Ipc Ms Informe

Universidad Nacional Mayor
de San Marcos
FIGMMG
E.A.P. de Ingeniera Geolgica
TEMA:
INFORME :
ESPECTROMETRA DE MASAS CON

PLASMA DE ACOPLAMIENTO INDUCTIVO (IPC
MS)
Curso: Microscopa de Opacos

Docente: Ing. Janet Quionez
Alumna:
Aponte Padilla Mery Tania
Lima, 12 de Noviembre del 2014

C. U. UNMSM
Universidad Nacional Mayor de San Marcos

EAP de Ingeniera Geolgica
INTRODUCCIN
1
La tcnica de espectrometra de masas con plasma de acoplamiento inductivo
(ICP-MS, del nombre en ingls Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry),
es una variante de las tcnicas de anlisis por espectrometra de masas. Las
ventajas principales de esta tcnica radican en la alta precisin, bajos lmites de
deteccin y bajo coste econmico, analizando la mayora de los elementos e
istopos presentes en la tabla peridica de manera simultnea en no ms de un
par de minutos. Es por lo tanto una tcnica ideal en el anlisis de aguas,
lixiviados de rocas y minerales, alimentos etc. Adems, desde los ltimos aos la
utilizacin del LASER acoplado al ICP-MS, permite el anlisis de elementos trazas
y tierras raras en minerales, fsiles, metales, semiconductores, etc, en un rea de
muestra de hasta 50 m. La tcnica de ICP-MS combina dos propiedades
analticas que la convierten en un potente instrumento en el campo del anlisis
de trazas multielemental. Por una parte obtiene una matriz libre de interferencias
debido a la eficiencia de ionizacin del plasma de Ar y por otra parte presenta una
alta relacin seal-ruido caracterstica en las tcnicas de espectrometra de
masas. El plasma de acoplamiento inductivo de argn es usado como una fuente
muy eficaz de iones en su estado M+. El espectro de masas de esta fuente de
iones es medido por medio de un espectrmetro de masas cuadrupolar. Esto es
posible mediante una zona de interfase capaz de introducir los iones del plasma a
travs de un orificio (Cono) por medio de una unidad de vaco diferencial y
posteriormente dentro del filtro cuadrupolar de masa (Skimmer).
Informe
MICROSCOPA DE OPACOS

ESPECTROMETRA DE MASAS CON FUENTE DE PLASMA

DE ACOPLAMIENTO INDUCTIVO (ICP-MS)
I.
PRINCIPIOS
ARGN
DEL
PLASMA
DE
ACOPLAMIENTO
INDUCTIVO
DE
Podemos definir un plasma como cualquier volumen de gas con parte de

sus molculas o tomos ionizados y coexistiendo a alta temperatura (8.000
C) en una sopa de iones, electrones, tomos neutros o tomos excitados.
Tradicionalmente se suele decir que hay cuatro estados de la materia:
lquido, slido, gaseoso y plasma. Brevemente, la generacin del plasma se
consigue sometiendo un flujo de gas, que se conoce como gas plasmgeno
(Ar usualmente), a la accin de un campo magntico oscilante, inducido
por una corriente que oscila a alta frecuencia. En el proceso de generacin
del plasma, los iones de Ar y los electrones libres presentes son acelerados
siguiendo trayectorias anulares, debido a la alternancia del campo
magntico presente generado por el generador de radiofrecuencia.
Figura 1. Trayectoria de una partcula cargada en un campo magntico constante
Por efecto Joule, en este caso de friccin inica y electrnica, se consiguen

energas altsimas, llegando a obtener temperaturas de hasta 8.000 C en
las zonas de mxima intensidad de campo.
Informe

3
Figura 2. Estados de la materia y procesos que sufren los tomos a lo largo de su
camino a travs del plasma.
Coexistiendo con el plasma encontramos al menos las siguientes especies

inicas: electrones (e-), iones de argn (Ar+), tomos de argn en estado
fundamental (Ar0), tomos de argn excitados (Ar*), molculas de argn
ionizadas (Ar2+), neutras (Ar20) y excitadas (Ar2*). Con este batiburrillo de
especies, es de esperar que se produzcan procesos de recombinacin
radiante del tipo:
Ar + e- --> Ar+ + 2eAr+ + e- --> Ar* + hv
Ar* --> Ar0 + hv
Este tipo de procesos explica el hecho de que el plasma aparente ser una
llama, cuando en realidad no lo es, no existe ningn proceso de
combustin qumica convencional en el proceso de generacin.
La antorcha donde se genera el plasma consiste en tres tubos concntricos
de cuarzo. A los dos tubos ms externos les llega Ar en forma
tangencialmente, mientras que al ms interno le llega un flujo laminar.
Figura 3. Antorcha, fuente de iones y conos de muestreo en un equipo de ICP-MS.
Informe

El flujo de gas en estos tres tubos es variable. El ms interno proviene del
nebulizador (carrier gas) y es el que arrastra la muestra con un flujo de
0.9 l/min. El intermedio o gas plasmgeno posee un flujo de 0.5 l/min,
mientras que en el ms externo el flujo es alto (15 l/min) y tiene la misin
de estabilizar el plasma. La antorcha est rodeada por una espiral de 2 a 4
vueltas (Load Coils) que transmite una radiofrecuencia al gas del interior
de la antorcha. El material con el que est construida la espiral es cobre y
en su interior circula agua con objeto de refrigerarla. La radiofrecuencia
transmitida es de 27 a 40 MHz. La espiral induce un campo
electromagntico oscilante al final de la antorcha y en el interior de la
espiral. Una chispa de alto voltaje provoca iones de Ar+ y e- en las paredes
del tubo ms externo de la antorcha creando el plasma, el cual llega a la
zona de induccin y favorece el acoplado al campo oscilante. La
radiofrecuencia origina colisiones no elsticas entre Ar+ y e-, de modo que
por efecto Joule, se alcanzan temperaturas de hasta 10.000 K, dando
lugar a ms iones de Ar+ y excitando los tomos presentes en el plasma
hasta una energa caracterstica del 1 potencial de ionizacin del Ar de
15.76 eV.
Figura 4. Detalle del plasma incidiendo sobre el cono de muestreo en un equipo de

ICP-MS.
En el ncleo del plasma se alcanzan temperaturas de hasta 10.000K. El

nebulizador perfora el plasma y las molculas de muestra son calentadas
por conduccin y radiacin cuando atraviesan el plasma anular. En el
centro del canal se alcanzan temperaturas de 5.000 a 7.000K. El plasma
de Ar excita los tomos presentes en la muestra a un estado M+.
Informe

Conociendo la temperatura en el canal central y los valores de las primeras

energas de ionizacin, se sabe que la mayora de los elementos se
ionizarn y aquellos tomos con valores inferiores a 10 eV lo harn en ms
de un 50%. Es decir el Ar es una fuente de ionizacin eficiente. Esto lo
podemos apreciar en la tabla siguiente, donde se muestran las energas de
ionizacin de algunos elementos incluido el Ar.
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Tabla 1. Potenciales de 1 y 2 Ionizacin de algunos elementos.
Tabla 2. Comportamiento de los elementos en un plasma de Ar.
Informe

