Asme V 2019 151 302

Machine Translated by Google
ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 2
Figura D2108
Conjunto de objetos en un círculo
NOTAS GENERALES:
(a) Casos especiales Las ubicaciones del ICI son típicas en todas las
figuras. (b) Véase T277.2(b)(8).
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
83
Copyright ASME Internacional (BPVC)

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
ARTÍCULO 4
MÉTODOS DE EXAMEN POR ULTRASONIDOS PARA SOLDADURAS
ALCANCE DEL T410 en la Tabla T421 o en los Apéndices aplicables a la técnica en uso. El
procedimiento escrito establecerá un valor único, o rango de valores,
Este Artículo proporciona o hace referencia a requisitos para exámenes para cada requisito.
de soldadura, que deben usarse en la selección y desarrollo de
T421.2 Habilitación de Procedimiento. Cuando la calificación del
procedimientos de examen ultrasónico cuando el examen de cualquier
procedimiento es especificada por la Sección del Código de referencia,
parte de este Artículo es un requisito de una Sección del Código de
un cambio de un requisito en la Tabla T421 o la tabla en el Apéndice
referencia. Estos procedimientos se utilizarán para el examen ultrasónico
de soldaduras y la di Obligatorio aplicable a la técnica en uso, identificado como una variable
esencial del valor o rango de valores especificado, requerirá la recalificación
mención de indicaciones para comparación con estándares de aceptación
del procedimiento escrito. Un cambio de un requisito identificado como
cuando así lo requiera la Sección del Código de referencia; Se deberá
una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores, no
consultar a la Sección del Código de referencia para requisitos específicos
requiere recalificación del procedimiento escrito. Todos los cambios de
para lo siguiente: (a) requisitos de calificación/
variables esenciales o no esenciales del valor o rango de valores
certificación del personal (b) requisitos de procedimiento/demostración,
especificados en el procedimiento escrito requerirán una revisión o una
calificación, aceptación (c) características del sistema de examen (d)
adición al procedimiento escrito o plan de escaneo, según corresponda.
retención y control
de bloques de calibración ( e) alcance del examen
y/o volumen a escanear (f) estándares de aceptación (g)
retención de registros (h) requisitos de informe Las definiciones de los
términos utilizados en este
EQUIPO T430
Artículo están contenidas en
el Artículo 1, Apéndice I REQUISITOS DEL INSTRUMENTO T431
obligatorio, I121.2, UT — Ultrasonidos.
Se utilizará un instrumento ultrasónico del tipo pulsoeco. El instrumento
deberá poder funcionar a frecuencias en el rango de al menos 1 MHz a
5 MHz y estará equipado con un control de ganancia escalonado en
unidades de 2,0 dB o menos. Si el instrumento tiene un control de
amortiguación, se puede utilizar si no reduce la sensibilidad del examen.
ð19Þ T420 GENERAL
El control de rechazo deberá estar en la posición "apagado" para todos
los exámenes, a menos que se pueda demostrar que no afecta la
Los requisitos de este artículo se utilizarán conjuntamente
linealidad del examen.
con el Artículo 1, Requisitos Generales. Referirse a:
(a) disposiciones especiales para materiales de grano grueso y
soldaduras en T451 El instrumento, cuando sea necesario debido a la técnica que se
utiliza, deberá tener conectores de envío y recepción para la operación de
(b) disposiciones especiales para técnicas de imágenes computarizadas
unidades de búsqueda duales o una unidad de búsqueda única con
en T452 (c)
transductores de envío y recepción.
Apéndice III obligatorio para la difracción de tiempo de vuelo
técnicas de ción (TOFD) UNIDADES DE BÚSQUEDA T432
(d) Apéndice IV obligatorio para técnicas de rasterización manual en
T432.1 Generalidades. La frecuencia nominal será de 1 MHz a 5 MHz
fase (e) Apéndice V
a menos que variables, como la estructura del grano del material de
obligatorio para escaneo electrónico en fase
producción, requieran el uso de otras frecuencias para asegurar una
y técnicas de examen de escaneo lineal Sscan
penetración adecuada o una mejor resolución.
(f) Apéndice XI obligatorio para la captura de matriz completa Se pueden utilizar unidades de búsqueda con cuñas de contacto contorneadas
(FMC) técnicas para facilitar el acoplamiento ultrasónico.
T432.2 Cuñas de Contacto. Según lo requerido por (a) y (b) a

ð19Þ T421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO
continuación, los exámenes realizados en un componente curvo que tenga
Requisitos T421.1. El examen ultrasónico se realizará de acuerdo con un diámetro inferior a 14 pulgadas (350 mm) (en la superficie de examen)
un procedimiento escrito que deberá, como mínimo, contener los requisitos se deben realizar utilizando una cuña contorneada, para garantizar un
enumerados acoplamiento ultrasónico suficiente. es
84
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Tabla T421
Requisitos de un procedimiento de examen ultrasónico
Requisito Variable esencial Variable no esencial
Configuraciones de soldadura a examinar, incluidas las dimensiones de espesor y la base.

forma material del producto (tubería, placa, etc.) X …
Las superficies desde las cuales se realizará el examen Técnica(s) (haz recto, X …
haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X …
Ángulo(s) y modo(s) de propagación de la onda en el material Tipo(s) X …
de unidad de búsqueda, frecuencia(s) y tamaño(s)/forma(s) del elemento X …
Unidades de búsqueda especiales, cuñas, zapatos o monturas, cuando se X …
utilicen instrumentos ultrasónicos. X …
Calibración [bloque(s) de calibración y técnica(s)] X …
Direcciones y alcance del escaneo Escaneo X …
(manual versus automático) X …
Método para discriminar indicaciones geométricas de defectos Método para X …
dimensionar indicaciones Adquisición X …
de datos mejorada por computadora, cuando se utiliza X …
Superposición de escaneo (solo disminución) X …
Requisitos de desempeño del personal, cuando sea necesario. X …
Requisitos de calificación del personal. Condición … X

de la superficie (superficie de examen, bloque de calibración). … X
Acoplante: marca o tipo Técnica de … X
limpieza posterior al examen Alarma automática … X
y/o equipo de registro, cuando corresponda Registros, incluidos los datos mínimos … X
de calibración que se registrarán (p. ej., instrumento
ajustes) … X
logrado y limitar cualquier posible oscilación de la búsqueda. (1) Contorno máximo para exámenes realizados
unidad a medida que se mueve a lo largo de la circunferencia del desde OD
componente.
Componente real exterior Aumento permitido en
(a) Las unidades de búsqueda deberán tener el contorno requerido por el
Diámetro, Diámetro del contorno superior
siguiente ecuación:
pulgadas (mm) Componente OD, pulg. (mm)
<4,0 (<100) <1 (<25)

≥4,0 a 10 (≥100 a 250) >10 <2 (<50)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
(>250) <4 (<100)
dónde
A = longitud de la huella de la unidad de búsqueda durante el escaneo circunferencial o el
ancho cuando se escanea en la dirección axial, pulgadas (mm) (2) Contorno mínimo para exámenes realizados
de identificación
D = el diámetro del componente en la superficie de inspección
(DI/DE), pulgadas (mm) Componente real en el interior Disminución permitida en

Diámetro, Diámetro del contorno inferior
La huella se define como la dimensión física del pulgadas (mm) ID del componente, pulg. (mm)
unidad de búsqueda en la dirección curva del componente.
<4,0 (<100) <1 (<25)
(b) La dimensión contorneada de la unidad de búsqueda se seleccionará de las tablas ≥4,0 a 10 (≥100 a 250) >10 <2 (<50)
en (1) y (2) a continuación, y se (>250) <4 (<100)
determinado utilizando la misma dimensión del componente de
en el que se realiza el examen (ID o OD).
T432.3 Revestimiento de superposición de metal soldado — Buscar
Unidad.8 Unidades de búsqueda de haz recto de doble elemento que utilizan un
Se utilizará la técnica de captura de lanzamiento en ángulo. el incluido
El ángulo entre los elementos de la unidad de búsqueda será tal
que la distancia efectiva del punto focal esté centrada en el

Area de interes.
85

`,,`,,`,`,,
`,``,``,,` ARTÍCULO 4
ACOPLANTE T433
T433.1 Generalidades. El acoplante, incluidos los aditivos, no deberá ser perjudicial para el
material que se examina.

ASME BPVC.V2019
T434.1.4 Revestimiento. (a) Selección
de Bloque. El material del que está hecho el bloque.
se fabrica deberá ser de uno de los siguientes: (1) salida de la boquilla del componente
(2) una prolongación del componente (3) material de la misma

T433.2 Control de Contaminantes. a) Los acopladores utilizados
especificación de material, forma del producto y
en aleaciones a base de níquel no contendrán más de 250 ppm de azufre. (b) Los acopladores
condición de tratamiento térmico que el material al que se fabrica la unidad de búsqueda se
utilizados en acero inoxidable austenítico o titanio no deberán
aplica durante el examen
contener más de 250 ppm de haluros (cloruros más fluoruros).
(b) Revestido. Cuando el material del componente está revestido y el revestimiento es un factor
durante el examen, el bloque debe revestirse hasta el espesor nominal del componente revestido ±1/8
BLOQUES DE CALIBRACIÓN T434
pulg. (3 mm). La deposición del revestimiento se realizará mediante el mismo método (es decir, unión
T434.1 Generalidades.
por rodillo, depósito de soldadura manual, depósito de alambre automático o depósito de tira automática)
T434.1.1 Reflectores. Se deben utilizar reflectores específicos (es decir, orificios laterales, que se utiliza para revestir el componente que se va a examinar. Cuando el método de revestimiento
orificios de fondo plano, muescas, etc.) para establecer las respuestas de referencia primarias del no se conoce o el método de revestimiento utilizado en el componente no es práctico para el
equipo. Se pueden utilizar reflectores alternativos siempre que los reflectores alternativos produzcan revestimiento de bloques, la deposición del revestimiento puede realizarse mediante el método manual.
`
una sensibilidad igual o mayor que los reflectores especificados (por ejemplo, orificios laterales en

lugar de muescas, orificios de fondo plano en lugar de de agujeros laterales).
Cuando los materiales base en lados opuestos de una soldadura están revestidos con diferentes
números P, A o F o designaciones o métodos de material, el bloque de calibración debe revestirse
T434.1.2 Materiales. (a) Soldaduras con los mismos números P, A o F. números o designaciones de materiales utilizando el mismo método
utilizado en el lado de la soldadura desde donde se realizará el examen.

de metales similares. El material con el que se fabrica el bloque deberá tener la misma forma de
producto y especificación de material o grupo de número P equivalente que uno de los materiales que
se examinan. Para los efectos de este párrafo, los PNos. Los materiales 1, 3, 4, 5A a 5C y 15A a 15F
Cuando el examen se realiza desde ambos lados de la
se consideran equivalentes. (b) Soldaduras de metales diferentes. La selección del material se basará
Después de la soldadura, el bloque de calibración deberá proporcionar la calibración tanto para los
en el material del lado de la soldadura desde
materiales como para los métodos de revestimiento. Para soldaduras revestidas con un material o
método diferente a los materiales base contiguos, y es un factor durante el examen, el bloque de
calibración debe diseñarse para ser representativo de esta combinación.
el cual se realizará el examen. Si el examen se realizará desde ambos lados, se proporcionarán
reflectores de calibración en ambos materiales. (c) Corrección de Transferencia. Cuando el material T434.1.5 Tratamiento Térmico. El bloque de calibración deberá recibir al menos el tratamiento
del bloque no tiene la misma forma de producto o no ha recibido el mismo de templado mínimo requerido por la especificación del material para el tipo y grado. Si el bloque de
tratamiento térmico, se puede utilizar siempre que cumpla con todos los demás requisitos del calibración contiene soldaduras distintas al revestimiento y el componente de soldadura en el momento
bloque y se utilice una corrección de transferencia para las diferencias de propiedades acústicas. La del examen ha sido tratado térmicamente, el bloque recibirá el mismo tratamiento térmico.
corrección de la transferencia se determinará observando la diferencia entre la respuesta de la señal,
utilizando los mismos transductores y cuñas que se utilizarán en el examen, recibida de cualquiera de
los dos.
T434.1.6 Acabado Superficial. El final del escaneo
Las superficies de acabado del bloque deben ser representativas de los acabados de la superficie de
escaneo del componente a examinar.

(1) el reflector de referencia correspondiente (mismo tipo y dimensiones) en el bloque de
calibración básica y en el componente a examinar, o (2) dos unidades de búsqueda colocadas en la
misma orientación en el bloque de calibración básica y T434.1.7 Curvatura de bloque.
el componente a examinar. T434.1.7.1 Materiales con diámetros mayores a 20 pulg. (500 mm). Para exámenes en
materiales donde el diámetro de la superficie de examen es mayor que 20 pulgadas (500 mm), se
puede usar un bloque de esencialmente la misma curvatura o, alternativamente, un bloque de
La sensibilidad del examen se ajustará según la diferencia. calibración básico plano.
T434.1.3 Calidad. Antes de la fabricación, el material del bloque se examinará completamente
con una unidad de búsqueda de haz recto. Las áreas que contengan una indicación que exceda la T434.1.7.2 Materiales con diámetros de 20 pulgadas (500 mm) y menos. Para exámenes
reflexión restante en la pared posterior deberán excluirse de las trayectorias del haz necesarias para en materiales donde el diámetro de la superficie de examen es igual o menor a 20 pulgadas (500 mm),
alcanzar los diversos reflectores de calibración. se debe utilizar un bloque curvo. Salvo que se indique lo contrario en este artículo, una sola curva
86

`,``,``,,`,`,,```
`,,`,,`,`,,` El bloque de calibración básico se puede utilizar para exámenes en
el rango de curvatura de 0,9 a 1,5 veces el diámetro del bloque
de calibración básico. Por ejemplo, un tubo de 8 pulg. (200 mm)
ASME BPVC.V2019
T434.2 Bloques de calibración sin tuberías.

T434.2.1 Bloque de Calibración Básica. la cali basica
ARTÍCULO 4
La configuración del bloque de retención y los reflectores serán los siguientes.

Se puede utilizar un bloque de diámetro para calibrar los exámenes. se muestra en la Figura T434.2.1. El tamaño del bloque y las
en superficies en el rango de curvatura de 7,2 pulgadas a 12 pulgadas. ubicaciones del reflector deben ser adecuados para realizar calibraciones para el
(180 mm a 300 mm) de diámetro. El rango de curvatura Ángulo(s) del haz y rango(s) de distancia que se utilizarán.
de 0,94 pulg. a 20 pulg. (24 mm a 500 mm) de diámetro se T434.2.2 Espesor del Bloque. El espesor del bloque
requieren seis bloques curvos como se muestra en la Figura T434.1.7.2(T) será según la Figura T434.2.1.
para cualquier rango de espesor.
T434.2.3 Bloque Alterno. Alternativamente, el
T434.1.7.3 Alternativa para Superficie Convexa. Como
El bloque puede construirse como se muestra en No obligatorio.
una alternativa a los requisitos de T434.1.7.1 cuando Apéndice J, Figura J431.
examinando desde la superficie convexa por el haz recto
técnica de contacto, el Apéndice G no obligatorio puede ser
usado.
Figura T434.1.7.2
Límites de relación para superficies curvas
0,93 (23) 1,56 (39)

2,69 (67)
4,32 (108) 7,2 (180) 12 (300) 20 (500)
20 (500)
bloquear
15 (375)
calibración
13,33 (333)
Límite
`

0,9
Básico
1.5 Límite
10 (250)
8 (200)
uiD
gálm
).m
,ortem p(
5 (125)
m
re
fru
neóiicnciea aio
ips
cbq xlS
a
luá
e e
d
b
c
4,8 (120)
2,88 (72)
1,73 (43)
1.04 (26)
0
0 5 (125) 10 (250) 15 (375) 20 (500)
Diámetro de la superficie de examen, pulg. (mm)
87

Figura T434.2.1
Bloques de calibración sin tubería
3T [Nota (1)]
1/2T
[Nota 1)]
D [Nota (1)]
1/4T
6 pulg. [Nota (1)] (150 mm)
1/2T
[Nota 1)] 3/4 cucharada
Connecticut
1/2T
t
1/2T
1/2T 1/2T
[Nota 1)] [Nota 1)]
Dimensiones mínimas
D [Nota (1)]
D = 1/2 pulg. (13 mm)
Ancho = 6 pulg. (150 mm)
Longitud = 3 x Grosor
Revestimiento (si está presente)
Dimensiones de la muesca, pulg. (mm)
Profundidad de la muesca = 1,6% T a 2,2% T

1
Ancho de muesca = /4 (6) máx.
Longitud de muesca = 1 (25) min.
Espesor del bloque de calibración (T), Diámetro del orificio, pulg.

Espesor de soldadura (t), pulg. (mm) pulgadas (mm) (mm)
3 3
Hasta 1 (25) /4 (19) o t 11 / /32 (2,5)
1
Más de 1 (25) a 2 (50) 2 (38) o t 3 (75) /8 (3)
3
Más de 2 (50) a 4 (100) o tt ±1 (25) /16 (5)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Más de 4 (100) [Nota 2)]
NOTAS GENERALES:
(a) Los orificios se perforarán y escariarán a una profundidad mínima de 1,5 pulgadas (38 mm), esencialmente paralelos a la superficie de examen.
(b) Para componentes iguales o menores a 20 pulgadas (500 mm) de diámetro, el diámetro del bloque de calibración deberá cumplir con los requisitos.
de T434.1.7.2. Se utilizarán dos juegos de reflectores de calibración (agujeros, muescas) orientados a 90 grados uno del otro. Alternativamente, se pueden usar
dos bloques de calibración curvos.
(c) La tolerancia para el diámetro del orificio será ±1/32 pulg. (0,8 mm). La tolerancia para la ubicación del agujero a través del bloque de calibración.
El espesor (es decir, la distancia desde la superficie de examen) debe ser de ±1/8 pulg. (3 mm).
3 1
(d) Para bloques de menos de (e) /4 pulg. (19 mm) de espesor, solo el Se requieren orificios laterales /2T y muescas en la superficie.
Todos los orificios pueden ubicarse en la misma cara (lado) del bloque de calibración, siempre que se tenga cuidado para ubicar todos los reflectores.
(orificios, muescas) para evitar que un reflector afecte la indicación de otro reflector durante la calibración. Muescas
También puede estar en el mismo plano que los orificios en línea (consulte el Apéndice J no obligatorio, Figura J431). Como en la Figura J431, se debe
1 1 3
proporcionar un número suficiente de orificios para calibraciones de haz recto y en ángulo en el /4T, /2T, y /4T de profundidad.
(f) Cuando hay revestimiento, la profundidad de la muesca en el lado del revestimiento del bloque se incrementará en el espesor del revestimiento, CT (es decir,
1,6% T + CT mínimo a 2,2% T + CT máximo).
1
(g) El ancho máximo de la muesca no es crítico. Las muescas se pueden hacer mediante electroerosión o con fresas de mango de hasta 6,4 mm (/4 pulg.) de diámetro.
(h) Espesor de soldadura, t, es el espesor nominal del material para soldaduras sin refuerzo o, para soldaduras con refuerzo, el
El espesor nominal del material más el refuerzo de soldadura estimado no debe exceder el máximo permitido por la referencia.
Sección de Código. Cuando se trate de dos o más espesores de material base, el espesor del bloque de calibración, T, se determinará por el espesor medio de
la soldadura; alternativamente, un bloque de calibración basado en el mayor espesor del material base
Se puede utilizar siempre que el tamaño del reflector de referencia se base en el espesor promedio de la soldadura.
NOTAS:
(1) Dimensión mínima.

(2) Por cada aumento en el espesor de la soldadura de 2 pulgadas (50 mm) o fracción del mismo por encima de 4 pulgadas (100 mm), el diámetro del orificio aumentará
1
/16 pulg. (1,5 mm).
88

T434.3 Bloques de Calibración de Tuberías. La configuración básica del bloque de calibración T434.4.2 Bloques de calibración alternativos para la Técnica Uno. Alternativamente, se
y los reflectores serán como se muestra en la Figura T434.31 o la alternativa proporcionada en la pueden usar bloques de calibración como se muestra en la Figura T434.4.2.1 o la Figura T434.4.2.2.
Figura T434.32 donde la curvatura y/o el espesor de la pared lo permitan. La curvatura del bloque
de calibración básica deberá estar de acuerdo con T434.1.7. El espesor, T, será ±25% del espesor El espesor del revestimiento de metal de soldadura debe ser al menos tan grueso como el que se va
nominal del componente a examinar. El tamaño del bloque y las ubicaciones del reflector deben ser a examinar. El grosor
del material base será al menos el doble del espesor del
el revestimiento de superposición de metal de soldadura.
T434.4.3 Bloque de Calibración para la Técnica Dos.

adecuado para realizar calibraciones para los ángulos del haz y los rangos de distancia que se
La configuración básica del bloque de calibración y los reflectores serán como se muestra en la Figura
utilizarán.
T434.4.3. Se debe utilizar un orificio de fondo plano perforado en la interfaz soldadura/metal base.
T434.4 Bloques de calibración de revestimiento de superposición de metal de soldadura.9

Este orificio se puede perforar desde el material base o desde el lado del revestimiento de revestimiento
de metal de soldadura. El espesor del revestimiento de metal de soldadura debe ser al menos tan
T434.4.1 Bloques de Calibración para la Técnica Uno.
grueso como el que se va a examinar. El espesor del metal base debe estar dentro de 1 pulgada (25
La configuración básica del bloque de calibración y los reflectores serán como se muestra en la Figura mm) del espesor del bloque de calibración cuando el examen se realiza desde la superficie del
T434.4.1. Se puede utilizar un orificio perforado lateralmente o un orificio de fondo plano. El espesor
material base. El espesor del material base en el
del revestimiento de metal de soldadura debe ser al menos tan grueso como el que se va a examinar.
El espesor del material base.
deberá ser al menos el doble del espesor del revestimiento de metal de soldadura.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,
Figura T434.31 Bloque de
calibración para tuberías
l
Espesor nominal de
pared (T)
Connecticut
Longitud de arco
Nota
1)
Nota Nota 1)
1)
Nota
1)
Revestimiento (si está presente)
NOTAS GENERALES: (a)
La longitud mínima del bloque de calibración, L, será de 8 pulgadas (200 mm) u 8T, lo que sea mayor. (b) Para un diámetro exterior de 4 pulgadas
(100 mm) o menos, la longitud mínima del arco será el 75% de la circunferencia. Para un diámetro exterior superior a 4 pulg. (100 mm), el
La longitud mínima del arco será de 8 pulgadas (200 mm) o 3T, lo que sea mayor.
(c) Las profundidades de las muescas serán de 8% T mínimo a 11% T máximo. Cuando haya revestimiento, haga muescas de profundidad en el lado del revestimiento del bloque /
1
se incrementará en el espesor del revestimiento, CT (es decir, 8 % T + CT mínimo hasta 11 % T + CT máximo). Los anchos de las muescas serán 4 pulg. (6 mm)
máximos. La longitud de las muescas será de 1 pulgada (25 mm) como
1
mínimo. (d) El ancho máximo de la muesca no es crítico. Las muescas se pueden hacer con electroerosión o con fresas /4 pulg. (6 mm) de diámetro.
de extremo hasta (e) Las longitudes de las muescas deberán ser suficientes para proporcionar una calibración con una relación señal
ruido mínima de 3 a 1. (f) Se deben usar dos bloques cuando se examina una soldadura que une dos espesores diferentes de material y un solo bloque no satisface los requisitos.
requisitos de T434.3.
(g) Cuando se utiliza un bloque plano según lo permitido por T434.1.7.1, se pueden omitir las dos muescas axiales y el ancho del bloque se puede reducir a 4 pulgadas (100 mm), siempre que las muescas ID y

OD se coloquen en superficies de examen opuestas del bloque. Cuando no hay revestimiento, solo se requiere una muesca siempre que cada superficie de examen sea accesible durante las calibraciones.
NOTA:
1 1
(1) Las muescas no deberán ubicarse más cerca de /2T o /2 pulg. (13 mm), lo que sea mayor, a cualquier borde del bloque o a otras muescas.
89

ð19Þ Figura T434.32 Bloque de

calibración alternativo para tuberías
Orificio axial ½T Muesca circunferencial
Orificio tangencial ¾T [Nota (2)] ¼T agujero tangencial [Nota (2)]
1,5 pulg. (38 mm) mín.
Longitud [Nota (1)]
muesca axial
1,0 pulg. (25 mm) o T
Orificio tangencial de ½T [Nota (2)]
Orificio axial de ¼T Orificio axial ¾T
¼T ¾T
¾T ¼T
½ cucharada
0,75 pulgadas (19 mm)

Arco [Nota (1)] 0,75 pulgadas (19 mm)
t Revestimiento (si está presente)
NOTAS GENERALES:
3 1
(a) Para bloques de menos de /4 pulg. (19 mm) de espesor, solo el /Se requiere un orificio perforado lateral de 2T.
(b) La inclusión de muescas es opcional. Las muescas como se muestran en la Figura T434.31 se pueden utilizar junto con este bloque de calibración. (c) Las profundidades de
1
las muescas serán de 8% T mínimo a 11% T máximo. Los anchos de las muescas serán de 1 pulgada (25 mm) como /4 pulg. (6 mm) máximo. Las longitudes de las muescas serán
mínimo. (d) Las muescas se
1
pueden hacer con electroerosión o con fresas de mango de hasta /4 pulgadas (6 mm) de diámetro. (e) Las longitudes
de las muescas deberán ser suficientes para permitir la calibración con una relación señalruido mínima de 3 a 1. (f) Las muescas no deberán
ubicarse más cerca de T o 11/2 pulg. (38 mm), lo que sea mayor, de cualquier borde del bloque u otras muescas.
NOTAS:
(1) La longitud y el arco deberán ser adecuados para proporcionar la calibración del haz angular requerida.
(2) El diámetro, la longitud y la tolerancia del orificio perforado lateralmente deberán estar de acuerdo con T434.2.1, según lo permitido por T464.1.3. Las posiciones o ubicaciones
1 1 3
agujeros en /4T, /2T, y tangenciales con perforación lateral /4T deben tener la profundidad confirmada en la mitad de su longitud. El radio del orificio perforado lateralmente
se sumará a la profundidad medida para garantizar la profundidad correcta. Cuando el espesor no lo permita, se indicará en la superficie del bloque la profundidad requerida del
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
orificio perforado lateral y la ubicación de la posición tangencial.
90

`,``,``,,`,`,,`
`,,`,,`,`,,` ASME BPVC.V2019
Figura T434.4.1
Bloque de calibración para la técnica uno
ARTÍCULO 4
Eje de cordones de soldadura
11/2 pulg. (38 mm)

mín. profundidad
Orificios laterales de
1/16 pulg. (1,5 mm) metal de soldadura
superficie reflectante revestimiento de superposición
en soldadura/metal base
interfaz. tolerancia =
1/64 pulg. (0,4 mm)

`

Orificio de fondo plano de 1/8 pulg. (3

mm) perforado para la interfaz de soldadura/metal
base. tolerancia =
1/64 pulg. (0,4 mm)
El bloque de calibración debe tener al menos el doble de espesor. (c) Curvatura. Para exámenes de boquillas con un diámetro lateral interior (ID) igual o
el revestimiento de revestimiento de metal de soldadura cuando se realiza el examen inferior a 20 pulg.
se realiza a partir del revestimiento de revestimiento de metal de soldadura (500 mm), la superficie de contacto del bloque de calibración
superficie. tendrá la misma curvatura o estará dentro del rango de
0,9 a 1,5 veces el diámetro como se detalla en la Figura
T434.5 Zona de fusión de soldadura del lado de la boquilla y/o Adja
T434.1.7.2.
Bloques de calibración de metal principal de boquilla cent.
Bloque de Calibración T434.5.1. (d) Reflectores de calibración. Los reflectores de calibración.
deberán ser orificios perforados lateralmente que cumplan con
(a) Configuración. La configuración del bloque de calibración.
los requisitos de la Figura T434.2.1 para la pared de la boquilla
será como se muestra en la Figura T434.5.1. El tamaño del bloque
espesor.
y las ubicaciones del reflector deben ser adecuadas para realizar calibraciones que
(e) Bloques alternativos. Bloques de calibración alternativos
cubran la zona de fusión de soldadura del lado de la boquilla y/o
puede usarse para tipos similares de exámenes siempre que
el metal base de la boquilla adyacente. Si la superficie interna de
la distancia(s) de la ruta del sonido hasta el(los) reflector(es) del bloque es
La boquilla está revestida antes del examen, la superficie ID de 1
el bloque de calibración deberá estar revestido. (están) dentro de /4 pulgadas (6 mm) de lo que se requiere y el lado
Los orificios perforados son del mismo diámetro o de menor diámetro.
(b) Espesor del bloque. El bloque de calibración será el
de lo que se requiere.
espesor máximo de la pared de la boquilla adyacente a la
3
soldadura de boquilla plus /4 pulg. (19 mm).
91

Figura T434.4.2.1 Bloque de
calibración alternativo para la técnica uno
pulgadas (50 mm)
3/4 CT 1/2 ct 1/4 ct
Connecticut
Revestimiento de
revestimiento de metal soldado
2 TC
(mín.)
1 pulgada (típico) 1 pulgada (típico) [25

mm (típico)] [25 mm (típico)]
1
NOTA GENERAL: Todos los orificios de fondo plano son /8 pulg. (3 mm) de diámetro. Tolerancias para el diámetro y la profundidad del agujero con respecto al metal de soldadura.
El lado del revestimiento superpuesto del bloque es de ±1/64 pulg. (0,4 mm).
92

`,

`,``,``,,`,`,,````,` ASME BPVC.V2019
Figura T434.4.2.2
Bloque de calibración alternativo para la técnica uno
ARTÍCULO 4
pulgadas (50 mm)

`,,`,,`,`,,`
1 pulgada 1 pulgada
(típico) [25 mm (típico)](típico) [25 mm (típico)]
3/4 CT 1/2 ct 1/4 ct
Revestimiento de
Connecticut
2 TC
(mín.)
1
NOTA GENERAL: Todos los orificios laterales son /16 pulg. (1,5 mm) de diámetro. Tolerancias para el diámetro y la profundidad del agujero con respecto al metal de soldadura.
El lado del revestimiento superpuesto del bloque es de ±1 /64 pulg. (0,4 mm). Todos los agujeros se perforaron a una profundidad mínima de 1,5 pulgadas (38 mm).
Figura T434.4.3
Bloque de calibración para la técnica dos
`
1 pulg. (25 mm) mínimo (típico)

