Está en la página 1de 92

ESTRUCTURA CRISTALINA

1
Fuente: https://i.ytimg.com/vi/KLnvzCFanp0/maxresdefault.jpg 2
3
¿Por qué estudiar la estructura de
un material?
Relación entre Estructura – Propiedades – Proceso

4
Niveles de estudio la Estructura
Las propiedades de un material están determinadas por los efectos
combinados de cuatro niveles
• Macroestructura – ¿Cómo las
Macroestructura microestructuras se acoplan unas con
otras para conformar el material?

• Microestructura – ¿Qué secuencia de


Microestructura cristales existen en un nivel tan
pequeño que no pueden verse a
simple vista?
Estructura • Arreglo atómico– ¿Cómo están los
Cristalina átomos posicionados respecto a los
otros átomos y qué enlaces hay entre
Estru
ctura
ellos?
Atóm
ica • Estructura atómica – ¿Cuáles átomos
están presentes y qué propiedades
tienen estos?
Ciencia de los Materiales 5
Departamento de Ingeniería Industrial
Modelamiento de la materia en
los estados sólido, líquido y
gaseoso

Nota: las moléculas de gases monoatómicos no tienen nivel de


orden, y por eso no son muy relevantes en el estudio de los
materiales.

Ciencia de los Materiales 6


Departamento de Ingeniería Industrial
• http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/6
/6d/Translational_motion.gif

7
Sólidos: tipos de ordenamiento
• Los materiales amorfos tienen
bajo rango de ordenamiento y
solo tienen la posición de las
moléculas vecinas más
cercanas de forma regular.
Ejemplo: materiales
poliméricos.

• En los materiales cristalinos


tienen orden tridimensional de
largo rango significativo y
forman una red cristalina
regular. Ejemplo: materiales
metales.
Ciencia de los Materiales 8
Departamento de Ingeniería Industrial
Estructura Cristalina
Estructura Cristalina:
corresponde al tamaño, forma y
ordenamiento de los átomos en
una red cristalina tridimensional.

La mayoría de los sólidos tienen


un orden significativo de amplio
rango y forman una red cristalina
regular. Estructura
Cristalina
Ciencia de los Materiales 9
Departamento de Ingeniería Industrial
Red cristalina tridimensional

10
Red cristalina del NaCl

11
Red
Celdas Unitarias
• Celdas unitaria: es la
subdivisión más
pequeña de una red
cristalina que mantiene
las propiedades de la red
cristalina.
• Red cristalina: conjunto
de celdas unitarias Representación esquemática
conectadas entre sí. de redes cristalinas múltiples
que comparten átomos.

Ciencia de los Materiales 13


Departamento de Ingeniería Industrial
CELDA UNITARIA

14
Parámetros de una celda unitaria
Celdas cúbica y tetragonal
Celdas ortorrómbica y hexagonal
Celdas trigonal o romboédrica y monoclínica
Celda triclínica
SISTEMAS CRISTALINOS

Cúbico Tetragonal Ortorrómbico Hexagonal


𝑎=𝑏=𝑐 𝑎=𝑏 ≠𝑐 𝑎≠𝑏≠𝑐 𝑎=𝑏 ≠𝑐
𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 90°; 𝛾 = 120°

Trigonal o Romboédrico Monoclínico Triclínico


𝑎=𝑏=𝑐 a≠b≠c a≠b≠c
α=β=γ α = γ = 90° 𝛼≠𝛽≠𝛾
Ningún ángulo = 90° 𝛽 ≠ 90°
CÚBICA
TETRAGONAL
ORTORRÓMBICO
HEXAGONAL
TRIGONAL
MONOCLÍNICO
TRICLÍNICO
REDES CRISTALINAS DE BRAVAIS
Cúbica Tetragonal Ortorrómbico Hexagonal
𝑎=𝑏=𝑐 𝑎=𝑏 ≠𝑐 𝑎≠𝑏≠𝑐 𝑎=𝑏 ≠𝑐
𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90° 𝛼 = 𝛽 = 90°; 𝛾 = 120°