Tanto el plasma como los iones deben pasar desde condiciones

atmosfricas a alto vaco en el espectrmetro de masas. Esto se hace
gracias a la interfase de extraccin de iones (ion extraccin interface). La
interfase posee dos conos de metal (Ni o Pt) con un orificio central de 1
mm, a travs de los cuales el plasma y los iones son extrados al MS a
travs
de
un
nivel
de
vaco
creciente.
Al primer cono se le denomina sampler y a travs de l se accede a una
cmara con un vaco de 10 mbar generado por una bomba rotatoria. El
segundo cono es el skimmer y a travs de l se llega a una cmara con una
presin de 10-3 mbar generado por una bomba Turbomolecular. Una vez
dentro de la cmara principal, el gas es separado de los iones + y
bombeado hacia fuera. Los iones remanentes son extrados y enfocados en
el cuadrupolo (donde la presin es de 10-6 mbar) a travs de las lentes
inicas.
Las lentes inicas tienen como misin enfocar el haz de iones que entrar
en el cuadrupolo. Las lentes tienen forma cilndrica o de plato y son
cuatro. Junto con las lentes tambin existe una barrera de fotones, el cual
impide que la luz emitida por los procesos de desexcitacin en el plasma
pase a travs del analizador de masas y llegue al detector.
II. ANTECEDENTES DEL ICP MS

El origen de la tcnica ICP-MS tiene sus principios en la espectrometra de
emisin atmica usando una fuente de plasma de acoplamiento inductivo
(ICP-AES) en 1960. Los primeros equipos comerciales de ICP-AES fueron
comercializados en 1974, situndose la tcnica como la ms relevante en
el anlisis de lixiviados de rocas, sedimentos, suelos, anlisis de aguas,
monitorizacin ambiental, prospeccin mineral e investigacin mdica.
Mediante ICP-AES se analizaban elementos mayoritarios y elementos
trazas
comunes
y
posteriormente
REE
mediante
separacin
cromatogrfica. Lleg hasta tal punto su popularidad que a mediados de
1980 esta tcnica rivalizaba con la activacin neutrnica (INAA) en la
determinacin de REE.
La contribucin histrica ms importante de la ICP-AES a la geoqumica
fue la de ser un medio alternativo a la INAA para la determinacin de REE,
ya que la INAA era hasta entonces el nico mtodo de anlisis de este
grupo de elementos. Desde 1980, la popularidad de la INAA decreci con el
Informe

desarrollo del ICP-AES. Sin embargo existan numerosos problemas de
efectos de matriz debido a las altas concentraciones requeridas de
muestra.
De aqu surgi la necesidad de introducir un analizador de masas tomando

como base la ionizacin basada en el plasma de acoplamiento inductivo.
Esta es la idea bsica del ICP-MS cuya finalidad fue la de minimizar los
efectos de matriz. Despus de un inicio incierto causado por la
inexperiencia en compensar los efectos de matriz y en parte por la
deficiencia en la instrumentacin, la tcnica de ICP-MS se estableci
firmemente en un nmero creciente de laboratorios llegando a convertirse
en el mtodo preferido para la determinacin de elementos traza.
En la actualidad y en un futuro prximo la ICP-MS junto con la XRF,
sern las tcnicas que dominaran las determinaciones geoqumicas
rutinarias en los laboratorios. Gray (1975) fue el primero en experimentar
el plasma como fuente de iones para MS. Trabajos posteriores fueron los
de Houk et al. (1980), Date y Gray (1981, 1983) o Houk and Thompson
(1982)
Los primeros equipos ICP-MS fueron fabricados en el Reino Unido por VG
Isotopes LTd (PlasmaQuad) y en Canad por Sciex (Elan) a mediados de
1983, aunque no fue hasta 1984 cuando se instal el primer equipo de
laboratorio. Hacia 1992 haba ya 450 equipos instalados en el mundo.
Histricamente la ICP-MS es una de las tcnicas ms recientes:
1960: Espectrometra de Absorcin Atmica.
1963: Fluorescencia de Rayos X.
1970: INAA.
1975 ICP-AES: atomic emission spectrometry.
1985: ICP-MS.
Actualmente estamos sufriendo una nueva revolucin con la tcnica de
LA-ICP-MS y el laser acoplado a MS-MC (espectrometro de masas
multicolectores).
Informe

III. LA TCNICA DE ESPECTROMETRA DE MASAS CON PLASMA DE

ACOPLAMIENTO INDUCTIVO (ICP-MS).
La espectrometra masas por plasma acoplado inductivamente ICPMS es
altamente sensible y capaz de determinar de forma cuantitativa casi todos
los elementos presentes en la tabla peridica que tengan un potencial de
ionizacin menor que el potencial de ionizacin del argn a
concentraciones muy bajas (nanogramo/litro o parte por trilln, ppt). Se
basa en el acoplamiento de un mtodo para generar iones (plasma
acoplado inductivamente) y un mtodo para separar y detectar los iones
(espectrmetro de masas).
Su principal caracterstica es que posee unos lmites de deteccin para la
mayora de los elementos de unas pocas ppb ppt que la hace ideal para
el anlisis de elementos traza.
La muestra, en forma lquida, es transportada por medio de una bomba
peristltica hasta el sistema nebulizador donde es transformada en aerosol
gracias a la accin de gas argn. Dicho aerosol es conducido a la zona de
ionizacin que consiste en un plasma generado al someter un flujo de gas
argn a la accin de un campo magntico oscilante inducido por una
corriente de alta frecuencia. En el interior del plasma se pueden llegar a
alcanzar temperaturas de hasta 8000 K. En estas condiciones, los tomos
presentes en la muestra son ionizados. Los iones pasan al interior del filtro
cuadrupolar a travs de una interfase de vaco creciente, all son
separados segn su relacin carga/masa. Cada una de las masas
sintonizadas llegan al detector donde se evala su abundancia en la
muestra.
Tiene gran variedad de aplicaciones en las siguientes reas: biologa, fsica
de materiales, medioambiente, geoqumica
IV. DESCRIPCIN DE LOS COMPONENTES DEL EQUIPO

1.- Introduccin de la muestra:
Informe

A. Nebulizador: La muestra lquida es introducida en la corriente de gas
en forma de aerosol. La funcin del nebulizador es crear un aerosol con
gotitas de tamao pequeo y uniforme, puesto que solo las gotitas
pequeas se transportan al plasma.
Existen diferentes tipos de nebulizadores en funcin de sus
caractersticas:
1.
2.
3.
4.
- Eficacia segn caudal de la muestra

-Tolerancia a slidos suspendidos o disueltos
-Tolerancia a cidos y bases fuertes y a solventes orgnicos.
- Diferentes posibilidades de que las muestras puedan causar efecto
memoria.
5. - Capacidad de aspiracin.
Figura 5. Localizacin del sistema de introduccin de muestra en un equipo de

ICP-MS
Informe

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Figura 6. Generacin del aerosol en un nebulizador concntrico.
Existen diversos tipos de nebulizadores, cada uno de ellos con sus

ventajas y sus inconvenientes.
Nebulizador Cross-Flow (Flujo cruzado): Estos nebulizadores son menos
susceptibles al bloqueo que cualquier otro, aunque tambin puede ocurrir.
Se basa en un spray ascendente donde un chorro horizontal de gas pasa o
cruza la parte superior del tubo por donde se inyecta la muestra,
rompindose en una nube de pequeas gotas. Esto permite que funcione
con bomba peristltica, que es la encargada de mantener un caudal de
entrada al nebulizador constante.
Figura 7. Cross-Flow o de Flujo cruzado
Ventajas: Bueno para todos los propsitos analticos. Resistente al

cido fluorhdrico (HF). Econmico. Difcilmente obturable.
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Desventajas: Indicado para propsitos generales.
Nebulizador Concntrico o Meinhard: Existen de diversos tipos. Estn

basados en la pulverizacin de la muestra lquida introducida a travs de
un tubo central por medio de un flujo de Argn que viaja en un tubo
externo y concntrico al de la muestra (Figura 6). Los de tipo A, se utilizan
para propsitos generales, los de tipo C se utilizan para muestran con una
alta concentracin de slidos en suspensin y los de tipo K, reducen
considerablemente el caudal de gas.
Figura 8. Concntrico
Ventajas: Mejora considerablemente la relacin seal/ruido.