Revestimiento de
Orificio de fondo plano de 3/8 pulg. (10 mm) de

diámetro mecanizado para soldar/metal base
interfaz, tolerancia = ±1/64 pulg. (0,4 mm)
93
`,``,``,,`,`,,````
`,,`,,`,`,,` ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Figura T434.5.1
Bloque de calibración para examen con haz recto de la zona de fusión de soldadura del lado de la boquilla y/o adyacente
Boquilla de metal principal
3/4 pulg.
(DE IDENTIFICACIÓN) (19 mm)
=T
2 mínimo
3/4 pulg.
(19 mm)
mínimo
1
pulgada (25
mm) mínimo
3/4 pulg.
(19 mm)
mínimo
Espesor
del revestimiento
(DE IDENTIFICACIÓN)
(si está presente)

4
11/2 pulg. (38 mm) [Alto]
Superficie de bloque plano

`
para diámetros ≥ 20

pulg. (500 mm)

IDENTIFICACIÓN Boquilla DE
NOTAS GENERALES:
(a) El espesor, T, del bloque de calibración (OD – ID)/2 se seleccionará para el espesor máximo de la pared de la boquilla debajo del accesorio de la boquilla.
soldadura de cemento.
(b) Los orificios laterales se deben perforar y escariar en toda la altura, H, del bloque.
(c) El diámetro de los orificios perforados lateralmente se seleccionará para el espesor máximo de pared de la boquilla según (a) anterior y la Figura T434.2.1.
(d) Para exámenes laterales de la boquilla, cuando el espesor de la pared del bloque de calibración exceda las 2 pulgadas (50 mm), se deberán perforar orificios laterales adicionales.
colocado en el bloque como se requiere en la siguiente tabla.
Ubicación del hoyo, Ubicación del agujero, Ubicación del hoyo,
5 3 7
Espesor de pared del bloque de calibración, pulg. (mm) /8T /4T /8T
> 2 (50) a 3 (75) > 3 (75) … X …
X X X
94
T440 REQUISITOS VARIOS estructura orientada direccionalmente, que puede causar marcado
variaciones en atenuación, reflexión y refracción en
T441 IDENTIFICACIÓN DEL EXAMEN DE SOLDADURA límites de los granos y cambios de velocidad dentro de los granos.
ÁREAS Es necesario modificar y/o complementar las disposiciones de este artículo
(a) Lugares de soldadura. Los lugares de soldadura y su identificación de acuerdo con T150(a) al examinar dichas soldaduras en estos materiales.
se registrarán en un mapa de soldadura o en un plan de identificación. Artículos adicionales,
Los que se requieren son maquetas de soldadura con reflectores de
(b) Marcado. Si las soldaduras van a marcarse permanentemente, referencia en el depósito de soldadura y transductores de onda longitudinal
Se pueden utilizar sellos de baja tensión y/o herramientas vibratorias. de haz angular de elemento simple o doble.
Marcas aplicadas después del alivio final de tensiones del componente.
3
no será más profundo que /64 pulg. (1,2 mm).
(c) Sistema de Referencia. Cada soldadura deberá ubicarse y T452 TÉCNICAS DE IMAGEN COMPUTARIZADA
identificados por un sistema de puntos de referencia. El sistema
El principal atributo de las Técnicas de Imagenología Computarizada
permitirá la identificación de cada línea central de soldadura y
(CIT) es su efectividad cuando se utilizan para caracterizar y evaluar
designación de intervalos regulares a lo largo de la longitud del
indicaciones; sin embargo, los CIT también pueden
soldar. Un sistema general para el diseño de las soldaduras de los
utilizarse para realizar las funciones básicas de escaneo requeridas
recipientes se describe en el Artículo 4, Apéndice A no obligatorio; sin embargo,
para la detección de fallas. Análisis de datos procesados por computadora y
Se puede utilizar un sistema diferente siempre que cumpla con los
Las técnicas de visualización se utilizan junto con escáneres no
requisitos anteriores.
automatizados, escáneres semiautomáticos o escáneres automáticos.
técnica(s) de escáner para producir imágenes bidimensionales y
TÉCNICAS DEL T450 tridimensionales de defectos, lo que proporciona una mejor
Capacidad para examinar componentes y estructuras críticos. Los procesos
Las técnicas descritas en este artículo están destinadas
informáticos pueden utilizarse para cuantificar
para aplicaciones donde ya sea un elemento simple o doble
evaluar el tipo, tamaño, forma, ubicación y orientación de
Las unidades de búsqueda se utilizan para producir:
defectos detectados por examen ultrasónico u otra ECM
(a) haces de ondas longitudinales incidentes normales para lo que
métodos. Descripciones de algunos CIT que pueden usarse
generalmente se denominan exámenes de haz recto o
se proporcionan en el Apéndice E no obligatorio.
(b) ondas longitudinales de haz angular, donde tanto las ondas
longitudinales refractadas como las ondas de corte están presentes en la
material bajo examen. Cuando se usa para espesor
TÉCNICAS DE ESCANEO DEL T453
medición o examen con vestido, estos exámenes
generalmente se consideran exámenes con haz recto. Cuando se utilizan El examen puede ser realizado por uno de los siguientes
para exámenes de soldadura, generalmente se denominan exámenes de técnicas:
haz en ángulo o (a) escaneo manual sin equipo de escáner
(c) ondas de corte del haz angular, donde los ángulos incidentes en
(b) escaneo no automatizado utilizando escáner(es) no automatizado(s)
Las cuñas producen sólo ondas de corte refractadas en el material bajo
examen y generalmente se denominan haz angular.
exámenes. (c) escaneo semiautomático utilizando medios semiautomáticos.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
escáner(es)
Se pueden utilizar técnicas de contacto o inmersión. Base
Los materiales y/o soldaduras con estructuras metalúrgicas que producen (d) escaneo automatizado utilizando escáneres automáticos
atenuaciones variables pueden requerir el uso de haces de ángulo
longitudinal en lugar de ondas de corte.
Además, las técnicas de imágenes computarizadas pueden mejorar la
detectabilidad y evaluación de las indicaciones.
CALIBRACIÓN T460
Otras técnicas o tecnologías que puedan demostrarse que producen T461 VERIFICACIONES DE LINEALIDAD DEL INSTRUMENTO
una sensibilidad y detectabilidad de examen equivalentes o mejores
utilizando unidades de búsqueda con más Se deberán cumplir los requisitos de T461.1 y T461.2.
Se pueden utilizar más de dos elementos transductores. La demostración a intervalos que no excedan los tres meses para instrumentos de tipo
se realizará de conformidad con el artículo 1, T150, letra a). analógico y un año para instrumentos de tipo digital, o
antes del primer uso y posteriormente.
T451 MATERIALES DE GRANO GRUESO
T461.1 Linealidad de altura de pantalla. La linealidad de la altura de la
Exámenes ultrasónicos de aceros de alta aleación y de alta
pantalla del instrumento ultrasónico se evaluará en
depósitos de soldadura de aleación de níquel y soldaduras de metales
de conformidad con el Apéndice I obligatorio.
diferentes entre aceros al carbono y aceros de alta aleación y de alta
Las aleaciones de níquel suelen ser más difíciles que las soldaduras ferríticas. T461.2 Linealidad del Control de Amplitud. el ultrasónico
exámenes. Dificultades con los exámenes ultrasónicos. La linealidad del control de amplitud del instrumento se evaluará de
puede ser causado por un grano grueso inherente y/o un acuerdo con el Apéndice II obligatorio.
95
T462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN El haz angular deberá dirigirse hacia el punto de calibración.
reflector que produce la máxima respuesta en el área de
Sistema Ultrasónico T462.1. Las calibraciones incluirán el sistema
interés. El control de ganancia se ajustará de modo que esta respuesta
ultrasónico completo y se realizarán antes del uso del sistema en el
es 80% ± 5% de la altura completa de la pantalla. Éste será el nivel de
rango de espesor.
bajo examinación. referencia principal. Luego se manipulará la unidad de búsqueda, sin
cambiar los ajustes del instrumento, para
T462.2 Superficie de Calibración. Las calibraciones serán
obtener las máximas respuestas de la otra calibración
realizado desde la superficie (revestida o no revestida; convexa o reflectores en las trayectorias de sus rayos para generar la distancia.
cóncavo) correspondiente a la superficie del componente curva de corrección de amplitud (DAC). Estas calibraciones
a partir del cual se realizará el examen. establecerá tanto la calibración del rango de distancia como
T462.3 Acoplador. Se utilizará el mismo acoplante la corrección distanciaamplitud.
durante el examen se utilizará para la calibración. T463.1.3 Calibración de haz angular. Según corresponda,
T462.4 Cuñas de Contacto. Las mismas cuñas de contacto. la calibración deberá proporcionar las siguientes mediciones
que se utilizará durante el examen se utilizará para (Los Apéndices B y M no obligatorios contienen información general
calibración. técnicas):
(a) calibración del rango de distancias;
T462.5 Controles de instrumentos. Cualquier control que afecte la
(b) distanciaamplitud;
linealidad del instrumento (p. ej., filtros, rechazo o recorte)
estará en la misma posición para la calibración, calibración (c) medición de la amplitud del eco desde la superficie
muesca en el bloque de calibración básica.
controles, controles de linealidad de instrumentos y exámenes.
Cuando se utiliza un dispositivo electrónico de corrección de distancia
T462.6 Temperatura. Para el examen de contacto, el
amplitud, las respuestas de referencia primarias del bloque de calibración
diferencial de temperatura entre el bloque de calibración
básica se ecualizarán a lo largo de la distancia.
y las superficies de examen deben estar dentro de los 25°F (14°C).
rango que se empleará en el examen. La respuesta
Para el examen de inmersión, la temperatura del acoplante
La línea de ecualización estará a una altura de la pantalla del 40% al
para la calibración debe estar dentro de los 25 °F (14 °C) del acoplador.
80% de la altura de la pantalla completa.
temperatura para el examen.
T463.1.4 Calibración de haz de ángulo alternativo.
T462.7 Corrección de distanciaamplitud (DAC). No
Cuando un recipiente u otro componente está fabricado con un espesor
punto en la curva DAC será inferior al 20% del total 1
de /2 pulg. (13 mm) o menos y un diámetro igual o
altura de la pantalla (FSH). Cuando cualquier porción de la curva DAC
menos de 20 pulgadas (500 mm), las calibraciones del sistema de haz
caerá por debajo del 20 % de FSH, se utilizará un DAC dividido. El
primer reflector de calibración en el segundo DAC comenzará angular para técnicas de distanciaamplitud se pueden realizar utilizando
los requisitos de T464.1.1 y
al 80% ± 5% FSH. Cuando la relación señalruido del reflector
T464.1.2.
impide una evaluación y caracterización efectiva de la indicación, no se
debe utilizar un DAC dividido. (El Artículo 4, Apéndice Q no obligatorio T463.1.5 Calibración de haz recto. La calibración deberá
proporciona un ejemplo). proporcionar las siguientes mediciones (el Apéndice C no obligatorio
proporciona una técnica general):
T463 CALIBRACIÓN PARA SIN TUBERÍA (a) calibración del rango de distancias; y
T463.1 Calibración del sistema para distanciaamplitud (b) corrección distanciaamplitud en el área de
Técnicas. interés.
T463.1.1 Bloque(s) de Calibración. Las calibraciones deberán Cuando se utiliza un dispositivo electrónico de corrección de distancia
realizarse utilizando el bloque de calibración que se muestra en amplitud, las respuestas de referencia primarias del bloque de calibración
Figura T434.2.1. básica se ecualizarán a lo largo de la distancia.
En casos como soldaduras de acceso por un solo lado (ver rango que se empleará en el examen. La respuesta
T472.2), el bloque de calibración detallado en la Figura La línea de ecualización estará a una altura de la pantalla del 40% al
Es posible que T434.2.1 no proporcione las distancias necesarias de la 80% de la altura de la pantalla completa.
ruta del sonido a los reflectores de referencia para proporcionar distancia:

Calibración del sistema T463.2 para no distancia–
corrección de amplitud (DAC) que cubrirá completamente el área
Técnicas de amplitud. La calibración incluye todas aquellas acciones
de interés para la técnica de haz recto. En estos casos,
necesarias para asegurar que la sensibilidad y precisión
se requiere un segundo bloque de calibración cuyo espesor
de la amplitud de la señal y las salidas de tiempo del sistema de examen
(T) y las ubicaciones del reflector de referencia se basan en la
(ya sea mostradas, registradas o procesadas automáticamente) se
Distancia de la ruta del sonido que proporciona cobertura del área.
repiten de un examen a otro.
de interés.
examen. La calibración puede realizarse mediante el uso de bloques de
T463.1.2 Técnicas. Apéndices no obligatorios calibración básicos con reflectores artificiales o de discontinuidad.
B y C proporcionan técnicas generales para ambos haces angulares. Los métodos se proporcionan en los Apéndices B no obligatorios.
Calibraciones de onda cortante y haz recto. Se pueden utilizar otras y C. Otros métodos de calibración pueden incluir ajuste de sensibilidad
técnicas. basado en el material de examen, etc.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
96
T464 CALIBRACIÓN PARA TUBERÍAS Los métodos se proporcionan en los Apéndices B no obligatorios.
y C. Otros métodos de calibración pueden incluir ajuste de sensibilidad
T464.1 Calibración del sistema para distanciaamplitud
basado en el material de examen, etc.
Técnicas.
T464.1.1 Bloque(s) de Calibración. Las calibraciones deberán
realizarse utilizando el bloque de calibración que se muestra en T465 CALIBRACIÓN PARA METAL DE SOLDADURA
Figura T434.31 o la alternativa proporcionada en la Figura REVESTIMIENTO SUPERPOSITIVO
T434.32.
T465.1 Calibración para la Técnica Uno. Calibraciones
se realizará utilizando el bloque de calibración que se muestra
T464.1.2 Calibración de haz angular con muescas
en la Figura T434.4.1. La unidad de búsqueda se colocará
(Figura T434.31). El haz angular se dirigirá hacia la muesca que
para obtener la máxima respuesta del reflector de calibración.
produzca la máxima respuesta. El
Cuando se utiliza un orificio perforado lateralmente para la calibración, el plano
El control de ganancia se configurará de modo que esta respuesta sea 80% ±
separando los elementos de la unidad de búsqueda de elementos duales
5% de la altura de la pantalla completa. Éste será el nivel de referencia
Se colocará paralelo al eje del agujero. El
principal. A continuación se manipulará la unidad de búsqueda,
El control de ganancia se configurará de modo que esta respuesta sea 80% ±
sin cambiar la configuración del instrumento, para obtener las respuestas
máximas de los reflectores de calibración en los incrementos de
principal.
distancia necesarios para generar una señal de tres puntos.
Curva de corrección de distanciaamplitud (DAC). Se establecerán T465.2 Calibración para la Técnica Dos. Calibraciones
calibraciones separadas tanto para el eje axial como para el cir
se realizará utilizando el bloque de calibración que se muestra
muescas cumferenciales. Estas calibraciones establecerán
en la Figura T434.4.3. La unidad de búsqueda se colocará
Tanto la calibración del rango de distancia como la distancia. para obtener la respuesta máxima de la primera indicación resoluble
corrección de amplitud. desde la parte inferior del reflector de calibración. La ganancia
se configurará de manera que esta respuesta sea 80% ± 5% del total
T464.1.3 Calibración con orificios perforados lateralmente
altura de la pantalla. Éste será el nivel de referencia primario.
(Figura T434.32). El haz angular deberá dirigirse hacia el orificio
perforado lateral que produzca la máxima respuesta. El control de T465.3 Calibración alternativa para la técnica uno.
ganancia se ajustará de manera que este Las calibraciones se realizarán utilizando el instrumento de calibración.
la respuesta es 80% ±5% de la altura completa de la pantalla. Esto será bloques que se muestran en la Figura T434.4.2.1 o Figura
el nivel de referencia primario. La unidad de búsqueda deberá entonces T434.4.2.2. La calibración se realizará como
ser manipulado, sin cambiar la configuración del instrumento, para sigue:
obtener las respuestas máximas de los reflectores de calibración en los (a) La unidad de búsqueda se colocará a la máxima
incrementos de distancia necesarios para respuesta del reflector, que proporciona la mayor
generar hasta una corrección de distanciaamplitud de 3T amplitud.
(DAC), donde T es el espesor de la calibración (b) Cuando el bloque mostrado en la Figura T434.4.2.2 es
bloquear. A continuación, coloque la unidad de búsqueda para obtener la máxima utilizado, el plano que separa los elementos de la unidad de búsqueda
respuesta para las posiciones de las muescas de la superficie y marque los picos. de dos elementos se colocará paralelo al eje
en la pantalla para su consideración al evaluar la superficie de los agujeros.
reflectores. Se establecerán calibraciones separadas para (c) La ganancia se ajustará de manera que esta respuesta sea 80% ±
Tanto la exploración axial como la circunferencial. Estas calibraciones
establecerán tanto la calibración del rango de distancia principal. Marque el pico de la indicación en la pantalla.
y la corrección distanciaamplitud.
(d) Sin cambiar la configuración del instrumento, coloque
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
la unidad de búsqueda para obtener la máxima respuesta de cada uno de los
T464.1.4 Calibración de haz recto. Cuando sea necesario, se
otros reflectores y marcan sus picos en la pantalla.
deben realizar calibraciones de haz recto para
los requisitos del Apéndice C no obligatorio utilizando (e) Conecte las marcas de la pantalla para cada reflector para pro
los reflectores de calibración alternativos con orificio perforado lateralmente vide una curva DAC.
T434.1.1. Esta calibración establecerá tanto la calibración del rango de
distancia como la calibración de distanciaamplitud. T466 CALIBRACIÓN PARA SOLDADURA LATERAL DE BOQUILLA
corrección.
ZONA DE FUSIÓN Y/O ADYACENTE
BOQUILLA PADRE METAL
Calibración del sistema T464.2 para no distancia–
Técnicas de amplitud. La calibración incluye todas aquellas acciones El número de orificios de calibración utilizados depende del
necesarias para asegurar que la sensibilidad y precisión requisitos para el examen. Si solo el lado de la boquilla
de la amplitud de la señal y las salidas de tiempo del sistema de examen Si se va a examinar la zona de fusión, solo será necesario utilizar un
(ya sea mostradas, registradas o procesadas automáticamente) se orificio perforado en un solo lado en el espesor de la pared de la boquilla.
repiten de un examen a otro. (a) Un solo orificio. La respuesta de un solo lado perforado
examen. La calibración puede realizarse mediante el uso de bloques de El orificio se fijará al 80 % ± 5 % de la altura total de la pantalla. Esto es
calibración básicos con reflectores artificiales o de discontinuidad. el nivel de referencia primario.
97
(b) Múltiples agujeros. El haz recto estará dirigido T467.3.2 Configuración de sensibilidad. Si hay alguna sensibilidad
hacia el reflector de calibración que produce el máximo La configuración ha cambiado en más del 20% o 2 dB de su amplitud,
respuesta. El control de ganancia se configurará de modo que esta corrija la calibración de sensibilidad y tenga en cuenta la
respuesta sea del 80% ± 5% de la altura total de la pantalla. Esto será corrección en el acta de examen. Si el ajuste de sensibilidad ha disminuido,
el nivel de referencia primario. La unidad de búsqueda deberá entonces todas las hojas de datos desde la última verificación de calibración válida
ser manipulado, sin cambiar la configuración del instrumento, se marcarán como nulas y el área cubierta
para obtener las respuestas máximas de la(s) otra(s) posición(es) del por los datos anulados serán reexaminados. Si la sensibilidad
orificio para generar una corrección de distanciaamplitud el ajuste ha aumentado, todas las indicaciones registradas desde el
(DAC) curva. Se volverá a examinar la última calibración o verificación de calibración
válida y se cambiarán sus valores en las hojas de datos.
o regrabado.
CONFIRMACIÓN DE CALIBRACIÓN T467
T467.1 Cambios en el sistema. Cuando se cambie cualquier parte del
sistema de examen, se realizará una verificación de calibración.
Se debe realizar una prueba en el bloque de calibración básica para
EXAMEN T470
verificar que los puntos de rango de distancia y los ajustes de sensibilidad
satisfagan los requisitos de T467.3. T471 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN
T467.2 Verificaciones de calibración. Una verificación de calibración en T471.1 Cobertura del examen. El volumen a ser
al menos uno de los reflectores en el bloque de calibración básica escaneado se examinará moviendo la unidad de búsqueda
sobre la superficie de escaneo para escanear todo el volumen de examen
o se realizará una verificación mediante un simulador en el
para cada unidad de búsqueda requerida.
finalización de cada examen o serie de exámenes similares, y cuando el
personal examinador (excepto a) Cada pasada de la unidad de búsqueda se superpondrá a un mínimo
equipos automatizados) se cambian. El rango de distancia del 10 % de la dimensión del transductor (elemento piezoeléctrico) paralela
y los valores de sensibilidad registrados deberán satisfacer los requisitos a la dirección de indexación del escaneo. como un
T467.3. alternativa, si la dimensión del haz de sonido es paralela a la
La dirección de indexación del escaneo se mide de acuerdo con
NOTA: Se pueden realizar verificaciones de calibración intermedias entre la calibración
inicial requerida y la verificación de calibración final. La decisión de realizar verificaciones Apéndice B no obligatorio, B466, Reglas de medición de dispersión del
de calibración provisionales debe basarse en haz, cada pasada de la unidad de búsqueda puede proporcionar
estabilidad del instrumento ultrasónico (analógico versus digital), el riesgo de tener superposición de la dimensión mínima de la viga determinada.
realizar reexámenes y el beneficio de no realizar exámenes provisionales.
comprobaciones de calibración.
(b) Se permite la oscilación de la unidad de búsqueda si puede ser
demostrado que se proporciona una cobertura superpuesta.
T467.2.1 Verificaciones del simulador. cualquier simulador

T471.2 Tasa de repetición de pulsos. La repetición del pulso.
Los controles que se utilicen deberán correlacionarse con el original.
La velocidad debe ser lo suficientemente pequeña como para garantizar que una señal de un
calibración en el bloque de calibración básica durante la calibración
El reflector ubicado a la distancia máxima en el volumen de examen
original. Las comprobaciones del simulador pueden utilizar diferentes
llegará a la unidad de búsqueda antes de
tipos de reflectores o bloques de calibración (como IIW)
el siguiente pulso se coloca en el transductor.
y/o simulación electrónica. Sin embargo, la simulación
utilizado deberá ser identificable en la(s) hoja(s) de calibración. T471.3 Tasa de Movimiento de la Unidad de Búsqueda. La tasa de
La verificación del simulador se realizará en todo el sistema de examen.
El movimiento de la unidad de búsqueda (velocidad de escaneo) no deberá exceder
No es necesario que todo el sistema sea 6 pulg./s (150 mm/s), a menos que:
comprobado en una sola operación; sin embargo, para su verificación, el
(a) la tasa de repetición del pulso del instrumento ultrasónico es
La unidad de búsqueda deberá estar conectada al instrumento ultrasónico.
suficiente para pulsar la unidad de búsqueda al menos seis veces dentro
ment y se compara con un reflector de calibración. La precisión de las
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
el tiempo necesario para mover la mitad del transductor
comprobaciones del simulador se confirmará utilizando
(elemento piezoeléctrico) dimensión paralela a la dirección de escaneo a
el bloque de calibración básica, al finalizar cada período de uso extendido,
máxima velocidad de escaneo; o,
o cada tres meses, lo que sea
menos. (b) se realiza una calibración dinámica en múltiples reflectores, que
están dentro de los 2 dB de una calibración estática
T467.3 Valores de Aceptación de Confirmación. y la frecuencia de repetición del pulso cumple con los requisitos de
T467.3.1 Puntos de alcance de distancia. Si hay alguna distancia T471.2.
El punto de alcance se ha movido en la línea de barrido más de
10% de la lectura de distancia o 5% del barrido completo, lo que sea T471.4 Nivel de sensibilidad de escaneo.
mayor, corrija la calibración del rango de distancia T471.4.1 Técnicas de distanciaamplitud. El
y anotar la corrección en el acta del examen. Todas las indicaciones El nivel de sensibilidad de escaneo se establecerá en un mínimo10 de
registradas desde la última calibración válida o control de calibración 6 dB más alto que el ajuste de ganancia del nivel de referencia o, cuando
deberán ser reexaminadas y sus valores Si se utiliza una técnica semiautomática o automática, puede
modificarse en las hojas de datos o volverse a registrar. fijarse en el nivel de referencia.
98
T471.4.2 Técnicas de amplitud y no distancia. deberá dirigirse esencialmente paralelo al eje de soldadura en ambas
El nivel de ganancia utilizado para el escaneo será apropiado para la direcciones axiales. La unidad de búsqueda se manipulará de modo
configuración que se examina y deberá ser capaz de detectar los que el haz angular atraviese el volumen de examen requerido.
reflectores de calibración a la velocidad máxima de escaneo.
T472.2 Soldaduras de acceso de un solo lado. Las soldaduras

T471.5 Preparación de Superficies. Cuando el material base o
que no se pueden examinar completamente desde dos direcciones
la superficie de la soldadura interfieren con el examen, el material
según T472.1.2 utilizando la técnica de haz angular también se
base o la soldadura deben prepararse según sea necesario para
examinarán en la máxima medida posible con una técnica de haz
permitir el examen.
recto aplicada desde una superficie de material base adyacente.
T471.6 Registro de Datos Ultrasónicos. Los datos ultrasónicos Esto puede ser aplicable a juntas en T y de esquina de recipientes,
de las técnicas semiautomática y automática se registrarán sin juntas de boquilla y cuello de acceso a la carcasa o cabeza, tuberías
procesar y sin umbral. Se permite la sincronización de los datos a accesorios o conexiones de derivación. En el informe de examen
únicamente para el registro del volumen de examen, siempre que se se anotará la(s) zona(s) de acceso unilateral y, si procede, la
utilice un plan de escaneo para determinar la configuración de la extensión de la cobertura límite.
barrera que se utilizará.
T472.3 Soldaduras Inaccesibles. Las soldaduras que no puedan
T472 DISTANCIAAMPLITUD DE LA JUNTA DE SOLDADURA examinarse desde al menos un lado (borde) utilizando la técnica del
TÉCNICA haz en ángulo se anotarán en el informe de examen.
Para soldaduras de bridas, la soldadura se puede examinar con un
Cuando la Sección del Código de referencia especifica una técnica
haz recto u ondas longitudinales de ángulo bajo desde la cara de la
de distanciaamplitud, las uniones soldadas se escanearán con una
brida, siempre que se pueda cubrir el volumen de examen.
unidad de búsqueda de haz angular en direcciones paralelas y
transversales (4 escaneos) al eje de la soldadura. Antes de realizar
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
los exámenes con haz angular, se debe realizar un examen con haz
recto en el volumen de material base a través del cual viajarán los
haces angulares para localizar cualquier reflector que pueda limitar T473 REVESTIMIENTO DE REVESTIMIENTO DE METAL DE SOLDADURA
la capacidad del haz angular para examinar el volumen de soldadura. TÉCNICAS

El Apéndice I no obligatorio describe un método de examen que
Las técnicas descritas en estos párrafos se utilizarán cuando la
utiliza unidades de búsqueda de haz de múltiples ángulos.
Sección del Código de referencia requiera exámenes del revestimiento
de revestimiento de metal de soldadura. Cuando se requiere un
T472.1 Técnica de haz angular. examen de falta de unión y defectos en el revestimiento de
T472.1.1 Ángulo de haz. La unidad de búsqueda y el ángulo revestimiento de metal de soldadura, se utilizará la Técnica Uno.
del haz seleccionados deberán ser de 45 grados o un ángulo Cuando sólo se requiere un examen por falta de adherencia, se
apropiado para la configuración que se examina y deberán ser puede utilizar la Técnica Dos.
capaces de detectar los reflectores de calibración, en la trayectoria
del haz en ángulo requerido. T473.1 Técnica uno. El examen se realizará desde la superficie
T472.1.2 Reflectores Paralelos a la Cordón de Soldadura. revestida del metal de soldadura con el plano que separa los
elementos de la unidad de búsqueda de elemento dual colocado
El haz angular debe dirigirse aproximadamente en ángulo recto con
paralelo al eje del cordón de soldadura. La unidad de búsqueda se
respecto al eje de la soldadura desde ambos lados de la soldadura
moverá perpendicular a la dirección de soldadura.
(es decir, desde dos direcciones) en la misma superficie cuando sea
posible. La unidad de búsqueda se manipulará de manera que la
energía ultrasónica pase a través del volumen requerido de
T473.2 Técnica Dos. El examen se puede realizar desde la
soldadura y material base adyacente.
superficie revestida o no revestida del metal de soldadura y la
T472.1.3 Reflectores transversales a la costura de soldadura. unidad de búsqueda se puede mover perpendicular o paralela a la
(a) dirección de la soldadura.
Escaneo con refuerzo de soldadura. Si el casquete de soldadura
no está mecanizado ni rectificado, el examen se realizará desde el
material base en ambos lados del casquete de soldadura. Mientras
T474 TÉCNICAS DE NO DISTANCIAAMPLITUD
se escanea paralelo al eje de soldadura, el haz angular debe
dirigirse de 0 grados a 60 grados con respecto al eje de soldadura El número de ángulos y direcciones de los escaneos, para
en ambas direcciones axiales, con el haz angular pasando a través reflectores tanto paralelos como transversales al eje de soldadura,
del volumen de examen requerido. deberá demostrar la capacidad de detectar discontinuidades
rechazables de tamaño mínimo en las normas de aceptación de la
(b) Escaneo sin refuerzo de soldadura. Si la tapa de soldadura Sección del Código de referencia. Las técnicas detalladas deberán
está mecanizada o rectificada, el examen se realizará en la soldadura. estar en conformidad con los requisitos de la Sección del Código de
Mientras escanea, el haz angular referencia.
99
`,``,``,,`,`,,`
`,,`,,`,`,,` ARTÍCULO 4
T475 ZONA DE FUSIÓN DE SOLDADURA LATERAL DE BOQUILLA Y/

O BOQUILLA ADYACENTE METAL PADRE
T475.1 Ubicación de la Unidad de Búsqueda. Cuando la referencia
ASME BPVC.V2019
La sección del código especifica que se debe realizar un examen ultrasónico.

