Electronica digital

UNIDAD 1

Ignacio Abimael de la Cruz Rdz

3A
302110235
Mecatrónica Area Automatizacion
Profra. Hillary Martinez
 Medidas de seguridad en el manejo y conservación de las
familias lógicas TTL y CMOS

Todos los dispositivos CMOS son particularmente susceptibles al daño por

descarga electrostática (ESD) entre cualquier par de pines. La electrostática o
electricidad estática consiste en la creación, consciente o inconsciente, de altos
voltajes en la superficie de un material aislante por efecto de fricción o frotamiento.
Esta sensibilidad a la carga estática se debe a la extremadamente alta impedancia
de entrada que caracteriza a los transistores MOS. Esta alta impedancia permite
que se desarrollen fácilmente voltajes prohibitivos, capaces de destruir la delgada
capa de óxido aislante que separa la compuerta del canal en estos dispositivos. La
electricidad estática está siempre presente en cualquier ambiente de trabajo. Se
genera cada vez que se frotan dos materiales diferentes.

Precauciones a tomar en el manejo de dispositivos CMOS

Todos los dispositivos CMOS son muy susceptibles al daño ocasionado por
descarga electrostática entre cualquier par de pines. La electrostática o electricidad
estática consiste en la creación de altos voltajes en la superficie de un material
aislante por efecto de fricción o frotamiento.

1. Conservar el circuito integrado en su contenedor original hasta que sea insertado

en el circuito de aplicación.
2. Conectar todas las entradas no empleadas a un nivel estable. No dejarlas sin
conectar.
3. Verificar la polaridad de la fuente de alimentación. El positivo debe ir al pin +VDD
y el negativo o tierra al pin VSS.
Detección, localización y eliminación de fallas

La localización de averías es el proceso de reconocer, aislar y corregir un fallo en

un sistema o circuito. Para poder localizar las averías de forma efectiva, es
necesario entender cómo trabaja el circuito o sistema para reconocer un
funcionamiento incorrecto.

Fallas internas de las compuertas lógicas CI

Los circuitos abiertos y los cortocircuitos son los fallos más comunes en las puertas
internas del Cl. Se pueden producir tanto en las entradas como en la salida de una
puerta contenida en el encapsulado del Cl. Se recomienda que antes de intentar
solucionar cualquier avería, se compruebe que la alimentación continua y la masa
sean correctas.
 Sistema de detección de fallas.
En la mayor parte de los sistemas automáticos de detección de fallas las
respuestas correctas a cada uno de los vectores aplicados al circuito bajo prueba
están almacenadas en una memoria. La comparación se efectúa recuperando de la
memoria la respuesta correcta a cada vector de prueba aplicado y comparando la
misma con la respuesta que da el circuito bajo verificación.
Los tipos de fallas que pueden encontrarse en un circuito digital son muy variados.
Los niveles de tensión del circuito pueden ser inadecuados, interconexiones
abiertas o en cortocircuito, etc.
En este sentido las fallas lógicas hacen que el circuito funcione como uno
completamente diferente, produciendo en su salida una respuesta lógica incorrecta
o no deseada. Por el contrario las fallas no lógicas incluyen todas aquellas fallas
que provocan niveles en los parámetros del circuito diferentes a los especificados.
Así por ejemplo el nivel de tensión que representa al 1 lógico puede ser inferior a lo
especificado, la demora de propagación del circuito puede estar fuera de los límites
establecidos, etc.
Para la detección de fallas no lógicas se requiere de pruebas paramétricas las
cuales no están dentro de los objetivos del presente artículo.
Por otro lado la falla presente en un circuito puede ser permanente, esto es, que no
varía en el tiempo, o intermitente. Una falla intermitente es aquella que aparece y
desaparece en el circuito. El sistema digital descrito en el artículo presente se
ocupa de detección de fallas lógicas permanentes en el circuito bajo prueba.