Microscopia de fuerza atmica
Atomic force microscopy.
Autor: Daniel Restrepo Tangarife
Fsica moderna, Universidad Tecnolgica de Pereira, Colombia
Correo-e: danielr@utp.edu.co
Resumen El microscopio de fuerza atmica es una
herramienta para el estudio de la materia a micro y
nano escala. El AFM se puede utilizar en condiciones
ambientales, aire, lquido y en el vaco sin restriccin
adems de que la muestra a estudiar sea conductora
elctrica. Su funcionamiento bsicamente consiste en
medir cambios en la magnitud de la interaccin entre
la punta (sonda) del microscopio y la superficie de la
muestra. Esta punta es ultra fina, e interacciona de
varias maneras con la muestra, haciendo contacto con
ella (Contact mode), teniendo un contacto
intermitente (Tapping mode) o sin hacer contacto
(Noncontact mode).
La finalidad es esta artculo de sntesis es detallar los
mtodos ms comunes de AFM, as como sus
aplicaciones.
Palabras clave Fuerza Atmica, sonda, resolucin.
AbstractThe atomic force microscope is a tool for
the study of matter at micro and nano scale. The
AFM can be used in ambient, air, liquid and vacuum
conditions without restriction in addition to the
sample being studied is electrically conductive. Its
operation basically consists of measuring changes in
the magnitude of the interaction between the tip
(probe) of the microscope and the surface of the
sample. This tip is ultrafine, and it interacts in
several ways with the sample, making contact with it
(contact mode), having an intermittent contact
(Tapping mode) or non-contact (Non-contact mode).
The purpose is this summary article is to detail the
most common AFM methods as well as their
applications.
Key Words Atomic force, probe, resolution
Cdigo: 1088030205
I. INTRODUCCIN:
Un nanmetro es una milmillonsima parte de un
metro, que es la escala de longitud donde las fuerzas
intermoleculares y los efectos cunticos toman lugar.
El microscopio de fuerza atmica a diferencia de
otras tcnicas de obtencin de imgenes no utiliza
ondas electromagnticas (ms especficamente la
luz) para la obtencin de imgenes [1].
En comparacin los microscopios pticos que tienen
una resolucin de 200nm (limitados fsicamente ya
que la longitud de onda de la luz es de 400-700 nm)
los microscopios de fuerza ptica tienen una
resolucin de menos de 1 nm, y la pantalla de
visualizacin permite distinguir detalles en la
superficie de la muestra con una amplificacin de
varios millones de veces [2].
El AFM es una de las varias tcnicas llamadas SPM
(Scanning Probe Microscopes), adems de ser la
extensin ms directa del microscopio de efecto
tnel y es especialmente til en el estudio de
superficies de materiales no conductores[2-3], ya
que dadas sus capacidades se ha convertido en un
gran mtodo para visualizar sus caractersticas
microscpicas y difractomtricas[4].
Todo esto conlleva a que la microscopia de fuerza
atmica se est utilizando para estudiar materiales y
dar respuesta a problemas sobre como procesar fsica
o qumicamente dichos materiales [5].
 II. CONTENIDO

A. FUNCIONAMIENTO DE UN
MICROSCOPIO DE FUERZA
ATMICA:

De manera muy generalizada, un AFM consta de

pocas partes, un fotodetector, un lser, un
cantilver, la punta o sonda y un procesador de
datos [6].

Fig.2 Movimientos bsicos del cantilver

Gracias a que el tamao de a punta es tan pequeo,

Fig.1 AFM esquema generalizado.
La microscopia AFM sondea la superficie de una
muestra con una punta muy aguda, de un par de
micras de largo y menos de 100 de dimetro que
se adjunta a un cantilver, es posible medir la
fuerza de interaccin entre la punta y la muestra a
travs de la flexin de dicho cantilver [7].
El primer AFM se hizo pegando de manera muy
meticulosa, una pequesima punta de diamante al
final de una pequea tira de papel de oro. Al final
de 1985 Gerd Binning y Christoph Gerber
utilizaron el cantilver para examinar superficies
aislantes. Un pequeo gancho al final del cantilver
se presion contra la superficie mientras la muestra
fue escaneada por debajo de la punta.
La fuerza entre la punta y la muestra fue medida
siguiendo la deflexin del cantilver pudiendo
delinear caractersticas tan pequeas como 300
(30 nm) [3].
puede interactuar con fuerzas atmicas repulsivas y
atractivas.
A estas fuerzas se les denominan fuerzas de Van
der Waals, son fuerzas de estabilizacin molecular
(dan estabilidad a la unin entre varias molculas),
tambin conocidas como atracciones
intermoleculares o de largo alcance [9].
Son fuerzas ms dbiles que las internas que unen
la molcula ya que dependen exclusivamente del
tamao y forma de la molcula pudiendo ser de
atraccin o de repulsin. Son tan dbiles que no se
las puede considerar un enlace, como el enlace
covalente o inico, solo se las considera una
atraccin. Todas las fuerzas de van der Waals son
cohesivas y varan con respecto a la distancia como
1/r6 [10-11].

