Microscopia de fuerza atmica
Atomic force microscopy.
Autor: Daniel Restrepo Tangarife
Fsica moderna, Universidad Tecnolgica de Pereira, Colombia
Correo-e: danielr@utp.edu.co
Resumen El microscopio de fuerza atmica es una
herramienta para el estudio de la materia a micro y
nano escala. El AFM se puede utilizar en condiciones
ambientales, aire, lquido y en el vaco sin restriccin
adems de que la muestra a estudiar sea conductora
elctrica. Su funcionamiento bsicamente consiste en
medir cambios en la magnitud de la interaccin
entre la punta (sonda) del microscopio y la
superficie de la muestra. Esta punta es ultra fina, e
interacciona de varias maneras con la muestra,
haciendo contacto con ella (Contact mode), teniendo
un contacto intermitente (Tapping mode) o sin hacer
contacto (Noncontact mode).
La finalidad es esta artculo de sntesis es detallar los
mtodos ms comunes de AFM, as como sus
aplicaciones.
Palabras clave Fuerza Atmica, sonda, resolucin.
AbstractThe atomic force microscope is a tool for
the study of matter at micro and nano scale. The
AFM can be used in ambient, air, liquid and vacuum
conditions without restriction in addition to the
sample being studied is electrically conductive. Its
operation basically consists of measuring changes in
the magnitude of the interaction between the tip
(probe) of the microscope and the surface of the
sample. This tip is ultrafine, and it interacts in
several ways with the sample, making contact with it
(contact mode), having an intermittent contact
(Tapping mode) or non-contact (Non-contact mode).
The purpose is this summary article is to detail the
most common AFM methods as well as their
applications.
Key Words Atomic force, probe, resolution
Cdigo: 1088030205
I. INTRODUCCIN:
Un nanmetro es una milmillonsima parte de un
metro, que es la escala de longitud donde las
fuerzas intermoleculares y los efectos cunticos
toman lugar. El microscopio de fuerza atmica a
diferencia de otras tcnicas de obtencin de
imgenes no utiliza ondas electromagnticas (ms
especficamente la luz) para la obtencin de
imgenes [1].
En comparacin los microscopios pticos que
tienen una resolucin de 200nm (limitados
fsicamente ya que la longitud de onda de la luz es
de 400-700 nm) los microscopios de fuerza ptica
tienen una resolucin de menos de 1 nm, y la
pantalla de visualizacin permite distinguir detalles
en la superficie de la muestra con una amplificacin
de varios millones de veces [2].
El AFM es una de las varias tcnicas llamadas SPM
(Scanning Probe Microscopes), adems de ser la
extensin ms directa del microscopio de efecto
tnel y es especialmente til en el estudio de
superficies de materiales no conductores[2-3], ya
que dadas sus capacidades se ha convertido en un
gran mtodo para visualizar sus caractersticas
microscpicas y difractomtricas[4].
Todo esto conlleva a que la microscopia de fuerza
atmica se est utilizando para estudiar materiales y
dar respuesta a problemas sobre como procesar
fsica o qumicamente dichos materiales [5].
 El cantilver suele tener dos movimientos bsicos,
movimiento normal y lateral, que corresponden a
II. CONTENIDO los cambios ocurridos en el reflejo del lser [2-8].

A. FUNCIONAMIENTO DE UN
MICROSCOPIO DE FUERZA
ATMICA:

De manera muy generalizada, un AFM consta de

pocas partes, un fotodetector, un lser, un
cantilver, la punta o sonda y un procesador de
datos [6].

Fig.2 Movimientos bsicos del cantilver

Gracias a que el tamao de a punta es tan

Fig.1 AFM esquema generalizado.
La microscopia AFM sondea la superficie de una
muestra con una punta muy aguda, de un par de
micras de largo y menos de 100 de dimetro
que se adjunta a un cantilver, es posible medir la
fuerza de interaccin entre la punta y la muestra a
travs de la flexin de dicho cantilver [7].
El primer AFM se hizo pegando de manera muy
meticulosa, una pequesima punta de diamante al
final de una pequea tira de papel de oro. Al final
de 1985 Gerd Binning y Christoph Gerber
utilizaron el cantilver para examinar superficies
aislantes. Un pequeo gancho al final del
cantilver se presion contra la superficie
mientras la muestra fue escaneada por debajo de
la punta.
La fuerza entre la punta y la muestra fue medida
siguiendo la deflexin del cantilver pudiendo
delinear caractersticas tan pequeas como 300
(30 nm) [3].
pequeo, puede interactuar con fuerzas atmicas
repulsivas y atractivas.
A estas fuerzas se les denominan fuerzas de Van
der Waals, son fuerzas de estabilizacin molecular
(dan estabilidad a la unin entre varias
molculas), tambin conocidas como atracciones
intermoleculares o de largo alcance [9].
Son fuerzas ms dbiles que las internas que unen
la molcula ya que dependen exclusivamente del
tamao y forma de la molcula pudiendo ser de
atraccin o de repulsin. Son tan dbiles que no se
las puede considerar un enlace, como el enlace
covalente o inico, solo se las considera una
atraccin. Todas las fuerzas de van der Waals son
cohesivas y varan con respecto a la distancia
como 1/r6 [10-11].