(c) Revisar los planos de fabricación o preparación de soldadura.
Otras técnicas ultrasónicas o métodos de examen no destructivos pueden
ser útiles para determinar la longitud de un reflector.
verdadera posición, tamaño y orientación.
realizado para examinar la fusión de soldadura del lado de la boquilla

T482 NIVEL DE EVALUACIÓN
zona y/o el metal base de la boquilla adyacente, una línea recta
El examen del haz se realizará desde el interior. T482.1 Técnicas de distanciaamplitud. Todas las indicaciones superiores
superficie de la boquilla. al 20 % del nivel de referencia se investigarán en la medida en que puedan
evaluarse en
T475.2 Examen. Se aplican los requisitos generales de examen de términos de los criterios de aceptación del Código de referencia
T471 . Se escaneará toda la circunferencia de la boquilla para cubrir toda la Sección.
T482.2 Técnicas de amplitud y no distancia. Todas las indicaciones que

zona de fusión del lado de la boquilla de la soldadura más 1 pulgada (25 mm) más
superen el 40% del tamaño del defecto rechazable deberán
allá de los dedos de la soldadura. La unidad de búsqueda puede ser movida ya sea
ser investigados en la medida en que puedan ser evaluados en
circunferencialmente alrededor o axialmente a través de la zona de examen.
términos de los criterios de aceptación del Código de referencia
El alcance de la pantalla cubrirá como mínimo, Sección.
1,1 veces el espesor total de la pared de la boquilla. Boquillas que
no puede ser examinado completamente (por ejemplo, acceso restringido
T483 EVALUACIÓN DE REFLECTORES LAMINARES
que impide la colocación manual de la unidad de búsqueda) se anotará en
Reflectores evaluados como reflectores laminares en base mate
el informe del examen.
Los materiales que interfieren con el escaneo de los volúmenes de examen
requerirán la técnica de examen con haz angular.
modificarse de modo que el volumen máximo factible sea
T477 LIMPIEZA POSTEXAMEN
examinado y se anotará en el acta del examen (T493).
Cuando la limpieza posterior al examen sea requerida por el
procedimiento, debe realizarse tan pronto como sea práctico.
después de la evaluación y documentación mediante un proceso que T484 EVALUACIONES ALTERNATIVAS
`
no afecta negativamente a la pieza. Dimensiones del reflector que exceden el código de referencia.

Los requisitos de la sección pueden evaluarse según cualquier alternativa.

estándares proporcionados por la Sección del Código de referencia.
EVALUACIÓN DEL T480

DOCUMENTACIÓN T490
T481 GENERALIDADES
T491 INDICACIONES DE GRABACIÓN
Se reconoce que no todos los reflectores ultrasónicos indican fallas, ya
que ciertas discontinuidades metalúrgicas T491.1 Indicaciones no rechazables. Las indicaciones no rechazables se
y las condiciones geométricas pueden producir indicaciones de que registrarán según lo especificado en el documento de referencia.
Sección de Código.
no son relevantes. Se incluyen en esta categoría las puertas segregadas de
placas en la zona afectada por el calor que se vuelven reflectantes. T491.2 Indicaciones Rechazables. Se registrarán las indicaciones de
después de la fabricación. Bajo un examen con haz recto, estos rechazo. Como mínimo, el tipo de indicación (es decir, grieta, no fusión,
pueden aparecer como indicaciones de puntos o líneas. Viga bajo ángulo escoria, etc.), ubicación y extensión.
examen, indicaciones que se determina que originan (es decir, longitud) se registrará. Los Apéndices D y K no obligatorios
de las condiciones de la superficie (como la geometría de la raíz de la soldadura) o proporcionan ejemplos generales de registro para unidades de búsqueda de
variaciones en la estructura metalúrgica en materiales austeníticos (como la haz recto y recto. Otras técnicas pueden
interfaz de revestimiento de soldadura automática a manual) ser usado.
pueden clasificarse como indicaciones geométricas. La identidad,
Amplitud máxima, ubicación y extensión del reflector. REGISTROS DE EXAMEN T492
Se registrará la indicación geométrica. [Por ejemplo: accesorio interno, 200
Para cada examen ultrasónico, los requisitos de
% DAC, 1 pulg. (25 mm)
El artículo 1, T190(a) y la siguiente información
encima de la línea central de soldadura, en la superficie interior, desde ser registrado:
90 grados a 95 grados] Se deben tomar las siguientes medidas para
(a) identificación de instrumentos ultrasónicos (incluidos
clasificar una indicación como geométrica:
número de serie del fabricante);
(a) Interprete el área que contiene el reflector de acuerdo b) identificación de la(s) unidad(es) de búsqueda (incluido el número de
bailar con el procedimiento de examen aplicable. serie, la frecuencia y el tamaño del fabricante);
(b) Trazar y verificar las coordenadas del reflector. Prepara un c) ángulo(s) del haz utilizado;
Croquis en sección transversal que muestra la posición del reflector. (d) acoplante utilizado, marca o tipo;
y discontinuidades superficiales como raíz y avellanado. e) cable(s) de la unidad de búsqueda utilizados, tipo y longitud;
100
f) equipo especial, cuando se utilice (unidades de búsqueda, cuñas, (o) mapa o registro de indicaciones rechazables detectadas o áreas
zapatos, equipo de escaneo automático, equipo de registro, etc.); (g) despejadas; p)
identificación y revisión zonas de acceso restringido o soldaduras inaccesibles.
de programas computarizados cuando se utilicen; Los elementos (a) a (l) pueden incluirse o adjuntarse en un registro de
calibración separado siempre que el registro de calibración esté incluido en
el registro de examen.
(h) identificación del bloque de calibración; (i)
bloque(s) de simulación y simulador(es) electrónico(s)
identificación cuando se utiliza; INFORME T493
(j) ganancia del nivel de referencia del instrumento y, si se usa, humedad Se levantará un informe de los exámenes. El informe incluirá aquellos
configuración(es) de recepción y rechazo; registros indicados en T491 y T492.
k) datos de calibración [incluido(s) reflector(es) de referencia, El informe se presentará y mantendrá de acuerdo con la Sección del Código
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
amplitud(es) de indicación y lectura(s) de distancia]; de referencia.
(l) datos que correlacionan el(los) bloque(s) de simulación y el(los) electrónico(s)

simulador(es), cuando se utilice, con calibración inicial; MEDIOS DE ALMACENAMIENTO T494
(m) identificación y ubicación de la soldadura o volumen escaneado; (n) Los medios de almacenamiento para datos de escaneo computarizados
superficie(s) y software de visualización deberán ser capaces de almacenar y recuperar
desde la cual se realizó el examen, datos de forma segura durante el período de tiempo especificado por la
incluido el estado de la superficie; Sección del Código de referencia.
101
APÉNDICE OBLIGATORIO I
LINEALIDAD DE ALTURA DE PANTALLA
ALCANCE DE LA I410
Figura I440
Este Apéndice Obligatorio proporciona requisitos para Linealidad
Comprueba la linealidad de la altura de la pantalla y es aplicable a
instrumentos ultrasónicos con pantallas Ascan.
I440 REQUISITOS VARIOS

Coloque una unidad de búsqueda de haz angular en una calibración.
bloque, como se muestra en la Figura I440 para que las indicaciones de
1
Ambos orificios 3
/2T /4T
y dan una relación de amplitudes de 2:1.
entre las dos indicaciones. Ajustar la sensibilidad (ganancia)
para que la indicación más grande se establezca en el 80% de la pantalla completa
altura (FSH). Sin mover la unidad de búsqueda, ajuste la sensibilidad
(ganancia) para establecer sucesivamente la indicación más grande
del 100% al 20% de la altura completa de la pantalla, en incrementos del
10% (o pasos de 2 dB si no hay un control preciso disponible),
y lea la indicación más pequeña en cada configuración. La lectura será
el 50% de la amplitud mayor, dentro del 5% de
FSH. Los ajustes y lecturas se estimarán al
1% más cercano de la pantalla completa. Alternativamente, una viga recta
La unidad de búsqueda se puede utilizar en cualquier bloque de
calibración que proporcione diferencias de amplitud, con suficiente
separación de señales para evitar la superposición de las dos señales.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
102
APÉNDICE OBLIGATORIO II
LINEALIDAD DEL CONTROL DE AMPLITUD
II410 ALCANCE Alternativamente, se puede utilizar cualquier otro reflector conveniente de

cualquier bloque de calibración con haz angular o recto.
Este Apéndice Obligatorio proporciona requisitos para unidades de búsqueda.
comprobar la linealidad del control de amplitud y es aplicable a
Instrumentos ultrasónicos con pantallas Ascan. Indicación establecida en % Control de dB Límites de indicación
de pantalla completa Cambiar % de pantalla completa
80% −6dB 35% a 45%

II440 REQUISITOS VARIOS 80% −12dB 15% a 25%
40% +6dB 65% a 95%
Coloque una unidad de búsqueda de haz angular en un bloque de
20% +12dB 65% a 95%
calibración básica, como se muestra en la Figura I440, de modo que la indicación
desde el 1
El orificio perforado lateralmente /2T aparece en su punto máximo en
la pantalla. Ajuste solo la sensibilidad (ganancia) como se muestra en la siguiente tabla. Los ajustes y lecturas se estimarán al
La indicación deberá estar dentro de los límites especificados. 1% más cercano de la pantalla completa.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
103
`,``,``,,`,`,,```
APÉNDICE OBLIGATORIO III

TÉCNICA DE DIFRACCIÓN DEL TIEMPO DE VUELO (TOFD)
III410 ALCANCE no quede fuera del ancho de banda de −6 dB del receptor. Re

El control de ganancia del receptor deberá estar disponible para ajustar la
Este Apéndice Obligatorio describe los requisitos
amplitud de la señal en incrementos de 1 dB o menos. Los preamplificadores pueden
para ser utilizado para un examen de soldaduras por difracción de tiempo
incluirse en el sistema. Conversión analógica a digital
de vuelo (TOFD).
de formas de onda tendrán tasas de muestreo de al menos cuatro veces
la de la frecuencia nominal de la sonda. cuando digital
El procesamiento de la señal debe realizarse en los datos sin procesar, esto
III420 GENERALIDADES
se incrementará hasta ocho veces la frecuencia nominal de
Los requisitos del artículo 4 se aplican a menos que sean modificados por la sonda.
este Apéndice.
III431.2 Visualización y registro de datos. La pantalla de datos permitirá
III421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO la visualización del Ascan no rectificado.
para posicionar el inicio y la longitud de una puerta que determina la
III421.1 Requisitos. Los requisitos de la tabla.
extensión de la base de tiempo de exploración A que se registra.
Se aplicarán la T421 y la Tabla III421 .
El equipo deberá permitir el almacenamiento de todos los Ascan controlados en un
III421.2 Calificación del Procedimiento. Los requisitos medio de almacenamiento magnético u óptico. El equipo deberá
Se aplicarán las tablas T421 y III421 . Proporcionar una vista seccional de la soldadura con un mínimo de
64 niveles de escala de grises. (Almacenamiento solo de imágenes seccionales
sin las formas de onda de RF Ascan subyacentes no es aceptable). El
III430 EQUIPO software informático para pantallas TOFD deberá incluir algoritmos para
III431 REQUISITOS DEL INSTRUMENTO linealizar los cursores o la forma de onda.
base de tiempo para permitir estimaciones de profundidad y extensión vertical.
III431.1 Instrumento. El instrumento proporcionará una
Además del almacenamiento de datos de formas de onda, incluidos los
Presentación de escaneo lineal "A" tanto para configurar parámetros de
detalles de amplitud y base de tiempo, el equipo también almacenará
escaneo como para análisis de señales. La linealidad del instrumento deberá
información posicional que indica la posición relativa de
ser tal que la precisión de la amplitud o el tiempo indicados
`
la forma de onda con respecto a las formas de onda adyacentes,

es ±5% de la amplitud o tiempo real de escala completa. El pulsador

es decir, posición codificada.
ultrasónico puede proporcionar voltaje de excitación por tono.
onda cuadrada ráfaga, unipolar o bipolar. El ancho del pulso deberá
ser sintonizable para permitir la optimización de la amplitud del pulso y
duración. El ancho de banda del receptor ultrasónico deberá III432 UNIDADES DE BÚSQUEDA
ser al menos igual a la de la frecuencia nominal de la sonda
y tal que el ancho de banda de −6 dB de la sonda no III432.1 Generalidades. Las sondas ultrasónicas deberán cumplir con
los siguientes requisitos mínimos:
(a) Se utilizarán dos sondas en un arreglo de captura de tono.

Cuadro III421 ment (par TOFD).
Requisitos de un examen TOFD (b) Cada sonda en el par TOFD tendrá el mismo
Procedimiento frecuencia nominal.
Básico No esencial (c) El par TOFD tendrá el mismo elemento

Requisito (según corresponda) Variable Variable dimensiones.
fabricante de instrumentos y d) La duración del impulso de la sonda no excederá de 2

modelo X …
ciclos medidos al nivel de 20 dB por debajo del pico
software del instrumento X …
respuesta.
Direcciones y extensión del escaneo X …
Método para dimensionar la longitud del defecto X … (e) Las sondas pueden estar enfocadas o desenfocadas. Desenfocado
Método para dimensionar la altura del defecto X … Se recomiendan sondas para detección y enfoque.
Espaciado de muestreo de datos (aumentar Se recomiendan sondas para mejorar la resolución de
solo) X …
dimensionamiento.
(f) Las sondas pueden ser de un solo elemento o en fase.
104
`,``,``,,`,`,,````, (g) La frecuencia nominal será de 2 MHz a 15 MHz a menos que

variables, como la estructura del grano del material de producción,
requieran el uso de otras frecuencias para asegurar una penetración
ASME BPVC.V2019
ejemplo. El tamaño del bloque y la ubicación del reflector deben ser

adecuados para confirmar los ajustes de sensibilidad adecuados para
los ángulos del haz utilizados.
ARTÍCULO 4
adecuada o una mejor resolución. III434.2.2 Espesor del bloque. El espesor del bloque debe ser de
III432.2 Revestimiento — Unidades de búsqueda para la Técnica ±10% del espesor nominal de la pieza a examinar para espesores de
`,,`,,`,`,,`
Uno. Los requisitos de T432.3 no son aplicables a la técnica TOFD. hasta 4 pulgadas (100 mm) o ±0,4 pulgadas (10 mm) para espesores
superiores a 4 pulgadas (100 mm). Alternativamente, se puede utilizar
un bloque más grueso siempre que el tamaño del reflector de referencia
se base en el espesor a examinar y exista una cantidad adecuada de
III434 BLOQUES DE CALIBRACIÓN orificios para cumplir con los requisitos de T434.2.1 .
III434.1 Generalidades.
III434.1.1 Reflectores. Los agujeros perforados lateralmente deberán ser
III434.2.3 Bloque Alterno. Los requisitos de
Se utiliza para confirmar los ajustes de sensibilidad adecuados. T434.2.3 no son aplicables a la técnica TOFD.
III434.1.7 Curvatura del bloque. El párrafo T434.1.7 también se III434.3 Bloque de Calibración de Tuberías. Los requisitos de
aplicará a las tuberías. T434.3 no son aplicables a la técnica TOFD.
III434.2 Bloques de Calibración. Párrafo T434.2

III434.4 Bloques de calibración de revestimiento. Los requisitos de
También se aplicará a las tuberías.
T434.4 no son aplicables a la técnica TOFD.
III434.2.1 Bloque de Calibración Básica. la cali basica
La configuración del bloque de retención y los reflectores serán como se
muestra en la Figura III434.2.1(a). Se requiere un mínimo de dos
orificios por zona, si la soldadura se divide en varias zonas. Consulte la
Figura III434.2.1(b) para una zona de dos
Figura III434.2.1(a)
Bloque de referencia TOFD
T/4
`

3T/4
t
Revestimiento (cuando esté presente)
Espesor de soldadura, mm (pulg) Diámetro del orificio, mm (pulg)

3
Hasta 1 (25) /32 (2,5)
1
Más de 1 (25) a 2 (50) /8 (3)
3
Más de 2 (50) a 4 (100) /16 (5)
1
Más de 4 (100) /4 (6)
NOTAS
GENERALES: (a) Los orificios se perforarán y escariarán a una profundidad mínima de 2 pulgadas (50 mm), esencialmente paralelos a la superficie de examen y al escáner.
dirección.
(b) Tolerancia del agujero. La tolerancia en el diámetro será de ±1 /32 pulg. (±0,8 mm). La tolerancia en la ubicación a través del espesor del bloque será
±1 /8 pulg. (±3 mm).
(c) Todos los orificios deberán estar ubicados en la misma cara (lado) del bloque y alineados en el centro aproximado de la cara (lado) a menos que la indicación
de un reflector afecte la indicación de otro. En estos casos, los agujeros pueden estar ubicados en caras (lados) opuestos del bloque. /4) orificio perforado
3
(d) Cuando la soldadura se divide en múltiples zonas, cada zona deberá tener una Tz/4 y una Tz (e) lateral, donde Tz es el espesor de la zona.
Para componentes ≤20 pulgadas (500 mm) de diámetro, el diámetro del bloque de calibración deberá cumplir con los requisitos de T 434.1.7.2.
105
`,``,``,,`
`,,`,,`,`, ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Figura III434.2.1(b)
Ejemplo de bloque de referencia de dos zonas
T1/4
T1(¾) Zona superior
T1
`
t

T2/4
T2(¾) Zona baja
T2
Revestimiento (cuando esté presente)
Leyenda:
T1 = espesor de la zona superior T2 = espesor de la zona inferior
III435 MECÁNICA Las respuestas SDH de la zona requerida serán una

mínimo de 6 dB por encima del ruido de grano y será evidente en la
Se deben utilizar soportes mecánicos para garantizar que la sonda
presentación digitalizada en escala de grises resultante.
el espaciado se mantiene a una distancia fija. el mecanico
Los titulares también garantizarán que la alineación con el objetivo previsto III463.4 Exámenes de Zonas Múltiples. cuando una soldadura
Se mantiene el eje de escaneo en la pieza de examen. Investigacion está dividido en múltiples zonas, repita III463.2 y
El movimiento se puede lograr usando motorizado o manual. III463.3 para cada par de sondas TOFD. Además, se detectará la
medios y el soporte mecánico para las sondas SDH más cercana en la zona o zonas contiguas.
Estar equipado con un codificador posicional que esté sincronizado
III463.5 Confirmación de Ancho de Cobertura. Se realizarán dos
con el muestreo de Ascan.
exploraciones adicionales según III463.3 con las sondas.
desplazado a cualquier lado de la soldadura de la zona aplicable
borde ±1 /2 pulg. (13 mm). Si no se detectan todos los agujeros
III460 CALIBRACIÓN requeridos, se requieren dos escaneos compensados adicionales con el
sondas desplazadas por las distancias identificadas anteriormente. Ver
III463 CALIBRACIÓN Figura III463.5 como ejemplo.
III463.1 Bloque de Calibración. La calibración se realizará utilizando
III463.6 Codificador. Los codificadores se calibrarán según
el bloque de calibración que se muestra en la Figura
recomendaciones del fabricante y confirmadas por
III434.2.1(a) o Figura III434.2.1(b), según corresponda.
moviéndose una distancia mínima de 20 pulg. (500 mm) y el
III463.2 Calibración. Coloque las sondas TOFD en el la distancia mostrada es ±1% de la distancia real
movido.
superficie que se utilizará para la calibración y configure el control de
ganancia de modo que la amplitud de la onda lateral sea del 40% al
90% de la altura de la pantalla completa (FSH) y el ruido (hierba) III464 CALIBRACIÓN DE TUBERÍAS
el nivel es inferior al 5% al 10% de FSH. esta es la referencia
ajuste de sensibilidad. Para exámenes de zonas múltiples cuando Los requisitos de T464 no son aplicables a la
la onda lateral no se muestra o es apenas perceptible, Técnica TOFD.
establezca el control de ganancia basándose únicamente en el nivel de ruido (césped).
III465 CALIBRACIÓN PARA REVESTIMIENTO

III463.3 Confirmación de Sensibilidad. Escanee los SDH del
bloque de calibración con ellos centrados entre los Los requisitos de T465 no son aplicables a la
sondas, al nivel de sensibilidad de referencia establecido en III463.2. Técnica TOFD.
106
`,``,``,,`,`,,````,` ASME BPVC.V2019
Figura III463.5
Escaneos compensados
ARTÍCULO 4
SCAN #3
PCS desplazado 1/2 del ancho de zona aplicable 1/2

pulg. (13 mm)
`,,`,,`,`,,`
ancho de zona aplicable
1/2 pulg. (13 mm)
ESCANEO #1
PCS centrado en el eje de
soldadura
SCAN #2
PCS desplazado 1/2 del ancho de zona aplicable 1/2

pulg. (13 mm)
III467 CONFIRMACIÓN DEL CODIFICADOR III471.6 Registro de datos (Región cerrada). Se registrará la
señal de exploración A (forma de onda de RF) no rectificada. La
Se debe realizar una verificación de calibración a intervalos que
región controlada del escaneo A se configurará para que comience
no excedan un mes o antes del primer uso posterior, realizada
justo antes de la onda lateral y, como mínimo, no finalice hasta que
moviendo el codificador a lo largo de una distancia mínima de 20
se registre toda la primera señal de la pared posterior, teniendo en
pulgadas (500 mm) y la distancia mostrada es ±1% de la distancia cuenta las variaciones de espesor y desajuste. Se pueden obtener
real movida. .
datos útiles a partir de señales convertidas en modo; por lo tanto,
el intervalo desde la primera pared posterior hasta el modo convertido
La señal de la pared trasera también se incluirá en los datos
recopilados cuando lo requiera el Código de referencia.
III470 EXAMEN
III471 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN III471.1 III471.8 Reflectores transversales a la costura de soldadura.
`

Se debe realizar un examen con haz en ángulo de acuerdo con

Cobertura del examen. El volumen a escanear se examinará T472.1.3 para reflectores transversales al eje de soldadura, a
con el par de sondas TOFD centrado y transversal al eje de
menos que la Sección del Código de referencia especifique un
soldadura y luego moviendo el par de sondas paralelo al eje de
examen TOFD. En estos casos, coloque cada par de sondas TOFD
soldadura y a lo largo de él. Si se requieren escaneos desplazados
esencialmente paralelo al eje de soldadura y mueva el par de
debido al ancho de la soldadura, repita el escaneo inicial con las
sondas a lo largo y hacia abajo del eje de soldadura. Si el refuerzo
sondas desplazadas a un lado del eje de la soldadura y nuevamente
de soldadura no está liso, coloque las sondas en el material de la
con el desplazamiento hacia el lado opuesto del primer escaneo
desplazado. placa adyacente lo más paralelo posible al eje de la soldadura.
III471.4 Superposición. La superposición mínima entre escaneos

III471.9 Examen suplementario de identificación y diámetro
adyacentes será de 1 pulgada (25 mm).
exterior cerca de la superficie. Debido a la presencia de señales
III471.5 Examen de Zonas Múltiples. Cuando una soldadura se de indicación de onda lateral y de pared posterior, es posible que
divide en múltiples zonas, repita III471.1 para cada zona de no se detecten fallas que ocurran en estas zonas. Por lo tanto, el
soldadura. ID y el OD cerca de superficies dentro del área de interés serán
107
`,``,``,,`
`,,`,,`,`, ARTÍCULO 4
examinado según el artículo 4. Este examen podrá realizarse

manualmente o mecanizado; si está mecanizado, los datos pueden
ASME BPVC.V2019
La reflexión calculada por el sistema debe estar dentro de 0,04 pulgadas

(1 mm) del espesor real. Para exámenes de zonas múltiples donde la
registrarse junto con el examen TOFD. pared posterior no se muestra o es apenas discernible, se puede usar
un orificio perforado lateralmente u otro reflector de referencia de
profundidad conocida en el bloque de calibración. Consulte los Apéndices
III472 DISTANCIA DE LA JUNTA DE SOLDADURA – AMPLITUD no obligatorios L y N de este artículo para obtener información adicional
TÉCNICA sobre el tamaño y la interpretación de los defectos.
Los requisitos de T472 no son aplicables a la técnica TOFD.
La interpretación final sólo se realizará después de que se hayan
completado todos los ajustes de los parámetros de visualización (es
III473 TÉCNICA DE REVESTIMIENTO decir, contraste, brillo, eliminación de la pared lateral y posterior y
Los requisitos de T473 no son aplicables a la técnica TOFD. procesamiento SAFT, etc.).
III475 ESPACIO PARA MUESTREO DE DATOS

`
Se debe utilizar un espacio máximo entre muestras de 0,040 pulg. (1 III490 DOCUMENTACIÓN

mm) entre los escaneos A recopilados para espesores inferiores

III492 ACTA DE EXAMEN
Se puede utilizar 2 pulgadas (50 mm) y un espaciamiento de muestra
de hasta 0,080 pulgadas (2 mm) para espesores superiores a 2 pulgadas Para cada examen, la información requerida en
(50 mm). T492 y se registrará la siguiente información:
(a) espaciado entre centros de sonda (PCS)
III480 EVALUACIÓN (b) espaciado de muestreo de datos
(c) altura del defecto, si se especifica

III485 LÍNEAS DE DATOS FALTANTES
(d) los niveles de procesamiento de visualización final
Las líneas faltantes en la pantalla no deberán exceder el 5% de las
líneas de escaneo que se recopilarán y no se perderán líneas adyacentes.
III493 INFORME
III486 DIMENSIÓN E INTERPRETACIÓN DE DEFECTOS
Se levantará un informe del examen. El informe incluirá aquellos
Cuando se requiere dimensionar la altura del defecto, después de registros indicados en T491, T492 y III492. El informe se presentará y
calibrar el sistema según III463, se debe realizar un recorrido libre en mantendrá de acuerdo con la Sección del Código de referencia.
el bloque de calibración y se debe medir la profundidad de la pared posterior.
108
APÉNDICE OBLIGATORIO IV
TÉCNICAS MANUALES DE EXAMEN DE RASTER EN PHASED ARRAY
USANDO Matrices lineales
IV410 ALCANCE IV462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN
Este Apéndice Obligatorio describe los requisitos que se utilizarán IV462.7 Ley Focal. La ley focal que se utilizará durante
el examen se utilizará para la calibración.
para técnicas de matriz en fase, escaneo de trama manual y
técnicas ultrasónicas que utilizan matrices lineales. Las técnicas IV462.8 Calibración del haz. Todos los haces individuales
cubiertas por este Apéndice son simple (ángulo fijo), Escan (ángulo utilizados en el examen deben calibrarse para proporcionar medición
fijo) y Sscan (ángulo múltiple de barrido). En general, este artículo de distancia y corrección de amplitud sobre la trayectoria del sonido
cumple con SE2700, Práctica estándar para pruebas ultrasónicas empleada en el examen. Esto incluirá la compensación aplicable
de contacto de soldaduras mediante arreglos en fase. SE2700 para las variaciones de la trayectoria del sonido de cuña y los
proporciona detalles a considerar en los procedimientos utilizados. efectos de atenuación de la cuña.
IV490 DOCUMENTACIÓN
IV420 GENERALIDADES
IV492 ACTA DE EXAMEN ð19Þ
Los requisitos del Artículo 4 se aplican salvo que se modifiquen.
Para cada examen, la información requerida de
por este Apéndice.
T492 y se registrará la siguiente información:
(a) tipo de unidad de búsqueda, tamaño y número de elemento, y
ð19Þ IV421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO
dimensiones de paso y separación
IV421.1 Requisitos. Los requisitos de la tabla. (b) parámetros de la ley focal, incluidos, según corresponda,
Se aplicará el IV421 . ángulo, número de elementos utilizados, rango de elementos,
IV421.2 Calificación del Procedimiento. Los requisitos cambio incremental de elementos, rango angular y cambio
Se aplicará lo dispuesto en la Tabla IV421 .
incremental de ángulo
ð19Þ PLAN DE ESCANEO IV422 (c) ángulo de cuña (d) configuraciones del instrumento que
Se desarrollará un plan de escaneo. El plan de exploración, en deben incluirse, como mínimo , tipo de pulso de excitación,
combinación con el procedimiento escrito, deberá abordar todos configuración de duración y voltaje, tasa de digitalización (p. ej., tasa
los requisitos de la Tabla IV421. nominal afectada por la compresión y la cantidad de puntos),
rectificación, tasa de repetición de pulso, inicio y parada de rango,
filtros de paso de
IV460 CALIBRACIÓN banda, suavizado, tipo focal y longitud (e) variables del plan de escaneo
IV461 VERIFICACIONES DE LINEALIDAD DEL INSTRUMENTO
IV461.2 Linealidad del control de amplitud. La linealidad del

control de amplitud del instrumento ultrasónico se evaluará de
acuerdo con el Apéndice II obligatorio para cada circuito pulsador
receptor.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
109
`,``,``,,`
`,,`,,`,`,ð19Þ
ARTÍCULO 4
Cuadro IV421
ASME BPVC.V2019
Requisitos del procedimiento de examen de escaneo ráster de matriz en fase lineal manual
Requisitos (según corresponda) Básico No esencial
Configuraciones de soldadura examinadas, incluido el diseño de la junta, el espesor y la(s) forma(s) del producto del material base. X …
Superficies desde las que se realiza el examen Estado de la superficie X …
(superficie de examen, bloque de calibración) X …
Sistema de referencia y marcado del eje de soldadura … X
Requisitos de calificación del personal Demostración X …
del desempeño del personal (si es necesario) X …
Reflector de referencia primario y nivel Bloque(s) y X …
técnica(s) de calibración X …
Método de estandarización y reflectores (retardo de cuña, sensibilidad, TCG) X …
Adquisición de datos computarizada Corte … X
de cuña/ángulo refractado natural Características X …
de contorno y/o estabilización de la cuña Altura de la cuña Tipo X …
de cuña (cuña X …
sólida, columna de agua, etc.) X …

`

Material de la cuña X …
Acoplador: marca o tipo Fabricante y … X
modelo del instrumento, incluidos todos los módulos operativos relacionados Software y revisión del instrumento X …
[Nota (1)] X …
Sondas de matriz en fase especiales, cuñas, zapatas o monturas curvas/con forma, cuando se utilizan Tipo de unidad X …
de búsqueda (lineal, lineal dual, matriz dual, tándem, etc.) X …
Detalle de la unidad de búsqueda (frecuencia, tamaño del elemento, paso numérico, dimensiones del espacio, forma del elemento) X …
Técnica(s) (haz recto, haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X …
Ángulo(s) y modo(s) de propagación de la onda en el material Direcciones y X …
extensión del escaneo Incremento del escaneo X …
(disminución en la cantidad de superposición) X …
Uso de ganancia de escaneo sobre el nivel de referencia primario X …
Tamaño de apertura virtual (es decir, número de elementos, altura efectiva y ancho de elemento) X …
Longitud y plano del enfoque (identificar proyección plana, profundidad o trayectoria del sonido, etc.) X …
Para escaneo electrónico:
Rango de números de elementos utilizados (es decir, 1–126, 10–50, etc.) X …
Cambio incremental de elementos (es decir, 1, 2, etc.) X …
Ángulo de trama X …
Números de inicio y fin de apertura Para Sscan: X …
Números de elementos de apertura (primero y último) X …
Disminución del rango angular utilizado (es decir, 40 grados a 50 grados, 50 grados a 70 grados, etc.) X …
1 X …
Cambio incremental del ángulo máximo (es decir, /2 tú, 1 tú, etc.)
Para Escan y Sscan compuestos: se aplican todas las variables de Escan y Sscan Frecuencia de X …
digitalización Frecuencia X …
neta de digitalización (considera la cantidad de puntos y otra compresión de datos) X …
Configuración del rango dinámico del instrumento X …
Voltaje del pulsador X …
Tipo y ancho de pulso Filtros X …
y suavizado Frecuencia de X …
repetición del pulso Configuración del X …
rango máximo Equipo de alarma X …
y/o registro automático, cuando corresponda Método para discriminar indicaciones … X
geométricas de fallas Metodología de caracterización de fallas Método para medir la X …
longitud de las fallas Registros, incluidos los datos X …
mínimos de calibración (p. ej., configuración del X …
instrumento) … X
Limpieza postexamen … X
NOTA:
(1) El uso de revisiones de software debe ser evaluado por el Nivel III por su impacto en las funciones utilizadas. Se podrá determinar una extensión limitada de la cualificación para
demostrar las funciones del software. Por ejemplo, la adición de una característica de software más capaz que la calificada puede
ser calificado mediante un nuevo análisis de los datos existentes. Si se implementa una revisión, el personal debe recibir capacitación en el uso del software revisado.
110
`,``,``,,`,`,,````
`,,`,,`,`,,` APÉNDICE OBLIGATORIO V
ESCANEO LINEAL PHASED ARRAY ESCAN Y SSCAN

