Cartas de Control

para atributos
 Cartas de control para atributos
Datos de Atributos
Tipo Medición ¿Tamaño de Muestra ?
p Fracción de partes defectuosas, Constante o variable > 30
defectivas o no conformes

np Número de partes defectuosas Constante > 30

c Número de defectos Constante = 1 Unidad de

inspección

u Número de defectos por unidad Constante o variable en

unidades de inspección
 Cartas de control para Atributos
Situaciones fuera de control
 Un punto fuera de los límites de control.
 Siete puntos consecutivos en un mismo lado de de la línea central.
 Siete puntos consecutivos, todos aumentando o disminuyendo.
 Catorce puntos consecutivos, alternando hacia arriba y hacia abajo.

Carta C
C Chart for Pitted S
15
Límite Superior de Control
1

3.0SL=12.76
Sample Count

10

Línea Central
C=5.640
5

0
Límite Interior de Control
-3.0SL=0.000

0 5 10 15 20 25

Sam pl e Num ber

Número de Muestras

Ahora, veamos algunos ejemplos...

3
 Carta p (Atributos)

 También se llaman Cartas de Porcentaje Defectivo o Fracción

Defectiva
 Monitorea el % de defectos o fracción defectiva en una muestra
 El tamaño de muestra (n) puede variar
 Recalcula los límites de control cada vez que (n) cambia

Terminología
n = tamaño de cada muestra (por ejemplo, producción
semanal)
np = número de unidades defectuosas en cada muestra
p = proporción (porcentaje) de defectos en cada muestra -
(fracción defectiva)
k = número de muestras
4
 Carta p (Atributos)

np # de productos defectivos en cada muestra

pi = =
ni # de productos inspeccionados en la muestra
Cálculo de los límites de control

n1 p1 + n2p2 + n3 p3 + ...+ nk pk Fracción defectiva

p =
n1 + n2 + n3 + ... + nk promedio

p (1- p) p (1- p)
LSC = p + 3 LIC = p - 3
n n

Nota: Recalcular los límites en cada

muestra (ni) si n es variable 5
 Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspección final. Los datos de falla se
registraron semanalmente tal como se muestra a continuación.

n np p
# de Fracción de
componentes Componentes componentes
inspeccionados defectuosos defectuosos

7 0 0.000
7 0 0.000
K = 13 semanas 15 2 0.133
14 2 0.143
48 6 0.125
22 0 0.000
18 6 0.333
7 0 0.000
14 1 0.071
9 0 0.000
14 2 0.143
12 2 0.167
8 1 0.125

6
 ...Carta p (Cont..)
Ejemplo:
Gráfica P para Fracción Defectiva
0.5

0.4
3.0SL= 0.4484 LSC
Proporci

0.3
ón

0.2

0.1 P= 0.1128 p
0.0 -3.0SL= 0.000
LIC
0 5 10
Número de muestra

 Observe como el LSC varía conforme el tamaño (n) de cada muestra varía.
 ¿Por qué el LIC es siempre cero?
 ¿Qué pasó en la muestra 7? (33.3% defectos)
 ¿Qué oportunidades para mejorar existen?,
¿Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10?
 ¿Podría este proceso ser un buen proyecto de mejora?
7
 ... Carta np (Atributos)

 Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo,

pasa/no pasa.
 Monitorea el número de productos defectuosos de una
muestra
 El tamaño de muestra (n) es constante y mayor a 30.