Sencilla o simple Hexagonal


Tetragonal sencilla o simple Ortorrómbica sencilla o simple
(Simple cubic: CS)
(simple tetragonal: ST) (Orthorhombic simple: OS)
(Hex:HCP)

Tetragonal Ortorrómbica centrada en el cuerpo


Cúbica centrada en el cuerpo centrada en el cuerpo (Body centred (Body centred orthorhombic: BCO)
(Body centred cubic: BCC) tetragonal: BCT)

Cúbica centrada en la cara o cúbica de


Ortorrómbica centrada en las bases
caras centradas
(Basis centred Orthorhombic: BCO
(Face centred cubic: FCC)

Ortorrómbica centrada en las caras


Redes Cristalinas de Bravais
Redes Cristalinas de
Bravais – estructuras
distintas de cristal en las
cuales los átomos se
arreglan entre sí en los
materiales.

August Bravais (1811-1863):


cristalógrafo francés quien
estableció las 14 celdas
unitarias que describen todas
las redes posibles.

Ciencia de los Materiales 30


Departamento de Ingeniería Industrial
Parámetros de Redes
Cristalinas
Parámetros de Redes Cristalinas la
longitud de la arista y los ángulos de
una celda unitaria.

• Longitudes axiales: a, b, c
• Ángulos axiales: a, b,
, g
• Aunque se dibujan las redes
cristalinas como si tuvieran
espacio vacío, realmente los
átomos están empacados La celda cúbica las longitudes son
muy juntos. iguales (a = b = c) y los ángulos son
de 90°.
Ciencia de los Materiales 31
Departamento de Ingeniería Industrial
Celdas Unitarias - Cúbica
Sencilla
• Un átomos en cada esquina de la
celda unitaria.
• Ningún átomo ocupa espacios
intersticial (espacio entre un
cuerpo o entre dos o más).
 
2r
• a0: parámetro de red cristalina en a
celdas con átomos idénticos y
que r es el radio atómico.
¿Cuáles son las suposiciones de
estos cálculos? Red Cristalina Cúbica Sencilla
Ciencia de los Materiales 32
Departamento de Ingeniería Industrial
Celdas Unitarias - BCC
• Las celdas BCC tienen un átomos en
cada esquina y un átomo en el
centro de la celda. Ej: Na, Fe

 
a 0=
4𝑟 𝑎𝑜
 

√3
Red Cristalina Cúbica
Centrada en el Cuerpo (BCC)
Ciencia de los Materiales 33
Departamento de Ingeniería Industrial
Celdas Unitarias -FCC
• Las celdas FCC tienen un átomo en
cada una de las aristas y uno en
cada una de las 6 caras. Ej: Cu, Ag

 4 𝑟
√2

  4𝑟
a 0= Red Cristalina Cúbica
√2 Centrada en el Cuerpo (FCC)
Ciencia de los Materiales 34
Departamento de Ingeniería Industrial
Celdas Unitarias - HCP
• El sistema HCP es más complejo y
requiere de dos parámetro de red a0
 

cristalina.
• Ej: Mg, Zn

c0
 

2r
Red Cristalina Paquete
  2r   3.266 r Cerrado Hexagonal (HCP)
Ciencia de los Materiales 35
Departamento de Ingeniería Industrial
Estructura Cristalina y Tabla
Periódica

Fuente: http://www.atpm.com/8.08/periodic-table.shtml
Ciencia de los Materiales 36
Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 37


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicio: Calcular los parámetros de red cristalina para el
átomo de plomo (Pb).