TÉCNICAS DE EXAMEN
V410 ALCANCE EXAMEN V470

Este Apéndice Obligatorio describe los requisitos que se utilizarán V471 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN V471.1 Cobertura del
para los exámenes de escaneo lineal codificado Escan (ángulo fijo) en
examen. El volumen requerido de soldadura y material base a
fase y Sscan utilizando unidades de búsqueda de arreglo lineal. examinar se escaneará utilizando una técnica de escaneo lineal con un
codificador. Cada escaneo lineal deberá ser paralelo al eje de soldadura
a una distancia de separación constante con el haz orientado perpendicular
al eje de soldadura.
V420 GENERALIDADES
Los requisitos del Artículo 4 se aplican salvo que se modifiquen. (a) La unidad de búsqueda se mantendrá a una distancia fija del eje
por este Apéndice. de soldadura mediante una guía fija o dispositivo mecánico.
medio.
ð19Þ V421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO (b) Los ángulos de examen para Escan y el rango de ángulos para S
V421.1 Requisitos. Los requisitos de la tabla. scan deben ser apropiados para la articulación que se va a examinar. (c)
Se aplicará la V421 . La velocidad
de escaneo será tal que la pérdida de datos sea inferior a 2 líneas de
V421.2 Calificación de Procedimiento. Los requisitos
datos/pulg. (25 mm) de la longitud de escaneo lineal y que no haya saltos
Se aplicará lo dispuesto en la Tabla V421 .
de líneas de datos adyacentes.
PLAN DE ESCANEO V422 (d) Para las técnicas de escaneo electrónico, la superposición entre
ð19Þ
aperturas activas adyacentes (es decir, cambio incremental de apertura)
Se desarrollará un plan de escaneo. El plan de escaneo, en
será de un mínimo del 50% de la altura de apertura efectiva.
combinación con el procedimiento escrito, deberá abordar todos los
(e) Para las técnicas de escaneo S, el cambio incremental del barrido
requisitos de la Tabla V421.
angular será de un máximo de 1 grado o suficiente para garantizar una
superposición del haz del 50 %.
CALIBRACIÓN V460 (f) Cuando se requieren múltiples escaneos lineales para cubrir el
volumen requerido de soldadura y material base, la superposición entre
V461 VERIFICACIONES DE LINEALIDAD DEL INSTRUMENTO escaneos lineales adyacentes deberá ser de un mínimo del 10% de la
`

V461.2 Linealidad del Control de Amplitud. La linealidad del control altura de apertura efectiva para escaneos E o del ancho del haz para
de amplitud del instrumento ultrasónico se evaluará de acuerdo con el escaneos S.
Apéndice II obligatorio para cada circuito pulsadorreceptor. V471.6 Grabación. Los datos de Ascan se registrarán para el área
de interés en una forma no procesada sin umbrales, a una tasa de
digitalización mínima de cinco veces la frecuencia del examen y
V462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN
registrando incrementos de un máximo de
V462.7 Ley Focal. La ley focal que se utilizará durante
el examen se utilizará para la calibración. (a) 0,04 pulg. (1 mm) para material < 3 pulg. (75 mm) de espesor (b)
V462.8 Calibración de haz. Todos los haces individuales utilizados 0,08 pulg. (2 mm) para material ≥ 3 pulg. (75 mm) de espesor
en el examen deben calibrarse para proporcionar medición de distancia V471.7 Reflectores Transversales a la Cordón de Soldadura. Como
y corrección de amplitud sobre la trayectoria del sonido empleada en el alternativa al escaneo lineal, se puede realizar un examen manual con
examen. haz en ángulo para reflectores transversales al eje de soldadura.
V467 CALIBRACIÓN DEL CODIFICADOR
Se debe realizar una verificación de calibración a intervalos que no

excedan un mes o antes del primer uso posterior, moviendo el codificador
una distancia mínima de 20 pulgadas (500 mm). La distancia de
visualización deberá estar dentro del 1% de la distancia real recorrida.
111
ð19Þ
Tabla V421
Requisitos de los procedimientos de examen de escaneo lineal Phased Array
Hechura Mecánica de fracturas
Requisitos (según corresponda) Básico No esencial Básico No esencial
Configuraciones de soldadura examinadas, incluido el espesor del diseño de la junta y X … X …
forma del producto material base

Superficies a partir de las cuales se realiza el examen Condición de X … X …
la superficie (superficie de examen, bloque de calibración) X … X …
Sistema de referencia y marcado del eje de soldadura X … X …
Requisitos de calificación del personal Demostración X … X …
del desempeño del personal (si es necesario) X … X …
Reflector de referencia primario y nivel Calibración X … X …
[bloque(s) y técnica(s) de calibración] X … X …
Método de estandarización y reflectores (retardo de cuña, sensibilidad, TCG) X … X …
Adquisición de datos computarizados Corte X … X …
de cuña/ángulo refractado natural Características X … X …
de contorno y/o estabilización de la cuña Altura de la cuña Ángulo X … X …
del techo de la X … X …
cuña, si corresponde Tipo de cuña (cuña X … X …
sólida, columna de agua, etc.) X … X …
Material de la cuña X … X …
Tipo de escáner y fijación Dispositivo X … X …
de fijación mecánica de la unidad de búsqueda (fabricante y modelo), X … X …
mecanismo de adherencia y guía

Separación de unidades de búsqueda, si corresponde X … X …
Marca o tipo de acoplante … X … X
Fabricante y modelo del instrumento, incluidos todos los aspectos operativos relacionados. X … X …
módulos
Software y revisión del instrumento [Nota (1)] X … X …
Uso de software de análisis de datos independiente y revisión [Nota (1)] X … X …
Tipo de unidad de búsqueda (lineal, lineal dual, matriz dual, tándem, etc.) X … X …
Detalle de la unidad de búsqueda (frecuencia, tamaño del elemento, paso del número, espacio) X … X …
dimensiones, forma del elemento)

Técnica(s) (haz recto, haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X … X …
Ángulo(s) y modo(s) de propagación de la onda en el material Dirección y extensión X … X …
del escaneo Técnica de escaneo (línea versus X … X …
trama) X … X …
Técnica de escaneo (automatizada versus semiautomatizada) X … X …
Escaneo (manual versus codificado) X … X …
Incremento de escaneo (disminución de la superposición) X … X …
Uso de ganancia de escaneo sobre el nivel de referencia primario X … X …
Tamaño de apertura virtual (es decir, número de elementos, altura efectiva y X … X …
ancho del elemento)

Longitud y plano del enfoque (identificar proyección plana, profundidad o sonido). X … X …
camino, etc)
Para escaneo electrónico
Rango de números de elementos utilizados (es decir, 1–126, 10–50, etc.) X … X …
Cambio incremental de elementos (es decir, 1, 2, etc.) X … X …
Ángulo de trama X … X …
Números de inicio y fin de apertura Para Sscan: X … X …
Números de elementos de apertura (primero y último) X … X …
Disminución del rango angular utilizado (es decir, 40 grados a 50 grados, 50 grados a 70 grados X … X …
usted, etc.)
1
Cambio incremental del ángulo máximo (es decir, para E /2 tú, 1 tú, etc.) X … X …
scan y Sscan compuestos: se aplican todas las variables de Escan y Sscan Frecuencia de X … X …
digitalización Frecuencia de X … X …
digitalización neta (considera la frecuencia de digitalización en conjunto) X … X …
con cantidad de puntos u otra compresión de datos)

Configuración del rango dinámico del instrumento X … X …
Voltaje del pulsador X … X …
Tipo y ancho de pulso Filtros X … X …
y suavizado X … X …
112
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Tabla V421
Requisitos de los procedimientos de examen de escaneo lineal Phased Array (cont.)
Hechura Mecánica de fracturas
Requisitos (según corresponda) Básico No esencial Básico No esencial
Frecuencia de repetición de pulso X … X …
Configuración de rango X … X …
máximo Uso de X … X …
ganancia digital Método para discriminar indicaciones geométricas de fallas X … X …
Metodología de caracterización de fallas X … ESO ESO
Método para medir la longitud de la falla X … X …
Método para medir la altura de la falla ESO ESO X …
Método para determinar la ubicación de la indicación en relación con la superficie ESO ESO X …
Método para determinar la indicación en relación con otras indicaciones Registros, ESO ESO X …
incluido el mínimo datos de calibración que se registrarán (p. ej., … X … X
ajustes del instrumento)

Limpieza postexamen … X … X
NOTA GENERAL: NA = no aplicable.
NOTA:
(1) El uso de revisiones de software posteriores será evaluado por el Nivel III por su impacto en las funciones tal como se utilizan. Podrá determinarse una extensión limitada de la calificación
para demostrar las funciones del software. Por ejemplo, agregar una característica de software más capaz que la que ya existe
Los datos calificados pueden calificarse mediante un nuevo análisis de los datos existentes. Si se implementa una revisión, el personal deberá recibir capacitación en el uso de la versión revisada.
software.
DOCUMENTACIÓN V490 (c) ángulo refractado natural de la cuña

(d) la configuración del instrumento debe incluir, como mínimo, el
ð19Þ V492 EXPEDIENTE DE EXAMEN
tipo de pulso de excitación, la duración y los ajustes de voltaje, la tasa
Para cada examen, la información requerida de
de digitalización (por ejemplo, la tasa nominal afectada por la compresión).
T492 y se registrará la siguiente información:
y cantidad de puntos), rectificación, tasa de repetición del pulso,
(a) tamaño, número y paso y espacio del elemento de la unidad de búsqueda
inicio y parada de rango, filtros de paso de banda, suavizado, focal
dimensiones
tipo y longitud
(b) parámetros de la ley focal, incluido, según corresponda, el ángulo
(e) variables del plan de escaneo
o rango angular, números de elementos utilizados, cambio incremental
angular o de elementos, y elementos de inicio y parada Los datos registrados en Ascan sólo deben conservarse hasta el momento final.
números o número de elemento inicial Se ha realizado la evaluación de fallas.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 113
`,,`,,`,`
`,``,``,, ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
APÉNDICE OBLIGATORIO VII

REQUISITOS DEL EXAMEN ULTRASÓNICO PARA
CRITERIOS DE ACEPTACIÓN BASADOS EN LA MANO DE OBRA
VII410 ALCANCE realizarse manualmente según T472.1.3 , a menos que la Sección del Código
`
de referencia especifique que también se realizará mediante un escaneo

Este Apéndice Obligatorio proporciona requisitos cuando se realiza un automatizado o semiautomático.
examen ultrasónico automatizado o semiautomático.
se realiza según criterios de aceptación basados en la mano de obra.
VII434 BLOQUES DE CALIBRACIÓN
VII434.1 Verificación del plan de calibración y escaneo.
VII420 GENERALIDADES Se utilizarán los siguientes métodos de (a) o de (b) y (c) para verificar el plan
de escaneo y la calibración del examen: (a) Bloque de escáner. Se deberá
fabricar un
por este Apéndice.
bloque que cumpla con los requisitos de T434.1 y la Figura T434.2.1,
ð19Þ VII421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO VII421.1 Requisitos. excepto que su espesor, T, estará dentro del menor de
1
/4
Los procedimientos serán los establecidos
pulg. (6 mm) o el 25 % del espesor del material a examinar y el número y
Siguiendo la técnica ultrasónica aplicable.
posición de los orificios perforados lateralmente deben ser adecuados para
VII421.2 Calificación del Procedimiento. El procedimiento y el plan(es) de confirmar el ajuste de sensibilidad de cada sonda, o par de sondas en el caso
escaneo de la aplicación se calificarán utilizando las variables establecidas de un TOFD. configuración, según lo colocado según el plan de escaneo en
para la(s) técnica(s) aplicable(s). el escáner. El bloque del escáner es adicional al bloque de calibración
requerido por el Artículo 4, a menos que el bloque del escáner también tenga
ð19Þ VII423 CALIFICACIONES DEL PERSONAL
todos los reflectores de referencia especificados requeridos por la Figura
Solo el personal calificado de UT, capacitado en el uso del equipo y que T434.2.1. Para bloques de escáner, se aplicará VII466.1 . (b) Verificación
haya demostrado la capacidad de adquirir adecuadamente datos de examen, del simulador. Se utilizará una verificación
deberá realizar escaneos de producción. El personal que apruebe las con simulador antes y al final de cada examen o serie de exámenes. La
configuraciones, realice calibraciones y analice e interprete los datos verificación del simulador puede utilizar cualquier bloque de referencia (es
recopilados deberá ser de Nivel II o Nivel III y tener capacitación documentada decir, IIW, Rompus) o cualquier bloque con reflector(es) conocido(s), siempre
en el uso del equipo y el software utilizados. Los requisitos de capacitación que las señales de amplitud y base de tiempo puedan identificarse y
y demostración deberán abordarse en la práctica escrita del empleador. correlacionarse con la calibración del examen original. La posición de la base
de tiempos, la amplitud y el reflector conocido se registrarán en la(s) hoja(s)
de calibración.
La precisión de las comprobaciones del simulador se verificará al finalizar

EQUIPO VII430 cada período de uso prolongado. Para comprobaciones con simulador se
VII431 REQUISITOS DEL INSTRUMENTO aplicará VII466.2.1 . (c) Verificación de
la Posición de la Unidad de Búsqueda. Se deberá utilizar un escáner
El examen ultrasónico se realizará utilizando un sistema que emplee
ajustable o un sistema de posicionamiento de la unidad de búsqueda que sea
escaneo automatizado o semiautomático con capacidades de análisis y
capaz de medir y asegurar la unidad de búsqueda con el fin de mantener y
adquisición de datos por computadora. El examen de reflectores transversales
verificar una posición consistente de la sonda durante todo el examen hasta
puede ser
el punto de garantizar que se haya logrado el cumplimiento del plan de
escaneo. Se aplicará VII466.3 .
ð19Þ
Cuadro VII421
Requisitos de un examen ultrasónico
Procedimiento basado en la mano de obra
VII440 REQUISITOS VARIOS
Criterios de aceptación
VII442 DATOS DE ESCANEO
BORRADO
Los datos del escaneo original, sin procesar, se guardarán electrónicamente
(por ejemplo, memoria magnética, óptica, flash, etc.).
114
VII460 CALIBRACIÓN VII485 EVALUACIÓN
VII466 CALIBRACIÓN PARA SOLDADURA LATERAL DE BOQUILLA La evaluación final de fallas solo se realizará después de todos los
ajustes de los parámetros de la pantalla (por ejemplo, contraste, brillo,
ZONA DE FUSIÓN Y/O ADYACENTE
BOQUILLA PADRE METAL y, si corresponde, eliminación de paredes laterales y traseras y SAFT
procesamiento, etc.) se han completado.
VII466.1 Escaneo de confirmación del sistema. el escáner
Se escaneará el bloque y se registrarán las indicaciones del reflector de
VII486 TÉCNICAS MANUALES COMPLEMENTARIAS
referencia para confirmar la calibración del sistema antes y
al finalizar cada examen o serie de exámenes similares Los defectos detectados durante el análisis automatizado o
exámenes, cuando el personal examinador (excepto semiautomático pueden evaluarse alternativamente, si corresponde,
equipo automatizado) se cambian, y si el plan de escaneo mediante técnicas manuales complementarias.
debe modificarse (es decir, VII483) para satisfacer los requisitos de

T467.3. VII487 EVALUACIÓN POR FABRICANTE
El Fabricante será responsable de la revisión,
VII466.2 Verificaciones de calibración. Los requisitos de
interpretación, evaluación y aceptación de los datos de escaneo
T467.2 no son aplicables a este Apéndice cuando se cumplen los
completos para asegurar el cumplimiento de los requisitos del Artículo
requisitos de VII434.1(a) .
4, este Apéndice y la referencia
VII466.2.1 Verificaciones del simulador. Los requisitos Sección de Código. La aceptación se completará antes de la presentación
de T467.2.1 no son aplicables a este Apéndice cuando de los datos del escaneo y la documentación adjunta al Inspector.
Se cumplen los requisitos de VII434.1(a) .
VII466.3 Posición de la Unidad de Búsqueda. Si la posición de la

1
unidad de búsqueda dentro del escáner ha cambiado más de /16 pulg.
VII490 DOCUMENTACIÓN
(1,5 mm), todos los datos desde la última posición válida de la unidad de búsqueda
El control se marcará como nulo y el área cubierta por el VII492 ACTA DE EXAMEN ð19Þ
los datos anulados serán reexaminados. Este requisito no La información requerida del T490 y lo siguiente.
no se aplica cuando se cumplen los requisitos de VII434.1(a) . se registrará la información:
(a) plan de escaneo (incluido un rango calificado de variables)
(b) escáner y mecanismo de adherencia y guía
VII470 EXAMEN (c) datos de indicación [es decir, posición en la soldadura, longitud y
caracterización (p. ej., grieta, falta de fusión, falta de penetración o
VII471 EXAMEN GENERAL
inclusión)]
REQUISITOS
(d) los niveles de procesamiento de visualización final
VII471.1 Cobertura del examen. El volumen a ser (e) datos de indicación de técnicas manuales suplementarias,
escaneado se examinará según el plan de escaneo. si corresponde [misma información que (c)]
f) la configuración del instrumento debe incluir, como mínimo, el tipo
de impulso de excitación, la duración y los ajustes de voltaje, la tasa de
VII480 EVALUACIÓN digitalización (por ejemplo, la tasa nominal afectada por la compresión).
VII483 EVALUACIÓN DE REFLECTORES LAMINARES
Reflectores evaluados como reflectores laminares en la base. tipo y longitud
El material que interfiera con el escaneo del volumen de examen (g) parámetros de la ley focal, incluido, según corresponda, el ángulo
requerirá que se modifique el plan de escaneo. o rango angular, profundidad focal y plano, números de elementos
tal que se examine el volumen máximo factible y utilizado, cambio incremental angular o de elemento, y comenzar
se anotará en el acta del examen (T493). y detener los números de elemento o iniciar el número de elemento
115
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE VIII OBLIGATORIO

REQUISITOS DEL EXAMEN ULTRASÓNICO PARA FRACTURA
CRITERIOS DE ACEPTACIÓN BASADOS EN LA MECÁNICA
ð19Þ VIII410 ALCANCE VIII430 EQUIPO

Este Apéndice Obligatorio proporciona requisitos cuando se realiza VIII431 REQUISITOS DEL INSTRUMENTO
un examen ultrasónico automatizado o semiautomático para criterios
El examen ultrasónico se realizará utilizando un sistema que emplee
de aceptación basados en la mecánica de fracturas. Cuando se utilicen escaneo automatizado o semiautomático con capacidades de análisis
criterios de aceptación basados en la mecánica de fracturas con la y adquisición de datos por computadora. El examen de reflectores
técnica ultrasónica de captura de matriz completa (FMC), se aplicará transversales se puede realizar manualmente según T472.1.3 , a
el Apéndice XI obligatorio . menos que la Sección del Código de referencia especifique que también
se realizará mediante un escaneo automatizado o semiautomático.
VIII420 GENERALIDADES
VIII432 UNIDADES DE BÚSQUEDA
VIII432.1 Generalidades. La frecuencia nominal será ð19Þ
por este Apéndice.
el mismo que se utiliza en la calificación.
ð19Þ VIII421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO VIII421.1 VIII434 BLOQUES DE CALIBRACIÓN
Requisitos. Los procedimientos serán los establecidos VIII434.1 Verificación del plan de calibración y escaneo.
Siguiendo la técnica ultrasónica aplicable. Se deben utilizar los siguientes métodos de (a) o de (b) y (c) para
verificar el plan de escaneo y la calibración del examen.
VIII421.2 Calificación de Procedimiento. El procedimiento y plan(es)
de exploración aplicables se calificarán utilizando las variables
(a) Bloque de escáner. Se deberá fabricar un bloque que cumpla con
establecidas para la(s) técnica(s) aplicable(s).
los requisitos de T434.1 y la Figura T434.2.1, excepto que su espesor,
1
T, deberá estar dentro del menor de (6 mm) o el 25% del /4 pulg.
ð19Þ VIII423 CALIFICACIONES DEL PERSONAL espesor del material a examinar y el número y La posición de los
orificios perforados laterales debe ser adecuada para confirmar la
Solo el personal calificado de UT capacitado en el uso del equipo y
configuración de sensibilidad de cada sonda, o par de sondas en el
que haya participado en la calificación y/o demostración de la técnica o
caso de una configuración TOFD, según la posición según el plan de
que haya sido capacitado y examinado en los requisitos de la técnica
escaneo en el escáner. El bloque del escáner es adicional al bloque de
deberá realizar escaneos de producción. La participación se define
calibración requerido por el Artículo 4, a menos que el bloque del
como haber recopilado datos utilizando la configuración y haber sido
escáner también tenga todos los reflectores de referencia especificados
calificado sin ayuda. El personal que apruebe las configuraciones,
requeridos por la Figura T434.2.1. Para bloques de escáner, se aplicará
realice calibraciones y analice e interprete los datos recopilados deberá
VIII467.1 . (b) Verificación del
ser de Nivel II o Nivel III y tener capacitación documentada en el uso
simulador. Se utilizará una verificación con simulador antes y al final
del equipo y el software utilizados.
de cada examen o serie de exámenes. La verificación del simulador
puede utilizar cualquier bloque de referencia (es decir, IIW, Rompus) o
Los requisitos de capacitación y demostración deberán abordarse en
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
cualquier bloque con reflector(es) conocido(s), siempre que las señales

la práctica escrita del empleador.
de amplitud y base de tiempo puedan identificarse y correlacionarse
con la calibración del examen original. La posición de la base de
tiempos, la amplitud y el reflector conocido se registrarán en la(s)
ð19Þ Cuadro VIII421
hoja(s) de calibración.
Requisitos de un examen ultrasónico La precisión de las comprobaciones del simulador se verificará al
Procedimiento de fractura basado en mecánica
finalizar cada período de uso prolongado. Para las comprobaciones con
Criterios de aceptación simulador se aplicará la norma
BORRADO T467.2.1 . (c) Verificación de la Posición de la Unidad de Búsqueda.

Se utilizará un escáner ajustable o un sistema de posicionamiento de la
unidad de búsqueda que sea capaz de medir y asegurar la unidad de búsqueda.
116
con el fin de mantener y verificar una posición consistente de la sonda VIII480 EVALUACIÓN
durante todo el examen hasta el punto de garantizar que se haya logrado
el cumplimiento del plan de exploración. Se aplicará VIII467.3 .
VIII482 NIVEL DE EVALUACIÓN
VIII482.2 Técnicas de amplitud y no distancia. Todas las imágenes
de indicación que tengan longitudes indicadas superiores a las siguientes
serán evaluadas en términos de los criterios de aceptación de la
Sección del Código de referencia:
VIII440 REQUISITOS VARIOS (a) 0,15 pulg. (4 mm) para soldaduras en material igual o menor
de 11 /2 pulg. (38 mm) de espesor
VIII442 DATOS DE ESCANEO
(b) 0,20 pulg. (5 mm) para soldaduras en material de más de 11/2
Los datos del escaneo original, sin procesar, se guardarán pulg. ( 38 mm) de espesor pero menos de 4 pulg. (100 mm) de espesor
3
electrónicamente (por ejemplo, memoria magnética, óptica, flash, etc.). (c) 0,05 T o /4 pulg. (19 mm) ), lo que sea menor, para soldaduras en
material de más de 4 pulgadas (100 mm). (T = espesor nominal del
material adyacente a la soldadura).
Para soldaduras que unen dos espesores diferentes de material, el
VIII460 CALIBRACIÓN espesor del material se basará en el más delgado de los
dos materiales.
VIII467 CALIBRACIÓN PARA SOLDADURA LATERAL DE BOQUILLA
ZONA DE FUSIÓN Y/O ADYACENTE VIII483 EVALUACIÓN DE LAMINAR
BOQUILLA PADRE METAL REFLECTORES
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
VIII467.1 Escaneo de confirmación del sistema. Se escaneará el Reflectores evaluados como reflectores laminares en la base.
bloque del escáner y el reflector de referencia indicará
El material que interfiere con el escaneo del volumen de examen
ciones registradas para confirmar que antes y al finalizar cada examen
requerirá que se modifique el plan de escaneo de modo que se examine
o serie de exámenes similares
y se pueda examinar el volumen máximo posible.
exámenes, cuando se cambia el personal de examen (excepto los
se anotará en el acta del examen (T493).
equipos automatizados) y si es necesario modificar el plan de escaneo
(es decir, VIII483) para satisfacer los requisitos de T467.3. VIII485 AJUSTES DE EVALUACIÓN
La evaluación final de fallas solo se realizará después de que se
VIII467.2 Verificaciones de calibración. Los requisitos de T467.2 no hayan completado todos los ajustes de los parámetros de la pantalla
son aplicables a este Apéndice cuando se cumplen los requisitos de (por ejemplo, contraste, brillo y, si corresponde, eliminación de la pared
VIII434.1(a) . lateral y posterior y procesamiento SAFT, etc.).
VIII467.2.1 Verificaciones del simulador. Los requisitos de VIII486 TAMAÑO Y CATEGORÍA

T467.2.1 no son aplicables a este Apéndice cuando se cumplen los VIII486.1 Tamaño. Las dimensiones del defecto estarán determinadas
requisitos de VIII434.1(a) .
por el rectángulo que contenga completamente el área del defecto.
VIII467.3 Posición de la Unidad de Búsqueda. Si la posición de la
(a) La longitud del defecto será la dimensión del rectángulo paralelo
unidad de búsqueda dentro del escáner ha cambiado más de
1 a la superficie interior de retención de presión del componente.
/16 pulgadas (1,5 mm), todos los datos desde la última verificación
válida de la posición de la unidad de búsqueda se marcarán como nulos
(b) La altura del defecto será la dimensión del rectángulo que es
y el área cubierta por los datos anulados se volverá a examinar. Este
normal a la superficie interior de retención de presión del componente.
requisito no se aplica cuando los requisitos de VIII434.1(a)
se cumplan.
VIII486.2 Categoría. Los defectos se clasificarán como superficiales

o subsuperficiales según su distancia de separación de la superficie del
componente más cercano. (a) Si el espacio es igual o
VIII470 EXAMEN menor que la mitad de la altura del defecto, entonces el defecto se
clasificará como un defecto superficial.11 (b) Si el espacio es mayor que
VIII471 EXAMEN GENERAL la mitad de la altura
REQUISITOS
del defecto , entonces la falla se clasificará como falla del subsuelo.
VIII471.1 Cobertura de exámenes. El volumen a ser
escaneado se examinará según el plan de escaneo.
VIII471.3 Tasa de Movimiento de la Unidad de Búsqueda. La tasa de

VIII487 TÉCNICAS MANUALES COMPLEMENTARIAS
movimiento de la unidad de búsqueda no excederá la calificada.
Los defectos detectados durante el análisis automatizado o
VIII471.4 Nivel de sensibilidad de escaneo. el escaneo semiautomático pueden evaluarse alternativamente, si corresponde,
El nivel de sensibilidad no será inferior al calificado. mediante técnicas manuales complementarias.
117
VIII488 EVALUACIÓN POR FABRICANTE (c) datos de indicación, es decir, posición en la soldadura, longitud,
extensión a través de la pared y superficie o subsuelo
caracterización
interpretación, evaluación y aceptación de los datos de escaneo
completos para asegurar el cumplimiento de los requisitos del Artículo (d) los niveles de procesamiento de visualización final
4, este Apéndice y la referencia (e) datos de indicación de técnicas manuales suplementarias,

Sección de Código. La aceptación se completará antes de la presentación si corresponde [misma información que (c)]
de los datos del escaneo y la documentación adjunta al Inspector. f) la configuración del instrumento debe incluir, como mínimo, el tipo
de impulso de excitación, la duración y los ajustes de voltaje, la tasa de
digitalización (por ejemplo, la tasa nominal afectada por la compresión).
VIII490 DOCUMENTACIÓN
ð19Þ VIII492 EXPEDIENTES DE EXAMEN tipo y longitud
La información requerida del T490 y lo siguiente. (g) parámetros de la ley focal, incluido, según corresponda, el ángulo
se registrará la información: o rango angular, profundidad focal y plano, números de elementos
(a) plan de escaneo (incluido un rango calificado de variables) utilizado, cambio incremental angular o de elemento, y comenzar
(b) escáner y mecanismo de adherencia y guía y detener los números de elemento o iniciar el número de elemento
118
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE IX OBLIGATORIO
REQUISITOS DE CALIFICACIÓN DEL PROCEDIMIENTO PARA EL TAMAÑO DE DEFECTOS
Y CATEGORIZACIÓN
ALCANCE DEL IX410 (c) un defecto subsuperficial
Cuando el plan de escaneo que se utilizará subdivide una soldadura en

Este Apéndice Obligatorio proporciona requisitos para la calificación12 de
múltiples zonas de examen, se requiere un mínimo de un defecto por zona.
los procedimientos de examen ultrasónico cuando el tamaño del defecto (es
decir, longitud y altura a través de la pared) y la determinación de la
categorización (es decir, superficie o subsuelo) se especifican para criterios IX435.6 Tamaño de defecto. Los tamaños de las fallas del bloque de
de aceptación basados en la mecánica de fracturas. demostración se basarán en el espesor del bloque de demostración y no
deberán ser mayores que los especificados en la Sección del Código de

referencia.
IX420 GENERALIDADES (a) altura máxima de falla aceptable para material de menos de 1 pulgada
(25 mm) de espesor, o
Los requisitos del Artículo 4 se aplican excepto lo modificado por este
Apéndice. (b) para material igual o mayor que 1 pulgada (25 mm)
de espesor, una relación de
aspecto de (1) 0,25 para defectos

