Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
RESUMEN Se analizan una serie de refractarios a base de sílice y alúmina (siliciosos, silicoaluminosos y de alto
contenido en alúmina) empleando la técnica defluorescenciade rayos X.
Las muestras se preparan en forma de pastillas prensando el material molido, bien directamente o
fundido con metaborato de litio.
Se lleva a cabo un estudio de los resultados comparándolos con los conseguidos por otras técnicas
instrumentales y métodos clásicos (absorción atómica, fotometría de llama^ complexometría y gravi-
metría).
SUMMARY A series of silica and alumina based refractories (silidous, silicoaluminous and with high alumina
content) are analused using X-rayfluorescencetechnique.
Samples are prepared in the shape of tablets pressing the gorund material, either directly or fused
with lithium metaborate.
A comparative study of the results is performed by comparing them with those obtained by other
instrumental techniques and classical methods (atomic absorption, flame photometry, complexome-
try and gravimetry).
RESUME On analyse une série de réfractaires à base de silice et d'alumine (silicieux, siliolumineux et d'un
haut contenu en alumine) en employant la technique defluorescencede rayons X.
Les échantillons sont préparés en forme de pastilles en pressant le matériel moulé, bien directement
on fondu avec metaborate de litium.
On fait une étude des résultats en les comparant avec ceux obtenues avec d'autres techniques
instrumentales et des méthodes classiques (absorption atomique, photometric de flamme, complexo-
métrie et gravimétrie).
ZUSAMMENFASSUNG: Unter Verwendung des Röntgen-Fluoreszenzverfahrens wurde eine Reihe kiesel-und tonerdehalti-
ger feuerfester Stoffe (kieselhaltiges Material, Aluminiumsilikat sowie Stoffe mit hohem Tonerdege-
halt) unersucht.
Zur Herstellung der Probekörper wurde das gemahlene Material entweder unmittelbar oder nach
Verschmelzung mit Litiummetabromat zu Pillen gepresst.
Es erfolgt eine Untersuchung der Resultate, indem diese mit den Ergebnissen anderer instrumen-
teller Verfahren sowie denen der klassisdien Methoden (Atomabsorption, Falmmenphotometrie, Kom-
plexometrie und Gravimetrie) verglichen werden.
BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR.VOL.18.NUM.6 369
3. PREPARACIÓN DE MUESTRAS Peso de Elvacite, 0,08 g. PesodeB02Li, 6g.
Diámetro, 40 mm. T. de fusión, lOOO^C
Los resultados del análisis por fluorescencia de rayos X Presión, 20 Tmm Peso de Elvacite, 0,08
se ven afectados muy especialmente por la forma bajo la Diámetro, 40 mm
cual las muestras se presentan al dispositivo de medida que Presión, 20 Tmm
pueden ser: Serie tercera
Peso de la muestra, Ig.
a) material sin ningún tipo de tratamiento Peso de BO2LÍ, 4g.
b) material pulverizado
c) material pulverizado y prensado La obtención del tercer tipo de muestra es laboriosa. Pa-
d) pastilla diluida ra desprender las perlas del platillo en que se encuentran se
e) material en forma de perla someten a una vibración con una corriente de alta frecuen-
f) perla pulverizada y prensada cia, pero es normal que por efecto del enfriamiento, dilata-
g) material en solución. ciones y quizás por la propia composición de la muestra,
muchas veces se rompan.
En el presente estudio se ha desechado la utilización de
la muestra sin preparación alguna por no considerarse su su- 4. CONDICIONES INSTRUMENTALES
perficie con una distribución lo suficientemente homogénea
como para que así los resultados fueran aceptables. Al tra- Con objeto de obtener la máxima sensibilidad alcanzable
bajar en vacío, tampoco se puede usar polvo directamente. en el espectrómetro de fluorescencia de rayos X, se han se-
Quedan pues como alternativas, la utilización de pastillas, leccionado las condiciones de excitación y medida más ade-
perlas o perlas pulverizadas y prensadas. cuadas para cada uno de los elementos (tabla II).
Para la medida del silicio se ha elegido la línea KjSya que
Las muestras se han pulverizado en un molino de bolas
la Ka da una intensidad demasiado alta en el contador de
de carburo de wolframio, y se han pasado por un tamiz de
flujo gaseoso, y en las muestras con un contenido elevado
200 mallas. A continuación se han preparado tres series de de silicio podrían llegar a saturar el mismo. Para esta línea
pastillas. se ha hecho también una corrección de fondo espectral.