Minimiza el gasto de Ar.
Desventajas: Se
obtura
fcilmente
por
acumulacin
de
micropartculas o slidos disueltos. Estn construidos de vidrio por
lo que no son resistentes al HF. Su cambio es caro.
Nebulizador Ultrasnico: La muestra alimenta una superficie donde

existe un trasductor piezoelctrico que trabaja a una frecuencia entre 0.2 a
10 Mhz. La onda longitudinal, que se propaga perpendicular a la superficie
del transductor hacia la interfase aire-lquido, produce una presin que
rompe la superficie en un aerosol. Este mecanismo aumenta la
sensibilidad y lmite de deteccin, pero necesita ms tiempo de limpieza y
si la matriz es compleja, el fondo aumenta.
Ventajas: Aumenta la sensibilidad y mejora los lmites de deteccin.

Minimiza la generacin de xidos en el plasma.
Desventajas: Es caro. Los tiempos de lavado son grandes para
muestras con un alto nivel de sales. No puede operar con grandes
cantidades de slidos disueltos.
Nebulizador Microconcentrico: Es del tipo Meinhard pero con una

apertura del tubo de muestra mucho ms pequea.
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Figura 9. Microconcntrico
Nebulizador Babington: Babington (1973) desarroll este tipo de

nebulizador donde permita que una pelcula de lquido fluyera sobre la
superficie de una esfera. El gas introducido a presin convierte a la
pelcula lquida en aerosol. La caracterstica esencial de este tipo de
nebulizador es que el lquido fluye libremente sobre una apertura pequea
mejor que pasando a travs de un capilar fino y esto presenta una gran
tolerancia a los slidos disueltos. El nebulizador original tuvo grandes
problemas de memoria. Una modificacin realizada por Suddendorf y
Boyers (1978) restringiendo el lquido en un surco en V e introduciendo el
gas desde un hueco pequeo en la parte inferior del surco, disminuy los
efectos de memoria. Los surcos en V son resistentes a los bloqueos, sin
embargo no es una geometra ptima para la generacin de un aerosol.
B. Spray chambers: Separa y desecha las grandes gotas de disolucin
que se han formado, para que solo las pequeas se encuentren en
suspensin en el flujo de gas y alcancen el plasma.
La eficiencia del transporte del aerosol se define como el porcentaje de
masa de solucin nebulizada que llega al plasma. Para que este
porcentaje sea alto es necesario que el nebulizador produzca gotas
inferiores a 10 m de dimetro. Generalmente la mayora de los
nebulizadores producen aerosoles con una amplia distribucin de
gotas de dimetros superiores a 100 m. El primer objetivo de la
cmara de spray es separar las gotas grandes (superiores a 10 m) del
gas y desecharlas. Cuando el flujo de gas con el aerosol entra en la
cmara de spray, sufre cambios profundos en su direccin de modo
que las gotas grandes se estrellan sobre las paredes. Estas gotas que
chocan con las paredes se desechan mediante drenaje. La cmara de
spray asegura que solamente las gotas pequeas permanecen en
suspensin en el flujo de gas que llega al plasma. Con esto se pierde
un 99 % de muestra en solucin.
Informe
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Figura 10. Cmara de Spray.
Figura 11. Cmara de Spray Ciclnica.
Figura 12. Cmara de Spray de doble paso o de Schott.
Diversos diseos han sido propuestos y evaluados. El formato ms

normal es el que emplea vidrio, polietileno, PTFE o Ryton. El desalojo de
la solucin se hace mediante el bombeo que realiza una bomba
peristltica, la misma que lleva la muestra al nebulizador. Ciertos
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elementos son problemticos (sobre todo los voltiles) tales como Br y Hg
ya que son retenidos en el vidrio, sobre todo en la punta del inyector de la
antorcha, por largo tiempo incluso cuando se introduce en bajos niveles.
Sin embargo, la mayora de los elementos no presentan tales problemas y
tpicamente se limpian entre 60 a 180 segundos. Durante la ejecucin de
un anlisis es deseable que se monizorice la limpieza eligiendo un
elemento concreto y determinando el tiempo donde se produce un
decaimiento de la seal hasta valores de fondo aceptables. Esto es
importante si un autosampler es utilizado y el tiempo se puede
programar. El aumento de la velocidad de bombeo al mximo entre
muestra no mejora el tiempo de limpieza de la cmara de spray, pero s
reducir el tiempo de toma de la solucin de limpieza o el tiempo para
que la siguiente muestra alcance el nebulizador.
Durante el desarrollo de la tcnica de ICP-MS el agua fue utilizada como
fuentes de iones para la formacin de especies poliatmicas. Las ventajas
de realizar anlisis en ausencia de agua tales como laser, vaporizacin
electrotrmica, o nebulizacin por arco han sido mostradas por Gray
(1986), quien observ que los niveles de H+, O+ y Ar+ en el plasma a
partir de la ecuacin de Saha entre los iones derivados de acidos
minerales tales como N+, S+, Cl+ y C+ aumentaban. Debido a los altos
niveles de estos iones en el plama se sugiere que solamente bajos niveles
de iones poliatmicos se podran originar. Es decir, reduciendo la
cantidad de agua o solvente se reducen los niveles de iones poliatmicos.
2.- Fuente de ionizacin
A. Antorcha: Consiste en tres tubos concntricos de cuarzo a travs de los
cuales fluyen corrientes de argn. La antorcha est rodeada por una
espiral de 2-4 vueltas, la cual genera una radiofrecuencia, un campo
electromagntico. En ella se genera el plasma y se produce la ionizacin
de la muestra.
Informe
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Figura 13. Antorcha.
Se construyen con un alto grado de exactitud usando cuarzo de gran

calidad, siendo una parte principal para la estabilidad y formacin del
plasma. Las antorchas pueden ser desmontables o no. En el primer caso,
supone ventajas para sustituir componentes e introducir materiales
compuestos, aunque son difciles de reconstruir. Generalmente las
antorchas son parcialmente desmontables. Los tubos de cuarzo son los
que se utilizan con mayor frecuencia en las antorchas ya que aguantan
varios cientos de grados, as como el ataque qumico y altos niveles de
radiacin electromagntica a longitudes de onda que se extienden en la
regin del ultravioleta. Estas condiciones causan cambios fsicos y
qumicos en el cuarzo, por lo que con el tiempo se degrada, siendo
necesaria su sustitucin y ya no solamente su limpieza. Por ello quizs es
ms recomendable utilizar antorchas desmontables. La distancia entre la
antorcha y el cono de muestreo esta entre 10 y 15 mm. Generalmente la
antorcha se monta horizontalmente con el centro del inyector alineado
sobre el eje. Los ltimos 25 mm de la antorcha donde pasa el argn de
enfriamiento debe est dentro del "load coil", tal que la distancia entre la
espiral y el cono debe ser de unos 3 a 5 mm.
La figura siguiente muestra un esquema detallado de la antorcha con un
plasma generado en contacto con la interfase de vaco, as como la
disposicin del "load coil" o inductor de radio frecuencia al plasma.
Informe