EQUIPO IX430 superficiales (2) 0,25 (a/l) o 0,50 (h/l), según corresponda, para defectos
BLOQUES DEMOSTRATIVOS IX435 subsuperficiales
IX435.1 Generalidades. A los bloques de demostración se aplican los NOTA: las relaciones de aspecto a/l se utilizan en las Secciones I y VIII. Las relaciones
siguientes párrafos del artículo 4 : T434.1.2, T434.1.3, T434.1.4, T434.1.5, de aspecto h/l se utilizan en la Sección B31.
T434.1.6 y T434.1.7.
IX435.7 Alternativa a fallas de ID/OD únicas. Cuando el bloque de
IX435.2 Preparación. Se preparará un bloque de demostración mediante
demostración se puede escanear desde ambas superficies principales durante
soldadura o, siempre que las propiedades acústicas sean similares, se podrá
el escaneo de calificación [por ejemplo, el ID y el DE de la junta tienen un
utilizar el proceso isostático en caliente (HIP).
detalle similar, el diámetro de la curvatura es mayor a 20 pulgadas (500 mm),
no hay revestimiento ni superposición de soldadura, etc. .], entonces sólo se
IX435.3 Espesor. El bloque de demostración deberá estar dentro del 25%
requiere un defecto superficial.
del espesor a examinar. Para soldaduras que unen dos espesores diferentes
de material, el espesor del bloque de demostración se basará en el más IX435.8 Exámenes unilaterales. Cuando, debido a obstrucciones, el
delgado de los examen de soldadura sólo pueda realizarse desde un lado del eje de soldadura,
dos materiales. el bloque de demostración contendrá dos conjuntos de fallas, uno colocado a
cada lado del eje de soldadura. Cuando el bloque de demostración se puede
IX435.4 Configuración de juntas soldadas. La geometría de la junta
escanear desde ambos lados del eje de soldadura durante el escaneo de
soldada del bloque de demostración deberá ser representativa de los detalles
calificación (por ejemplo, detalles de unión similares y sin obstrucciones),
de la junta de producción, excepto cuando se realicen exámenes TOFD de
entonces sólo se requiere un conjunto de defectos.
soldaduras a tope de igual espesor de acuerdo con el Apéndice III obligatorio.
IX435.5 Ubicación de fallas. A menos que la Sección del Código de

referencia especifique lo contrario, el bloque de demostración deberá contener
un mínimo de tres fallas planas reales o tres muescas de electroerosión
orientadas para simular fallas paralelas al eje de la soldadura de producción y
IX440 REQUISITOS VARIOS
a las caras de las ranuras principales.
IX442 DATOS DE CALIFICACIÓN
Los defectos se ubicarán en o adyacentes a las caras de las ranuras del
bloque de la siguiente manera: El bloque de demostración se escaneará y los datos de calificación se
(a) un defecto superficial en el lado del bloque que representa la superficie guardarán según el procedimiento que se califica y estará disponible para el
OD del componente (b) un defecto inspector y el propietario/usuario junto con una copia de cualquier software
superficial en el lado del bloque que representa la superficie ID del necesario para ver los datos.
componente
119 `,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`,,````,`,``, ARTÍCULO 4
IX480 EVALUACIÓN
IX481 TAMAÑO Y CATEGORÍA
ASME BPVC.V2019
Las respuestas registradas con fallas cumplen con los requisitos de

IX482(a) y/o se utiliza para la detección de transversal
reflectores. Rendimiento aceptable, a menos que lo especifique
Los defectos se dimensionarán y clasificarán de acuerdo con el Código de Usuario o de referencia, se define como las fallas del bloque de
siendo calificado el procedimiento escrito. demostración que se
(a) cuyo tamaño sea igual o mayor que su tamaño real
IX482 AUTOMATIZADO Y SEMIAUTOMATIZADO tamaño (es decir, tanto largo como alto)
CRITERIOS DE DESEMPEÑO ACEPTABLES
(b) categorizado adecuadamente (es decir, superficie o subsuelo)
El desempeño aceptable será el especificado por la Sección del Código de
referencia. Cuando la Sección del Código de referencia no especifica el
desempeño aceptable, el
IX490 DOCUMENTACIÓN
se aplicará lo siguiente:
(a) detección de todos los defectos en el bloque de demostración IX492 REGISTRO DE BLOQUE DE DEMOSTRACIÓN
b) las respuestas grabadas o la duración de las imágenes, según
Se registrará la siguiente información:
corresponda, superan los criterios de evaluación especificados del procedimiento
a) la información especificada por el procedimiento objeto de
que se demuestra
calificado
(c) los defectos están adecuadamente categorizados (es decir, superficiales o
(b) espesor del bloque de demostración, geometría de la junta, incluido
subsuperficie)
cualquier revestimiento o superposición de soldadura, y datos sobre defectos
(d) el tamaño determinado del defecto es igual o mayor
[es decir, posición en el bloque, tamaño (largo y alto)], distancia de separación
que su tamaño real, tanto en longitud como en altura
a la superficie más cercana, categoría (superficie o
(e) la longitud o altura determinada del defecto no ha superado
subsuperficie)
tamaño en más del 50%
(c) sensibilidad de escaneo y velocidad de desplazamiento de la unidad de búsqueda
`,,`,,`,`,,`
IX483 TÉCNICA(S) MANUAL(ES) SUPLEMENTARIA(S) (d) datos de escaneo de calificación

RENDIMIENTO ACEPTABLE (e) datos de tamaño de fallas [la misma información que los datos de fallas en
Los defectos del bloque de demostración se pueden dimensionar y (b)]
categorizar mediante técnicas manuales complementarias descritas en (f) datos de dimensionamiento de técnicas manuales suplementarias, si
el procedimiento, sólo si el procedimiento automatizado o semiautomatizado aplicable [misma información que los datos sobre defectos en (b)]
`

120
`,``,``,,`,`,,``
`,,`,,`,`,,` ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4
APÉNDICE OBLIGATORIO X
EXAMEN ULTRASÓNICO DE POLIETILENO DE ALTA DENSIDAD
ALCANCE X410 PLAN DE ESCANEO X422
Este Apéndice describe los requisitos para el examen de soldaduras Un plan de escaneo (estrategia de examen documentada) deberá
por fusión a tope en polietileno de alta densidad. Se proporcionará información que muestre la ubicación y el movimiento
(HDPE) que utiliza eco de pulso codificado, matriz en fase o de la unidad de búsqueda y proporcione una metodología estandarizada
Técnicas ultrasónicas de difracción del tiempo de vuelo (TOFD). y repetible para el examen. Además de
información en la Tabla T421 y, según corresponda, en la Tabla
III421 o Tabla V421, el plan de escaneo deberá incluir el haz
X420 GENERALES Ángulos y direcciones con respecto al punto de referencia del eje de
soldadura, geometría de la junta soldada y área(s) de examen.
Los requisitos del Artículo 4, Apéndice III Obligatorio
o zona(s).
y el Apéndice V obligatorio , se aplican excepto según lo modifiquen
este Apéndice.
X421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO EQUIPO X430

Requisitos X421.1. El examen se realizará de conformidad con un REQUISITOS DEL INSTRUMENTO X431
procedimiento escrito que Instrumento X431.1. Al realizar una matriz en fase
deberá contener, como mínimo, los requisitos de la Tabla Se aplicará el examen ultrasónico, T431 y los siguientes requisitos:
T421, Tabla X421, y según corresponda, Tabla III421 o
Cuadro V421. El procedimiento escrito establecerá un valor único, o (a) Se utilizará un controlador de matriz ultrasónica.
rango de valores, para cada requisito. b) El instrumento deberá poder funcionar a frecuencias en el rango
X421.2 Calificación de Procedimiento. cuando el procedimiento de al menos 1 MHz a 7 MHz y
se especifica la calificación, un cambio de un requisito en Estará equipado con un control de ganancia escalonada en unidades
`

Tabla T421, Tabla X421 y, según corresponda, Tabla de 2 dB o menos y una ganancia máxima de al menos 60 dB.
III421 o Tabla V421 identificada como variable esencial c) El instrumento tendrá un mínimo de 32 pulsadores.
requerirá la recalificación del procedimiento escrito por d) La tasa de digitalización del instrumento será de
demostración. Un cambio de un requisito identificado como al menos 5 veces la frecuencia central de la unidad de búsqueda.
una variable no esencial no requiere recalificación (e) El ajuste de compresión no será mayor que el
del procedimiento escrito. Todos los cambios de variables esenciales utilizado durante la calificación del procedimiento.
o no esenciales de aquellas especificadas dentro del procedimiento
X431.2 Visualización y grabación de datos. Al realizar un examen
escrito requerirán revisión o adenda.
ultrasónico de matriz en fase, se aplicará lo siguiente:
al procedimiento escrito.
a) El instrumento deberá poder seleccionar una porción adecuada

de la base de tiempo dentro de la cual se realizan las exploraciones A.
Tabla X421
digitalizado.
Requisitos de un examen ultrasónico
(b) El instrumento deberá poder mostrar A, B, C, D,
Procedimiento para técnicas de HDPE
y Sscans en una paleta de colores capaz de diferenciar entre niveles
Básico No esencial de amplitud.
Requisito (según corresponda) Variable Variable (c) El equipo deberá permitir el almacenamiento de todos los Ascan
Plan de escaneo X … datos de forma de onda, con un rango definido por puertas, incluyendo
Técnica(s) de examen X … Detalles de amplitud y base de tiempo.
Software y revisión de computadora. X …
(d) El equipo almacenará información posicional.
Técnica de escaneo (automatizada versus X …
indicar la posición relativa de la forma de onda con respecto a la(s)
semiautomatizado)
X … forma(s) de onda adyacentes, es decir, la posición codificada.
Metodología de caracterización de defectos.
Metodología de dimensionamiento (longitud) de defectos X …
Escáner (fabricante y modelo) X … UNIDADES DE BÚSQUEDA X432

mecanismo de adherencia y guía
Al realizar un examen ultrasónico de matriz en fase,
se aplicará lo siguiente:
121
`,``,``,,`,`,,```
`,,`,,`,`,,` ARTÍCULO 4
a) La frecuencia nominal será de 1 MHz a

7 MHz a menos que variables, como la microestructura cristalina de
producción, requieran el uso de otras frecuencias para asegurar una
penetración adecuada o una mejor resolución.
ASME BPVC.V2019
CONFIRMACIÓN DE CALIBRACIÓN X467
X467.1 Cambios en el sistema. Cuando se cambie cualquier parte

del sistema de examen, se realizará una verificación de calibración.
realizarse en el bloque de calibración para verificar que la distancia
b) Se utilizará el modo de onda longitudinal.
punto de alcance y configuración(es) de sensibilidad del reflector de
c) El número de elementos utilizados estará entre 32 calibración con la ruta de sonido más larga utilizada en la calibración
y 128.
satisfacer los requisitos de X467.3.
(d) Se pueden utilizar unidades de búsqueda con cuñas en ángulo para ayudar
X467.2 Comprobaciones de calibración. Una verificación de calibración en
acoplamiento del ultrasonido en el área de inspección.
al menos uno de los reflectores en el bloque de calibración o
Se realizará una verificación utilizando un simulador al finalizar cada
BLOQUES DE CALIBRACIÓN X434
examen o serie de exámenes similares, y cuando el personal
X434.1 Generalidades. examinador (excepto
X434.1.1 Reflectores. El reflector de referencia deberá equipos automatizados) se cambian. El rango de distancia
ser un orificio perforado lateralmente (SDH) con un diámetro máximo de y los valores de sensibilidad registrados deberán satisfacer los
0,080 pulg. (2 mm). requisitos de X467.3.
X434.1.2 Materiales. El bloque se fabricará X467.2.1 Verificación de Materiales. Al examinar

de tubería de la misma designación de material que la tubería material de un lote de producción diferente al del
material a examinar. bloque de calibración, una verificación de la velocidad del material
se realizará utilizando un radio mecanizado en un bloque fabricado a
X434.1.3 Calidad. Además de los requisitos
partir del nuevo lote y cualquier diferencia en los resultados
de T434.1.3, las áreas que contienen indicaciones que no son
ser compensado tanto en velocidad como en nivel de ganancia.
atribuibles a la geometría son inaceptables, independientemente de
amplitud. X467.2.2 Variación de temperatura. Si durante el
Durante el examen, la diferencia de temperatura
X434.3 Bloques de Calibración de Tuberías. La calibración
1 3 entre el bloque de calibración utilizado durante la calibración más
El bloque deberá contener como mínimo /4T y /4T SDH
reciente y la superficie de examen varía en más
donde T es el espesor del bloque de calibración. La calibración
superior a 18°F (10°C), se requiere recalibración.
El bloque deberá ser al menos tan grueso como el tubo que se examina.
El tamaño del bloque y la ubicación del reflector deberán permitir la NOTA: Se pueden realizar verificaciones de calibración intermedias entre la calibración
inicial requerida y la verificación de calibración final. La decisión de realizar verificaciones
Calibración de los ángulos de haz utilizados que cubren el volumen.
de calibración provisionales debe basarse en
de interés.
estabilidad del instrumento ultrasónico (analógico versus digital), el riesgo de tener
realizar reexámenes y el beneficio de no realizar exámenes provisionales.
comprobaciones de calibración.
CALIBRACIÓN X460
`
X467.3 Valores de Aceptación de Confirmación.

X462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN X467.3.1 Puntos de alcance de distancia. si la distancia

X462.6 Temperatura. El diferencial de temperatura El punto de alcance para el reflector más profundo utilizado en la
entre la calibración original y las superficies de examen debe estar calibración se ha movido más del 10% de la lectura de distancia.
dentro de 18°F (10°C). o 5% del barrido completo, lo que sea mayor, corrija la calibración del
rango de distancia y anote la corrección en el registro de examen.
Todas las indicaciones registradas desde el último
X464 CALIBRACIÓN PARA TUBERÍAS
La calibración válida o el control de calibración deberán ser reexaminados.
Calibración del sistema X464.1 para distanciaamplitud y sus valores se modificarán en las hojas de datos o
Técnicas. regrabado.
X464.1.1 Bloque(s) de Calibración. Las calibraciones deberán
X467.3.2 Configuración de sensibilidad. Si la sensibilidad
realizarse utilizando el bloque de calibración al que se hace referencia
en X434.3. ajuste para el reflector más profundo utilizado en la calibración
ha cambiado en menos de 4 dB, compense la diferencia al realizar el
X464.1.2 Calibración de haz recto. Derecho análisis de datos y anote la corrección en el registro del examen. Si el
No se requiere calibración del haz. ajuste de sensibilidad
X464.2 Calibración del sistema para técnicas de amplitud sin ha cambiado en más de 4 dB, el examen deberá realizarse
distancia. Las calibraciones incluyen todas aquellas acciones. repetido.
requerido para asegurar que la sensibilidad y precisión del

La amplitud de la señal y las salidas de tiempo del sistema de examen
(ya sea mostradas, registradas o procesadas automáticamente) se
repiten de un examen a otro.
La calibración se realizará mediante el uso del bloque de calibración
especificado en X434.3.
122
EXAMEN X470 Figura X471.1

X471 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN X471.1 Cobertura del Volumen de examen de juntas de tuberías por fusión
examen. El examen
El volumen será el que se muestra en la Figura X471.1 a continuación.
A B
Grabación X471.6. Los datos de Ascan se registrarán para el área de
interés en una forma consistente con el requisito de la Sección del Código
aplicable, y registrando incrementos con un máximo de ¼ de pulgada (8 mm) ¼ de pulgada (8 mm)
(a) 0,04 pulgadas (1 mm) para material de menos de 3 pulgadas (75 mm) C D
de
Area de interes
espesor (b) 0,08 pulgadas (2 mm) para material de más de 3 pulgadas (75 ABCD
mm) de espesor
DOCUMENTACIÓN X490
REGISTRO DE EXAMEN X492
Los datos registrados por Ascan solo deben conservarse hasta que se haya
realizado la evaluación final de fallas o según lo especificado en la Sección del
Código de referencia.
123
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

ð19Þ APÉNDICE OBLIGATORIO XI

CAPTURA DE MATRIZ COMPLETA
XI410 ALCANCE XI423 CALIFICACIONES DEL PERSONAL
Además de los requisitos del Artículo 1, Obligatorio

Este Apéndice proporciona los requisitos para utilizar el
Apéndice II, solo personal calificado en ultrasonidos (UT)
técnica ultrasónica de captura de matriz completa (FMC), junto con
que estén capacitados en el uso del equipo y que tengan
técnicas de reconstrucción de datos, cuando se realizan exámenes para
detectar fracturas basadas en la mecánica. demostró la capacidad de adquirir adecuadamente el examen
datos, aprobar configuraciones y realizar calibraciones deberán realizar
criterios de aceptación. Una descripción general de los datos FMC.
escaneos de producción. El personal que realice técnicas de
y técnicas de reconstrucción de datos se indican en el artículo 4,
reconstrucción de datos, en tiempo real o como imágenes postprocesadas,
Apéndice F no obligatorio.
o analice e interprete datos, deberá
Ser examinadores de Nivel II o Nivel III con formación documentada.
ing y competencia demostrada en el uso del equipo y el software. La
XI420 GENERALIDADES
formación y demostración.
Los requisitos del Artículo 4 se aplican salvo que se modifiquen. Los requisitos se abordarán en la práctica escrita del empleador.
por este Apéndice.
XI421 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO EQUIPO XI430

XI421.1 Requisitos. El examen será
XI432 UNIDAD(ES) DE BÚSQUEDA
realizarse de acuerdo con un procedimiento escrito que
deberá contener, como mínimo, los requisitos enumerados en Las unidades de búsqueda utilizadas para el examen serán las mismas
Cuadro XI421.11. Debido a procesos o equipos únicos, [es decir, fabricante, número de modelo y configuración física, incluidas
variables esenciales que no están identificadas en la tabla las cuñas] que las utilizadas durante
XI421.11 también será abordado en el procedimiento, y calificación.
Se establecerá un valor único o rango de valores para
XI432.4 Rendimiento de la Unidad de Búsqueda. la amplitud
cada variable esencial. Una variable esencial es la configuración del
respuesta del 75% de los elementos individuales dentro
equipo o del software que influye en el ultrasonido.
la apertura deberá estar dentro de los 3 dB. La respuesta de amplitud del
señal tal como se muestra, graba o procesa automáticamente.
25% restante de los elementos individuales deberá estar dentro de los 6
XI421.1.1 Software. Las revisiones de software no dB. Elementos encontrados afuera.
Requiere recalificación a menos que se haya realizado algún cambio. estos parámetros se considerarán inactivos. El número de elementos
hecho que pueda influir en la señal ultrasónica tal como se muestra, inactivos dentro de una abertura no excederá de 1 elemento por cada 16
registra o procesa automáticamente. Software elementos, no siendo 2
Las revisiones deberán documentarse y estar disponibles para su revisión. adyacente. Las excepciones a este requisito deberán demostrarse y
documentarse durante la calificación.
XI421.2 Calificación del Procedimiento. Se requiere calificación del
procedimiento según el Artículo 4, Apéndice IX obligatorio
BLOQUES DE CALIBRACIÓN XI434
y cumplirá lo dispuesto en el artículo 1, T150(d). Se aplicarán los
requisitos de la Tabla XI421.11 . XI434.1 Generalidades. Se utilizará un bloque de calibración que
cumpla con los requisitos de la Figura XI434.11 y se
también cumple con los requisitos de T434.1.2 hasta
PLAN DE ESCANEO XI422
T434.1.6. Alternativamente, se pueden usar los bloques de calibración
Se requerirá un plan de exploración que proporcione una metodología existentes descritos en T434 , siempre que se aplique uno de los
estandarizada y repetible para el examen. siguientes:
Como mínimo, el plan de exploración deberá incluir una descripción de (a) Reunión de muescas, ranuras y orificios perforados lateralmente (SDH)
la cobertura del volumen de examen requerido, imágenes Los requisitos de la Figura XI434.11 están incorporados.
(b) Reflectores de muesca y ranura que cumplan los requisitos
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
trayectorias, densidad de la cuadrícula de la imagen, geometría de la junta soldada, número

de líneas de exploración de examen y ubicación de la unidad de búsqueda de la Figura XI434.11 están integrados y un estándar de referencia
y movimiento con respecto al eje de soldadura y al punto de referencia conocido descrito en XI435 con SDH que cumplen
cero. Se utilizan los requisitos de XI462.8.1 .
124
`,``,``,,`,
`,,`,,`,`,, ASME BPVC.V2019
Tabla XI421.11
Requisitos de un procedimiento de examen FMC
ARTÍCULO 4
Requisitos Variable esencial Variable no esencial
Configuraciones de soldadura a examinar, incluidas las dimensiones de espesor y el material base. X …
forma del producto (tubería, placa, etc.)

Las superficies desde las cuales se realizará el examen. X …
Técnica(s) (haz recto, haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X …
Método para discriminar indicaciones geométricas de defectos. X …
Requisitos de desempeño del personal, cuando sea necesario X …

Fabricante y modelo del instrumento. X …
Versión del software de computadora X …
Busque el fabricante y modelo de la(s) unidad(es) (paso, tamaño, número, frecuencia y espacio del elemento) X …
dimensiones)
Descripción dimensional de la cuña [es decir, ángulo de corte, dimensiones x y z y contorno del material (si X …
cualquier)]
Volumen de examen Método X …
para lograr fidelidad de amplitud Descripción del X …
marco (es decir, rango temporal, densidad) X …

`
X …

Descripción de la cuadrícula posprocesada (es decir, alto, ancho, densidad)

Técnicas de reconstrucción de imágenes X …
Plan de X …
escaneo Fabricante y modelo del escáner X …
Técnica de escaneo (automatizada o semiautomática) X …
Mecanismo de escaneo, adherencia y guía Metodología de X …
dimensionamiento de defectos (longitud y altura) Referencia X …

de datos de soldadura … X
Requisitos de calificación del personal Condición … X
de la superficie (superficie de examen, bloque de calibración) … X
limpieza posterior al examen Alarma automática y/ … X
o equipo de registro, cuando corresponda Registros, incluidos los datos mínimos de … X
calibración que se registrarán (p. ej., configuración del instrumento) … X
Los bloques pueden ser planos o curvos. Cuando son curvados, el (d) las rutas de la imagen se incluyeron en la calibración
También se aplicarán los requisitos de T434.1.7 . antes del examen
XI435 NORMAS DE REFERENCIA

Estándares de referencia conocidos (p. ej., IIW, IIW PA Block
CALIBRACIÓN XI460
Tipo A, ASTM E2491, ISO 19675) se utilizará para establecer el
alcance y el retardo del instrumento. XI461 FIDELIDAD DE AMPLITUD
La fidelidad de amplitud se mantendrá en 2 dB o menos.
El proceso para lograr la fidelidad de amplitud se incluirá en el
XI450 TÉCNICAS
procedimiento cualificado.
Se pueden utilizar técnicas de contacto o inmersión.
XI451 TÉCNICAS DE RECONSTRUCCIÓN DE DATOS XI462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN

Los algoritmos utilizados para generar rutas de imágenes serán los XI462.4 Cuñas de Contacto. Cuando cuñas contorneadas
mismos que los utilizados durante la calificación. Se pueden aplicar son requeridos por T432.2, un bloque de calibración curvo deberá
múltiples algoritmos de reconstrucción de datos a los datos recopilados. ser usado. Alternativamente, para la calibración, una(s) cuña(s) plana(s)
durante un examen proporcionado Puede usarse en un bloque de calibración plano, siempre que el
(a) la técnica de reconstrucción se desarrolló con éxito proceso esté documentado durante la calificación y se cumplan los
demostrado utilizando los datos de calificación originales siguientes requisitos:
(b) la técnica de reconstrucción de datos está incluida en el (a) Las dimensiones de la cuña que afectan la transmisión, recepción
procedimiento escrito y visualización (es decir, retraso y velocidad) del ultrasonido.
(c) el conjunto de datos de examen adquirido puede respaldar la serán compensados y corregidos antes de la
técnica de reconstrucción sin readquisición examen.
125
`,``,``,,`,
`,,`,,`,`,, ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Figura XI434.11
Bloque de calibración
Vista desde un extremo
Vista superior
Nota 2)
Nota 1)
Perforación lateral Ranura Muesca

agujeros
`
Nota 1)

Nota (4)
Notas (3) y (5)
Nota 3)
Nota (6)
Vista lateral
Nota (8)
Nota 2)
Nota (7)
Espesor de soldadura, t, pulg. (mm) Espesor del bloque de referencia, T, pulg. (mm) Diámetro máximo del orificio, pulg. (mm)
3 3
Hasta 1 (25) /4 (19) o t 11 / /32 (2,5)
1
Más de 1 (25) a 2 (50) 2 (38) o t 3 (75) /8 (3)
3
Más de 2 (50) a 4 (100) o tt ± 1 (25) /16 (5)
Más de 4 (100) [Nota (9)]
NOTA GENERAL: Los reflectores pueden colocarse en cualquier lugar dentro del bloque, en cualquier configuración, siempre que no interfieran con la respuesta ultrasónica de los otros
reflectores de calibración o los bordes del bloque.
NOTAS:
(1) El tamaño físico del bloque puede ser cualquier configuración conveniente siempre que las dimensiones del bloque en ancho y largo sean de tamaño suficiente para
acomodar la ubicación de la unidad de búsqueda para observación o medición, completamente en la superficie de escaneo, de modo que el acceso a la zona deseada
El reflector se puede fabricar dejando toda el área de contacto de la unidad de búsqueda en el bloque, sin interferencia de los bordes.
(2) El espesor del bloque para tuberías será ±25%T. Para todos los demás componentes, el espesor del bloque no será inferior al 90% ni superior al 120% del
el espesor medio de soldadura, t. El espesor de soldadura, t, es el espesor nominal del material para soldaduras sin refuerzo o, para soldaduras con refuerzo, el espesor nominal del
material más el refuerzo de soldadura estimado que no debe exceder el máximo permitido por la Sección del Código de referencia. Cuando están involucrados dos o más espesores
del material base, el espesor del bloque de calibración, T, debe ser determinado por el
espesor medio de la soldadura; alternativamente, se puede utilizar un bloque de calibración basado en el mayor espesor del material base, siempre que
El tamaño del reflector de referencia se basa en el espesor promedio de la soldadura.
(3) La muesca y la ranura no se colocarán cerca de los bordes del bloque de modo que el borde pueda disminuir o interferir con la señal ultrasónica.
respuesta.
126
Figura XI434.11
Bloque de calibración (continuación)
NOTAS (CONT.): (4) La

ranura (es decir, la muesca a través de la pared) se insertará aproximadamente perpendicular a la superficie de examen y a través de todo el espesor del bloque. La ranura tendrá un ancho máximo
de superficie reflectante de 0,25 pulgadas (6 mm) para bloques de menos de 2 pulgadas (50 mm) de espesor; El ancho de la ranura puede aumentar 0,125 pulgadas (3 mm) por cada 1 pulgada
(25 mm) adicional de espesor del bloque, o fracción del mismo, para bloques de más de 2 pulgadas (50 mm) de espesor.
(5) La profundidad de la muesca no será superior al 11%T. Todas las muescas deberán tener una longitud mínima de 1 pulgada (25 mm). El ancho de la muesca no debe exceder las 0,25 pulgadas (6
milímetros).
(6) Los SDH se perforarán a una profundidad mínima de 1,5 pulgadas (38 mm) aproximadamente paralela a la superficie de examen.
(7) Los SDH se alinearán perpendicularmente, en profundidad, a través del espesor del bloque a una distancia de separación de dos veces su diámetro, como
medido de centro a centro.
(8) La ubicación de los SDH deberá abarcar la línea central del espesor del bloque de modo que un SDH resida a cada lado de la línea central del
espesor del bloque.
1
(9) Por cada aumento en el espesor de la soldadura de 2 pulgadas (50 mm), o fracción del mismo, sobre 4 pulgadas (100 mm), el diámetro del orificio aumentará /16 pulg. (1,5
milímetros).
b) Las cuñas planas se fabrican con el mismo material y todas las ser fotografiado equidistante de las unidades de búsqueda. La desviación
dimensiones físicas (excepto el contorno), incluida la altura desde la de amplitud no excederá los 6 dB en toda la altura de la ranura.
superficie de contacto hasta la pendiente de la cuña, son las mismas,
dentro de las tolerancias del fabricante. XI462.8.3 Verificación de dimensionamiento. Se tomarán
imágenes y se dimensionará la longitud y la altura de la muesca. La
(c) Las cuñas planas no se utilizarán para el examen. (d) La dimensión representada de la muesca no deberá ser menor que su
verificación previa al examen se realizará con la(s) cuña(s) altura o longitud real conocida. Tampoco excederá el 50% o 0,150
contorneada(s) que se utilizarán para el examen. La verificación utilizará pulgadas (4 mm) de la altura conocida, el menor, y no excederá el 50%
un reflejo idéntico. de la longitud conocida.
tor establecido en XI464.2, en un bloque adecuadamente curvado [es