Igual acoplamiento puede ocurrir con el hierro empleando
Primera: Mezclando la muestra en polvo con un plástico (El-
la radiación Ka, no porque esté presente en grandes concen-
vacite 2.044), que tiene muy bajo poder dispersan-
traciones sino por su alta sensibilidad frente al tubo de cro-
te y que hace de soporte. Para la homogeneización
mo, por ello o se utiliza la radiación KjS de este elemento, (>
se emplea acetona, prensando a continuación.
bien si se quiere emplear la Ka se debe disminuir el voltaje
Segunda: Fundiendo la muestra con metaborato de litio
apUcado al tubo y su intensidad.
en crisol de grafito, pulverizando y prensando el vi-
Se ha utilizado un colimador fino (ISO/um) para todos
drio así obtenido.
los elementos, excepto en el caso del Na y el Mg en que se
Tercera: Preparando perlas conseguidas por fusión de la
ha empleado uno gmeso (500 fxm); esto se debe a que las
muestra con metaborato de litio en unos platitos
líneas Ka de estos elementos medidas con el cristal de fta-
de platino de un diseño tal que el vidrio formado
lato ácido de talio fTLAP) presentan débil intensidad y se
tiene las dimensiones adecuadas para introducirlo
hace necesario obtener un máximo de impulsos medibles.
directamente en el portamuestras del espectróme-
El cristal de TLAP es el único de los cinco de los que se
tro.
dispone en el espectrómetro que puede ser usado para me-
Las condiciones de preparación en los tres casos se ex-
dir las longitudes de onda de estos dos elementos.
presan en la siguiente tabla.
TABLAI 5. OBTENCIÓN DE LAS RECTAS DE CALIBRADO
5.1. MED DAS ANALÍTICAS.
Serie primera Serie segunda
Peso de la muestra, 8 g. Peso de la muestra, 2 g. Las muestras utilizadas para obtener las rectas de calibra-
TABLAII
Elemento Línea espectral Tubo de o20 Kv/mA Colimador Cristal analizador D etector Tiempo de
rayos X (M m) recuento
(seg.)
370
do, han sido ladrillos refractarios originarios de diferentes S04Zn empleando ditizoria como indicador. Por fotocolori-
industrias y fabricantes. Se ha procedido a conocer su com- metría se determinaron el Fe, con ácido sulfosalicilico y el
posición mediante análisis químico clásico y espectrometría Ti con agua oxigenada. Eñ la solución amoniacal se valora-
de absorción atómica. Por lo que respecta al primero, la síli- ron el Ca y Ca + Mg, complexometricamente, empleando
ce se determinó por gravimetría, previa doble insolubiliza- calceina y negro de eriocromo T respectivamente como in-
ción clorhídrica y posterior purificación fluorhídrica. Los dicadores. Los alcalinos se analizaron por fotometría de lla-
restantes elementos se separaron de los alcalinos y alcalino- ma en una muestra aparte atacada con mezcla sulfofluorhí-
térreos por una doble precipitación con hidróxido amónico drica.
en presencia de azul de bromotimol. Una vez' disueltos en La totalidad de los elementos interferentes se eliminaron
medio ácido se detemiinó el Al por complexometría acom- por precipitación con NH4OH, y cooprecipitándolos con
plejándole con ED TA y valorando el exceso de ésta con SO4 (NH4)2 y CO3 (NH4)2. Estos dos últimos reactivos se
TABLA III
TABLA IV
BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR.VOL.18.NUM.6 371
TABLA V
1 96.52 96.69 0.17 1.41 1.41 0.00 0.25 0.26 0.01 no contiene
2 77.02 77.14 0.12 18.47 18.50 0.03 1.40 1.41 0.01 0.90 0.90 0.00
3 69.38 68.71 0.67 25.18 25.70 0.52 1.94 1.88 0.05 1.10 1.12 0.02
4 68.19 67.12 1.07 25.10 24.50 0.59 3.42 3.50 0.08 0.34 0.34 0.00
5 65.52 65.84 0.32 28.25 28.44 0.19 3.08 3.10 0.02 0.22 0.20 0.02
6 56.98 55.82 1.16 39.18 39.87 0.69 0.95 0.97 0.02 1.10 1.19 0.09
7 56.30 55.32 0.98 38.92 39.34 0.42 0.97 0.95 0.02 1.38 1.39 0.01
8 55.80 55.95 0.15 37.80 38.25 0.45 2.92 2.95 0.03 1.56 1.51 0.05
9 55.61 54.80 0.81 40.50 40.03 0.46 0.78 0.73 0.05 1.17 1.25 0.08
10 55.25 55.65 0.40 37.20 37.80 0.60 3.81 3.76 0.04 1.80 1.75 0.05
11 54.85 54.90 0.05 40.73 40.56 0.17 0.77 0.86 0.09 1.24 1.30 0.06
12 53.55 54.18 0.63 40.24 40.02 0.21 2.60 2.56 0.03 1.46 1.45 0.01
13 31.52 32.19 0.67 62.75 62.15 0.59 1.75 1.77 0.02 2.80 2.68 0.12
14 19.50 20.00 0.50 77.60 77.04 0.55 0.80 0.73 0.07 1.20 1.29 0.09
15 9.35 8.76 0.59 85.75 86.37 0.62 1.78 1.76 0.02 2.40 1 2.38 0.02
16 0.48 0.50 0.02 97.98 — — 0.16 0.17 0.01 no contiene — — I
E = 138.82 E=42.59 E = 106.69 E = 5.39
D =:-2.62 a- =0.726 D = -5.250-=0,538 D = -0.39(1=0.046 D =^ 0.18 a =0.062
= -0.0061 asi=0.00069
=-0.0055 1 ^^1=0.000073
TABLA VI
utilizan también como tampones de radiación. 5.2. Medidas por fluorescencia de rayos X
En el análisis por absorción atómica se emplearon las so-
luciones origínales procedentes de los ataque de las mues- Todas las series de pastillas se midieron en el espectóme-
tras por procedimientos clásicos y otras obtenidas de disgre- tro de fluorescencia de rayos X bajo las condiciones indica-
gaciones más específicas en crisoles de grafito y de teflon das en la tabla II.