Galena (PbS)

Ciencia de los Materiales 38


Departamento de Ingeniería Industrial
Estimaciones de Densidad
• La densidad teórica asume una red cristalina perfecta y se
puede calcular así:

  𝑛𝐴
ρ=
𝑁 𝐴∙𝑉𝐶
Donde:
r = densidad (g/ml)
n = número de átomos por celda unitaria
A = masa atómica del material (g/mol)
NA = número de Avogadro (6.022 x 1023 átomos/mol)
Vc = volumen de la celda unitaria (nm 3)
¿Cuáles son las suposiciones de esta ecuación?
Ciencia de los Materiales 39
Departamento de Ingeniería Industrial
Determinando n
Celda n Descripción
Unitaria
Cúbica 8 esquinas cada una
Sencilla 1 contribuye a 1/8 de átomo
8 esquinas cada una
contribuye con 1/8 de átomo,
BCC 2 más un átomo en el centro de
la celda unitaria

8 esquinas cada una


contribuye con 1/8 de átomo,
FCC 4
más 6 caras cada una
contribuye con 1/2 átomo,

Ciencia de los Materiales 40


Departamento de Ingeniería Industrial
Ciencia de los Materiales 41
Departamento de Ingeniería Industrial
Celdas Unitarias

Ciencia de los Materiales 42


Departamento de Ingeniería Industrial
Factor de Empaquetamiento
(APF)
Factor de Empaquetamiento Atómico (APF) – cantidad de celdas
unitarias ocupadas por átomos en oposición al espacio vacío.

  𝑉𝑜𝑙𝑢𝑚𝑒𝑛 𝑑𝑒 Á 𝑡𝑜𝑚𝑜𝑠 𝑒𝑛 𝑙𝑎𝐶 𝑒𝑙𝑑𝑎𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑


𝐴𝑃𝐹=
𝑉𝑜𝑙𝑢𝑚𝑒𝑛 𝑑𝑒 𝑙𝑎 𝐶𝑒𝑙𝑑𝑎 𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑

Ciencia de los Materiales 43


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicio: Determinar la densidad teórica del cromo a 20°C en g/cm3.

r = densidad
  𝑛𝐴
ρ= n = número de átomos por celda unitaria

𝑁 𝐴∙𝑉𝐶 A = peso (masa) atómico(a) del material


NA = número de Avogadro (6.022 x 1023 átomos/mol)
Vc = volumen de la celda unitaria
Ciencia de los Materiales 44
Departamento de Ingeniería Industrial
Posiciones Atómicas

• Se usa un sistema
coordenado x, y, z como
el de la figura.
• Las posiciones atómicas
se escriben entre
paréntesis y separados
por comas.
• Son distancias
normalizadas y el punto
más lejano es (1,1,1)

Ciencia de los Materiales 45


Departamento de Ingeniería Industrial
Índices de Direcciones
1. Usar un sistema de coordenadas
como el mostrado, para
determinar las coordenadas de 2
puntos que se encuentran en la
dirección de interés.
2. Restar las coordenadas del punto
final desde las coordenadas del
punto principal.
3. Simplificar fracciones y aproximar
al entero más cercano.
4. Escribir los números entre
corchetes con una línea arriba de
los número negativos.
Ciencia de los Materiales 46
Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicios:
• Determinar los
índices para las
direcciones A, B, C
que se muestran en
la figura.
• Dibuje los
siguientes índices
de dirección:
[1 0 0] y [3 2 1]

Ciencia de los Materiales 47


Departamento de Ingeniería Industrial
Índices de Miller
Índices de Miller – un
1. Identificar dónde intercepta el
plano las líneas de coordenadas x, sistema numérico usado
y, z en los términos de número de para representar planos
parámetros de redes cristalinas. específicos en una red
cristalina.
2. Tomar el recíproco de estos tres
números.
3. Simplificar las fracciones, pero no
reducir los resultados.
4. Escribir el resultado en paréntesis.
Nota: si el plano no intercepta un eje, se toma
el intercepto en ese eje como infinito

Ciencia de los Materiales 48


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplos:
Determinar los índices de
Miller para los planos que
se muestran en la figura:
z

y
3

Ciencia de los Materiales 49


Departamento de Ingeniería Industrial
Otros Aspectos de los Índices de Miller

Espacio Interplanar (d)


– la distancia entre
planos repetidos en una
red cristalina.

• Planos repetidos con


igual índice de
Miller.

d
Planos repetidos en un cristal
Ciencia de los Materiales 50
Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicio: dibujar el plano (1 1 0) en una celda unidad BCC,
situando los átomos. Enumere las coordenadas de la posición de
los centros de los átomos cuyos centros están intersectados por
este plano.