Terminología (igual a gráfica p, aunque n es constante)

n = tamaño de cada muestra (Ejemplo: producción semanal)
np = número de unidades defectuosas en cada muestra
k = número de muestras

8
 ...Carta np (Atributos)

np = # de productos defectuosos en una muestra

n = tamaño de la muestra
k = Número de muestras o subgrupos
p = Suma de productos defectuosos / Total inspeccionado
Total inspeccionado = n * k

Cálculo de los límites de control

n p1 + np2 + n p3 + ...+ npk
np = k

LSC = np + 3 np (1-p) LIC = np - 3 np (1-p)

9
 ...Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000
partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
n np
# de partes
# de partes inspeccionadas defectuosas
4000 2
4000 3
4000 3
4000 2
4000 4
4000 2
4000 3
4000 3
4000 6
4000 8
4000 3
4000 4
4000 4
4000 7
4000 6
K=15 lotes 10
 ... Carta np (Cont...)
Ejemplo 1:

Carta np de número de defectivos o defectuosos

10 3.0 LSC=10.03
No. De fecetivos

5
Np =4.018 np

0 - 3.0S LIC=0.0 LIC

0 5 10 15
Número de muestras

 El tamaño de la muestra (n) es constante

 Los límites de control LSC y LIC son constantes

 Esta carta facilita el control por el operador ya que el evita

hacer cálculos 11
 ... Carta c (Atributos)

 Monitorea el número de defectos por cada unidad de inspección

(1000 metros de tela, 200 m2 de material, un TV)
 El tamaño de la muestra (n unidades de inspección) debe ser
constante
 Ejemplos:
- Número de defectos en cada pieza
- Número de cantidades ordenadas incorrectas en órdenes
de compra
Terminología
c = Número de defectos encontrados en cada
unidad o unidades constantes de inspección
k = número de muestras
12
 ... Carta c (Atributos)

Cálculo de los límites de control

c1 + c2 + c3 + ...+ ck
c=
k

LSC = c + 3 c LIC = c - 3 c

13
 ... Carta c (cont..)
Ejemplo: Se inspeccionaron 20 hojas de un nuevo papel de regalo buscando
defectos. Los resultados se observan a continuación.

No. Lote No. Def No. Lote No. Def c1 + c2 + c3 + ...+ ck

1 5 11 3 c=
2 4 12 15
k
152
3 3 13 10 c=
4 5 14 8 20
5 16 15 4
6 1 16 2
7 8 17 10
8 9 18 12
LSC = 7.6 + 3 (2.757) = 15.87
9 9 19 7
10 4 20 17 LSI = 7.6 - 3 (2.757) = -0.67

14
 Attribute (c) Chart Number of defects
Lower control limit
Upper control limit
Center line

18

16
Number of defects

14

12

10

0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29 31 33 35 37 39 41 43 45 47 49

Sample number

 Observe el valor de la última muestra; está fuera del límite

superior de control (LSC)
 ¿Qué información, anterior a la última muestra, debió haber
obviado el hecho de que el proceso iba a salir de control?
 ...Carta u (Atributos)

 Monitorea el número de defectos en una muestra de n unidades

de inspección. El tamaño de la muestra (n) puede variar
 Los defectos por unidad se determinan dividiendo el número de
defectos encontrados en la muestra entre el número de unidades
de inspección incluidas en la muestra (DPU o número de
defectos por unidad) .

 Ejemplos:
• Se toma una muestra de tamaño constante de tableros por
semana, identificando defectos visuales por tablero.

• Se inspeccionan aparatos de TV por turno, se determinan los

defectos por TV promedio.
16
 ... Carta u (cont...)

Terminología
n = tamaño de cada muestra en unidades de inspección
(por ejemplo, producción semanal)
c = Número de defectos encontrados en cada muestra
de unidades de inspección
u = defectos por unidad (DPU)
k = número de muestras
c = # de defectos en una muestra de n unidades de
inspección
n = Número de unidades de inspección en cada muestra
u = c / n = DPU = Número de defectos por unidad
17
 ... Carta u (cont...)