16
Figura 14. Antorcha con un plasma confinado
En el esquema siguiente podemos apreciar como se genera el plasma: (a)

Un flujo tangencial de Ar pasa por la camisa externa de la antorcha. (b) Se
aplica potencia de radio frecuencia al load coil, produciendo un intenso
campo electromagnetico en su zona de influencia. (c) Una chispa de alto
voltaje aplicada sobre el argn produce electrones libres. (d) Los electrones
libres son acelerados por el campo de radio frecuencia produciendo
colisiones e ionizando el Ar. (e) el plasma de acoplamiento inductivo (ICP)
se ha generado y se confina al final del lado abierto de la antorcha.
Figura 15. Pasos en la generacin de un plasma.
3.-Interfase de extraccin: La funcin de la interfase es extraer el gas del

plasma que es representativo de la muestra original.
Informe

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Figura 16. Localizacin de la interfase en un equipo de ICP-MS
La interfase comprende una etapa de bajo vaco localizada entre dos placas
cnicas de metal conocidas como Cono Sampler (cono de muestreo) y Cono
Skimmer (cono de separacin) que llevan perforados un pequeo orificio.
El trmino interfase es aplicado a estos conos y al espacio formado entre
ellos. El papel de la interfase es extraer una porcin representativa de la
poblacin de iones del plasma y transferirla eficientemente a las regiones
de alto vaco, donde se encuentran las lentes de enfoque, el espectrmetro
de masas y el detector. La interfase est compuesta por dos conos, el de
muestreo y el skimmer que inyectan el flujo del plasma en la zona de vaco
por medio de un vaco diferencial. De presin atmosfrica (760 Torr) donde
se encuentra el plasma, hasta unos 2 Torr que existe en la zona entre
conos. Este vaco es generado por medio de una bomba rotatoria.
Figura 17. Detalle de la interfase.
Informe

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Figura 18. Interfase del equipo Elan-6000 de Perkin-Elmer
En el mercado hay diversas formas y estilos de conos, aunque el diseo

bsico no ha cambiado desde los modelos originales. Se utilizan diversos
materiales tales como Al, Cu, Ni y Pt, aunque el Ni es el mejor en la
relacin calidad/precio. El material sobre el que se construye debe tener
una buena conductividad tanto trmica como elctrica. Si se introducen
materiales orgnicos, se debe utilizar conos de Pt ya que es menos
susceptible de degradacin que el Ni. En el caso de que se inyecte agua
regia no se deben de utilizar los conos de Pt ya que esta es la nica mezcla
cida que ataca al Pt.
Los conos de muestreo de Ni duran bastante (varios meses) y necesita
solamente una limpieza peridica con ultrasonidos sobre todo si la
muestra tiene muchas sales o est muy acidulada. A veces es necesario
utilizar un papel con abrasivo de tamao de grano muy fino. La vida media
de este cono se reduce drsticamente cuando se utiliza cido sulfrico y
con soluciones muy cidas. Si son de Pt pueden llegar a 8000 horas de
uso. Este cono se puede bloquear cuando se introducen muestras con
partculas slidas suspendidas.
El skimmer es ms pequeo y menos robusto que el sampler, sobre todo
en la punta, la cual es mucho ms aguda y regular. Su limpieza es la
misma que la del de muestreo. Los conos skimmer se colocan
generalmente entre 6 a 7 mm de distancia del de muestreo y tambin se
fabrica con Ni o Pt. La punta de este cono tiene una repercusin directa
sobre la sensibilidad del aparato y sobre el nivel de iones poliatmicos.
Generalmente no tiene por qu bloquearse en comparacin con el sampler.
Informe

4.- Lentes Inicas: Las lentes inicas son placas electrostticas situadas
en la zona intermedia, que enfocan el haz de iones que proviene del
skimmer, se les aplica un voltaje que har que los iones positivos del
plasma sean atrados y puedan ser manipulados en la trayectoria
requerida. Adems de dirigir y enfocar los iones, el sistema de lentes
inicas es responsable de separar los iones de las especies neutras y de los
fotones gracias a los campos electrostticos creados.
La funcin de las lentes inicas es transportar los iones procedentes del
skimmer al espectrmetro de masas.
Figura 19. Localizacin de las lentes inicas en un equipo de ICP-MS
Los principios bsicos del funcionamiento de las lentes inicas son los
mismos que los de las lentes electromagnticas usadas en televisores y
microsondas de electrones. Incluso hay programas que permiten simular el
enfoque del haz de modo parecido a un ICP.
Figura 20. Localizacin de las lentes inicas entre la interfase y el analizador de

masas.
Informe
19

Supongamos iones positivos de carga z que se forman en una regin de potencial
V inicial. La energa potencia ser z x Vinicial. Este ion viajar a travs de una
regin si el potencial est por debajo de Vinicial. Es decir ir a las lentes inicas
si los potenciales V1 y V2 son menores que Vinicial. La situacin es parecida que
una montaa rusa. Aplicando un voltaje superior a Vinicial se pararn los iones.
Cuando los iones se mueven lo hacen con una energa cintica de z (Vinicial-V).
La velocidad ser (2z (Vinicial-V)/m). Una vez en el interior del cilindro los iones
experimentan un potencial uniforme y se mueven a velocidad constante e igual
direccin. Dentro del cilindro, si V1 es distinto a V2 los potenciales entre los
cilindros varan con la posicin. Las superficies equipotenciales curvos dan una
misin de enfoque. Cada lente incorpora un disco central para prevenir que los
fotones del plasma puedan llegar al detector, que se denomina photon stop.
Figura 21. Sistemas de eliminacin de los fotones emergentes del plasma.

Izquierda: Sistema detector fuera de eje. Derecha: Disco opaco en eje con el sistema de
conos.
Informe
20

5.- Espectrmetro de masas : Cuadrupolo

Son cuatro barras de metal que se encuentran paralelas y equidistantes, a
las cuales se les aplica un potencial de corriente continua y un potencial
de radiofrecuencia. La combinacin de estos campos hace que solo
aquellos iones de una determinada relacin m/z tengan una trayectoria
estable y lleguen al detector. Por lo tanto, el cuadrupolo separa los iones
en base a su relacin m/z.
La funcin del espectrmetro de masas cuadrupolar consiste en separar
los iones en funcin de su relacin carga masa.
Figura 22. Localizacin del sistema cuadrupolar en un equipo de ICP-MS
Son cuatro barras de metal que se encuentran paralelas y equidistantes al

eje. Idealmente estas barras tienen una forma hiperblica. La tolerancia en
cuanto a las dimensiones de construccin es de 10 m o menos. Las
barras opuestas estn unidas. Voltajes DC y RF de amplitud U y V
respectivamente se aplican a cada par. El voltaje DC es positivo para una
parte del par y es negativo para el otro. El voltaje RF de cada par tiene la
misma amplitud pero tienen signo opuesto.
Las trayectorias de los iones y propiedades de transmisin de un
cuadrupolo puede ser calculado con cierta exactitud. El diagrama de
estabilidad es esencialmente un grfico del parmetro a (U/(m/z)) en
funcin de q (V/(m/z)). Solamente se muestra el cuadrante derecho
superior.
Informe
21