Por encima de la sonda (que suele medir entre 100

a 200 micras) se encuentra la fuente de rayo lser
apuntando hacia la parte trasera de la punta donde
va a ser reflejado y recibido por el fotodetector.
El cantilver suele tener dos movimientos bsicos, Fig.3 Curva tpica Fuerza distancia (Fuerzas Van der Waals)
movimiento normal y lateral, que corresponden a
los cambios ocurridos en el reflejo del lser [2-8].
 B. MODOS DE FUNCIONAMIENTO DEL
AFM:
Fig.4 Modos de funcionamiento del AFM.
Adems al ser llevada esta solucin a la realidad
pueden verse an ms comprometida la estructura
fsica del AFM si no se hace correctamente, ya que
al estar oscilando la sonda la medicin es estable
siempre y cuando la fuerza de restauracin de la
micropalanca (Elemento que controla las
oscilaciones) sea mayor a la fuerza atractiva entre
la punta y la muestra [14].

En un AFM, se distinguen tres modos de En resumen este mtodo ofrece ventajas con
operacin bsicos que son el modo de contacto, respecto al mtodo de contacto. Una de ellas es que
contacto intermitente o tapping y no-contacto. el movimiento de la punta es sensible tanto a
Donde el modo de contacto es considerado como fuerzas como a gradientes de fuerzas. En el caso del
esttico, y el de tapping y no- contacto como mtodo de contacto las fuerzas requeridas para
dinmicos. obtener una seal estable podra involucrar algn
tipo de dao tanto en la punta como en la muestra
lo que no permitir la toma de imgenes de alta
CONTACTO: resolucin, algo que no ocurre en el mtodo de
En este modo de operacin el cantilver, pero ms contacto intermitente[15].
especficamente la punta barre la muestra,
aplicando una fuerza constante relacionada como
F = - k D, donde Fes la fuerza aplicada, k es la
constante de fuerza del cantilver y D la
deflexin; este movimiento permite tomar una
imagen topogrfica vertical, tambin llamada
imagen de alturas [4-12].
Por consiguiente la deflexin D es constante como
la fuerza.

Fig.6 AFM modo tapping

El mtodo de tapping es el ms bsico entre los

mtodos dinmicos, se caracteriza principalmente
Fig.5 AFM modo contacto
porque la micropalanca oscila con una amplitud en
un rango entre aproximadamente 5-200 nm.
Un circuito elctrico controla las oscilaciones de la
CONTACTO INTERMITENTE:
micropalanca mantenindola en un valor
prestablecido.
Este y los dems mtodos dinmicos del AFM
Recordando que en AFM dinmicos se considera
surgieron a partir de los fallos y carencias que se
que la punta tiene una trayectoria casi sinusoidal
presentaban en el AFM de contacto. El modo
con una amplitud y fase, donde se relacionan la
intermitente o tapping fue ideado con el propsito
superficie de la muestra con esa determinada fase
de hacer que la sonda estuviera oscilando,
[16- 17].
reduciendo as la interaccin con la muestra.
Claramente esto representaba unos esfuerzos
tcnicos y tecnolgicos mucho mayores, pero
evitando gastar daar la punta y la muestra [13].
En el tipping es posible obtener imgenes de fase,
dichas imgenes nos dan la posibilidad de observar Como ya seal el Instituto de Ciencia y
variaciones en la composicin, friccin, Tecnologa de Polmeros existen ciertas ventajas y
viscoelasticidad y adhesin de la superficie de la desventajas entre estos modos de operacin, que
muestra [18-19]. son tenidos en cuenta a la hora de tomar una
Dada la aproximacin de modo de funcionamiento imagen con un AFM [30].
del AFM a un movimiento oscilatorio las
relaciones matemticas encontradas entre la fase y
las propiedades mecnicas de la muestra son
limitadas [20-21], debido a esto los resultados solo
han sido valiosos nicamente para una cantidad
muy limitada de condiciones y muestras.

El desarrollo de mtodos dinmicos ha favorecido

la obtencin de imgenes de polmeros, algo que
sin esta herramienta sera un logra inalcanzable,
considerando que la naturaleza frgil de estos
materiales implicaba la destruccin o modificacin
de la muestra durante la obtencin de la imagen.
Una de las aplicaciones ms comunes para el
tipping ha sido obtener imgenes de molculas de Fig.7 Comparacin de los modos de trabajo de los AFM.
ADN, membranas protenicas, molculas
protenicas individuales y de anticuerpos, ya que
esta toma de imgenes se hace de manera
relativamente poco intrusiva o daina con la
muestra [22-23-24]. C. CUALIDADES DE CONSTRUCCION
DE LAS PARTES DE UN AFM.