Ui = Ci / ni Defectos por unidad para cada muestra

Cálculo de los límites de control

c1 + c2 + c3 + ...+ ck Número de defectos por
u=
n1 + n2 + n3 + ...+ nk Unidad promedio

LSC = u + 3 u LIC = u - 3 u
ni ni
Nota: Recalcular los límites en cada tamaño de muestra (ni)
Se puede tomar n promedio o estandarizar para tener Límites de control
constantes
18
 ... Carta u (cont..)
Ejemplo 1: Un proceso de soldadura suelda 50 PCBs por semana
Los defectos visuales observados se registran
cada semana.
n c u
Defectos
# PCB Visuales
Soldados Observados DPU
50 305 6.1
50 200 4.0
50 210 4.2
50 102 2.0
50 198 4.0
50 167 3.3
50 187 3.7
50 210 4.2
50 225 4.5
50 247 4.9
50 252 5.0
50 215 4.3
k=12 semanas
19
 ... Carta u (Cont.)
Ejemplo 1:

Gráfica U para Defectos

Conteo de muestras

1
6

5
LSC
3.0L SC= 5.066

4
U = 4.197 u
-3.0L IC=3.328
3
LIC
2 1
0 5 10
Número de Muestras

 Observe como los límites de control permanecen constantes

cuando se utiliza un tamaño de muestra constante igual a 50
 ¿Cuáles son las dos observaciones de mayor interés?
 ¿Los datos muestran alguna tendencia?
20
 ... Carta u (cont...)
Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios
lotes de productos registrados por semana
Lote n c = Defectos u = DPU
Lote Unidade s De fe ctos DPU
1 10 60 6
2 12 75 6.3
3 7 42 6
4 14 77 5.5
5 12 69 5.8
6 12 72 6
7 13 76 5.8
8 10 55 5.5
9 9 51 5.7
10 14 78 5.6
11 13 72 5.5
12 13 77 5.9
13 12 74 6.2
14 10 57 5.7
15 11 62 5.6
16 13 41 3.2
17 11 30 2.7
18 15 45 3
19 15 42 2.8
20 14 40 2.9

k=20 semanas
21
 ... Carta u (cont..)
Ejemplo 2:

Gráfica U para Defectos

Número de efectos

7 3.0L SC
=6.768
LSC
6

5 U=4.979 u
4
-3.0L IC=3.190
3 LIC
2
0 10 20
Número de Muestras

 Observe que ambos límites de control varían cuando el

tamaño de muestra (n) cambia.

 ¿En que momentos estuvo el proceso fuera de control?

22
Gráfica de Control por Atributos

Resumen

Gráfica de
Control
de Atributos

Piezas Defectos por

Defectuosas pieza

Gráfica p Gráfica np Gráfica u Gráfica c

Gráfica de Control por Atributos

Gráficas de Control por Atributo

Tamaño de
Tipo Data Formula CL UCL LCL
Muestra

Piezas
p defectuosas Varia p=np/n p=Σnp/Σn p+3√p(1-P)/√n p-3√p(1-P)/√n
n=Σn/k

Piezas
np defectuosas Constante p=np/n np=Σnp/k np+3√np(1-P) np-3√np(1-P)

Defectos por
c Pieza Constante c c=Σc/k c+3√c c-3√c

Defectos por
u Pieza Varia u=c/n u=Σc/Σn u+3√u/√n u-3√u/√n
Etapas del Control Estadístico de Procesos

Etapa 1:
Ajuste del
Control proceso
estadístico

Etapa 2:
Control del
proceso
Etapa 1: Ajuste del proceso
Se recogen unas 100-200 mediciones y se realiza un
gráfico de control.

a) Proceso bajo control: se adoptan los límites de control.

b) Pocos puntos fuera de control (2 o 3):se eliminan y se

calculan nuevos límites.

c) Observaciones no siguen un patrón aleatorio,

investigar, eliminar causas asignables y comenzar
nuevamente el proceso de ajuste
Etapa 2: Control del proceso

Nuevas observaciones del proceso productivo, se

registran en gráficos de control con los límites
establecidos en la etapa 1.

Si el proceso se sale de control, se detiene y se

investigan las causas. Eliminada la causa del
problema se continua la producción.
Clasificación de los métodos estadísticos de C.C.

Métodos Estadísticos de
Control de Calidad

Control Estadístico de Procesos Muestreo de Aceptación

(gráficos de control) (planes de muestreo)

Atributos Variables Atributos Variables