(0,0,0)

Ciencia de los Materiales 51


Departamento de Ingeniería Industrial
Difracción de Rayos X
• La técnica de Rayos-X de polvo
se usa para identificar fases y
determinar los parámetros de
la red cristalina.
Limitaciones:
• el material tiene que ser
cristalino para que difracte los
Rayos-X (no es aplicable a
disoluciones, a sistemas
biológicos in vivo, a sistemas
amorfos o a gases).
Difractómetro de Rayos X de Polvo
• Las fases deben estar en
(PXRD)
concentraciones superiores al
1% en los materiales.
Ciencia de los Materiales 52
Departamento de Ingeniería Industrial
Difracción de Rayos X
• La fuente de Rayos-X
choca contra la muestra
mientras el detector
recoge la señal que
corresponde a la radiación
difractada.
• La fuente y el detector
rotan hasta en un amplio Esquema de operación de un equipo
rango de ángulos de de Rayos X de Polvo (PXRD)
incidencia que son
medidos. Rayos X – tipo de radiación
electromagnética con longitudes de
onda entre 10 y 10-2 nm.
Ciencia de los Materiales 53
Departamento de Ingeniería Industrial
Difractograma de Rayos X
• Cada pico corresponde a XRD ideal
un plano especifico que
genera una señal en el
detector.

• Analizar los picos provee


mucha información
XRD
acerca de los planos y la experimental
estructura de la red
cristalina.
Ciencia de los Materiales 54
Departamento de Ingeniería Industrial
Difractograma de Rayos X
450°C

350°C

260°C

180°C

120°C

25°C
10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60
2q (degrees)
Rayos-X de Hidrotalcitas CuZnAl
Ref: A. Aristizabal et al. Catalysis Today, Volume 175, Issue 1, 25 October (2011), Pag. 370-379.
Ciencia de los Materiales 55
Departamento de Ingeniería Industrial
Estructura Cristalina de
Mosaico
• Los materiales están compuestos por Cristalitas – regiones de un
muchos cristales que se forman a la
misma vez y que crecen a la misma material en la que los átomos
vez a partir de diferentes núcleos están acomodados en un
que crecen en diferentes direcciones. patrón regular.
• Los materiales reales consisten de
regiones cristalitas y no de un
monocristal.

Frontera de grano – áreas de un


material que separan las distintas
regiones cristalitas.

Ciencia de los Materiales 56


Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopía
ÓPTICA Microscopía Electrónica

Técnica de bajo costo que usa Técnica de alta resolución que


luz visible reflejada. utiliza un haz de electrones
Magnificación: 2000X para visualizar objetos.
Solo para ver superficie de Muy costosa
materiales opacos Magnificiación: 1.000.000X

Ciencia de los Materiales 57


Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica - SEM
Microscópio Electrónico de
Barrido (SEM) – microscopio que
utiliza un haz de electrones para
visualizar un objeto. Analiza los
electrones  retro dispersados.

Imágenes de alta resolución


Imagen en 3D y blanco y negro
Magnificación: 0.4 nm
Requiera que las muestras sean
Esquema de Microscopio SEM conductoras
Muy costoso
Ciencia de los Materiales 58
Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica - TEM
Microscópio Electrónico de
Transmisión (TEM) –
microscopio que utiliza un haz
de electrones para visualizar un objeto.
La imagen se obtenga de los electrones
que atraviesan la muestra.

Imágenes de alta resolución


Imagen en 2D y blanco y negro
Magnificación: 0.1 nm
Ideal para examinar defectos
Muy costoso
Esquema de un Microscopio TEM La muestra debe ser ultrafina
Ciencia de los Materiales 59
Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica

Microscopio SEM Microscopio TEM


Ciencia de los Materiales 60
Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica

Imagen SEM de Polén Imagen TEM de Cloroplasto

Ciencia de los Materiales 61


Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Óptica

Imágenes tomadas con microscopia: Ag soportada en Al2O3

Ciencia de los Materiales 62


Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica SEM

Micrografías de SEM: Ag soportada en Al2O3

Ciencia de los Materiales 63


Departamento de Ingeniería Industrial
Microscopia Electrónica TEM
A

Micrografías TEM:
Óxidos de Cu y Zn
Ciencia de los Materiales 64
Departamento de Ingeniería Industrial
Defectos Puntuales
Defectos Puntuales – defectos en la
estructura de un material que sucede en un
solo sitio en la red cristalina.