NO CONTACTO: Como se menciona en los libros Caos en la

microscopia de fuerza atmica y Efecto de
En esta tcnica se excita el cantilver cerca de su deformaciones por contacto de adhesin en
frecuencia de resonancia de modo que vibre cerca partculas [31-32], las puntas de AFM se elaboran
de la superficie de la muestra, a una distancia mediante procesos de micro fabricacin,
comprendida entre 10 y 100 , se utiliza cuando pudindose obtener puntas con radios de curvatura
no se quiere deteriorar la superficie a medir. La de entre 1 y 10 nm y las dimensiones del cantilver
fuerza que ejerce la punta sobre la muestra es muy varan entre 50 y varios centenares de micras
baja, 10^-12N[25-26]. determinando esta longitud su dureza final,
El trabajo con fuerzas tan dbiles hace imposible entonces dichas dimensiones varan dependiendo el
usar el modo de fuerza constante, y adems estas uso que se le va a dar al cantilver[30].
son difciles de medir[27]. La sensibilidad de la
tcnica proviene de la frecuencia de resonancia
del cantilver que vibra a frecuencias de 100 a
400 kHz y amplitudes de 10 a 100 , y conforme
se acerca la punta a la superficie se detectan
cambios en la frecuencia de resonancia o en la
amplitud, con una resolucin vertical por debajo
de los [28].

Esto eleveva la dificultad para tomar imgenes,

debido a que la capa de contaminacin de agua
que recubre las muestras afecta la verdadera
superficie. Por lo que se ve limitado a toma
imgenes de superficies muy planas [29].
 El AFM tiene diversas aplicaciones, pero las ms
importantes son la caracterizacin de los materiales
a escala nanomtrica, las nonotecnologias, la
nanoelectrnica y la biologa.
La alta precisin que presentan las partes que
conforma un AFM eleva su posible valor
comercial, la difcil construccin de sus piezas y su
alto nivel de sofisticacin son el motivo.

Referencias:
Fig.8 Propiedades y usos de los cantilevers.
Al analizar la muestra la punta se ve sometida a
muchos movimientos, as que es necesario tener en
cuenta la dureza correcta para evitar en lo mximo
posible daos en la muestra y en la punta [33].
La circunstancia que limita en gran medida la
eleccin son las condiciones de alta temperatura
(hasta 145C). A veces las puntas se fabrican con
recubrimientos finos de un material reflectante, lo
que permite un aumento de la reflectividad en casos
cuando esta disminuye por el medio donde se mide
[34-35].
III. CONCLUSIONES
[1]. https://www.youtube.com/watch?v=g26stHX
4YmE Cmo funciona AFM (How AFM
Works) Park Systems.
[2]. http://www.tandar.cnea.gov.ar/eventos/Nano2
010/Levy.pdf Centro atmico constituyentes,
Gerencia de investigacin y aplicaciones
Laboratorio Tandar
[3]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-
oin/microscopia-de-fuerza-atomica/otros-
recursos-1/Apuntes_STM_y_AFM_00.pdf
Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
ingeniera de materiales: Caracterizacion de
los materiales
[4]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-
oin/microscopia-de-fuerza-atomica/ejercicios-
y-proyectos/Practica_1_OCW.pdf
Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
ingeniera de materiales: Microscopia de
fuerza atmica. Ejercicos.
[5]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-
oin/microscopia-de-fuerza-atomica/ejercicios-
y-proyectos/Practica_1_OCW.pdf
Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
ingeniera de materiales: Microscopia de
fuerza atmica. Material de clase.