XI464
decir, dentro del criterio de selección del contorno de curvatura del
componente establecido en T432.2(b)(1) o T432.2(b)(2)] y deberá XI464.2 Sensibilidad. La sensibilidad de calibración se establecerá
estar dentro de los 10 % de amplitud y profundidad del material. registrando la intensidad de la imagen de un SDH descrito en XI462.8.1
a un nivel mayor o igual al 50% de la altura de pantalla completa (FSH),
XI462.5 Retardo y velocidad del sistema. Los ajustes de retardo y y no deberá exhibir saturación. Otros reflectores (es decir, superficie
velocidad del instrumento se pueden ajustar en el componente específico de entrada, pared trasera) pueden presentar saturación.
en el momento del examen, siempre que el proceso se haya utilizado
durante la calificación y esté incluido en el procedimiento.
CALIBRACIÓN DEL CODIFICADOR XI467
Se debe realizar una verificación de calibración a intervalos que no
XI462.8 Verificación del desempeño. Antes de los exámenes, el
excedan un mes o antes del primer uso posterior, moviendo el codificador
sistema deberá verificarse como se describe en XI462.8.1 a XI462.8.3.
una distancia mínima de 20 pulgadas (500 mm). La distancia mostrada
deberá estar dentro del 1% de la distancia real recorrida.
XI462.8.1 Verificación de Resolución. La resolución del sistema

se considerará satisfactoria al demostrar su capacidad para obtener XI467.1 Verificaciones de confirmación de equipos. Se debe
imágenes de la distancia espacial entre los SDH en el bloque de verificar que el sistema de examen cumpla con XI432.4 y XI461 antes
calibración. Alternativamente , se pueden usar los SDH de un estándar de la(s) calibración(es) inicial(es) y al concluir un examen o serie de
de referencia conocido descrito en XI435 (por ejemplo, IIW PA Block
exámenes.
Type A, ASTM E2491) siempre que la profundidad de los orificios se
encuentre dentro del tercio medio del volumen de examen.
XI462.8.2 Verificación de Ruta(s). Se debe obtener imágenes de

toda la altura a través de la pared de la ranura colocando la unidad de
búsqueda de modo que la imagen de la ranura se muestre a una
distancia más allá de la línea central de la soldadura o, cuando se
utilizan unidades de búsqueda en tándem, se debe colocar una unidad
de búsqueda opuesta a cada lado. de la ranura de manera que la posición de la ranura
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
127
EXAMEN XI470 XI481.1.1 Caminos Directos. Las vías de imagen directas (es decir,
L–L o T–T) por sí solas no se considerarán adecuadas para un examen de
XI471 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN XI471.1 Cobertura del volumen completo.
examen. El volumen a examinar se escaneará utilizando una técnica de
XI481.1.2 Densidad de datos. La resolución espacial de los puntos de
escaneo lineal con un codificador según el plan de escaneo. Antes de la
datos dentro de la cuadrícula de la imagen (es decir, espaciado de píxeles y
evaluación se deberá verificar el cumplimiento del plan de escaneo y la
nodos) deberá cumplir con XI461 como mínimo y no excederá el 1% del
captura del volumen de examen requerido.
espesor del componente. Para componentes que unen dos espesores de
materiales diferentes, el espesor del componente se basará en el más
XI471.1.1 Rutas de imágenes. Las rutas de imágenes utilizadas delgado de los dos materiales. La resolución espacial dentro de la cuadrícula
durante la calibración serán las mismas que las del examen. no será mayor que la utilizada durante la calificación.
XI471.2 Marco FMC. Para cumplir con el requisito de fidelidad de XI481.2 Corrección de volumen de componentes. Todas las imágenes
amplitud en XI461, el marco debe tener suficiente rango temporal para se corregirán según el espesor y la geometría del componente antes de la
abarcar el volumen y la densidad del examen cuando se combina con el evaluación. La técnica utilizada (por ejemplo, algoritmos adaptativos) para
proceso de reconstrucción. la corrección del volumen de los componentes se incluirá en el procedimiento
cualificado.
XI471.3 Escaneo. Cada escaneo lineal será paralelo al eje de soldadura.
XI481.4 Artefactos de imágenes ultrasónicas. Se permiten artefactos
producidos en la imagen siempre que no interfieran con la disposición de
(a) La unidad de búsqueda se mantendrá a una distancia fija del eje de
una indicación. Se deberá determinar el origen del(los) artefacto(s).
soldadura mediante una guía fija o dispositivo mecánico.
medio.
(b) La velocidad de escaneo será tal que la pérdida de datos sea inferior
a 2 líneas de datos/pulg. (25 mm) de la longitud de escaneo lineal y no hay
saltos de líneas de datos adyacentes (c) Cuando se XI482 NIVEL DE EVALUACIÓN
necesitan múltiples escaneos lineales para cubrir el volumen requerido, Todas las imágenes de indicación que tengan longitudes indicadas
se debe mantener una superposición máxima del 50% de la apertura activa. superiores a las siguientes serán evaluadas en términos de los criterios de
aceptación de la Sección del Código de referencia:
(a) 0,15 pulg. (4 mm) para soldaduras en material igual o menor
XI471.6 Grabación. Los incrementos de recopilación de marcos de
de 11 /2 pulg. (38 mm) de espesor
datos para el escaneo lineal no deben exceder lo siguiente: (a) 0,04 pulgadas
(b) 0,20 pulgadas (5 mm) para soldaduras en material de más de 11/2
(1 mm) para material <3 pulgadas (75 mm) de espesor (b) 0,08 pulgadas
pulgadas (38 mm) de espesor pero menos de 4 pulgadas (100 mm) de espesor
(2 mm) para material ≥3 pulgadas (75 mm) de espesor 3
(c) 0,05 T o en /4 pulg. (19 mm), lo que sea menor, para soldaduras
XI471.7 Reflectores transversales a la costura de soldadura. material superior a 4 pulgadas (100 mm), donde T es el espesor nominal del
Se pueden realizar técnicas ultrasónicas alternativas para reflectores material adyacente a la soldadura
transversales al eje de soldadura.
Para soldaduras que unen dos espesores diferentes de material, el espesor
del material se basará en el más delgado de los
dos materiales.
XI474
XI474.1 Sensibilidad del examen. La sensibilidad del examen no será
inferior a la establecida durante la calibración. Sin embargo, la sensibilidad XI483 EVALUACIÓN DE REFLECTORES LAMINARES
se puede ajustar en el componente real, siempre que se identifiquen la Indicaciones que se caracterizan como reflectores laminares.
metodología y el reflector del componente utilizado (por ejemplo, la pared en el material base, que interferiría con la propagación del ultrasonido en el
posterior) y se califiquen los límites superior e inferior del rango de volumen de examen, requerirá que se modifique el plan de exploración de
sensibilidad. El proceso para esta calificación deberá incluirse en el modo que se examine el volumen máximo factible, y esto se anotará en el
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
procedimiento. registro del examen.
XI485 AJUSTES DE EVALUACIÓN

XI480 EVALUACIÓN La evaluación final de defectos sólo se realizará después de todo el diagnóstico.
Se han completado los ajustes de los parámetros de reproducción.
XI481 REQUISITOS GENERALES DE EVALUACIÓN
XI481.1 Rutas de imágenes. Las rutas de imágenes identificadas en
XI462.8.1 abarcarán, ya sea individualmente o en combinación, todo el
XI486 TAMAÑO Y CATEGORÍA
volumen de examen. La cobertura estará determinada por el área contenida XI486.1 Tamaño. Las dimensiones del defecto estarán determinadas
dentro de −6 dB de divergencia del haz de todos los elementos contribuyentes. por el rectángulo que contenga completamente el área del defecto.
128
(a) La longitud del defecto será la dimensión del (i) como mínimo, las siguientes configuraciones del instrumento:
rectángulo que es paralelo al interior de retención de presión (1) tipo de pulso de excitación
superficie del componente. (2) ajustes de duración y voltaje
(b) La altura del defecto será la dimensión del (3) tasa de digitalización (por ejemplo, tasa nominal afectada por
rectángulo que es normal al interior que retiene la presión. compresión y cantidad de puntos)
superficie del componente. (4) tasa de repetición del pulso
Categoría XI486.2. Los defectos se clasificarán como (5) inicio y parada del rango
siendo superficie o subsuperficie según su distancia de separación de la (6) filtros de paso de banda
superficie del componente más cercano. (7) suavizado
(a) Si la distancia de separación es igual o menor que (j) ganancia del nivel de referencia del instrumento y, si se usa, humedad
la mitad de la altura del defecto, entonces el defecto se clasificará como configuración(es) de recepción y rechazo
defecto superficial. k) datos de calibración [incluidos los reflectores de referencia]

(b) Si la distancia de separación es mayor que la mitad y respuesta(s) para resolución, rutas, tamaño y
la altura del defecto, entonces el defecto se clasificará sensibilidad
como un defecto del subsuelo. (l) datos que correlacionan el(los) bloque(s) de simulación y el(los) electrónico(s)
simulador(es), cuando se utilice, con calibración inicial
XI488 EVALUACIÓN POR FABRICANTE (m) identificación de algoritmos adaptativos o correctivos
cuando se usa
interpretación, evaluación y aceptación del examen completo para garantizar (n) tipo de fotograma [por ejemplo, técnica de enfoque de apertura
el cumplimiento de los requisitos del Artículo 4, este Apéndice y el sintética (SAFT), FMC] y definición del fotograma (es decir, tamaño,
resolución), e identificación de los datos guardados o de la imagen únicamente
haciendo referencia a la Sección del Código. La aceptación se completará. (o) técnica de posprocesamiento (por ejemplo, DAS, migración),
antes de la presentación de los datos del escaneo y su acompañamiento definición de cuadrícula (es decir, tamaño, resolución), ruta(s) de imágenes
documentación al inspector. utilizado, ajuste aplicado (es decir, corrección de cuadrícula, algoritmos
adaptativos, normalización de amplitud, ganancia de software), incluidos los
niveles finales de procesamiento de visualización
XI490 DOCUMENTACIÓN (p) identificación y ubicación de la soldadura o volumen
XI492 EXPEDIENTES DE EXAMEN escaneado
(q) superficie(s) desde la cual se realizó el examen

Para cada examen FMC, los requisitos del artículo
conducido, incluyendo la condición de la superficie
1, T150(d), T190(a), T491, y se registrará la siguiente información:
(r) un mapa o registro de indicaciones detectadas o áreas
borrado, incluyendo datos de indicación (es decir, posición en la soldadura,
(a) el nombre del fabricante, el número de canales y
Longitud, extensión a través de la pared y superficie o subsuelo.
número de serie del instrumento
caracterización)
(b) el modelo y los números de serie del fabricante, tipo,
(s) datos de indicación de técnicas manuales suplementarias,
frecuencia, tamaño y número de elementos, elevación y tono
si corresponde [misma información que (r)]
y dimensiones de espacio (espaciado entre elementos activos) de
(t) áreas de acceso restringido o soldaduras inaccesibles
la matriz
(u) plan de escaneo y variables para incluir la orientación de la unidad
(c) el material de la cuña o la velocidad, el ángulo de corte o el ángulo
de búsqueda, incrementos de escaneo (resolución de escaneo) y velocidad
refractado natural en el material examinado y el contorno
de escaneo
cuando se usa; para cuñas no integrales, la descripción deberá
Los puntos (a) a (n) pueden incluirse o adjuntarse en un
incluir dimensiones x e y
registro de calibración separado siempre que el registro de calibración esté
(d) la marca o tipo de acoplante utilizado
incluido en el registro de examen.
(e) el tipo y longitud de los cables de la unidad de búsqueda utilizados
(f) el tipo de escáner (según T453) y el material adherente y
XI494 ALMACENAMIENTO DE DATOS
mecanismo de guía
(g) identificación de todos los equipos informáticos relacionados con el examen Los archivos de datos deberán estar en un formato apropiado para su
Programa(s) personalizado(s) incluyendo revisión(es) de software acceso y revisión futuros. Como mínimo, las imágenes de datos reconstruidas
h) identificación del bloque de calibración y referencia originales, así como las imágenes originales
estándares cuando se utilizan parámetros, se almacenarán.
129
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`
APÉNDICE A NO OBLIGATORIO
DISPOSICIÓN DE PUNTOS DE REFERENCIA DEL BUQUE
ALCANCE A410 extremo del recipiente. La superficie de examen debe ser iden
tificado en sentido horario o antihorario visto desde la parte superior del
Este Apéndice proporciona requisitos para establecer
recipiente o, para recipientes horizontales, desde el extremo de entrada del
puntos de referencia de los buques. recipiente.
A443 SOLDADURA DE BOQUILLA A RECIPIENTE

A440 REQUISITOS VARIOS
El círculo de referencia exterior tendrá una ra suficiente
El trazado de la soldadura consistirá en colocar puntos de referencia en dius para que el círculo caiga sobre la superficie externa del recipiente
la línea central de la soldadura. El espaciado de los puntos de referencia
más allá del filete de soldadura. El círculo de referencia interno debe tener
deberá estar en incrementos iguales (por ejemplo, 12 pulgadas, 3 pies, 1 m, un radio suficiente para que el círculo caiga dentro de /2 pulgadas (131mm)
etc.) y estar identificados con números (por ejemplo, 0, 1, 2, 3, 4, etc.). El
de la línea central de soldadura. El punto de 0 grados en la soldadura será
espaciamiento de los incrementos, el número de puntos y el punto de partida
la parte superior de la boquilla. El punto de 0 grados para soldaduras de
se registrarán en el formulario de informe. La línea central de soldadura
boquillas orientadas verticalmente deberá ubicarse en el eje de 0 grados del
`
será la divisoria de las dos superficies de examen.

recipiente o, para recipientes horizontales, el punto más cercano al extremo

de entrada del recipiente. El trazado angular de la soldadura se realizará
en el sentido de las agujas del reloj en el exterior.
A441 SOLDADURA CIRCUNFERENCIAL (CIRCUNFERENCIAL)
superficie y en sentido antihorario en la superficie interna.
El punto de partida estándar será el eje de 0 grados del buque. Los Las líneas de 0 grados, 90 grados, 180 grados y 270 grados se marcarán
puntos de referencia se numerarán en el sentido de las agujas del reloj, en todas las soldaduras de boquilla examinadas; Se marcarán líneas de
vistos desde la parte superior del recipiente o, para recipientes horizontales, incremento de 30 grados en las soldaduras de boquilla mayores que un
desde el extremo de entrada del recipiente. diámetro nominal de 8 pulgadas (200 mm); Se deben marcar líneas de
Las superficies de examen deben identificarse (por ejemplo, para recipientes incremento de 15 grados en las soldaduras de boquilla mayores que un
verticales, por encima o por debajo de la soldadura). diámetro nominal de 24 pulgadas (600 mm); Se marcarán líneas de
A442 SOLDADURAS LONGITUDINALES incremento de 5 grados en las soldaduras de boquillas de más de 48

pulgadas (1 200 mm) de diámetro.
Las soldaduras longitudinales se colocarán desde la línea central de las
soldaduras circunferenciales en el extremo superior de la soldadura o, para
recipientes horizontales, el extremo de la soldadura más cercana a la entrada.
130
`,,`,,`,`
`,``,``,, APÉNDICE B NO OBLIGATORIO
TÉCNICAS GENERALES PARA CALIBRACIONES DE HAZ ANGULAR
B410 ALCANCE B461.1.3 Repetir ajustes. Repita el retraso y

1 3
ajustes de control de rango hasta que los /4T y /4T SDH indicador
Este Apéndice proporciona técnicas generales para calcular ángulos. cationes comiencen en las líneas de barrido 2 y 6.
calibración del haz. Se pueden utilizar otras técnicas.
`
B461.1.4 Indicación de muesca. Posicionar la búsqueda
Las descripciones y figuras de las técnicas generales relacionan la

Unidad para máxima respuesta desde la muesca cuadrada en
posición y profundidad del reflector con octavos del
la superficie opuesta. La indicación aparecerá cerca
Ruta en V. El rango de barrido se puede calibrar en términos de
línea de barrido 8.
unidades de trayectoria de metal, 13 distancia de superficie proyectada o real
profundidad al reflector (como se muestra en las Figuras B461.1,
B461.1.5 Lecturas de barrido. Dos divisiones en el
B461.2 y B461.3). El método particular puede seleccionarse según la 1
barrer ahora igual /4T.
preferencia del examinador.
B461.2 Bloque IIW (Ver Figura B461.2). Los bloques de referencia IIW
se pueden utilizar para calibrar el rango de barrido.
mostrado en la pantalla del instrumento. Tienen la ventaja de proporcionar
B460 CALIBRACIÓN reflectores a distancias precisas que son
no se ve afectado por imprecisiones en la ubicación de los orificios perforados lateralmente en
B461 CALIBRACIÓN DEL RANGO DE BARRIDO el bloque de calibración básico o el hecho de que el reflector
no está en la línea central del orificio perforado lateralmente. Estos bloques
B461.1 Orificios perforados laterales (Ver Figura B461.1).
Se fabrican en una variedad de aleaciones y configuraciones. Ángulo
B461.1.1 Ajuste del control de retardo. Coloque el
unidad de búsqueda para la primera indicación máxima del 1 Las calibraciones del rango del haz se proporcionan desde las 4 pulg.
/4T
(100 mm) de radio y otros reflectores. La calibración
agujero perforado lateral (SDH). Ajuste el borde izquierdo de esta indicación
El bloque que se muestra en la Figura B461.2 proporciona una indicación en
a la línea 2 de la pantalla con el control de retardo.
4 pulg. (100 mm) y una segunda indicación de un reflejo
B461.1.2 Ajuste del control de rango.14 Posición desde las muescas verticales en el punto central 8 pulg.
la unidad de búsqueda para la indicación máxima del (200 mm) de regreso al radio y regresando al transductor cuando el punto
3
/4T SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 6. de salida de la cuña esté directamente sobre
en la pantalla con el control de alcance. el punto central del radio. Otros bloques IIW proporcionan
Figura B461.1
Rango de barrido (agujeros perforados lateralmente)
131
Figura B461.2
Rango de barrido (bloque IIW)
señales a 2 pulg. (50 mm) y 4 pulg. (100 mm) y un tercer B461.3 Bloque de tuberías (Ver Figura B461.3). El
El diseño proporciona indicaciones a 4 pulg. (100 mm) y 9 pulg. Se pueden usar muescas en los bloques de calibración de tuberías para
(225 milímetros). calibrar el rango de distancia que se muestra en el instrumento.
pantalla. Tienen la ventaja de proporcionar reflectores.
B461.2.1 Ajuste de la unidad de búsqueda. Coloque el
a distancias precisas de las superficies interior y exterior.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
unidad de búsqueda para la indicación máxima desde las 4 pulg.
(100 mm) de radio mientras lo gira de lado a lado para maximizar B461.3.1 Ajuste del control de retardo. Coloque el
también la indicación del segundo reflector. unidad de búsqueda para la primera indicación máxima desde la
muesca de la superficie interior en su trayectoria real del haz en la
B461.2.2 Ajuste del control de retardo y rango.
pantalla del instrumento. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a su
Sin mover la unidad de búsqueda, ajuste los controles de alcance y
Ruta de metal en la pantalla con el control de retardo.
retardo para que las indicaciones comiencen en sus respectivas
distancias de trayectoria metálica. B461.3.2 Ajuste del control de alcance. Coloque el
unidad de búsqueda para la segunda indicación máxima del
B461.2.3 Repetir ajustes. Repita el retraso y
muesca en la superficie exterior. Ajuste el borde izquierdo de esta
ajustes de control de rango hasta que las dos indicaciones sean
indicación a su metal en la pantalla con el control de rango o
en su trayectoria metálica adecuada en la pantalla.
control de velocidad.
B461.2.4 Lecturas de barrido. Dos divisiones en el
1
barrer ahora igual /5 del rango de pantalla seleccionado.
Figura B461.3
Rango de barrido (muescas)
Camino en V completo Camino de media V
Demora
Rango
0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10
132
5
B461.3.3 Repetir ajustes. Repita los ajustes de control de retardo y (c) Para determinar la amplitud de la ción, coloque /4T posición SDH
rango hasta que las dos indicaciones estén en sus trayectorias metálicas la unidad de búsqueda para la amplitud máxima del /4T SDH. Disminuya
3
la amplitud de
adecuadas en la pantalla. la señal en el número de dB determinado en (a) anterior.
Marque la altura de esta amplitud de señal en la línea de barrido 10
B461.3.4 Lecturas de barrido. Dos divisiones en el barrido ahora
(posición 5 /4T ). (d) Conecte las marcas de la pantalla para proporcionar
equivalen a una quinta parte del rango de pantalla seleccionado.
el DAC. Esto permitirá la evaluación de indicaciones hasta la superficie
revestida (cerca de la línea de barrido 8).
B462 CORRECCIÓN DE DISTANCIAAMPLITUD
B462.1 Calibración para orificios perforados lateralmente primarios (e) Para corrección de calibración para planos perpendiculares
Nivel de referencia desde el lado revestido (consulte la Figura B462.1). reflectores cerca de la superficie opuesta, consulte B465.
(a) Coloque la unidad de búsqueda para obtener la máxima respuesta.
B462.3 Calibración para muescas de tubería Re primaria
del SDH, que proporciona la mayor amplitud.
Nivel de referencia (consulte la Figura B462.3).
(b) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar una
indicación del 80% (±5%) de la altura completa de la pantalla (FSH).
desde la muesca que proporciona la mayor amplitud.
Marque el pico de la indicación en la pantalla. (c)
(b) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar una
Coloque la unidad de búsqueda para obtener la máxima respuesta.
de otro SDH. indicación del 80% (±5%) de la altura completa de la pantalla (FSH).
Marque el pico de la indicación en la pantalla. (c) Sin
(d) Marque el pico de la indicación en la pantalla. (e) Coloque la
cambiar la ganancia, coloque la unidad de búsqueda para obtener la
unidad de búsqueda para obtener la máxima amplitud.
máxima respuesta desde otra muesca.
desde el tercer SDH y marque el pico en la pantalla.
(d) Marque el pico de la indicación en la pantalla. (e) Coloque la
(f) Coloque la unidad de búsqueda para obtener la amplitud máxima
unidad de búsqueda para obtener la máxima amplitud desde la muesca
del /4T SDH 3después de que el haz haya rebotado en la superficie opuesta.
restante en su posición Half V, Full V o
La indicación debería aparecer cerca de la línea de barrido 10. Marque el 3
3 /2 Vee las trayectorias del haz y marca el pico en la pantalla.
pico en la pantalla para la posición /4T . (g) Conecte las marcas de pantalla
(f) Coloque la unidad de búsqueda para obtener la amplitud máxima de
para que
cualquier trayectoria en V adicional cuando se utilice y marque los picos
los SDH proporcionen
en la pantalla.
la curva distanciaamplitud (DAC).
(g) Conecte las marcas de pantalla para las muescas para proporcionar
(h) Para la corrección de calibración para reflectores perpendiculares
la curva distanciaamplitud (DAC).
en la superficie opuesta, consulte B465.
(h) Estos puntos también pueden ser capturados por el instrumento
B462.2 Calibración para orificios perforados lateralmente Nivel de ultrasónico y mostrados electrónicamente.
referencia primario desde el lado sin revestimiento (consulte la Figura
B462.1). (a) Desde el lado revestido del bloque, determine los dB /4T
3 5
cambio de amplitud entre las posiciones. (b) y /4T SDH
Desde el
lado descubierto, realice calibraciones como se indica en B462.1(a) a
B462.1(e).
Figura B462.1
Corrección de sensibilidad y distanciaamplitud (agujeros perforados lateralmente)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
133
`,``,``,,`,`,,````,`,` ARTÍCULO 4
Figura B462.3
ASME BPVC.V2019
Corrección de sensibilidad y distanciaamplitud (muescas)
100
80
60 CAD
40
0 2 4 6 8 10
`,,`,,`,`,,`
B463 CORRECCIÓN DISTANCIAAMPLITUD B464 CALIBRACIÓN DE POSICIÓN (VER FIGURA

INTERNO 1/4
VOLUMEN (VER NO OBLIGATORIO B464)
APÉNDICE J, FIGURA J431 VISTA A)
Las siguientes medidas se pueden realizar con una regla,
1
B463.1 Número de ángulos de haz. El requisito de /4 volumen un escala, o marcado en una tira de indexación.15
calibración gle puede satisfacerse utilizando uno 1
1 B464.1 /4T Indicación SDH. Posicionar la unidad de búsqueda
o más haces según sea necesario para calibrar en /8 pulg. (3 mm) 1
para obtener la máxima respuesta del /4T SDH. Coloque un extremo
orificios perforados lateralmente de diámetro máximo en ese volumen.
de la tira de indexación contra el frente de la unidad de búsqueda,
B463.2 Calibración desde una superficie descubierta. Cuando el
el otro extremo se extiende en la dirección del haz.
El examen se realiza desde la superficie exterior, calibrar en la Marque el número 2 en la tira de indexación en la línea de trazado
1
Orificios perforados laterales de /8 pulg. (3 mm) de diámetro que está directamente encima del SDH. (Si la unidad de búsqueda cubre
1
para proporcionar la forma del DAC desde /2 pulg. (13 mm) a /4T la línea de trazado, las marcas se pueden hacer en el lado de la
1
de profundidad. Configure la ganancia para realizar la indicación desde /4T de unidad de búsqueda.)
1 1
Orificio perforado lateral de /8 pulg. (3 mm) de diámetro en profundidad . 1 3
1 B464.2 /2T y Indicaciones /4T SDH. Coloque el
la misma altura que la indicación del orificio de profundidad /4T 1
unidad de búsqueda para máximas indicaciones del SDH /2T
como se determina en B462.1 o B462.2 arriba. Sin
3
y /4T . Mantenga el mismo extremo de la tira indexadora contra
Al cambiar la ganancia, determine la altura de la pantalla del
1 el frente de la unidad de búsqueda. Marca los números 4 y 6 en
otras indicaciones cercanas a la superficie del resto de /8 pulg.
1 la tira de indexación en la línea de trazado, que están directamente
(3 mm) de diámetro con orificios perforados laterales desde /2 pulg. (13 mm)
1 por encima de los SDH.
de profundidad hasta el orificio perforado lateralmente de /8 pulg. (3 mm) de diámetro justo
1 5
menos que el /4T de profundidad. Conecte los picos de indicación a B464.3 /4T Indicación SDH. Si es posible, coloque el
Complete la curva DAC cercana a la superficie. Devuelva el ajuste de ganancia unidad de búsqueda de modo que el haz rebote desde el lado opuesto
3
al determinado en B462.1 o B462.2. superficie a la /4T SDH. Marque el número 10 en la tira de índice en la
`
B463.3 Calibración desde la superficie revestida. Cuando el línea de trazado, que está directamente encima del

SDH.
El examen se realiza desde la superficie interior, calibrar en la
1
Orificios perforados laterales de /8 pulg. (3 mm) de diámetro B464.4 Indicación de muesca. Posicionar la unidad de búsqueda
para proporcionar la forma del DAC y la configuración de ganancia, como para la indicación máxima de muesca en la superficie opuesta. Marca
según B463.2 arriba. el número 8 en la tira de indexación en la línea de trazado,
que está directamente encima de la muesca.
B464.5 Números índice. Los números en la tira indicadora indican la
posición directamente sobre el reflector en

dieciseisavos de la trayectoria en V.
134
Figura B464
Profundidad de posición y trayectoria del haz
B464.6 Profundidad. La profundidad del examen sur /4T B466 EXTENSIÓN DEL HAZ (VER FIGURA B466)
3 1 1
cara al reflector es T en 8, /4T a las 6 y 10, /2T a las 4,
Las mediciones de la extensión del haz se realizarán en el
en 2 y 0 en 0. La interpolación es posible para incrementos más pequeños
Fondo semiesférico de agujeros de fondo redondo (RBH).
de profundidad. Las marcas de posición en la tira de indexación.
puede corregirse para el radio del agujero si el radio es La mitad del límite máximo de amplitud del lóbulo primario.
considerado importante para la precisión del reflector del haz se trazará manipulando la búsqueda
ubicación. unidad para mediciones de reflexiones de los RBH como
sigue.
B465 CORRECCIÓN DE CALIBRACIÓN PARA PLANAR
B466.1 Hacia la ción 1
REFLECTORES PERPENDICULARES AL / Agujero 4T. Establecer la índica máxima
desde el 1
SUPERFICIE DE EXAMEN EN O CERCA DE /4T RBH al 80% de FSH. Mover unidad de búsqueda
LA SUPERFICIE OPUESTA (VER FIGURA hacia el agujero hasta que la indicación sea igual al 40% de FSH.
B465) Marque la línea central del haz en la posición “hacia” en el bloque.
Una onda de corte de haz con un ángulo de 45 grados se refleja bien desde una 1
B466.2 Lejos de excepto / Agujero 4T. Repita B466.1, ex
reflector de esquina. Sin embargo, la conversión de modo y la redirección
mover la unidad de búsqueda lejos del hoyo hasta que la indicación sea
de la reflexión se producen hacia parte del haz cuando un
igual al 40% de FSH. Marque la línea central del haz
La onda cortante del haz en un ángulo de 60 grados golpea el mismo reflector.
Posición “lejos” en el bloque.
Este problema también existe, en menor medida, en todo
el rango de onda de corte del haz con un ángulo de 50 a 70 grados. Por lo
tanto, se requiere una corrección para ser igualmente crítico.
Figura B465
de tal imperfección independientemente del examen Reflexiones planas
ángulo del haz.
B465.1 Indicación de muesca. Posicionar la unidad de búsqueda
para máxima amplitud desde la muesca en el lado opuesto
superficie. Marque el pico de la indicación con una “X” en
la pantalla.
B465.2 45 grados frente a 60 grados. La superficie opuesta

La muesca puede dar una indicación de 2 a 1 por encima del DAC para un
1
Onda de corte de 45 grados, pero solo /2 DAC para un corte de 60 grados
ola. Por lo tanto, las indicaciones de la muesca serán
considerado al evaluar reflectores en el lado opuesto
superficie.
135 `,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`,,
`,,`,,`,`,,` ARTÍCULO 4
Figura B466
Extensión del haz
ASME BPVC.V2019
B466.4 Izquierda de 1
/ Agujero 4T. Repita B466.3, excepto
mover la unidad de búsqueda hacia la izquierda sin girar el haz
hacia el reflector hasta que la indicación sea igual al 40% de
FSH. Marque la posición “izquierda” de la línea central del haz en el
bloque.16
B466.5 1 3
Orificios /2T y /4T . Repita los pasos en
1 3
B466.1 a B466.4 para /2T y /4T RBH.
B466.6 Dimensiones de registro. Registre las dimensiones

desde las posiciones “hacia” a “lejos” y desde la posición
Posiciones de “derecha” a “izquierda” marcadas en el bloque.
B466.7 Indexación perpendicular. El más pequeño de los

No se deben exceder las tres dimensiones de “hacia” a “lejos” al indexar
entre escaneos perpendiculares a
la dirección del haz.
B466.8 Indexación paralela. El más pequeño de los tres.