Por encima de la sonda (que suele medir entre 100

a 200 micras) se encuentra la fuente de rayo lser
apuntando hacia la parte trasera de la punta donde
va a ser reflejado y recibido por el fotodetector.
Fig.3 Curva tpica Fuerza distancia (Fuerzas Van der Waals)
B. MODOS DE FUNCIONAMIENTO DEL
AFM:
Fig.4 Modos de funcionamiento del AFM.
En un AFM, se distinguen tres modos de
operacin bsicos que son el modo de contacto,
contacto intermitente o tapping y no-contacto.
Donde el modo de contacto es considerado como
esttico, y el de tapping y no- contacto como
dinmicos.
CONTACTO:
En este modo de operacin el cantilver, pero ms
especficamente la punta barre la muestra,
aplicando una fuerza constante relacionada como
F = - k D, donde Fes la fuerza aplicada, k es la
constante de fuerza del cantilver y D la
deflexin; este movimiento permite tomar una
imagen topogrfica vertical, tambin llamada
imagen de alturas [4-12].
Por consiguiente la deflexin D es constante como
la fuerza.
Fig.5 AFM modo contacto
CONTACTO INTERMITENTE:
Este y los dems mtodos dinmicos del AFM
surgieron a partir de los fallos y carencias que se
presentaban en el AFM de contacto. El modo
intermitente o tapping fue ideado con el propsito
de hacer que la sonda estuviera oscilando,
reduciendo as la interaccin con la muestra.
Claramente esto representaba unos esfuerzos
tcnicos y tecnolgicos mucho mayores, pero
evitando gastar daar la punta y la muestra [13].
Adems al ser llevada esta solucin a la realidad
pueden verse an ms comprometida la estructura
fsica del AFM si no se hace correctamente, ya
que al estar oscilando la sonda la medicin es
estable siempre y cuando la fuerza de restauracin
de la micropalanca (Elemento que controla las
oscilaciones) sea mayor a la fuerza atractiva entre
la punta y la muestra [14].
En resumen este mtodo ofrece ventajas con
respecto al mtodo de contacto. Una de ellas es
que el movimiento de la punta es sensible tanto a
fuerzas como a gradientes de fuerzas. En el caso
del mtodo de contacto las fuerzas requeridas para
obtener una seal estable podra involucrar algn
tipo de dao tanto en la punta como en la muestra
lo que no permitir la toma de imgenes de alta
resolucin, algo que no ocurre en el mtodo de
contacto intermitente[15].
Fig.6 AFM modo tapping
El mtodo de tapping es el ms bsico entre los
mtodos dinmicos, se caracteriza principalmente
porque la micropalanca oscila con una amplitud
en un rango entre aproximadamente 5-200 nm.
Un circuito elctrico controla las oscilaciones de
la micropalanca mantenindola en un valor
prestablecido.
Recordando que en AFM dinmicos se considera
que la punta tiene una trayectoria casi sinusoidal
con una amplitud y fase, donde se relacionan la
superficie de la muestra con esa determinada fase
[16- 17].
 que recubre las muestras afecta la verdadera
superficie. Por lo que se ve limitado a toma
imgenes de superficies muy planas [29].

En el tipping es posible obtener imgenes de fase,

dichas imgenes nos dan la posibilidad de
observar variaciones en la composicin, friccin, Como ya seal el Instituto de Ciencia y
viscoelasticidad y adhesin de la superficie de la Tecnologa de Polmeros existen ciertas ventajas y
muestra [18-19]. desventajas entre estos modos de operacin, que
Dada la aproximacin de modo de funcionamiento son tenidos en cuenta a la hora de tomar una
del AFM a un movimiento oscilatorio las imagen con un AFM [30].
relaciones matemticas encontradas entre la fase y
las propiedades mecnicas de la muestra son
limitadas [20-21], debido a esto los resultados
solo han sido valiosos nicamente para una
cantidad muy limitada de condiciones y muestras.

El desarrollo de mtodos dinmicos ha favorecido

la obtencin de imgenes de polmeros, algo que
sin esta herramienta sera un logra inalcanzable,
considerando que la naturaleza frgil de estos
materiales implicaba la destruccin o
modificacin de la muestra durante la obtencin
de la imagen.
Una de las aplicaciones ms comunes para el
tipping ha sido obtener imgenes de molculas de Fig.7 Comparacin de los modos de trabajo de los AFM.
ADN, membranas protenicas, molculas
protenicas individuales y de anticuerpos, ya que
esta toma de imgenes se hace de manera
relativamente poco intrusiva o daina con la
muestra [22-23-24]. C. CUALIDADES DE CONSTRUCCION
DE LAS PARTES DE UN AFM.