Figura 23. Disposicin de los polos en el cuadrupolo.
A cada pareja de polos se le aplica un potencial constante, mediante

corriente continua (DC) y simultneamente un potencial oscilante
mediante corriente alterna (AC). De esta forma se consigue crear una
distribucin de campo en el espacio interior a los 4 polos, caracterizado
por las ecuaciones de potencial
donde U es el potencial DC, V el mximo potencial AC y w la frecuencia de

oscilacin de dicho campo. La figura siguiente nos muestra como se
aplican estos potenciales sobre los polos.
Figura 24. Distribucin de potenciales en el cuadrupolo.
Una partcula i sometida a la accin del campo cuadrupolar, describe una

trayectoria definida por las ecuaciones de movimiento de Mathieu.
Informe
22

Estas trayectorias definen los iones que van a ser capaces de atravesar el
cuadrupolo y llegar al sistema de deteccin. De esta forma, variando los
potenciales U y V aplicados a los polos, podemos sintonizar una
determinada masa y medir la seal que de ella llega al detector.
23
Figura 25. Esquema de funcionamiento del analizador cuadrupolar.
Las trayectorias de los iones estn determinada por U, V, m/z y otros

parmetros fijos tales como el radio de las barras y la frecuencia RF. Para
la mayora de los valores de a y q, los campos Rf y Dc se desplazan fuera
de las barras. Tales trayectorias se les denominan inestables ya que los
iones tienen caminos inestables. Los iones con caminos estables son
aquellos que se encuentran dentro de las barras. Estos iones tienen
valores de a y q que se encuentran dentro de la zona piramidal del
diagrama.
Como se observa dentro del diagrama un ion con m/z = M tendr un
camino estable a travs de las barras, si a y q seleccionados permiten que
los valores correspondientes de a y q sobre la lnea de scan se site bajo la
punta del diagrama de estabilidad. Los iones vecinos para esos valores U y
V se encuentran fuera de la regin estable.
Informe

Figura 26. Zonas de funcionamientos de un cuadrupolo. Expresin grfica de las ec

de Mathieu.
6.- Detector: Multiplicador de electrones

El ms utilizado es el Channeltron electrn multiplier (electrn
multiplicador). El efecto es muy parecido al fotomultiplicador. Es un tubo
de vidrio abierto con un cono en una terminacin. Para la deteccin de
iones positivos, el cono es sometido a un alto potencial negativo
(aproximadamente -3kV).
Cuando los iones chocan con su superficie se originan electrones
secundarios que se movern, debido al cambio de potencial, hacia otras
zonas donde originarn ms electrones secundarios, los cuales provocarn
una seal elctrica.
Figura 27. Esquema de funcionamiento de un detector channeltron.
Cuando los iones salen del analizador de masas, son atrados por el
potencial negativo del cono. Cuando los iones chocan con su superficie, se
originan uno o ms electrones secundarios. El potencial dentro del tubo
vara continuamente con la posicin, tal que los electrones secundarios se
mueven hasta llegar a otra zona donde se originan otros electrones
Informe
24

secundarios, y as sucesivamente. El tubo est cubierto por un material
semiconductor. La vida media del multiplicador est determinada por la
carga total acumulada.
V. SISTEMA DE VACIO
El plasma se encuentra a presin atmosfrica mientras que el
espectrmetro de masas requiere el movimiento de iones sin colisin, o
bajo un sistema de vaco. La estrategia de vaco para el ICP-MS es reducir
gradualmente la presin en estadios separados por una tcnica que se le
denomina bombeo diferencial. El sistema tiene tres orificios (sampler,
skimmer y orificio de bombeo diferencial). En el primer estadio se utiliza
un bombeo mecnico. La velocidad de bombeo es baja.
En las lentes inicas, la presin es de 10-5 Torr. Virtualmente todo el gas
que viene desde el plasma a travs del skimmer es evacuado. El tercer
estadio es de 10-7 Torr o menos para la zona del cuadrupolo y detector.
Las bombas rotorias o mecnicas se utilizan para la interfase. Se
fundamenta en el giro de un rotor dentro de un cilindro de metal o stator.
El rotor contiene dos barras que carga y presiona sobre las partes internas
del estator. El aceite ayuda a lubricar los brazos. La presin que se alcanza
es de 10-4mbar. Otro tipo de bombas son las bombas turbo moleculares,
las cuales originan alto vaco en poco tiempo. Se trata de una turbina que
gira a altas velocidades (30.000 rpm) dentro de un cilindro hueco. El gas
de la cmara fluye a la bomba y es comprimido por la turbina. Aqu se
utiliza lquido refrigerante.
Por ltimo, las bombas de difusin o difusoras no tienen movimiento
mecnico. El bombeo consiste de un tubo de metal que est enfriado por
agua en la parte superior y calentado en la parte inferior. El aceite es
voltil a altas temperatura. Las molculas de aceite vaporizadas pasan a
travs de las paredes fras, condensndose. Los tomos de gas colisionan
con las molculas de aceite. Eventualmente, los tomos del gas del flujo de
la cmara pasan a un puerto donde se desaloja mecnicamente.
Informe
25

26
Figura 27. Esquema del sistema de vaco
VI.
INTERFERENCIAS
Existen dos tipos de interferencias principales :
a) Espectroscpicas.
b) No espectroscpicas o efectos de matriz.
El primer grupo se puede subdividirse en cuatro tipos:
a.1. Solapamientos isobricos.
a.2. Iones Poliatmicos.
a.3.Iones oxidados refractarios.
a.4.Iones con carga doble
Las interferencias no espectroscpicas se subdividen en
b.1) efectos de supresin-.
b.2) efectos fsicos causados por altos slidos disueltos totales.
La extensin de los problemas de interferencia est relacionados con la
naturaleza de la matriz de la muestra, por lo tanto pueden ser
minimizados con una cuidadosa preparacin de esta.
a.1. Solapamientos isobricos.
Un solapamiento isobrico existe cuando dos elementos tienen istopos de
igual masa. En general, las dos masas pueden diferir por una pequea
cantidad, pero la resolucin 0.005 m/z no puede ser resuelta por un
Informe

analizador de masas cuadrupolo usado normalmente en los equipos ICP.
Para discriminar las masas hay que utilizar un sistema de resolucin con
un doble enfoque de masas.
Existen elementos con uno (Co), dos (Sm) o incluso tres (Sn) istopos libres
de solapamientos isobricos. Sin embargo el In puede tener un
solapamiento con 115Sn y 113Cd. Como regla general, las masas impares
tienen solapamientos y las pares no muestran solapamientos. A veces el
istopo ms abundante tiene un solapamiento isobrico 48Ti (73.7 de
abundancia) y 48Ca. La masa 138 puede tener Ba, La y Ce. En la mayora
de las muestras la concentracin de Ba es mayor que La o Ce. Por lo tanto
en la prctica 138Ba puede usarse para medir sin necesidad de ninguna
correccin
de
datos.
Sin embargo, un problema ms grave existe entre Hg y Pb con la masa
204. 204Pb es el nico istopo estable de Pb, por lo que su determinacin
precisa es crtica, ya que el resto de las masas se dividen por l.
Hg est en bajas concentraciones en muestras geolgicas, pero es un
contaminante comn en HNO3, por lo que es necesario realizar una
correccin, haciendo una medida de 201Hg segn la relacin siguiente:
204Pb = (204Hg-201Hg/13.2)*6.8
En principio, cualquier solapamiento isobrico puede ser corregido segn
este mtodo, incluso ya mucho software de ICP incorpora estas
correcciones. De todas formas, incluso haciendo estas correcciones existe
tambin un grado de error. 56Fe y 57Fe son istopos libre de
solapamientos isobricos, sin embargo estn sometidos a interferencias de
iones poliatmicos. 58Fe se puede utilizar para el anlisis de muestra con
alta relacin Fe/Ni. Pero muestras con Ni alto la seal debida a 58Ni es
ms grande que 58Fe. La efectividad de la correccin entre 48Ca y 48Ti ha
sido demostrada para la determinacin de Ti en dos muestras geolgicas
ricas en Ca (NBS-1b (caliza arcillosa y NBS-120b (roca fosfatada). Adems
de los solapamientos isobricos entre elementos presentes en una muestra
de la matriz o en los cidos de disolucin, existe una serie de
solapamientos con Ar, el gas del plasma, y con Kr y Xe, el cual puede
aparecer como impurezas en argn lquido. Ya que la mayor poblacin de
iones en el plasma est formado por Ar, entonces correcciones de la masa
40 para 40Ar(99.6), 40K (0.01%) y 40Ca (96.9) no puede realizarse, por lo
que se utilizan istopos alternativos. La presencia de Kr puede interferir
con 84Sr y 88Sr. Para una precisa determinacin de Sr ser necesario
utilizar balas de gas Ar de alta pureza. Adems Kr tiene tres solapamientos
Informe
27

