta
última se desprenderán y migrarán a
la punta, formando un túnel de
transporte de electrones. La
superficie de la muestra se mide a
partir de la densidad electrónica que
despide a la punta. 
Esta técnica debe trabajarse sobre
muy buenos conductores y no
funciona para muestras aislantes. Así
mismo es recomendable trabajarse
en vacío para evitar contaminación
electrostática. PDF AFM
Microscopía de fuerza atómica
Como su nombre lo indica, esta
técnica de microscopía se basa en
las interacciones y las fuerzas de
atracción y repulsión atómicas que se
dan entre los átomos de la muestra y
la punta. (Binnig et al.m 1986) (fig.1)
Hay una atracción y repulsión a
escalas nanométricas entre las
superficies de la punta y la muestra,
siendo que cuando la punta está muy
cerca, “tocando” la muestra, entonces
los electrones de la muestra repelen
los electrones de la punta
ocasionando una flexión en el
cantilever.
Existen varias fuerzas
intermoleculares responsables de la
repulsión y atracción de las
moléculas, las que actúan
principalmente son las fuerzas de van
der Waals. La punta ejerce una
fuerza sobre la muestra, la cual es la moverá hacia arriba o hacia abajo,
suma de la fuerza que hay por dependiendo del ángulo debido a la
capilaridad en una superficie líquida y flexión del cantilever. Se irán
la fuerza de flexión que tiene el registrando los cambios en Z y una
cantilever; esta fuerza debe estar en vez que se barrió toda la muestra en
equilibrio con las fuerzas de repulsión XY entonces se pasará a una
de la muestra hacia la punta.  computadora donde mostrará un
mapa topográfico de la muestra, en
Se utiliza una muestra pequeña, de tres dimensiones.
aproximadamente 200 micrómetros (Baselt, 2002)
por lado, luego la altura de la muestra
debe ser finísima, siendo un máximo
de 10 a 15 micras. La resolución más
alta que puede llegar a tener la AFM
convencional es de 2 A por lado y 0.1
A por altura, es decir, niveles
atómicos y subatómicos.