Vacantes – ausencia de un átomo en un sitio


particular de la red cristalina.

Substitucionales – un átomo en la red


cristalina es reemplazado con uno diferente.

Intersticial – un átomo ocupa un espacio que


normalmente se encuentra vacío en la red
cristalina.

Ciencia de los Materiales 65


Departamento de Ingeniería Industrial
Dislocaciones

Dislocaciones – defectos de
redes cristalinas de gran escala Dislocaciones de Borde
que resultan de las alteraciones Dislocaciones de Tornillo
a la estructura de la red Dislocaciones Mixtas
cristalina.

• Explican el comportamiento elástico de los metales, así


como su maleabilidad, puesto que la deformación plástica
puede ocurrir por desplazamiento de dislocaciones.

Ciencia de los Materiales 66


Departamento de Ingeniería Industrial
Dislocaciones
Dislocaciones – defectos de redes cristalinas de gran escala que
resultan de las alteraciones a la estructura de la red cristalina.

• Explican el comportamiento elástico de los metales, así


como su maleabilidad, puesto que la deformación plástica
puede ocurrir por desplazamiento de dislocaciones.
Ciencia de los Materiales 67
Departamento de Ingeniería Industrial
Tarea
• Leer Capítulo 2 del libro guía de Newell.

• Solucionar el Taller de Estructuras de los


Materiales para la siguiente clase y traer los
materiales de la actividad.
• Resolver los ejercicios del Capítulo 2 del libro guía
de Newell (pág. 63): 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11.
• Traer los materiales necesarios para la siguiente
clase.

68
Referencias
• NEWELL, James. “Ciencia de Materiales: Aplicaciones en Ingeniería”. 1ra ed.
México: Alfaomega Grupo Editor S.A de C.V, 2011. 368 p. (ISBN: 978-607-
707-114-3).

• SMITH, William F. “Fundamentos de la Ciencia e Ingeniería de Materiales”.


3ra ed. España: McGraw Hill, 2004. 718 p. (ISBN: 84-481-1429-9)

• ASKELAND, D. “Ciencia e Ingeniería de los Materiales”. 4ta ed. España:


Ediciones Paraninfo, S.A., 2001. 824 p. (ISBN: 788497320160)

Ciencia de los Materiales 69


Departamento de Ingeniería Industrial
Medición de Rayos X de
Cristales
• Las ondas electromagnéticas (incluyendo los rayos x) difractan
cuando chocan con átomos en redes cristalinas.
• Las ondas difractadas experimentan interferencia constructiva si
están en fase o interferencia destructiva si no lo están.

Interferencia Constructiva – incremento en


amplitud resultante de dos o más ondas
interactuando en fase.

Interferencia Destructiva – nulificación


causada por dos ondas o más interactuando
fuera de fase.

Ciencia de los Materiales 70


Departamento de Ingeniería Industrial
Ecuación de Bragg

n   l=2 𝑑 𝑆𝑒𝑛 (𝜃)


 

Donde:
n = orden de reflexión d = espacio interplanar
l = longitud de onda del rayo incidente q = ángulo de incidencia
Ciencia de los Materiales 71
Departamento de Ingeniería Industrial
Análisis de los Difractogramas
The Braggs’ equation may be applied to any peak to
determine the interplanar spacing of the
corresponding set of planes.
dhkl = nl/2sinq
where h,k, and l are the Miller Indices of the plane

The lattice parameter can be found for a cubic system


using
dhkl = a0/(h2 + k2 + l2)0.5
Ciencia de los Materiales 72
Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 73


Departamento de Ingeniería Industrial
Extinction conditions
• A specific set of h2 + k2 + l2 combinations (called
extinction conditions) exist that are the same for
every type of lattice.