con Se, el Xe tiene nueve istopos 124-136, site de los cuales tiene
solapamientos con Ba o Te.
a.2. Iones Poliatmicos.
Desde un punto de vista prctico, este tipo de interferencias son ms
graves que los solapamientos isobricos. Los iones resultan de una
combinacin de corta vida de dos o ms especies atmicas por ejemplo
ArO+.
Ar, H y O son las especies dominantes en el plasma y estas pueden
combinarse unas con otras o con elementos de la matriz, especialmente
con los elementos principales que estn presentes en los solventes o cidos
usados durante la preparacin de la muestra (N, S y Cl).
Un gran nmero de iones poliatmicos puede ocurrir, sobre todo a masas
superiores a 82. La formacin de estos iones depende de la geometra de
extraccin, parmetros del plasma y sistema del nebulizador. Pero sobre
todo es la naturaleza del cido y la matriz de la muestra de la que
depende.
Para agua desionizada, los picos poliatmicos principales ocurren a 56
(ArO), 42 (ArH2) y 80 (Ar2). Pero la muestra est generalmente acidificada
(aguas naturales) o digeridas (suelos, rocas y muestras biolgicas), con
una variedad de cidos orgnicos antes del anlisis.
Si utilizamos HNO3 o H2O2, los picos de iones poliatmicos son muy
parecidos a los de agua desionizada y por lo tanto es una matriz idea.
Si utilizamos HCl o H2SO4, las matrices son ms complejas. En HCl las
principales ocurren entre 51 y 53 (35Cl16O y 37Cl16O) con dos pucos
similares a 52 y 54 que resultan de la combinacin de ArO con 37ClOH y
ArO con 35ClOH.
Adems a 75 y 77 ocurre con la formacin de ArCl causando interferencias
con As y Se en una matriz de HCl. En H2SO4 los picos poliatmicos
ocurren a 48 (SO). 64 (SO, S2), 49 (SOH con SO) y 50 (SO con SOH) los
cuales son el resultado de la combinacin de S y O.
Para analizar Fe se prefiere usar 57Fe que 56Fe ya que interfiere con
ArOH. Muchas de estas interferencias se originan a causa de O y H. Estos
elementos son derivados de la disociacin de agua desde la solucin. Esto
se puede reducir si la cantidad de vapor de agua se reduce usando un
regulador de temperatura en la spray chamber.
Informe
28

a.3.Iones oxidados refractarios.
Estas especies ocurren como un resultado de la disociacin incompleta de
la matriz de la muestra o a partir de la recombinacin del plasma en la
cola. Cualquiera que fuera el origen de estos iones, el resultado es una
interferencia de M unidades de 16 MO, 32 MO2 o 48 MO3.
En general el nivel de xidos que cabe esperarse se puede predecir de la
fuerza de enlace monxido del elemento referido. El oxgeno es introducido
en el plasma en forma de vapor de agua y en gotas de agua producidas por
el nebulizador.
El agua causa una reduccin de la temperatura del plasma ya que parte
de esta energa se utiliza para disociar las molculas. Esto produce un
cambio significante en el equilibrio del plasma. Las relaciones entre MO+
/M+, tasa de flujo del nebulizador y energa de RF deben ser controladas.
Las relaciones de MO+ /M+ (relacin de la especie oxido con respecto al
elemento) son altas con altos flujos y bajas RF. En general, el nivel de
formacin de xido raramente excede 1.5% para la mayora de los
elementos.
Uno de los problemas ms importantes reside en la formacin de xidos
con LREE., las cuales pueden originar interferencias serias sobre las
HREE.
Las REE es un grupo que se encuentran entre 139La a 175Lu. Cualquier
elemento por encima de 155 puede estar afectado por xidos refractarios.
Algunos autores han registrado valores de CeO+ del 30%.
Para desarrollar una estrategia de correccin se puede analizar una
muestra solamente con el elemento problemtico y reconocer su
contribucin de xidos.
a.4. Iones con carga doble
En el ICP, la mayora de los iones son productos de iones con carga nica,
aunque algunas especies tienen carga mltiple. La extensin de la
formacin de iones con carga doble en el plasma est controlada por la
segunda energa de ionizacin del elemento y las condiciones de equilibrio
del plasma.
Aquellos elementos con una segunda energa de ionizacin ms baja que la
primera de Ar alcanzar un grado significante de formacin de carga 2+.
Estos elementos son los alcalino-trreos, metales de transicin y REE. El
Informe
29

flujo de gas nebulizador puede afectar a iones cargados. A tasas de flujo
bajas, la temperatura del plasma aumenta y el equilibrio deriva hacia la
formacin de iones 2+. Estos se producen en un 1%.
En general la presencia de iones 2+ implica una prdida de sensibilidad
para las especies +1, y genera un nmero de solapamientos isotpicos a la
mitad de la masa del elemento padre. Afecta sobre todo a Mn y Fe con Ga y
Ge.
VII. ENCENDIDO DEL PLASMA. VISUALIZACIN DE PARMETROS
De forma habitual el equipo se mantiene en modo Standbye, es decir con
el vaco conectado. Al comenzar una sesin de trabajo debemos conectar el
plasma, pero antes debe estar encendido el sistema de refrigeracin y el
extractor. Una vez encendida la antorcha el equipo pasar al modo anlisis
y ya podemos empezar a trabajar. Es importante comprobar el estado de
todos los parmetros en el panel de control:
-
vaco : presin en la interfase y en el analizador

agua de refrigeracin : flujo, temperatura
presin y flujo del plasma gas y del carrier gas.
VIII. OPTIMIZACIN (TUNING). PARMETROS DE OPTIMIZACIN

La sintona es una operacin bsica que se realiza antes de una sesin
analtica. El objetivo es conseguir una seal estable y sensible usando una
solucin de sintona de 1 ppb de Li, Y, Ce y Tl.
Los parmetros de sintona a tener en cuenta son sobre todo la posicin de
la antorcha, flujo de gas y posicin de las lentes extractoras e inicas.
Informe
30

31
Sensibilidad: Con Li-7 ; Y-89 y Tl-205 cubriremos prcticamente todo el

rango de masas y podremos ver la seal obtenida ( cps: cuentas por
segundo). La RSD% no puede ser mayor del 15%.
Formacin de xidos: El nivel de xidos (MO+) se mide a partir de la
relacin CeO/Ce , puesto que el CeO es muy estable en el plasma y tiene
un fuerte enlace. Es deseable un bajo nivel de xidos en un ICP-MS y la
medida del cociente CeO/Ce da una referencia sobre la robustez del
equipo.
Formacin de especies dobles cargadas: Aquellos elementos con una
segunda energa de ionizacin ms baja que la primera de Ar alcanzar
un grado significativo de formacin de carga 2+. Estos elementos son los
alcalino-trreos, metales de transicin y REE.
Forma de los picos espectrales.
IX. Anlisis cualitativo.

