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SEGUNDO SEMESTRE
FISICA DE TOMOGRAFÍA
INGENIERO AUGUSTO.
INVESTIGACION LEY DE
LAMBERT
WILSON GIRÓN
Carnet: 202142013
Imaginemos un dispositivo experimental como el de la siguiente Figura 3. Disponemos
de una fuente emisora de radiación electromagnética (lámpara), unos sistemas de
enfoque (rendijas) para hacer que la radiación incida perpendicularmente a la muestra,
un dispositivo que permita seleccionar la longitud de onda que incide sobre la muestra
(red de difracción) y un sistema electrónico de medida de intensidad de luz.
1) La primera medida la muestra será una disolución con la misma matriz que el analito
que deseemos determinar pero en ausencia de éste (disolución blanco). La intensidad
de radiación (luz) que llega al lector será sub_Io.bmp
A=C. .L
Donde:
A = Absorbancia de la muestra
C = Concentración del cromóforo
2) Una disolución patrón de níquel 5.00 x 10-5 M se coloca en una cubeta de longitud
de paso 1 cm. La absorbancia a 592 nm es 0.446. a) ¿Cuánto vale e.bmp a 592 nm?.
b) Si una disolución problema de níquel tiene una absorbancia de 0.125 a la misma
landa_simple.bmp ¿cuál es la concentración de níquel en la muestra?.