NO CONTACTO: Como se menciona en los libros Caos en la

En esta tcnica se excita el cantilver cerca de su
frecuencia de resonancia de modo que vibre cerca
de la superficie de la muestra, a una distancia
comprendida entre 10 y 100 , se utiliza cuando
no se quiere deteriorar la superficie a medir. La
fuerza que ejerce la punta sobre la muestra es muy
baja, 10^-12N[25-26].
El trabajo con fuerzas tan dbiles hace imposible
usar el modo de fuerza constante, y adems estas
son difciles de medir[27]. La sensibilidad de la
tcnica proviene de la frecuencia de resonancia
del cantilver que vibra a frecuencias de 100 a
400 kHz y amplitudes de 10 a 100 , y conforme
se acerca la punta a la superficie se detectan
cambios en la frecuencia de resonancia o en la
amplitud, con una resolucin vertical por debajo
de los [28].
microscopia de fuerza atmica y Efecto de
deformaciones por contacto de adhesin en
partculas [31-32], las puntas de AFM se
elaboran mediante procesos de micro fabricacin,
pudindose obtener puntas con radios de curvatura
de entre 1 y 10 nm y las dimensiones del
cantilver varan entre 50 y varios centenares de
micras determinando esta longitud su dureza
final, entonces dichas dimensiones varan
dependiendo el uso que se le va a dar al
cantilver[30].

Esto eleveva la dificultad para tomar imgenes,

debido a que la capa de contaminacin de agua
 El AFM tiene diversas aplicaciones, pero las ms
importantes son la caracterizacin de los
materiales a escala nanomtrica, las
nonotecnologias, la nanoelectrnica y la biologa.
La alta precisin que presentan las partes que
conforma un AFM eleva su posible valor
comercial, la difcil construccin de sus piezas y
su alto nivel de sofisticacin son el motivo.

Referencias:
Fig.8 Propiedades y usos de los cantilevers.
Al analizar la muestra la punta se ve sometida a
muchos movimientos, as que es necesario tener
en cuenta la dureza correcta para evitar en lo
mximo posible daos en la muestra y en la punta
[33].
La circunstancia que limita en gran medida la
eleccin son las condiciones de alta temperatura
(hasta 145C). A veces las puntas se fabrican con
recubrimientos finos de un material reflectante, lo
que permite un aumento de la reflectividad en
casos cuando esta disminuye por el medio donde
se mide [34-35].
III. CONCLUSIONES
[1]. https://www.youtube.com/watch?
v=g26stHX4YmE Cmo funciona AFM
(How AFM Works) Park Systems.
[2]. http://www.tandar.cnea.gov.ar/eventos/Nano2
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Gerencia de investigacin y aplicaciones
Laboratorio Tandar
[3]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/microscopia-
de-fuerza-atomica/otros-recursos-
1/Apuntes_STM_y_AFM_00.pdf
Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
ingeniera de materiales: Caracterizacion de
los materiales
[4]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/microscopia-
de-fuerza-atomica/ejercicios-y-
proyectos/Practica_1_OCW.pdf
Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
ingeniera de materiales: Microscopia de
fuerza atmica. Ejercicos.
[5]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/microscopia-
de-fuerza-atomica/ejercicios-y-
proyectos/Practica_1_OCW.pdf Universidad
Carlos III de Madrid Ciencia e ingeniera de
materiales: Microscopia de fuerza atmica.
Material de clase.

A pesar de la aparente simplicidad del equipo cabe
aclara que existe una alta cantidad de informacin
en la relacin sonda-muestra. Esa anlisis de esa
informacin no es trivial, por el contrario ha
requerido de esfuerzos matemticos importantes
como tambin simulaciones computacionales para
poder llegar a una caracterizacin mucha ms
generalizada como la presentada
Dada la naturaleza de este artculo no fue posible
discutir otras cualidades ms especficas en los
AFM como lo son los diferentes inconvenientes a
la hora de llevar a la prctica esta forma de tomar
imgenes y fuerzas; ya que al ser estructuras tan
pequeas posible que se puedan ver afectadas por
suciedad o daadas con mucha facilidad. Adems
de lo complejo que es calibrar el lser que se
refleja en el cantilver.
[6]. https://ssyf.ua.es/es/formacion/documentos/cu
rsos-programados/2012/especifica/tecnicas-
instrumentales-en-el-analisis-de-
superficie/afm-stm-sesion-12-de-
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[7]. http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/v
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