A pesar de la aparente simplicidad del equipo cabe
aclara que existe una alta cantidad de informacin
en la relacin sonda-muestra. Esa anlisis de esa
informacin no es trivial, por el contrario ha
requerido de esfuerzos matemticos importantes
como tambin simulaciones computacionales para
poder llegar a una caracterizacin mucha ms
generalizada como la presentada
Dada la naturaleza de este artculo no fue posible
discutir otras cualidades ms especficas en los
AFM como lo son los diferentes inconvenientes a
la hora de llevar a la prctica esta forma de tomar
imgenes y fuerzas; ya que al ser estructuras tan
pequeas posible que se puedan ver afectadas por
suciedad o daadas con mucha facilidad. Adems
de lo complejo que es calibrar el lser que se refleja
en el cantilver.
[6]. https://ssyf.ua.es/es/formacion/documentos/cu
rsos-programados/2012/especifica/tecnicas-
instrumentales-en-el-analisis-de-
superficie/afm-stm-sesion-12-de-
noviembre.pdf Universidad de Alicante:
Tcnicas instrumentales en el anlisis de
superficies.
[7]. http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/v
olumenes/numero-28/ART-2-pags-14-23.pdf
Universidad del Valle de Guatemala: Revista
Publicada No.28 art. 2.
[8]. Holscher H, Schrimeisen A (2005) Dynamic
forc microscopy and spectroscopy Adv. Imag
Electr Phys.
[9]. http://www.areaciencias.com/quimica/fuerzas
-de-van-der-waals.html Pgina online de
difusin de ciencias naturales AreaCiencias.
[10]. http://laguna.fmedic.unam.mx/~evazquez/040
3/van%20der%20waals.html Departamento de
Bioqumica. Facultad de Medicina,
Universidad Nacional Autnoma de Mxico
Las fuerzas de Van der Waals.
[11]. http://www.ehu.eus/biomoleculas/moleculas/f [28]. Zhong Q, Imniss D, Kjolle K, Elings VB
uerzas.htm Universidad del Pas Vasco Euskal (1993) Fractured polymer, sylica fiber surface
Herriko UnibertsitateaBiomoleculas:Fuerzas studied by no contact mode atomic forc
moleculares microscopy
[12]. Comprehensive Desk Reference of Polymer [29]. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-
Characterization and Analysis. Ed. Brady RF, oin/microscopia-de-fuerza-atomica/ejercicios-
Jr. ACS. 2003. y-proyectos/Practica_1_OCW.pdf
[13]. Martin Y, Williams CC; Wickramasinghe Universidad Carlos III de Madrid Ciencia e
HK(1987) Atomic forc microscope-force ingeniera de materiales: Ejercicios y
mapping and profiling on a sub 100- scale J proyectos Prctica 1.
Appl Phys. [30]. http://www.ictp.csic.es/ICTP2/sites/default/fil
[14]. Giessibl FJ (2005) AFMs path to atomic es/Gema_23072013.pdf Instituto de Ciencia y
resolution matirials today. Tecnologa de Polmeros Ciclo conoce
[15]. Garcia R, San Paulo A (199) Attractive and [31]. Hu S, Raman A (2006) Chaos in Atomic Force
repulsive tip-sample interaction regimes in Microscopy
topping-mode atomic forc microscopy. [32]. Derjoguin BV, Muller VM, Toporov YP
[16]. Tamayo J, Garcia R (1997) Effect of elastic (1975) Effect of contact deformations on
and inelastic interactions on phase contrast adhesin of particles.
images in topping-mode scanning forc [33]. http://www.nisenet.org/sites/default/files/catal
microscopy og/uploads/spanish/11071/toolsmystery_imag
[17]. Bar G, Thomann Y, Whangbo MH (1998) es_sp_15nov2012.pdf National Informal Stem
Characterization of the morphologies and education Network.
nanostructures of Blends of Poly (styrene). [34]. D. A. Bonnell, "Scanning Probe Microscopy
[18]. Magnov SN, Elings V, Papkov VS (1997) and Spectroscopy" 2nd ed. Ed. Wiley-VCH
AFM study of thermotropic structural 2001
transition in poly (diethylsiloxana) [35]. http://www.sld.cu/galerias/pdf/sitios/histologi
[19]. Garcia R, Prez (2002) Dynamic atomic forc a/el_microscopio_de_fuerza_atomica.pdf
microscopy methods Surf Scri Rep InfoMed Red de salud en Cuba Articulo de
[20]. Maganov SN, Elings V, Whangbo MH (1997) inters en el uso de AFM para nanoestructuras
Phase imaging and stiffnes in tapping-mode biolgicas
atomic forc microscopy
[21]. Bar G, Bransch R, Whangbo MH (1998) Effect
of viscoelastic properties of polymers on the
phase shift in tapping mode atomic forc
microscopy
[22]. Parat P, Dufrene YF, Hinterdofer P, Le
Grimellec C (2007) Past present and future of
atomic forc microscopy in life sciences and
medicine
[23]. Garcia R, Magerle R, Prez R (2007)
Nanoscake compositional mapping with gente
forces
[24]. Herruzo ET, Perino AP, Garcia R (2014) Fast
nanomechanical spectroscopy of soft matter
[25]. Rodriguez TR, Garcia R (2004) Compositional
mapping of surfacesin atomic forc
microscopy by excitation of the second normal
mode of the microcontilever
[26]. Solares SD, (2010) Frecuency response of
higher contilever eigenmodes in bimodal and
trimodal mode atomic forc microscopy
[27]. Albertch TR, Grutter P, Horne D (1991)
Frecuency modulation detection using high Q
contiliver for enhanced forc microscope
sensivity