para poder determinar también la sílice. Con objeto de facilitar la obtención de los valores de las
Los valores medios obtenidos por los anteriores procedi- intensidades, con la corrección del fondo espectral y de de-
mientos han servido de referencia y se recogen en las tablas ducir los parámetros de las rectas de calibrado se ha utiliza-
III, IV, V y VI en la columna "químico" siendo punto de do el ordenador. Otro dato proporcionado por este ordena-
partida para obtener las rectas de calibrado para la fluores- dor es el de la desviación típica. Lo ideal es tener valores de
cencia de rayos X. esta desviación lo más próximos a cero, pero en la práctica
372
son aceptables para elementos mayoritarios, los valores in- zas en los refractarios siUco-aluminosos, influyen muy des-
feriores a 2. Para algunos elementos se ha usado únicamente favorablemente en la refractariedad de estos materiales, de
el ajuste de los puntos por el método de los mínimos cua- aquí la importancia de su determinación con el menor mar-
drados obteniéndose para cada elemento una ecuación li- gen de error posible. La técnica de fluorescencia de rayos X,
neal de la forma: que para el potasio da resultados aceptables, no consigue
C=E I + D para el sodio la sensibiHdad deseada ya que este elemento,
por su bajo número atómico presenta un límite de detec-
Siendo : E = la pendiente ción relativamente alto, del orden del 0'2^/o. Aunque este
D = la ordenada en el origen porcentaje puede ser superado algunas veces por este tipo
I = la intensidad en cada punto de refractarios, hay que tener en cuenta que al fundir los
C = la concentración en ese mismo punto. mismos con BO2 Li en la proporción 1:3 y hasta 1:4 sufren
una dilución que trae como consecuencia que el Na esté casi
La dispersión de resultados puede mejorarse usando el siempre por debajo del límite de detección del aparato.
programa de los factores alfa que tiene en cuenta los efectos
interelementales, con lo que la ecuación anterior se trans- 7. CONSIDERACIÓN FINAL
forma en C^ = ( E I A + D ) ( 1 +a:AB % + Û ^ A C ^ C +••• A la vista de los resultados podemos concluir que la fluo-
+ (X AN C N)» siendo oc j , ^ = factor de interferencia entre rescencia de R-X es una técnica de una exactitud muy
el elemento A y el B, etc. Hay que señalar que se han em- aceptable para llevar a cabo el análisis de gran número de
pleado a obtenidos experimentalmente por no disponer de muestras refractarias que, por procedimientos clásicos, exi-
los oc teóricos para este tipo de materiales. También se ha girían la utilización de gran cantidad de material y largos
usado una muestra como monitor. Con esto se consigue que períodos de tiempo para su realización. Aunque es mucho
las intensidades medidas para un elemento están referidas a más costosa en equipo, tiene sobre todo la ventaja de la ra-
la de una muestra, eliminándose así parte de los errores pidez, simplificando el análisis enormemente, siendo tanto
inherentes al equipo. Los resultados encontrados en el análi- más aplicable chanto mayor es el número de muestras y su
sis por fluorescencia de rayos X se recogen en las tablas III, composición más parecida, lo que eivta el empleo de dife-
IV,VyVI. rentes curvas de calibrado para un mismo elemento.
BOL.SOC.ESP.CERAM.VIDR.VOL.18.NUM.6 373
zas de magnesio y aluminio mediante fluorescencia de ra-
yos X". Anales de Química, 73 1321-1327(1977).
Posterior P ^ 1 1 Anterior A
it
Zona clora PC ^^ Zona negro AN
' \ \ \
Zona gris P C ^ ^ ^ Zona media AM
TABLA VII
374