Una vez que la muestra está

preparada se acerca la punta y este
comienza a hacer un “rastro” o
escanear la superficie como
barriéndola, esto parecido a otras Figura 1. Funcionamiento del microscopio de
fuerza atómica
técnicas como la Microscopía
confocal o la Microscopía electrónica
Partes del Microscopio de fuerza
de barrido. Luego, a medida que la
atómica
punta barre la muestra, el cantilever
Sensores de flexión: La mayoría de
se irá flexionando y regresando a su
las micropalancas de este tipo de
posición normal; esta flexión de tan
microscopio se fabrican con una
poca magnitud se verá reflejada
finísima capa de oro de apenas unos
luego sobre un fotodetector. Un láser
nanómetros de espesor para
incide sobre la superficie del
optimizar la reflectancia del haz de
cantilever y refleja su haz sobre un
láser.
Fotodiodo sensible a la posición (por
Modos comunes en la AFM
sus siglas en inglés, Position-
Punta: Es uno de los componentes
sensitive photodetector o PSPD), se
más importante del miscroscopio ya
forma un ángulo y hay una distancia
que la agudeza de la punta
entre el cantilever y el fotodetector
determinará el poder de resolución
que si es muy grande puede
del equipo y suelen ser de nitruro de
ocasionar ruido y contaminación. El
silicio o de silicio (fig.1). Las puntas
haz que incide sobre el PSPD se
de nitruro de silicio generalmente se
emplean en el modo de contacto,
mientras que las de silicio, son las
más ampliamente empleadas tanto
para el modo de contacto intermitente
o “tapping” como para la mayoría de
las aplicaciones de la microscopía de
fuerza atómica. En el mercado se
encuentran disponibles una gran
variedad de puntas con distintas
constantes de fuerza, frecuencias de
resonancia, recubrimientos
superficiales, longitud de la punta,
espesor.
Figura 2. Punta de silicio empleada en AFM
Modos de operación
Modo de contacto
Es la forma más simple del AFM. La
punta está constantemente tocando
la muestra sin despegarse, ejerce
una fuerza muy pequeña, de entre
10-8 N y 10-7 – 10-6 N. A medida que
se barre la muestra el cantilever se
mantiene fijo, pero si la muestra
presenta una precipitación o un pico,
entonces el cantilever se flexiona
dando lugar a la formación de
imagen. Este modo mantiene una
fuerza constante ejercida sobre la
muestra, pero puede llegar a dañarla;
así mismo es bastante preciso y mide
la topografía de la muestra a nivel
molecular. Puede dañarse la punta,
se pueden arrastrar partículas que
intervengan en la formación e
interpretación de la imagen y la carga
electrostática de la superficie
interviene. (Fig.3)
Modo de no-contacto
El cantilever vibra sin tocar la
muestra, dando una distancia de
entre 10 y 100 A. La fuerza que
ejerce la punta sobre la muestra es
muy baja (10-12 N) y no llega a dañar
la superficie. La sensibilidad de esta
medición depende de la frecuencia de
resonancia del cantilever, esta se
modifica al acercarse lo suficiente a la
muestra sin llegar a tocarla. 
Con este modo se pueden medir
fuerzas electrostáticas y magnéticas,
pero es menos precisa y no se puede
trabajar en líquidos pues las gotas
intervienen con la topografía de la
muestra.
Modo de interacción intermitente
(Tapping mode)
En este modo la punta sí toca la
muestra, pero a intervalos de
tiempocortos y repetidos, haciendo
una intermitencia rápida. Este modo
no presenta intervenciones laterales y
la resolución topográfica corrige
algunos errores de los otros modos.
La muestra no se daña y la resolución
de este modo es tan alto como el
modo contacto. Como desventajas
tiene que no se puede trabajar en
medio líquido y los barridos son muy
lentos. («TEMA 9: Microscopia de
Efecto Túnel y Fuerza Atómica», s. f.)
Figura 3. Modos de operación; contacto, no
contacto e intermitente respectivamente
Existen otros modos para la
Microscopía de fuerza atómica, tales
como:
 Medida de fuerzas magnéticas
(Magnetic force microscopy,
MFM)
 Medida de fuerzas eléctricas
(Electric force microscopy,
EFM)
 Medida de potencial de
superficie (SPM)
 Medida de fuerzas quìmicas
(QPM)
Estas se basan en modificaciones del
AFM tradicional añadiendo un
potencial de voltaje a la punta,
provocando una diferencia de
potencial en la muestra... El AFM
puede determinar la fuerza de
adhesión entre partículas, así como
determinar qué tan rígido o elástico
es el material.
 
Aplicaciones
Esta técnica es generalmente
utilizada en el análisis de nano-
materiales, ya que, a diferencia de un
microscopio electrónico, no requiere
trabajar en condiciones de vacío, la
muestra no requiere una preparación
sofisticada y tampoco es necesario
que sea conductora, estas
características amplían el rango de
materiales que es posible analizar. Se
utiliza en campos como biología,
materiales, ciencias ambientales, se
pueden llevar a cabo análisis sobre
muestras sólidas, polvos, películas
delgadas, muestras biológicas, sin
embargo, la muestra debe ser lo más
plana y homogénea posible. No es
posible hacer análisis de gases.
Referencias
-Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C.
(1986). Atomic Force Microscope.
Physical Review Letters, 56(9), 930–
933. doi:10.1103/physrevlett.56.930
-Baselt, D. (2002, septiembre 2). How
AFM works. Recuperado 19 de mayo
de 2020, de
https://web.archive.org/web/20060902
070140/http://stm2.nrl.navy.mil:80/
how-afm/how-afm.html
-TEMA 9: Microscopia de Efecto
Túnel y Fuerza Atómica. (s. f.).
Recuperado 19 de mayo de 2020, de
http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTe
ma9.pdf
-Oncins, G. & Díaz, J.. (2015).
Microscopía de Fuerzas Atómica.
mayo, 13 2020, de Reserchgate.net
Sitio web:
file:///C:/Users/perse/Downloads/AFM
captulo.pdf
-Peña, A.. (2005). Microscopio de
Fuerza atómica. mayo, 13 2020, de
LINAN Sitio web: http://www.linan-
ipicyt.mx/Microscopio_de_Fuerza_Ato
mica.html