Ciencia de los Materiales 74


Departamento de Ingeniería Industrial
Identificación del Tipo de
Lattice
When equations 2.5 and 2.6 are combined, the
following relationship results

sin2q = l2(h2 + k2 + l2)/4a02

The ratio of the sin2q of the peaks will correspond to


the ratio of the sums of the squares of the Miller
Indices
Ciencia de los Materiales 75
Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 76


Departamento de Ingeniería Industrial
Razonamiento
• This tells us that the sum of the squares of the Miller indices of the
second peak are twice that of the first
• There is no way to know the value of the first peak directly, but we
can analyze possibilities. From the extinction conditions in Table 2-5
Simple: Peak 1 = 1, Peak 2 = 2
BCC: Peak 1 = 2, Peak 2 = 4
FCC: Peak 1 = 3, Peak 2 = 4
Thus, the sample cannot be FCC because the ratio of the sum of the
squares of the Miller Indices for the first two peaks in an FCC system
would be 4/3 instead of 2.

Ciencia de los Materiales 77


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 78


Departamento de Ingeniería Industrial
Dislocaciones de Borde

Línea de
Dislocación

Dislocaciones de Borde – causadas por la adición de un plano


parcial dentro de una estructura de red cristalina existente.
Ciencia de los Materiales 79
Departamento de Ingeniería Industrial
Dislocaciones de Tornillo

Dislocaciones de Tornillo – sucede cuando la red cristalina es


cortada y cambiada por una fila de espacio atómico.
Ciencia de los Materiales 80
Departamento de Ingeniería Industrial
Ciencia de los Materiales 81
Departamento de Ingeniería Industrial
Dislocaciones Mixtas

Dislocaciones Mixtas – presencia de dislocaciones de tornillo y


de borde separadas por una distancia en la misma red.
Ciencia de los Materiales 82
Departamento de Ingeniería Industrial
Referencias
• NEWELL, James. “Ciencia de Materiales: Aplicaciones en
Ingeniería”. 1ra ed. México: Alfaomega Grupo Editor S.A de C.V,
2011. 368 p. (ISBN: 978-607-707-114-3).

• ASKELAND, D. “Ciencia e Ingeniería de los Materiales”. 4ta ed.


España: Ediciones Paraninfo, S.A., 2001. 824 p. (ISBN:
788497320160)

Ciencia de los Materiales 83


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicio
Calcular los parámetros de red cristalina para el átomo
de plomo (Pb).

Ciencia de los Materiales 84


Departamento de Ingeniería Industrial
Numero de Coordinación
• Número de
Coordinación: de
una red cristalina
se define como el
número de
aniones que cada
catión contacta y
esta controlado
por el radio
atómico y la
geometría.

85
Ejercicio
• Determinar la densidad teórica del cromo a 20°C.

  ρ 𝑡𝑒 ó 𝑟𝑖𝑐𝑎 =7,17 𝑔/ 𝑐𝑚 3

  ρ𝑟𝑒𝑎𝑙 =7,14 𝑔 / 𝑐𝑚 3

Cromo Puro

Ciencia de los Materiales 86


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejercicio

Densidad real 7140 kg/m3

Ciencia de los Materiales 87


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo
• Determinar los índices para las direcciones A, B, C que
se muestran en la figura:

Respuesta:

A. [0 1 0]
B. [1- 1 1]
-
C. [1 2 2]

Ciencia de los Materiales 88


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo
• Determinar los índices para las
direcciones A, B, C que se muestran
en la figura:

Ciencia de los Materiales 89


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo 2
• Determinar los índices de Miller para los planos que
se muestran en la figura:

Respuesta: Respuesta:

(0 1 1)
(2 1 1)

Ciencia de los Materiales 90


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 91


Departamento de Ingeniería Industrial
Ejemplo

Ciencia de los Materiales 92


Departamento de Ingeniería Industrial

También podría gustarte