Las dimensiones “derecha” a “izquierda” no se excederán cuando se
realicen cambios entre escaneos paralelos a la dirección del haz.
B466.9 Otros Caminos Metálicos. El haz proyectado

1
B466.3 Derecho de / Agujero 4T. Reposicionar la búsqueda El ángulo de extensión determinado por estas mediciones deberá
1
unidad para la indicación original del 80% de FSH del /4T usarse para determinar los límites requeridos en otros metales.
`
RBH. Mueva la unidad de búsqueda hacia la derecha sin girar caminos.

el haz hacia el reflector hasta que la indicación sea igual NOTA: Si hay reflectores laminares presentes en el bloque de calibración básica,
40% de FSH. Marque la posición “derecha” de la línea central del haz en las lecturas de dispersión del haz pueden verse afectadas; Si este es el caso, haz
el bloque.16 Las mediciones de dispersión deben basarse en las mejores lecturas disponibles.
136
APÉNDICE C NO OBLIGATORIO
TÉCNICAS GENERALES PARA CALIBRACIONES DE HAZ RECTO
ALCANCE DEL C410 C461.4 Indicación de la superficie posterior. la superficie trasera

La indicación aparecerá cerca de la línea de barrido 8.
Este Apéndice proporciona técnicas generales para la recta
C461.5 Lecturas de barrido. Dos divisiones en el barrido equivalen
calibración del haz. Se pueden utilizar otras técnicas. 1
a /4T.
C462 CORRECCIÓN DISTANCIAAMPLITUD

CALIBRACIÓN C460 (VER FIGURA C462)
C461 CALIBRACIÓN DEL RANGO DE BARRIDO17 (VER Lo siguiente se utiliza para la calibración desde el
FIGURA C461) lado revestido o lado no revestido:
(a) Coloque la unidad de búsqueda para la indicación máxima
C461.1 Ajuste del control de retardo. Coloque la unidad de de la SDH, que da la indicación más alta.
búsqueda para la primera indicación máxima desde el (b) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar
1
/4T SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 2 de una indicación de FSH del 80% (±5%). Este es el nivel de referencia
la pantalla con el control de retardo. principal. Marque el pico de esta indicación en la pantalla. (c) Coloque
la unidad de búsqueda para obtener la máxima indicación.
C461.2 Ajuste del control de alcance. Coloque el /4T SDH.
3
de otro SDH.
unidad de búsqueda para la indicación máxima de
(d) Marque el pico de la indicación en la pantalla. (e) Coloque
Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 6 en la pantalla
la unidad de búsqueda para obtener la máxima indicación.
con el control de rango.
C461.3 Repetir Ajustes. Repetir el retraso y (f) Conecte las marcas de pantalla para los SDH y extiéndalas a
`,``,``,,`,`,,````,`,`
1 3
ajustes de control de rango hasta que los /4T y /4T SDH indicador través del espesor para proporcionar la distanciaamplitud
cationes comiencen en las líneas de barrido 2 y 6. curva.
Figura C461
Rango de barrido

137
Figura C462
Corrección de sensibilidad y distanciaamplitud
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
138
APÉNDICE D NO OBLIGATORIO
EJEMPLOS DE REGISTRO DE DATOS DE EXAMEN DE HAZ ANGULAR
D410 ALCANCE D472 REFLECTORES CON INDICACIÓN

AMPLITUDES MAYORES QUE EL DAC
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Este Apéndice proporciona ejemplos de los datos requeridos para CURVA O NIVEL DE REFERENCIA
dimensionar los reflectores encontrados al escanear una soldadura y
describe métodos para registrar datos de examen de haz angular para Cuando la Sección del Código de referencia requiere la medición de
la longitud de todas las indicaciones del reflector relevantes que
reflectores planos y otros reflectores. Se proporcionan ejemplos para
cuando se requiere una identificación basada en la amplitud y el producen respuestas de indicación mayores que la curva DAC o el nivel
dimensionamiento se debe realizar solo para la longitud y para las de referencia establecido en T463 o T464, la longitud de la indicación
dimensiones de longitud y a través de la pared. se medirá perpendicular a la dirección de escaneo entre los puntos en
sus extremos donde la amplitud es igual a la curva DAC o nivel de
referencia.
D420 GENERALIDADES
Las secciones del código de referencia proporcionan varios medios

para identificar reflectores según la amplitud de la indicación. D473 TÉCNICAS DE DIMENSIÓN DE DEFECTOS A SER
Estas indicaciones, en varios Códigos, deben interpretarse en cuanto a CALIFICADO Y DEMOSTRADO
la identidad de su reflector (es decir, escoria, grieta, fusión incompleta,
Cuando la sección del Código de referencia exige el dimensionamiento
etc.) y luego evaluarse con respecto a las normas de aceptación. En
de defectos, se deberán calificar y demostrar las técnicas de
general, se establece algún porcentaje de la curva de corrección
dimensionamiento de defectos. Cuando las mediciones de
distanciaamplitud (DAC) o amplitud del nivel de referencia para un
dimensionamiento de fallas se realicen con una técnica de amplitud, se
único reflector de calibración en el que se deben investigar todas las
deberán utilizar los niveles o porcentaje de la curva DAC o nivel de
indicaciones en cuanto a su identidad. En otros casos, cuando la
referencia establecido en el procedimiento para todas las mediciones
amplitud de la indicación exceda el DAC o el nivel de referencia, es de longitud y a través de la pared.
posible que solo se requieran mediciones de la longitud de la indicación.
En otras secciones del Código de referencia, se requiere que las

técnicas de medición estén calificadas no solo para determinar la
longitud de la indicación sino también para su dimensión más grande a D490 DOCUMENTACIÓN
través de la pared.
Las diferentes secciones de los códigos de referencia pueden tener
algunas diferencias en sus requisitos para el examen ultrasónico. Estas
diferencias se describen a continuación para la información que se debe
documentar y registrar para la indicación de un reflector en particular.
REQUISITOS DEL EXAMEN D470
Al ilustrar estas técnicas de medición de los parámetros de las
Se cubrirá una muestra de varios requisitos del Código que describen respuestas de indicación de un reflector, se describirá un método
lo que se debe registrar para diversas indicaciones. sencillo para registrar la posición de la unidad de búsqueda.
Las indicaciones ultrasónicas quedarán documentadas por la

ubicación y posición de la unidad de búsqueda. Se ha asumido una
D471 REFLECTORES CON INDICACIÓN soldadura horizontal como se muestra en la Figura D490 para los datos
AMPLITUDES SUPERIORES AL 20% DE mostrados en la Tabla D490. Todas las indicaciones están orientadas
DAC O NIVEL DE REFERENCIA
con su dimensión larga paralela al eje de soldadura. La ubicación de la
Cuando la Sección del Código de referencia requiere la identificación unidad de búsqueda, X, se midió desde el punto 0 en el eje de soldadura
de todas las indicaciones de reflector relevantes que producen hasta la línea central de la cuña de la unidad de búsqueda.
respuestas de indicación superiores al 20% de la curva DAC (20% La posición de la unidad de búsqueda, Y, se midió desde el eje de
DAC18) o nivel de referencia establecido en T463 o T464, un reflector soldadura hasta el punto de salida de la cuña del haz de sonido. Y es
que produce una respuesta superior Se identificará este nivel (es decir, positivo hacia arriba y negativo hacia abajo. La dirección del haz de la
escoria, grieta, fusión incompleta, etc.). unidad de búsqueda suele ser 0 grados, 90 grados, 180 grados o 270 grados.
139
`,``,``,,`
`,,`,,`,`, ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Tabla D490
Ejemplo de registro de datos
Ángulo de haz
y haz
Soldar En. Máximo camino del sonido, Loc. (X), Pos. (Y), Calibración Dirección,
No. No. CAD, % pulgadas (mm) pulgadas (mm) pulgadas (mm) Hoja tu Comentarios y estado
1541 1 45 1,7 (43,2) 4,3 (109,2) −2,2 (−55,9) 005 45 (0) Escoria
1685 2 120 2,4 (61,0) 14,9 (378) 3,5 (88,9) 016 60 (180) Escoria
100 2,3 (58,4) 15,4 (391) 3,6 (91,4) extremo derecho
100 2,5 (63,5) 14,7 (373) 3,7 (94,0) extremo izquierdo
Longitud = 15,4 pulg. − 14,7 pulg. = 0,7 pulg.

(391 milímetros 373 milímetros = 18 milímetros)
1967 3 120 4,5 (114,3) 42,3 (1 074) −5,4 (−137,2) 054 45 (0) Escoria
20 4,3 (109,2) 41,9 (1 064) −5,2 (−132,1) Posición de profundidad mínima

`

20 4,4 (111,8) 41,6 (1 057) −5,4 (−137,2) extremo izquierdo
20 4,7 (119,4) 42,4 (1 077) −5,6 (−142,2) Posición de profundidad máxima

20 4,6 (116,8) 42,5 (1 080) −5,5 (−139,7) extremo derecho
Longitud = 42,5 pulg. − 41,6 pulg. = 0,9 pulg.

(1 080 mm − 1 057 mm = 23 mm)
Dimensión a través de la pared = (4,7 pulg. −

4,3 pulg.)(cos 45 grados) = 0,3 pulg.
[(119,4 mm − 109,2 mm)(cos
45 grados) = 7,2 mm)]
NOTA GENERAL: Ind. No. = número de indicación; Loc. (X) = ubicación a lo largo del eje X; Pos. (Y) = posición (Y) desde la línea central de la soldadura; la dirección del haz es
hacia 0, 90, 180 o 270 (consulte la Figura D490).
D491 REFLECTORES CON INDICACIÓN (b) Determinar y registrar el sonido de lectura de barrido.
AMPLITUDES SUPERIORES AL 20% DE camino hacia el reflector (en el lado izquierdo de la indicación en
DAC O NIVEL DE REFERENCIA el barrido).
(c) Determinar y registrar la ubicación de la unidad de búsqueda (X)
Cuando la Sección del Código de referencia requiere la identificación
con respecto al punto 0.
de todas las indicaciones relevantes del reflector que producen
(d) Determinar y registrar la posición de la unidad de búsqueda (Y)
respuestas del reflector superiores al 20% de la curva DAC
con respecto al eje de soldadura.
o nivel de referencia, coloque la unidad de búsqueda para dar la
(e) Registre el ángulo del haz de la unidad de búsqueda y el haz
amplitud máxima del reflector.
dirección.
(a) Determine y registre la amplitud máxima en
por ciento del DAC o nivel de referencia.
Figura D490
Ubicación, posición y dirección del haz de la unidad de búsqueda
Dirección del haz

(tú)
Y
180
0 Soldar
0 90 270
X eje Posición
Ubicación
0
Y
140
En la Tabla D490 se muestra un registro de datos para una indicación y demostrado según los requisitos de esa Sección del Código, las
con una amplitud máxima del 45% de DAC como Soldadura 1541, mediciones de D491 y D492 se realizan con las mediciones adicionales
Indicación 1. A partir de sus características, se determinó que el reflector para la dimensión a través de la pared como se enumera a continuación.
era escoria. Las medidas en este segundo.
Las mediciones deben realizarse en amplitudes que hayan sido calificadas
D492 REFLECTORES CON INDICACIÓN para la medición de longitud y a través de la pared. Para los fines de esta
AMPLITUDES MAYORES QUE EL DAC ilustración, se ha asumido que un 20 % de DAC o 20 % del nivel de
CURVA O NIVEL DE REFERENCIA referencia está calificado en lugar del 100 % de DAC o nivel de referencia
Cuando la Sección del Código de referencia requiere una medición de utilizado en D492. Tanto las determinaciones de longitud como a través
longitud de todas las indicaciones del reflector relevantes que producen de la pared se ilustran al 20 % de DAC o al 20 % del nivel de referencia.
respuestas de indicación mayores que la curva DAC o el nivel de El reflector está situado en el primer tramo de la trayectoria del sonido
referencia cuya longitud se basa en la curva DAC o el nivel de referencia, (primera mitad de la trayectoria en V). (a) Primero mueva la unidad de
realice el registro de acuerdo con D491 y lo siguiente medidas adicionales. búsqueda hacia el reflector y escanee la parte superior del reflector
para determinar la ubicación y posición más cercana a la superficie de
(a) Primero mueva la unidad de búsqueda paralela al eje de soldadura entrada del haz de sonido (profundidad mínima) y donde la amplitud cae
a la derecha de la posición de amplitud máxima hasta que la amplitud de al 20% DAC o 20 % del nivel de referencia.
indicación caiga al 100% DAC o al nivel de referencia. (b) Determine y
registre (b) Determine y registre la ruta del sonido hasta el reflector.
la ruta del sonido hasta el reflector. tor (en el lado izquierdo de la indicación en el barrido).
tor (en el lado izquierdo de la indicación en el barrido). (c) Determinar y registrar la ubicación de la unidad de búsqueda (X)
(c) Determinar y registrar la ubicación de la unidad de búsqueda (X) con respecto al punto 0.
con respecto al punto 0. (d) Determine y registre la posición de la unidad de búsqueda (Y) con
(d) Determine y registre la posición de la unidad de búsqueda (Y) con respecto al eje de soldadura. (e) A
respecto al eje de soldadura. (e) A continuación, aleje la unidad de búsqueda del reflector y escanee la
continuación, mueva la unidad de búsqueda paralela al eje de parte inferior del reflector para determinar la ubicación y la posición más
soldadura hacia la izquierda pasando la posición de máxima amplitud cercana a la superficie opuesta (profundidad máxima) y donde la amplitud
hasta que la amplitud de indicación vuelva a caer al 100% DAC o al nivel cae al 20% DAC o 20 % del nivel de referencia. (f) Determine y registre la
de referencia. ruta del sonido hasta el reflector.
(f) Determine y registre la ruta del sonido hasta el reflector.

tor (en el lado izquierdo de la indicación en el barrido). tor (en el lado izquierdo de la indicación en el barrido).
(g) Determinar y registrar la ubicación de la unidad de búsqueda (X) (g) Determinar y registrar la ubicación de la unidad de búsqueda (X)
con respecto al punto 0. con respecto al punto 0.
(h) Determine y registre la posición de la unidad de búsqueda (Y) con (h) Determine y registre la posición de la unidad de búsqueda (Y) con
respecto al eje de soldadura. (i) respecto al eje de soldadura. (i)
Registre el ángulo y la dirección del haz de la unidad de búsqueda. Registre el ángulo y la dirección del haz de la unidad de búsqueda.
En la tabla D490 se muestra un registro de datos a modo de indicación. Se muestra un registro de datos en la Tabla D490 para una indicación
con una amplitud máxima de 120% de DAC como Soldadura 685, con una amplitud máxima de 120% de DAC como Weld 1967, Indicación
Indicación 2, con los datos anteriores y los datos requeridos en D491. 3, con los datos anteriores y los datos requeridos en D491 y D492 para
Por sus características, se determinó que el reflector era escoria y tenía longitud a 20 % DAC o 20% del nivel de referencia. Por sus características,
una longitud indicativa de 0,7 pulgadas. se determinó que el reflector era escoria y la indicación tenía una longitud
Si el dimensionamiento de la indicación se realizó utilizando unidades SI, de 0,9 pulgadas. Si el dimensionamiento se realizó utilizando unidades
la longitud de la indicación es de 18 mm. SI, la longitud de la indicación es de 23 mm y la dimensión de la pared
pasante de 7 mm.
D493 REFLECTORES QUE REQUIEREN
TÉCNICAS DE MEDICIÓN A SER
CALIFICADO Y DEMOSTRADO
Cuando la Sección del Código de referencia requiere que toda la
longitud de indicación del reflector relevante y las dimensiones a través
de la pared se midan mediante una técnica calificada
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 141
APÉNDICE E NO OBLIGATORIO
TÉCNICAS DE IMAGEN COMPUTARIZADA
ALCANCE E410 Se utilizará además de la calibración aplicable.

bloque requerido por el artículo 4. Estos bloques cumplirán
Este Apéndice proporciona los requisitos para la computadora. con J431.
técnicas de imagen.
El bloque descrito en la Figura E460.1 proporciona un rango de resolución
efectivo para búsqueda de 45 grados y 60 grados.
unidades y recorridos metálicos de hasta aproximadamente 4 pulg. (100 mm). Este
E420 GENERALIDADES es adecuado para tuberías y componentes similares, pero más largo
Se requieren longitudes de camino para los recipientes a presión del reactor. A
Las técnicas de imágenes computarizadas (CIT) deberán satisfacer bloque más grueso con los mismos tamaños de agujeros de fondo plano,
todos los requisitos básicos del instrumento descritos en Se requieren espacios, profundidades y tolerancias para el metal.
T431 y T461. Las unidades de búsqueda utilizadas para aplicaciones CIT caminos de más de 4 pulg. (100 mm) y 4 pulg.
se caracterizarán según lo especificado en B466. CIT (100 mm) de distancia mínima entre el borde del
estará cualificado de acuerdo con los requisitos Se requieren agujeros y el borde del bloque. Estos bloques
para la detección de fallas y/o dimensionamiento que se especifican en el proporcionar un medio para determinar la resolución lateral y
haciendo referencia a la Sección del Código. Discriminación de profundidad de un sistema de imágenes ultrasónicas.
El procedimiento escrito para las solicitudes CIT deberá identificar la La resolución lateral se define como el espaciamiento mínimo
frecuencia de prueba específica y el ancho de banda que se utilizará. Además, entre agujeros que pueden ser resueltos por el sistema. El
dichos procedimientos definirán la Los agujeros están espaciados de manera que la separación máxima entre
técnicas de procesamiento de señales, incluirán pautas explícitas para la bordes adyacentes de agujeros sucesivos sea de 1.000 pulgadas.
interpretación de imágenes e identificarán el código de software/versión del (25,40 milímetros). El espaciamiento disminuye progresivamente en un
programa que se utilizará. Esta informacion factor de dos entre pares sucesivos de agujeros, y el
También se incluirá en el informe del examen. Cada informe de examen el espacio mínimo es de 0,015 pulg. (0,38 mm). La discriminación de
deberá documentar el escaneo específico. profundidad se demuestra observando el metal mostrado.
y procesos de imágenes que se utilizaron para que estas funciones puedan caminos (o las profundidades) de los distintos agujeros. Porque el
repetirse con precisión en un momento posterior si las caras de los orificios no son paralelas a la superficie de escaneo, cada una
necesario. El orificio muestra un rango [aproximadamente 0,1 pulg. (2,5 mm)] de metal.
El proceso de obtención de imágenes computarizado incluirá una función caminos. La fila "A" tiene el recorrido de metal promedio más corto,
que genere una escala dimensional (en dos o la fila “C” tiene el recorrido de metal promedio más largo, y la fila
tres dimensiones, según corresponda) para ayudar al operador Los orificios “B” varían en la trayectoria promedio del metal.
al relacionar las características fotografiadas con las dimensiones reales y Se requieren bloques adicionales para verificar la resolución lateral y la
relevantes del componente que se examina. Además, discriminación de profundidad cuando se realiza un examen de onda
Se incluirán integralmente indicadores de factor de escala automatizados longitudinal de 0 grados. Longitudes de trayectoria metálica de
para relacionar los colores y/o la intensidad de la imagen con la variable 2 pulgadas y 8 pulgadas (50 mm y 200 mm), según corresponda,
relevante (es decir, amplitud de la señal, atenuación, etc.). debe proporcionarse como se muestra en la Figura E460.2 para espesores
de sección de hasta 4 pulg. (100 mm), y un bloque similar con 8 pulg.
(200 mm) se necesitan caminos metálicos para espesores de sección
más de 4 pulg. (100 mm).
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
CALIBRACIÓN E460
La calibración de los sistemas de imágenes por ordenador se realizará de

tal manera que se optimicen los niveles de ganancia. EXAMEN E470
para fines de adquisición de datos e imágenes. Lo tradicional
También puede ser necesario un proceso de calibración basado en DAC para
E471 ENFOQUE DE APERTURA SINTÉTICA
establecer niveles específicos de sensibilidad de escaneo y/o detección de TÉCNICA PARA PRUEBAS ULTRASÓNICAS
fallas. (SAFTOUT)
Para aquellos CIT que emplean procesamiento de señales para lograr La técnica de enfoque de apertura sintética (SAFT) se refiere a un proceso
mejora de imagen (SAFTUT, LSAFT y banda ancha en el que las propiedades focales de un
holografía), al menos una resolución lateral especial y La unidad de búsqueda enfocada de gran apertura se genera sintéticamente
bloque de discriminación de profundidad para cada examen especificado a partir de los datos recopilados mientras se escanea una gran superficie.
142
`,``,``,
`,,`,,`,
área usando una pequeña unidad de búsqueda con un sonido divergente

haz. El procesamiento necesario para centrar esta colección.
ASME BPVC.V2019
La recopilación de datos es un proceso tridimensional llamado formación

imagen. Un par de agujeros se consideran separados si la señal
La amplitud de la imagen disminuye al menos 6 dB entre las señales
máximas de dos agujeros.
ARTÍCULO 4
de haces, suma coherente o procesamiento de apertura sintética. El La resolución de profundidad es la capacidad de un sistema SAFTUT para
proceso SAFTUT ofrece una ventaja inherente sobre los procesos de distinguir entre la profundidad de dos agujeros cuyos ejes
enfoque físico porque el son paralelos al eje mayor del haz de sonido. La resolución de profundidad
La imagen resultante es una caracterización enfocada y de volumen completo. se mide determinando la diferencia mínima de profundidad entre dos
del volumen de material que se examina. Los procesos tradicionales de agujeros.
enfoque físico proporcionan datos enfocados sólo sobre La resolución lateral de un sistema SAFTUT suele ser
`
la profundidad de la zona de enfoque del transductor. 1,5 longitudes de onda (o mejores) para el examen de piezas forjadas.

Para el esquema típico de recopilación de datos de pulsoeco utilizado componentes ferríticos y longitudes de onda 2,0 (o mejores) para
con SAFTUT, se posiciona una unidad de búsqueda enfocada con Examen de componentes forjados de acero inoxidable. El
el punto focal ubicado en la superficie del material debajo La resolución de profundidad para estos mismos materiales normalmente será
examen. Esta configuración produce un haz ultrasónico divergente en el ser de 0,25 longitudes de onda (o mejor).
material. Alternativamente, se puede utilizar una unidad de búsqueda de
contactos de pequeño diámetro para generar una E472 LÍNEAENFOQUE DE APERTURA SINTÉTICA
haz divergente. A medida que la unidad de búsqueda escanea el TÉCNICO (LSAFT)
superficie del material, el registro de escaneo A (forma de onda de RF)
La técnica de enfoque de apertura sintética lineal
está digitalizado para cada posición de la unidad de búsqueda. Cualquier
(LSAFT) es útil para analizar las indicaciones detectadas.
reflector presente produce una colección de ecos en el Ascan.
LSAFT es un proceso bidimensional en el que el foco
registros. Para un reflector elemental de un solo punto, la colección de
Propiedades de una búsqueda de gran apertura y enfoque lineal.
ecos formará una superficie hiperbólica dentro del
unidad se generan sintéticamente a partir de datos recopilados durante
volumen del conjunto de datos. La forma del hiperboloide está determinada
una línea de escaneo usando una pequeña unidad de búsqueda con un divergente
por la profundidad del reflector y la velocidad de
haz de sonido. El procesamiento requerido para imponer un efecto de
sonido en el material. La relación entre la ubicación del eco en la serie de
enfoque de los datos adquiridos también se llama sintético.
Ascans y la ubicación real de
Procesamiento de apertura. El sistema LSAFT se puede operar
Los reflectores dentro del material permiten reconstruir una imagen de alta
como equipo UT convencional para registro de datos. Va a
resolución que tiene una alta relación señalruido. Hay dos configuraciones
funcionan con transductores de uno o dos elementos.
SAFTUT separadas.
Las mediciones de análisis, en general, se realizan para
posible:
determinar el tamaño, el volumen, la ubicación y la configuración del defecto.
(a) la configuración de pulsoeco de un solo transductor; Para decidir si la falla es una grieta o volumétrica, la respuesta de difracción
y
de la punta de la grieta ofrece un criterio, y la
(b) la configuración en tándem de doble transductor (TSAFT). Imagen superpuesta de dos mediciones realizadas utilizando
diferentes direcciones de incidencia ofrece otra.
En general, los defectos detectados pueden clasificarse en volumétricos,
planos o grietas. La determinación del tamaño de los defectos se realiza Todas las restricciones para SAFTUT se aplican a LSAFT y viceversa.
normalmente midiendo la extensión vertical (grietas) o la viceversa. La diferencia entre LSAFT y SAFTUT es
distancia de la sección transversal (volumétrica/planar) en el que SAFTUT proporciona una imagen de mayor resolución que
se puede obtener con LSAFT.
–Niveles de 6 dB una vez aislado el defecto y la imagen
normalizado al valor máximo del defecto. Múltiple
A menudo se requieren imágenes para categorizar (clasificar) E473 TÉCNICA DE HOLOGRAFÍA DE BANDA ANCHA
adecuadamente el defecto y caracterizar la forma real del defecto.
La técnica de holografía produce una imagen de objeto mediante
y tamaño. El dimensionamiento y análisis en tándem utiliza técnicas
cálculo basado en datos de un patrón de difracción. Si el
similares a las del pulsoeco, pero proporciona imágenes que pueden ser
El resultado es una imagen bidimensional y los datos se adquieren a lo
más fáciles de interpretar.
largo de un escaneo; el proceso se denomina "holografía lineal". Si el
La ubicación de las indicaciones dentro del espacio de la imagen está resultado es una imagen bidimensional
influenciada por el espesor del material, la velocidad y el ángulo refractado Si se basa en un área escaneada, se denomina “holografía”. Para el caso
del haz UT. El algoritmo SAFT asume isotrópico especial de aplicar los principios de la holografía a las pruebas ultrasónicas,
y material homogéneo; es decir, el algoritmo SAFT requiere (para un la imagen de los defectos (en más
rendimiento óptimo) que la velocidad acústica sea conocida con precisión más de una dimensión) se puede obtener registrando la
y constante durante todo el proceso. datos de amplitud, fase y tiempo de vuelo del
volumen de materiales.
volumen escaneado. El proceso de holografía ofrece una experiencia única.
La resolución lateral es la capacidad del sistema SAFTUT característica porque la imagen resultante es una caracterización uni o
distinguir entre dos objetos en un plano xy que es bidimensional del material.
perpendicular al eje del haz de sonido. La resolución lateral se mide Esta técnica proporciona una buena resolución en la dirección axial
determinando el espacio mínimo mediante el uso de unidades de búsqueda de banda ancha. Estas búsquedas
entre pares de agujeros que están claramente separados en el Las unidades transmiten un pulso muy corto y, por lo tanto, el eje
143

Figura E460.1 Bloque
de resolución lateral y discriminación de profundidad para aplicaciones de 45 grados y 60 grados
1,250 pulg. (31,25 mm)
0,750 pulg. (19,05 mm)
0,500 pulg. (12,7 mm)
0,375 pulg. (9,53 mm)

Todos los diámetros de agujero
0,313 pulg. (7,95 mm)
0,250 pulg. (6,35 mm)
0,281 pulg. (7,14 mm) 0,266
pulg. (6,76 mm)
A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1
B7 B6 B5 B4
B3
C8 C7 C6 C5 C4 C3 B2 B1
1,250 pulg.
(31,75 mm)
2.000 pulg. (50,80 mm)
2,500 pulg. (63,50 mm)
2,875 pulgadas (73,03 mm)
Detalle 1
6 pulgadas (150 mm)
23 /4 pulg. (69 mm)

8
pulgadas (200 mm)
LAT4000
VT
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
1
Ver detalle 1 pulgada (25 mm)
2 pulg.
(50) milímetros)
Ver detalle 1
30 1.750 pulg.
tu (44,45 mm) 45 grados
1.000 pulg.
(25,40 mm) 31/2 pulg.
(89 mm)
2 X 1/2 pulg.
(13 mm)
10 pulgadas (250 mm)
NOTAS GENERALES:
(a) Vista rotada para mayor claridad. (b)

La superficie de insonificación se muestra en la parte inferior. (c)
Tolerancias: decimales: 0,XX = ±0,03; 0,XXX = ±0,005; angular: ±1 grado.
144

Figuras E460.1
Bloque de resolución lateral y discriminación de profundidad para aplicaciones de 45 grados y 60 grados (cont.)
NOTAS GENERALES (CONTINUACIÓN):

(d) Identificación del hoyo:
(1) Grabe o estampe como se muestra con los caracteres en posición vertical cuando la cara grande del bloque esté hacia arriba.
(2) La altura nominal de los caracteres es de 6 mm (0,25 pulg.).
(3) Empiece a numerar en el lado más espaciado.
(4) Etiquete la fila de ocho orificios A1–A8.
(5) Etiquete el conjunto diagonal de siete orificios B1–B7.
(6) Etiquete los seis orificios restantes C3–C8.
(e) Espaciado de orificios: material mínimo de 0,010 pulg. (0,25 mm) entre los bordes de los orificios.
(f) Profundidad del orificio: cara de 30 grados: 1,000 pulg. (25,40 mm); Cara de 45 grados: 1,750 pulg. (44,45 mm).
(g) Presentación del dibujo: los agujeros se muestran desde la cara perforada del bloque.
(h) Los extremos del orificio deben ser planos y paralelos a la superficie perforada dentro de 0,001 pulg. (0,03 mm) a lo largo de la cara del orificio.
(i) El radio máximo entre el lado y la cara del agujero es 0,005 pulg. (0,13 mm).
Se mejora la resolución. El ancho de banda máximo puede ser distribución del tiempo de retraso. Dependiendo de la búsqueda
20 MHz sin utilizar filtrado, y hasta 8 MHz utilizando un diseño de la unidad, es posible variar electrónicamente
filtro integrado. el ángulo de incidencia o el ángulo lateral/inclinado. En el modo de recepción, la
Las mediciones de análisis, en general, se realizan para energía acústica es recibida por los elementos.
obtener información sobre tamaño, volumen, ubicación y configuración de las y las señales se someten a un proceso de suma utilizando el
fallas detectadas. Los resultados de las mediciones holográficas por línea de mismo patrón de retardo de tiempo que se utilizó durante la transmisión.
escaneo muestran una imagen bidimensional del defecto mediante una El tamaño de los defectos se realiza normalmente midiendo la
visualización codificada por colores. El tamaño de los defectos extensión vertical (en el caso de grietas) o la distancia de la sección transversal
se puede determinar utilizando la caída de 6 dB en el color (en el caso de grietas volumétricas/planas).
código. Se obtiene más información sobre las dimensiones del defecto mediante defectos) en los niveles de 6 dB una vez que el defecto ha sido aislado
escaneos en diferentes direcciones (es decir, paralelas, perpendiculares) en y la imagen normalizada. Dimensionamiento y análisis del tándem.
diferentes ángulos de incidencia. para decidir si utiliza técnicas similares al pulsoeco pero proporciona
el defecto es una grieta o un defecto volumétrico, la técnica de la punta de la Imágenes que son más fáciles de interpretar ya que la reflexión especular se
grieta ofrece un criterio y ofrece la comparación de dos mediciones desde utiliza para defectos orientados perpendicularmente a la superficie. Para grietas y
diferentes direcciones de incidencia. defectos planos, el resultado debe ser
otro. Los resultados de medición obtenidos mediante técnicas de imagen siempre verificado usando señales de difracción de punta de grieta desde la parte superior
requieren una interpretación específica. Pequeñas variaciones en el espesor del y los extremos inferiores del defecto, ya que el enfoque de matriz en fase con
material, la velocidad del sonido o el material refractado. reconstrucción tomográfica es más sensible
El ángulo del haz puede influir en los resultados de la reconstrucción. para detectar defectos en las puntas y es capaz de ofrecer una imagen clara de
Los cálculos del procesamiento de holografía también suponen que reconstrucción de estos fenómenos de refracción. Al igual que con
La velocidad se conoce con precisión y es constante en todo momento. En otras técnicas, el proceso de matriz en fase supone un material isotrópico y
el material. homogéneo cuya velocidad acústica
es constante y se conoce con precisión.
Los escaneos sectoriales (Sscans) con matriz en fase proporcionan una
E474 TÉCNICA DE ARRAY EN FASES UT
Serie de ángulos de haz en forma de abanico de una sola emisión.
La técnica UTPhased Array es un proceso en el que punto que puede cubrir parte o la totalidad de una soldadura, dependiendo
Los datos UT se generan mediante una variación incremental controlada del busque el tamaño de la unidad, la geometría de la junta y el espesor de la sección.
ángulo del haz ultrasónico en dirección azimutal o lateral mientras se escanea el Una serie de ángulos de haz de este tipo puede demostrar una buena
objeto bajo detectabilidad de los orificios perforados lateralmente porque son reflectores
examen. Este proceso ofrece una ventaja sobre los procesos que utilizan unidades omnidireccionales. Este no es necesariamente el caso de
de búsqueda convencionales con haz fijo. reflectores planos (por ejemplo, falta de fusión y grietas) cuando se utilizan
ángulos porque adquiere mucha más información técnicas de escaneo de líneas donde el haz podría ser
sobre el objeto reflectante utilizando más ángulos de aspecto en desorientados hasta el punto de que no pueden ser detectados. Esto es
impacto directo. particularmente cierto para secciones más gruesas cuando se usa un solo
Cada unidad de búsqueda de matriz en fase consta de una serie de elementos Técnicas de escaneo de líneas.
transductores cableados individualmente en una cuña que están
se activa por separado usando un patrón de retardo de tiempo preseleccionable.
Con un tiempo de retardo lineal entre el transmisor
impulsos, se genera un campo sonoro inclinado. Variando el
El ángulo de refracción requiere una variación de la línea lineal.
145
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Figura E460.2
Bloque de resolución lateral y de profundidad para aplicaciones de 0 grados
ST UV WX
R QPON MLK
EDCBA
jihgf
8 pulgadas (200 mm)
Y
X
EN
STUV Superficie
de escaneo
7,50
R QP ONML k pulgadas (188 mm)
DE CB A
j Yo HG F
2
pulgadas (50 mm)
X
Índice 2
Y pulgadas (50 mm)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
4 Tolerancias
pulgadas (100 mm) generales 0,010 pulg.
y 1 grado (0,25 mm y 1 grado)
146