El ICP-Ms permite recoger las seales de todas las masas durante una
serie de escaneos o mediante peak jumps (a saltos). Esto permite examinar
cualitativamente una muestra desde un rango de masas de 4 a 240 m/z).
El espectro puede ser examinado visualmente para determinar la
presencia o no de un analito y para identificar las posibles fuentes de
interferencias.
Si una muestra desconocida llega al laboratorio, es imprescindible realizar
Informe

este tipo de anlisis cualitativo antes de una determinacin cuantitativa
total.
X. Anlisis semicuantitativo
En muchos ICP-MS, se puede obtener un grfico de sensibilidad frente a
sensibilidad de masa, dando una curva suave si el grado de ionizacin y
abundancia isotpica son tenidas en cuenta. Esta curva puede usarse
para calibrar el instrumento y dar un dato semicuantitativo. En la
prctica, este mtodo sirve solamente para investigar en qu rango de
concentraciones nos encontramos.
La forma de la curva depende de una serie de factores de sintona del
equipo tales como ptica y cudruplo. Cada vez que se haga este tipo de
anlisis debe redefinirse esta curva ya que las condiciones cambian
diariamente.
La exactitud de este mtodo vara altamente en funcin del elemento y de
la matriz.
XI. Anlisis cuantitativo
a. Calibracin Externa. Es el mtodo de calibracin ms utilizado,
caracterizndose por usar estndares de calibracin externa. Para anlisis
de solucin estos pueden tener un cido simple o una matriz acuosa
conteniendo los analitos de inters. Antes es necesario preparar las
soluciones standards que cubran todo el rango de concentraciones
esperado. Para anlisis de muestra slida (laser) el standard debe tener
una matriz igual que las muestras desconocidas. Los standards acuosos
deben estar suficientemente diluidos (<2000g/ml de TDS). Por encima de
este nivel, los efectos de viscosidad y matriz pueden ser significantes.
b. Adicin standard. Esta estrategia de calibracin alternativa ha sido usada
con algn xito en ICP-MS. La calibracin se efecta usando aliquots de la
muestra que va a ser analizada, aadindose cantidades en aumento de
una solucin que contiene los elementos de inters. Una vez que las
muestras han sido analizadas, se construye un grfico de la integral del
istopo de inters vs la concentracin del elemento aadido. El intercepto
de la lnea de calibracin sobre el eje X (nmero negativo) da la
concentracin de la muestra sin dopar. Este mtodo da alta exactitud y
precisin, lleva mucho coste de tiempo y solamente se puede realizar para
pocos elementos.
Informe
32

c. Dilucin isotpica. La base de este mtodo consiste en la medida del
cambio en la relacin de las intensidades de la seal para dos istopos de
un elemento de inters despus de la adicin de una cantidad conocida de
spike, el cual est enriquecido en uno de estos istopos.
Esta medida permite calcular la concentracin del elemento en la
muestra. Puede aplicarse a cualquier elemento con al menos dos istopos
estables o con elementos monoisotpicos con un radio istopo de alta vida
(Mn).
XII.
PREPARACIN DE MUESTRAS PARA ICP-MS
Las operaciones de preparacin de muestras van a ir en funcin del tipo de

muestra que se considere (slida o lquida). Para la mayora de las
muestras slidas es necesario la disolucin siendo una de las operaciones
ms comunes en laboratorios de qumica analtica. Se utilizan cidos
minerales fuerte para la digestin de la muestra. Se combinan de forma
apropiada. Generalmente se realiza en cpsulas que resisten los
incrementos de presin, temperatura y el ataque de los cidos. Un mtodo
alternativo es la fusin de la muestra con lcalis seguido por la disolucin
en un cido diluido. Este mtodo es eficaz en la digestin de minerales
refractarios y minerales de mena. La alta sensibilidad del ICP-MS y el
amplio rango de elementos trazas que se incorporan en la mayora de los
protocolos, requiere un gran cuidado para evitar la contaminacin durante
la
preparacin
de
la
muestra.
La contaminacin puede proceder de:
-Molienda
-Ambiente en el laboratorio y aparatos
-cidos usados durante la preparacin.
XIII.
de
digestin.
ADQUISICIN E INTERPRETACIN DE DATOS
El ICP-MS proporciona dos tipos de medidas:

1. Scanning: Realiza una exploracin de un rango de masas
definido y el cuadrupolo camina secuencialmente a travs de todo el
rango de masas definido. Es el mtodo de adquisicin ms adecuado
para la investigacin de muestras desconocidas, donde la matriz es
desconocida y se precisa conocer la posible presencia de analitos que
puedan originar interferencias en la medida de las muestras.
Informe
33

2. Peak jumping: Donde el operador selecciona los istopos a ser
medidos y las masas no seleccionadas son saltadas. Es el mtodo de
medida utilizado cuando los analitos objetos de estudio son conocidos
y no se requiere otra informacin adicional (por ejemplo, la presencia
o no de otros analitos).
XIV.
ANLISIS CUANTITATIVO
CURVA DE
RESPUESTA MOLAR
En un anlisis semicuantitativo, el equipo da unos valores de

La adicin de una serie de patrones internos a la muestra
concentracin
para cada masa en base a una curva de respuesta molar.
permite construir la curva de respuesta molar del equipo.
1600000
Determinacin de Pb
1200000
Tb
Th
Tl
RM
800000
Y
400000
In
Co
Sc
0
0
50
100
150
200
250
Masa
RM = (Seal x Potencial ionizacin) / (Abundancia x Concentracin)

m/z = masa/carga
Originariamente, los fabricantes del equipo con una solucin

multielemental de concentraciones conocidas elaboraron una curva de
respuesta molar que es la que dispone el software del equipo. Al hacer un
anlisis semicuantitativo, el cuadrupolo ir barriendo todo el espectro y
para cada masa obtendremos una seal, es decir un nmero de cuentas o
de cuentas por segundo, que aplicada a la curva nos dar una respuesta
molar. Conociendo todos los trminos de la frmula despejar la
concentracin. Pero debemos tener en cuenta que el estado del equipo
vara cada da, por lo que las seales obtenidas sern diferentes y por lo
tanto tambin lo ser la curva de respuesta molar. Una forma de obtener
una curva real en cada momento es hacer un ajuste de la misma con
patrones de concentracin conocida e inmediatamente despus realizar el
anlisis de la muestra.
En la prctica, este mtodo sirve para conocer la matriz y para investigar
en qu rango de concentraciones nos encontramos y nos da un error del 5
al 30%.
Informe
34

