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MR
ptica de alta calidad, totalmente de cristal, con recubrimientos de precisin que permite distinguir los detalles de cada imagen Diseo parfocal: permite visualizar toda la muestra y aumentar la imagen, sin perder el enfoque, para alcanzar el mximo detalle
Iluminacin con luz transmitida, luz reflejada o con ambas simultneamente Los estudiantes pueden cambiar fcilmente entre los distintos mtodos de iluminacin La temperatura de la platina permanece fra para una mayor seguridad en la operacin Iluminacin por 3 mtodos: reflejada, transmitida o combinacin de ambas.
Visin para fabricar el mejor microscopio estereoscpico. Ncleo telescpico que garantiza la estabilidad de la imagen y la duracin del equipo
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Su excepcional construccin implica proteccin incorporada contra polvo, suciedad, fugas y manipulaciones inadecuadas Platina de cristal cementado que protege los componentes internos Oculares fijos para eliminar prdidas y roturas Base de aluminio de gran robustez que proporciona estabilidad y solidez.
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384-322 BC
Filsofo y visionario griego. Las observaciones de Aristteles en zoologa y biologa lo llevaron a concebir y sistematizar disciplinas cientficas, tales como la fsica, la astronoma, la meteorologa y la zoologa.
Luz re fle
Aristteles
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Accesorios.
Elimine las conjeturas al hacer mediciones.
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Variada gama de retculos para aplicaciones de medicin y conteo Retculos de fcil instalacin, para la mayora de las aplicaciones Las mediciones pticas garantizan la exactitud entre usuarios con diferentes niveles de conocimiento
Incorporar un sistema de vdeo permite la observacin y la discusin en grupo La cmara de vdeo Leica de uso general es fcil y rpida de instalar tanto para observacin microscpica como macroscpica El sistema de vdeo avanzado Leica produce imgenes en vivo brillantes y de alta resolucin para captar la atencin de los estudiantes Sistema de cmara de 35 mm.
La cmara de 35 mm proporciona un mtodo prctico de grabacin que puede transferirse a otros medios
La adaptacin de Leica es compatible con la mayora de las cmaras de 35 mm Descubre a los estudiantes las caractersticas ms importantes de su muestra Documenta las muestras para poder utilizarlas en lecciones futuras
1642-1727
Explorador y navegante, La visin ydeterminacin de Cook le permitieron navegar dos veces alrededor del mundo creando mapas exactos que incluan ms superficie terrestre que cualquier otro anterior o posterior.
Luz ref l ec
James Cook
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ESPECIFICACIONES
13.75" 34.9cm
7" 18 cm
2 10 5 " c m
Sistema de Video
DIMENSIONES DEL INSTRUMENTO 10 x 7 x 13.75 25 cm x 18 cm x 34.5 cm DIMENSIONES DE ENVO Internacional 19 x 17 x 13 48.3 cm x 43.2 cm x 33 cm Estados Unidos 10 x 15 x 16 25 cm x 38.1 cm x 40.6 cm PESO DEL INSTRUMENTO 11.5 lbs / 5.2 kgs PESO DE ENVO Internacional 16 lbs / 7.3 kgs FABRICACIN Pedestal de aluminio fundido OCULARES 10X 18 mm campo de visin 15X 14 mm campo de visin RANGO INTERPUPILAR 1.94-2.88 49 - 73 mm NGULO DE VISUALIZACIN 60 del eje horizontal CARACTERSTICAS PTICAS Acromtico, todo cristal RANGO DE AUMENTO DEL ZOOM Sistema continuo de zoom Estndar 7X 30X relacin 4:1 10.5X 45X relacin 4:1 Versin de ocular enfocable Hasta 90X de aumento con accesorios DISTANCIA DE TRABAJO MECNICA 4.25 / 100 mm al espcimen ILUMINACIN Combinacin de tres modalidades Luz reflejada 6 V, 15 vatios halgeno 200 horas Luz transmitida 120 V, 15 vatios tungsteno 1000 horas 230 V, 15 vatios tungsteno 1000 horas Dimetro de rea de luz transmitida 1.6 / 40 mm DIMENSIONES DE LA PLATINA Ancho x profundidad 6.9 x 7.7 175 mm x 196 mm ESPECIFICACIONES ELCTRICAS 120 V 230 V APROBACIONES UL, cUL VDE, CE 120 V 230 V Estados Unidos 14lbs /6.4 kgs
10X Ocular
13311581
15X Ocular
13310564
Retculos de Medicin
Dimetro 21 mm, para especificaciones consultar los oculares 10X 13311601 5 mm de largo marcado en 0.5 mm, 100 divisiones 13311602 10 mm de largo marcado en 0.1 mm, 100 divisiones 13311604 0.20 de largo 100 divisiones de 0.002 con zoom ajustado a 2X 13311605 5 mm de largo marcado en 0.1 mm, 100 divisiones 13311607 0.50 de largo 100 divisiones de 0.005 con zoom ajustado a 1X
2001 Leica Microsystems Inc. ISO-9001 Printed in USA EDU-2400f Rev. A 1/01
133111608 0.10 de largo 100 divisiones de 0.001 con zoom ajustado a 3X 13311630 Lnea cruzada
ACCESORIOS
Leica Microsystems Inc. Educational and Analytical Division PO Box 123 Buffalo, New York USA 14240 0123
Telfono 716 686 3000 Fax 716 686 3085 www.leica-microsystems.com Cerificado ISO 9001