XV.
APLICACIONES
Medio ambiente: Calidad de aguas potables, caracterizacin de residuos

txicos, contaminacin de aguas, control de contaminacin atmosfrica,
caracterizacin de suelos, especiacin de contaminantes.
Energa: Anlisis de combustibles slidos y lquidos, anlisis elemental
de productos de combustin, control de empobrecimiento/enriquecimiento
isotpico, control de impurezas en combustibles nucleares.
Qumica: Caracterizacin de materias primas, control de calidad de
productos terminados, qumica fina, pureza de productos de alto valor
aadido.
Geologa: Medidas cuantitativas y semicuantitativas, anlisis de
lantnidos y actnidos, mapas de distribucin superficial, relaciones
isotpicas, caracterizacin de rocas, minerales y sedimentos.
Electrnica: Pureza de materiales semiconductores, defectos en
cermicas, dopantes en superconductores, trazas y ultratrazas en
reactivos, control de calidad en materiales para dopado, RoHS/WEEE para
Pb, Cd, Cr y Hg.
Biomedicina: Estudios con trazadores isotpicos, especiacin
bioinorgnica, trazas y ultratrazas en tejidos y fluidos biolgicos.
Arte y Arqueometra: Caracterizacin por determinaciones isotpicas,
anlisis inorgnico de pigmentos, bases y materias primas, anlisis de
bronces, metales y aleaciones, caracterizacin de cermicas por anlisis de
ultratrazas, autentificacin de piezas de arte.
Ciencia y tecnologa de alimentos: Control de materias primas,
contaminacin y control de toxicidad, migracin elemental desde envases,
control de calidad de productos manufacturados.
El ICP-MS tiene tambin la posibilidad de realizar determinaciones
semicuantitativas de elementos de los cuales no se dispone de patrn con
un error inferior al 15%. El equipo puede realizar un barrido en todo el
rango de masas proporcionando informacin semicuantitativa de casi
todos los elementos de la tabla peridica sin necesidad de utilizar patrn
XVI.
REQUISITOS Y LIMITACIONES
Informe
35

Las muestras se entregarn en mano al responsable de la tcnica, junto
con la hoja de solicitud del anlisis.
Las muestras a analizar se entregarn en tubos de 10 50 ml

numerados correlativamente.
Los sistemas de introduccin de muestras disponibles para este tipo

de tcnica son muy variados, pudindose utilizar para el anlisis de
muestras slidas, lquidas o gaseosas. El equipo del Parque Cientfico
Tecnolgico de la Universidad de Burgos dispone de la nebulizacin
como sistema de introduccin de muestras lquidas y la ablacin lser
como modo de introduccin de muestras slidas.
No se analizarn muestras que contengan cido fluorhdrico, ya que

se podran daar las partes internas del equipo.
Las muestras que no se recojan en el plazo de diez das sern

desechadas en el contenedor adecuado.
A pesar de la gran evolucin de las tcnicas instrumentales en los

ltimos 20 aos, todava existen algunas limitaciones de la tcnica:
1. Tolerancia del plasma: supresin de la ionizacin o problemas en la
interfase (bloqueo de los conos y deriva de la seal) debido a muestras
con alto contenido de matriz (>0.3%).
2. Presencia de interferencias espectrales derivadas de la matriz: varan
en funcin de la composicin de las muestras. Generalmente son
variables y desconocidas.
3. Rango lineal limitado, especialmente cuando se trabaja en muy
diferentes niveles de concentracin (configuracin de alta sensibilidad
para elementos ultratrazas, podra saturar la seal de mayoritarios).
Informe
36

CONCLUSIONES
El ICP - MS permite el anlisis simultneo. Cuando el laboratorio est
equipado con los instrumentos de medida, utilizar este mtodo para el
anlisis de muestras si la determinacin es de ms de cinco o seis
elementos.
Este anlisis incluyen prcticamente todos los elementos de la tabla
peridica en una amplia variedad de muestras lquidas y slidas, pero este
anlisis se hace ideal para el anlisis de elementos traza siendo su
principal caracterstica es que posee unos lmites de deteccin para la
mayora de los elementos de unas pocas ppb ppt.
El uso de estadstica adecuada en procedimientos pueden ayudar a revelar
las relaciones en los datos conjuntos que no son obvias.
La evaluacin detallada del anlisis de varianza mostr que entre los

elementos existe el ms grande y las ms pequeas las diferencias.
Cuando varios analitos se miden se miden en cada muestra, es til aplicar

este mtodo estadstico.
Informe
37

BIBLIOGRAFA
Principios bsicos de la tcnica ICP-MS, Jos ngel Rodrguez
Castrilln.
Meeting the demands of ICP-MS with Type I ultrapure wter,
Elga Labwater.
Tutorial de Espectroscopio, Robert Thomas.
Determination
of
phosphorus
by
mass
spectrometry
with
inductively coupled plasma. Chemick listy, Kaa A. 2010

Fundamentos y aplicaciones de la espectrometra de masas con
fuente de plasma de acoplamiento inductivo (ICP-MS), Maria
Montes Bayn
https://www.uam.es/personal_pas/txrf/icpms.html.
http://www.ubu.es/es/pct/servicios-cientifico
tecnicos/espectrometria/espectrometria-masas-plasma-icp-ms
http://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-deanalisis/espectrometria-de-masas-por-plasma-de-acoplamientoinductivo.html
Informe
38

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Universidad Nacional Mayor

E.A.P. de Ingeniera Geolgica

ESPECTROMETRA DE MASAS CON

Curso: Microscopa de Opacos

Lima, 12 de Noviembre del 2014

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

ESPECTROMETRA DE MASAS CON FUENTE DE PLASMA

Podemos definir un plasma como cualquier volumen de gas con parte de

Figura 1. Trayectoria de una partcula cargada en un campo magntico constante

Por efecto Joule, en este caso de friccin inica y electrnica, se consiguen

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Coexistiendo con el plasma encontramos al menos las siguientes especies

Figura 3. Antorcha, fuente de iones y conos de muestreo en un equipo de ICP-MS.

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 4. Detalle del plasma incidiendo sobre el cono de muestreo en un equipo de

En el ncleo del plasma se alcanzan temperaturas de hasta 10.000K. El

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Conociendo la temperatura en el canal central y los valores de las primeras

Tabla 1. Potenciales de 1 y 2 Ionizacin de algunos elementos.

Tabla 2. Comportamiento de los elementos en un plasma de Ar.

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Tanto el plasma como los iones deben pasar desde condiciones

II. ANTECEDENTES DEL ICP MS

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

De aqu surgi la necesidad de introducir un analizador de masas tomando

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

III. LA TCNICA DE ESPECTROMETRA DE MASAS CON PLASMA DE

IV. DESCRIPCIN DE LOS COMPONENTES DEL EQUIPO

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

- Eficacia segn caudal de la muestra

Figura 5. Localizacin del sistema de introduccin de muestra en un equipo de

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 6. Generacin del aerosol en un nebulizador concntrico.

Existen diversos tipos de nebulizadores, cada uno de ellos con sus

Figura 7. Cross-Flow o de Flujo cruzado

Ventajas: Bueno para todos los propsitos analticos. Resistente al

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Desventajas: Indicado para propsitos generales.

Nebulizador Concntrico o Meinhard: Existen de diversos tipos. Estn

Ventajas: Mejora considerablemente la relacin seal/ruido.

Nebulizador Ultrasnico: La muestra alimenta una superficie donde

Ventajas: Aumenta la sensibilidad y mejora los lmites de deteccin.

Nebulizador Microconcentrico: Es del tipo Meinhard pero con una

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Nebulizador Babington: Babington (1973) desarroll este tipo de

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 11. Cmara de Spray Ciclnica.

Figura 12. Cmara de Spray de doble paso o de Schott.

Diversos diseos han sido propuestos y evaluados. El formato ms

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 13. Antorcha.

Se construyen con un alto grado de exactitud usando cuarzo de gran

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 14. Antorcha con un plasma confinado

En el esquema siguiente podemos apreciar como se genera el plasma: (a)

Figura 15. Pasos en la generacin de un plasma.

3.-Interfase de extraccin: La funcin de la interfase es extraer el gas del

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 16. Localizacin de la interfase en un equipo de ICP-MS

Figura 17. Detalle de la interfase.

Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Figura 18. Interfase del equipo Elan-6000 de Perkin-Elmer