E475 UTAMPLITUD TIEMPO DE VUELO La ubicación de las indicaciones dentro del espacio de la imagen está
TÉCNICA DE ANÁLISIS DE CURVA DE LOCUS influenciada por el espesor del material y la velocidad real del sonido.
(es decir, se supone material isotrópico y homogéneo).
Análisis de la curva de locus de tiempo de vuelo de amplitud UT
Sin embargo, las influencias deteriorantes del material anisotrópico (como el
La técnica utiliza múltiples unidades de búsqueda en pulsoeco,
revestimiento) se pueden reducir mediante la selección adecuada de los
transmisorreceptor o configuración tándem. Los parámetros seleccionables
parámetros de la unidad de búsqueda.
individualmente controlan la compresión de
la información del Ascan utilizando un algoritmo de reconocimiento de patrones,
E476 ADQUISICIÓN AUTOMATIZADA DE DATOS Y
de modo que solo se muestren las amplitudes relevantes del Ascan.
TÉCNICA DE IMAGEN
almacenado y procesado posteriormente.
Los valores de los parámetros en el algoritmo de compresión Ascan La adquisición e imágenes de datos automatizadas es una técnica multicanal
determinan cuántos precursing y cuántos que se puede utilizar para la adquisición y
Los picos de media onda posteriores a la maldición deben ser más pequeños Análisis de datos UT para aplicaciones de contacto e inmersión. Esta técnica
que una amplitud específica, de modo que se identifique esta amplitud más grande. permite la interconexión entre los modos de calibración, adquisición y análisis;
como señal relevante. Estos datos sin procesar se pueden mostrar en y para
Presentaciones de escaneo B, C y D (vista lateral, superior y final), asignación de configuraciones de examen específicas. Este
con incrementos de código de colores seleccionables para amplitud y La técnica utiliza una visualización en tiempo real para monitorear el
capacidades de zoom rápido. Este modo de funcionamiento es el más adecuado calidad de los datos que se recopilan y proporciona visualización
para fines de detección. Para la discriminación, se aplica un algoritmo de filtrado de rangos de amplitud específicos y la capacidad de analizar
espacial bidimensional a datos máximos a través del filtrado de movimiento del objetivo. Una función de
búsqueda de correlación de los datos brutos del tiempo de vuelo con cursor permite escanear los datos de RF una forma de onda a la vez.
trayectorias de tiempo de vuelo típicas del reflector. para ayudar en el tamaño de las grietas mediante difracción de punta. Para ambos pico
El dimensionamiento y análisis en tándem utiliza técnicas similares a y datos de RF, la técnica puede recopilar, mostrar y analizar datos para escanear
pulsoeco, pero proporciona imágenes que pueden ser más fáciles de interpretar en dirección axial o circunferencial.
ya que los reflejos especulares de los defectos orientados
Se utilizan perpendiculares a la superficie. Para grietas y fallas planas, los Esta técnica facilita la detección y dimensionamiento tanto de
resultados deben verificarse con señales de difracción de punta de grieta desde Defectos volumétricos y planos. Para dimensionar defectos volumétricos,
el extremo superior e inferior del se pueden utilizar métodos basados en la amplitud; y para dimensionar
defecto ya que los parámetros acústicos son muy sensibles a fallas planas, el método de difracción de punta de grieta puede ser
indicaciones de punta de defecto y una imagen de reconstrucción clara de usado. Una función de superposición permite al analista generar
Estos fenómenos de refracción son posibles con este una imagen compuesta utilizando varios conjuntos de datos ultrasónicos.
técnica. Todos los datos mostrados en el modo de análisis pueden mostrarse
con respecto a las coordenadas físicas del
componente.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
147

`,,`,,`,`,,`
`,``,``,,`,`,,` ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
ð19Þ APÉNDICE F NO OBLIGATORIO
EXAMEN DE SOLDADURA UTILIZANDO CAPTURA DE MATRIZ COMPLETA
ALCANCE DEL F410 TFM si satisfacen la definición amplia de TFM anterior.

Al contrario del nombre, otras variantes del TFM
Este Apéndice contiene una descripción de los procesos desenfocar para lograr los resultados deseados.
y técnica(s) para la técnica de examen ultrasónico (UT) de captura de
Un examen TFM puede reconstruirse a partir de
matriz completa (FMC). Un examen FMC
datos no FMC. Sin embargo, este Apéndice sólo aborda
Consiste en la recopilación de datos y la construcción de imágenes.
Imágenes reconstruidas a partir de datos FMC.
aspectos.
F420 GENERAL
EQUIPO F430
Una matriz completa de señales en el dominio del tiempo procedentes de la transmisión.
patrones y elementos receptores, dentro de una matriz dada, es SELECCIÓN DE UNIDAD DE BÚSQUEDA F432
capturados electrónicamente. Esta es la creación de los datos.
colocar. Los exámenes FMC/TFM tienen la ventaja potencial de
El conjunto de datos se utiliza luego para reconstruir una imagen. mejor resolución de imagen (la capacidad de distinguir dos reflectores
mediante técnicas de posprocesamiento. Reconstrucción separados que están muy cerca) sobre otros
podrá realizarse en tiempo real o en cualquier momento posterior a la adquisición. Técnicas de UT. FMC/TFM también es potencialmente menos sensible
Existen muchas técnicas de reconstrucción de imágenes que constan de a la forma u orientación del reflector que otros UT
técnicas. Dado que es una técnica UT, el examen FMC/TFM se rige por
`
algoritmos de procesamiento y diferentes técnicas.

pueden aplicarse al mismo conjunto de datos. las mismas leyes de la física que se aplican a
Es importante señalar que la recopilación de datos en FMC es cualquier técnica de UT [p. ej., UT convencional, UT de matriz en fase
no necesariamente supeditada en modo alguno al procesamiento pruebas (PAUT) y difracción TOF (TOFD)]. Una búsqueda
posterior para formar una imagen; sin embargo, la reconstrucción de la El diseño de la unidad que coincide con la aplicación es uno de los más
imagen está potencialmente limitada por los datos obtenidos en el factores importantes para realizar los beneficios y ventajas potenciales
Proceso FMC. No es necesariamente necesario calcular de estas técnicas. El rendimiento de cualquier conjunto determinado
también es relevante para el área de examen o
cualquier configuración antes o durante el proceso FMC, excepto el
tiempo de vuelo (TOF) y rango dinámico de la señal adquirida. Para volumen de examen requerido.
algunos de los casos no es necesaria información previa. En general, cuanto más pequeños sean los elementos y el elemento
no se aplicará ni se asumirá para recopilar datos. Sin embargo, para tono, combinado con un alto número de elementos, mayor
reconstruir una imagen útil, el examinador debe asegurarse de que El área de examen optimizada incluirá una mayor profundidad de campo
toda la información para su procesamiento está contenida dentro y dependerá menos de la orientación del
la FMC. el reflector. Esto es válido para cualquier técnica UT. Cualquiera dado
unidad de búsqueda de matriz que funciona mal con PAUT
F421 POSTPROCESAMIENTO probablemente tenga un mal desempeño con FMC/TFM, disminuyendo
el potencial para obtener imágenes superiores. Por ejemplo, aunque
Para simplificar, el método elemental de enfoque total Es posible examinar un componente grueso utilizando un pequeño
(TFM) se utiliza en este Apéndice como ejemplo. Otro número de elementos (por ejemplo, una matriz de 16 elementos), el
Las técnicas de procesamiento de señales también son viables.
examinador no debe esperar beneficios de resolución significativos sobre
El TFM elemental es un método común de reconstrucción de imágenes una matriz más grande.
en el que el valor de cada dato constituyente
(a) El examinador podrá tener en cuenta lo siguiente para la selección
de la imagen resulta del ultrasonido enfocado. TFM puede de la unidad de búsqueda:
También debe entenderse como un término amplio que abarca una
familia de técnicas de procesamiento para la reconstrucción de imágenes. (1) La apertura debe ser lo suficientemente larga para producir una
Es posible que equipos de diferente fabricación campo bastante cercano (el tamaño se normaliza con el
puede generar legítimamente imágenes TFM muy diferentes longitud de onda).
utilizando los mismos datos FMC, sin que ninguna imagen sea necesariamente (2) Una indicación que esté más lejana en el tiempo
más válido que otro. Otras técnicas de procesamiento de señales pueden tienen menos resolución y puede ser deseable una matriz más grande
considerarse variantes o derivadas de para lograr mejores resultados.
148

`,``,``,,`,`,,````,`,``, (3) La disminución de la longitud de onda mejorará la resolución y

normalmente se logra aumentando la frecuencia del conjunto. La velocidad del
material también tiene un impacto.
ASME BPVC.V2019
F442 MÉTODO DE ENFOQUE TOTAL
El TFM tiene configuraciones de usuario más simples y es capaz de

ARTÍCULO 4
mejor resolución o profundidad de campo en una región más grande

en la longitud de onda en el sentido de que un aumento en la velocidad aumentará
que si la unidad de búsqueda está diseñada adecuadamente para el examen.
la longitud de onda.
Usando variaciones de los procesos matemáticos.
(4) El tono del elemento es importante; cada dato de cuadrícula es
Utilizado para TFM, es posible obtener ventajas como una mejor resolución de
calculado con la información adecuada de la señal. Cuando
imagen y una menor dispersión del sonido.
combinado con la longitud de apertura, esto significa que el
ondas del ruido de la estructura del material. Procesamiento TFM
El número de elementos es un parámetro importante. Es importante darse cuenta
se puede realizar ya sea en tiempo real dentro del equipo
de que el tono de la matriz no está directamente relacionado
durante la adquisición o durante el posprocesamiento por parte de otros
correlacionado con el espaciado de la cuadrícula de la imagen tal como está en PAUT.
medio. Es posible aplicar el procesamiento TFM sobre datos FMC
(b) La configuración de la unidad de búsqueda también influirá en el proceso
que fue previamente adquirido, almacenado en archivos o archivado.
de reconstrucción de la imagen, que está relacionado con
cómo se recogen los marcos. Para mejorar el proceso de imagen, el examinador F442.1 Concepto Básico de la Familia TFM. TFM,
debe considerar lo siguiente: utilizando la unidad de búsqueda, el acoplamiento y la información del material,
(1) Una matriz con un tono pequeño generalmente funcionará puede convertir datos FMC en una imagen representativa del
mejor (el tamaño se normaliza con la longitud de onda). parte que se examina, en relación con su dimensión. Al procesar datos FMC,
(2) Funcionará una matriz con un tamaño de elemento pequeño cada punto dentro de la cuadrícula se calcula
mejor, hasta el punto de que ser demasiado pequeño afecta a la para la matriz dada.
sensibilidad. El método general TFM consiste en calcular el valor de la amplitud, cuya
(3) El volumen del examen debe estar dentro del función generadora depende de la
rango donde la disposición de la unidad de búsqueda naturalmente funciona variante específica de TFM que se aplica, para cada punto de datos
mejor para el material (por ejemplo, el rango está dentro de la atenuación y dentro de la grilla. El nombre “método de enfoque total” se originó del hecho de
divergencia del haz elemental aceptable). que cada punto calculado en la cuadrícula
está pensado para estar perfectamente enfocado.
`,,`,,`,`,,`
Como es el caso con FMC, TFM incluye un conjunto completo

F440 VARIOS
familia de procesos. Una comparación de los métodos genéricos.
F441 CAPTURA DE MATRIZ COMPLETA de enfoque para PAUT convencional y para FMC/TFM enfocado activamente, los
cuales generan una imagen (cuadrícula) fusionada o compuesta, y cuyo nombre
FMC se refiere a la técnica general de adquirir de varias a todas las
depende del
combinaciones de señales de varios a todos los elementos dentro de una apertura
técnica, se ilustra en las Figuras F451.11 y
(ya sea virtual o real).
F451.12.
Los datos del FMC dependen estrictamente del tiempo. El general
El caso de una matriz lineal es que el FMC está compuesto por un
índice del patrón de recepción y otro índice por un
patrón de transmisión, donde cada celda del FMC es un Ascan. TÉCNICAS DEL F450
Algunas variaciones incluyen diferentes formas de onda distintas de
F451 CONVENCIONAL PHASEDARRAY VS.
ondas cilíndricas emanadas de cada elemento; por lo tanto,
FMC/TFM
la matriz puede tener más de tres dimensiones (p. ej.,
índice del transmisor, índice del receptor, Ascan). El subconjunto más elemental La técnica PAUT convencional consiste en haz
del método FMC consiste en adquirir formando con una apertura (unidad de búsqueda virtual) en real
información de todos los elementos receptores en paralelo para tiempo, utilizando leyes de retardo tanto para la transmisión como para la recepción.
cada elemento en la transmisión como se describe en la Tabla lados. Los datos sin procesar generados por cada elemento de la matriz se
F4411. procesan (mediante formación de haces) dentro del
Tabla F4411
Una matriz elemental de transmisión/recepción ilustrada

`

Elementos transmisores
Recepción de elementos 123 norte 1 norte
1 Ascan_1_1 Ascan_2_1 Ascan_3_1 Ascan_N1_1 Ascan_N_1

norte1 Ascan_1_N1 Ascan_2_N2 Ascan_3_N1 Ascan_N1_N1 Ascan_N1_N

norte Ascan_2_N Ascan_2_N Ascan_3_N Ascan_N1_N Ascan_N_N
149

instrumento, creando información de escaneo A en tiempo real y

Figura F451.11
generar imágenes que son esencialmente escaneos A apilados,
Flujo de trabajo genérico FMC/TFM
a diferencia de FMC/TFM, que no forma haces.
F451.1 Proceso de flujo de trabajo típico. Cifras

Leyes focales Adquirir FMC
F451.11 a F451.14 ilustran los procesos de flujo de trabajo típicos
Configuración de TFM
mencionados en F450 e ilustran que
para PAUT lo siguiente es cierto:
(a) El cálculo de la ley de retraso está determinado por el tipo
de reconstrucción de imágenes (exploración sectorial, exploración lineal, etc.) y
Generar TFM
otros parámetros como el tiempo de viaje hasta el punto de enfoque.
(b) El método de adquisición de datos puede determinarse mediante
el tipo de enfoque [típicamente el caso de profundidad dinámica
enfoque (DDF), enfoque de zona, escaneo lineal o sectorial
La amplitud varía demasiado debido al rango de
escanear].
el tamaño de la cuadrícula o por tener una resolución de cuadrícula
(c) El enfoque activo requiere que las leyes focales
demasiado gruesa con respecto a la resolución lateral del sistema. Hay
ser generado antes de la adquisición. Hay varios factores que influyen en el resultado, y una configuración
F451.2 Ventajas del TFM (Enfoque Sintético). inadecuada para un componente determinado puede conducir a malos
Estas son algunas de las ventajas del TFM: resultados en el examen.
(a) Sólo una adquisición de datos FMC es suficiente para generar las Algunos de los parámetros que pueden afectar la fidelidad de la amplitud
diversas imágenes, incluso cuando el equipo procesó una ruta/modo diferente son propiedades físicas, como el material del componente,
durante la adquisición o el Características de la unidad de búsqueda, definición de cuña y posición de
Los datos FMC se almacenaron de manera que el software de procesamiento la cuadrícula en relación con ellas. Otros parámetros que
TFM pudiera reconstruir varias rutas/modos. En lugar de pueden afectar la fidelidad de la amplitud son los ajustes del instrumento FMC
Solo para esa(s) ruta(s)/modo(s), también es posible aplicar varios procesos (p. ej., la frecuencia de muestreo, el rango y la configuración dinámica)
TFM al FMC almacenado. y escenarios y particularidades de los procesos TFM utilizados
(b) Se puede generar un modelo preciso del componente con datos FMC, por el equipo. La definición de la grilla es esencial.
para este control y por lo tanto para el examen.
lo que mejora la resolución y es
una función de la definición de matriz y cuña y de la posición de la cuadrícula. Hay muchas formas de comprobar o calcular la amplitud.
Además, la capacidad de resolver la geometría de componentes y soldaduras fidelidad para una configuración dada. El siguiente es un ejemplo
en la imagen reconstruida ha mejorado. utilizando un orificio perforado lateral (SDH) cerca de la superficie,
ventajas (por ejemplo, verificación de la configuración del equipo y menos aún más allá de la zona muerta, con un SDH adicional colocado 0.2
interpretación ambigua). (5 mm) desde la pared posterior, observando la amplitud
(c) Los entornos (por ejemplo, cálculos de la ley focal) pueden ser respuesta mientras mueve la unidad de búsqueda para cubrir todo
completamente desvinculada de la adquisición. En el caso cuadrícula desde cada extremo de la unidad de búsqueda a lo largo del
de FMC/TFM elemental, las únicas relaciones son la matriz SDH. La exploración a través de los SDH se debe realizar con un
paso, velocidades y, cuando el proceso TFM no es adaptativo, la geometría codificador que emplea un microajuste, como 0,004
relativa de la unidad de búsqueda con la pieza. pulg. (0,1 mm). Si los SDH están separados por 0,2 pulgadas (5
(d) Oferta de métodos TFM complejos o de alto rendimiento mm) o menos, debido al espesor, entonces un agujero es adecuado.
mayor flexibilidad para corregir la falta de conocimiento de Cuando se utilizan dos agujeros, es necesario espaciarlos
la pieza inspeccionada y sus características, mejorar la resolución, mejorar suficientemente lateralmente para evitar que la respuesta de uno influya en
el perfilado de la indicación, reducir el ruido estructural del material, etc. el otro.

Este ejemplo consiste en mover la unidad de búsqueda a lo largo
la pieza de prueba lateralmente de manera que la rejilla que se utilizará durante
TFM es el resultado del cálculo a partir de datos que fueron
El examen escanea los SDH y muestra cada uno de ellos.
adquirido de forma independiente. Trae posibilidades como
a lo largo del eje lateral. La amplitud de la señal puede ser
utilizando procesamiento diferente, con los mismos datos FMC, en
observado y medido para cada posición de la rejilla en relación con los SDH.
al mismo tiempo o en posprocesamiento, utilizando diferentes algoritmos.
Esto puede ser ventajoso para un escenario de examen particular.
La fidelidad de amplitud es la medida en variación.
de la respuesta de amplitud máxima de cada SDH entre los puntos
consecutivos de la grilla, para todo el
cuadrícula, cuando el SDH cruza a lo largo de su eje lateral.
CALIBRACIÓN F460
F461 FIDELIDAD DE AMPLITUD
En términos simples, la fidelidad de amplitud es la preservación digital de

la información de amplitud de la señal. La diferencia
Es una variación en la sensibilidad. El problema puede ser que
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
150

Figura F451.12 Flujo

de trabajo de enfoque activo
Leyes focales Leyes focales Leyes focales
Configuración de imágenes Configuración de imágenes Configuración de TFM
Adquirir Adquirir Adquirir

datos unisecuenciales datos unisecuenciales datos unisecuenciales
Generar imagen de Generar Generar imagen TFM
escaneo B imagen de
escaneo del sector
Figura F451.13 Flujo

de trabajo de enfoque activo con adquisición de datos FMC
Leyes focales Leyes focales Leyes focales Adquirir FMC

Configuración de imágenes Configuración de imágenes Configuración de TFM
Generar imagen de Generar Generar imagen TFM

escaneo B escaneo sectorial
imagen
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 151

NOTA: En el caso de TFM, se prefiere la palabra “modo” a “trayectoria”

Figura F451.14 porque en UT convencional, ya sea PAUT o no, el término “trayectoria”
Ejemplo de un flujo de trabajo iterativo FMC/TFM como una transmite correctamente la forma en que ocurre la interacción de las
adaptación del que se muestra en la ondas dentro del material (múltiples (los caminos ocurren dentro del
Figura F451.11 mismo modo), haya o no reflexión, considerando implícitamente la
propagación de la onda dentro de un haz, y por lo tanto la noción de
trazado de rayos también es correcta. En el caso de TFM, cada dato se
Adquirir FMC calcula y no es el resultado de la interacción del haz dentro del material.
Iterar dentro del cuadro Por lo tanto, la noción de trazado de rayos no se aplica al dato en sí,
sino sólo a las ondas sonoras individuales entre los patrones de transmisión y recepción.
Configuración de TFM
La Tabla F4711 y la Figura F4711 proporcionan ejemplos de diferentes
rutas/modos posibles, pero las rutas/modos mostrados no deben
considerarse una lista completa, ya que las Figuras podrían ampliarse con
información adicional. variables.
Generar TFM
Denotados aquí por “modos”, los diferentes tipos de
posibles rutas de sonido UT incluyen “rutas directas” L–L,
Extracción de características L–T, T–L y TT y “rutas de esquina” L–LL, T–TT y L. –TT,
donde “L” significa onda longitudinal y “T” onda transversal
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
(onda de corte). Se puede aplicar la misma nomenclatura
NOTA GENERAL: FMC/TFM iterativo se puede utilizar para algunos casos de básica para cada vía/modo posible. Por lo tanto, el
TFM adaptativo o para extracción de características (por ejemplo, para mejorar examinador puede obtener, mediante TFM, una imagen
la resolución o reducir el ruido de la estructura del material). correspondiente a un modo simplemente reemplazando en
el paso computacional en los cálculos TOF del TFM con
cálculos adecuados correspondientes a un modo o modos
NOTA: El examinador debe asegurarse de que la cuadrícula tenga una resolución
específicos. Las diferentes rutas o modos pueden procesarse
lo suficientemente fina como para garantizar la fidelidad de amplitud y que cumpla
con el requisito del Artículo 4, Apéndice obligatorio XI, XI461. Por ejemplo, en un
con TFM a partir de los mismos datos del FMC sólo si el
caso extremo con una rejilla demasiado gruesa, es posible que el examinador
rango de escaneo A de cada celda del FMC es suficiente para contribuir al cálc
simplemente no detecte un reflector pequeño. Cuando se utiliza una matriz grande Entonces es posible TFM multipath/multimodo dentro de una
de alta frecuencia, la resolución lateral puede ser mucho más fina de lo esperado sola adquisición FMC, ya sea en posprocesamiento o en
en una matriz más pequeña de baja frecuencia o desenfocada. La misma situación tiempo real si el equipo ofrece esta característica.
puede ocurrir con una unidad de búsqueda que tiene una definición inadecuada o,
en algunos casos, una falta de coincidencia entre la definición de cuña y matriz,
especialmente en lo que respecta a la posición de la cuadrícula con respecto a ellas.
La verificación de la fidelidad de la amplitud se realizará

para cada ruta/modo que se utilizará durante la
inspección, y el UT del instrumento y los ajustes
mecánicos serán los mismos que los utilizados para el examen.
EXAMEN F470
F471 RUTAS/MODOS ULTRASONICOS
Para hacer posible la obtención de imágenes de defectos

detectados a través de una multiplicidad de modos posibles
(incluyendo difracción de punta, reflexión, ecos de esquina y
conversión de modo), el algoritmo TFM se ha generalizado de
la siguiente manera.
152
`,``,``,,`,`,,``
`,,`,,`,`,,` ASME BPVC.V2019
Tabla F4711
Rutas/modos de imágenes ultrasónicas

ARTÍCULO 4
Ejemplo ilustrado de una ruta de imágenes [Nota (1)] Modo [Nota (2)]
Transmisión directa, recepción directa: T – T, L – L
Dato
Transmisión directa, recepción indirecta o transmisión indirecta, recepción directa: T–TT,

TT–T, LL–L, L–LL, LT–T, T–TL, TT–L, L–TT
Dato
Transmisión indirecta, recepción indirecta: TT–TT, LL–LL, TL–LT
Dato
Transmisión directa, recepción directa: L – L, T – T
Dato
Transmisión indirecta, recepción indirecta: TT–TT, LL–LL, TL–LT

`

Dato
NOTAS: (1) Cada
boceto es representativo de una ruta específica de un modo.
(2) Esta no es una lista exhaustiva de modos.
153

Figura F4711
Ejemplos de modos de imágenes ultrasónicas
Patrón de transmisión/apertura
Pared posterior Pared posterior Pared posterior
Dato
Pared posterior
Patrón de recepción/apertura
l LL LT LLL LT–T LTTL

[Nota 1)] [Nota 2)] [Nota 3)] [Nota (4)] [Nota (5)] [Nota (6)]
NOTAS GENERALES:
(a) Esta figura muestra algunos de los diferentes modos que están disponibles. L indica onda longitudinal y T indica transversal (onda de corte).
Se ilustran algunos ejemplos de diferentes modos con pulso eco FMC y tonocaptura, incluida la transmisión y recepción longitudinal (TRL), utilizando
sondas separadas para pulso y recepción.
(b) Dos letras mayúsculas colocadas juntas (por ejemplo, L–L) representan una ruta/modo que se refleja a partir de un datum. Un guión incorporado a esta
nomenclatura (por ejemplo, LL–L) indica el sonido que regresa a la unidad
de búsqueda. (c) Otros medios para identificar la ruta/modos que ocurren en la industria. Por ejemplo, las letras pueden indicar un cambio en la dirección del sonido. En este caso,
“LL–L” sería “LrbLdL”, donde “rb” indica “rebote” (desde la pared trasera, etc.) y “d” indica un dato.
NOTAS:
(1) L = diafonía de ondas longitudinales; sin interacción con el dato (punto de imagen).
(2) L – L = directo: onda longitudinal directamente al dato y onda longitudinal directamente desde el dato.
(3) L – T = directo: onda longitudinal directamente al datum y onda transversal directamente desde el datum.
(4) LL–L = medio salto: onda longitudinal que se refleja desde la pared posterior sin conversión de modo en su camino hacia el punto de referencia y onda longitudinal di
directamente del dato.
(5) LT–T = medio salto: onda longitudinal que se refleja desde la pared posterior con conversión de modo en su camino hacia el punto de referencia y onda transversal directamente
del dato.
(6) LT–TL = salto completo: onda longitudinal que se refleja desde la pared posterior con conversión de modo en su camino hacia el punto de referencia y onda transversal que se refleja
desde la pared posterior con conversión de modo en su camino desde el punto de referencia.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
154

F472 SELECCIÓN DEL(LOS) CAMINO(S)/MODO(S) detección de un reflector plano (indicación vertical o en forma de grieta)
independientemente de la orientación cuando la unidad de búsqueda y
Dado que el FMC puede considerarse común a todos los modos, la
el método de acoplamiento está diseñado adecuadamente.
selección de las rutas/modos se puede realizar durante el análisis si se han
registrado los datos del FMC. Si esto no es El mismo FMC proporciona acceso a imágenes correspondientes a
diferentes trayectorias UT posibles (por ejemplo, difracción de punta, ecos
preferible por cualquier motivo, es necesario realizar la selección antes de
de esquina, conversiones de modo). Dado que es posible
la adquisición.
La selección de los modos puede seguir los mismos criterios que en calcular todas las rutas/modos a partir de los mismos datos FMC, cuando
Si la adquisición se realiza correctamente y las funciones están incluidas en
UT o PAUT convencional. Es importante recordar
el instrumento, es posible fusionar diferentes
que aunque comúnmente son dibujados o representados en
rutas/modos, creando así una reconstrucción del componente y lo que
De esta manera, el método para crear el conjunto de datos FMC
contiene.
Es completamente diferente y no tiene nada que ver con el trazado de rayos.
Las similitudes incluyen lo siguiente:
(a) Las ondas de corte proporcionan una longitud de onda corta para una EVALUACIÓN DEL F480
resolución más pequeña y una mejor sensibilidad a los defectos planos, pero
F481 DETECCIÓN
La penetración es cuestionable para algunos materiales. Sin embargo, la
generación de ondas de corte debe estar presente en el FMC. TFM no necesariamente mejora la resolución o la sensibilidad, que
proceso. dependen más de la matriz, la definición de la cuña y el método particular
NOTA: Una apertura colocada en un componente con una orientación hacia utilizado. El potencial para
el reflector que no concuerda con la física de la generación de corte o, por La mejor resolución mejora cuando las unidades de búsqueda están
ejemplo, sin una refracción significativa presenta un riesgo. diseñado adecuadamente para el examen. Además, el absoluto
de generar tan pocas ondas de corte que la reconstrucción aún sería
La capacidad de detección del método FMC/TFM puede mejorarse cuando
ser imposible por TFM a pesar del poder de dicho procesamiento.
se considera una combinación de rutas/modos. La detección de una
(b) Modo(s) indirecto(s) (por ejemplo, LL–L, TT–T) y conversión indicación situada donde
Los modos (p. ej., LTL) permiten seguir el perfil. De lo contrario, el defecto quedaría oculto por la geometría es una ventaja
de una indicación orientada verticalmente, mientras que los modos directos potencial de esta técnica. Tener una imagen mejorada generalmente
(p. ej., L–L, T–T) o modos de reflexión (p. ej., LL–LL, TT–TT) conduce a una imagen mejor y más precisa.
proporcionar más sensibilidad y precisión a la(s) punta(s) de Interpretación de la imagen y las diferentes indicaciones.
la indicación de otras orientaciones de defectos. dentro de.
F473 ORIENTACIÓN Y SENSIBILIDAD DE DEFECTOS
Suponiendo que la sonda y la cuña estén diseñadas correctamente,

Todos los ángulos de incidencia que se pueden lograr con la matriz
contribuyen a la imagen. La técnica proporciona una óptima
155`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE G NO OBLIGATORIO
CONFIGURACIÓN DEL BLOQUE DE CALIBRACIÓN ALTERNA
G410 ALCANCE (b) Cuando la relación R/Rc es inferior a 1,0, la ganancia cor
La corrección debe obtenerse de la Figura G461(b).
Este Apéndice proporciona orientación para el uso de bloques de calibración
(c) Ejemplo. Material con un radio de 10 pulg. (250 mm) (R)
básicos planos de varios espesores para calibrar el ex.
se examinará con un instrumento de 2,25 MHz de 1 pulgada (25 mm) de diámetro
Aminación de materiales de superficie convexa de más de 20 pulgadas.
unidad de búsqueda con revestimiento de carburo de boro que utiliza glicerina como
(500 mm) de diámetro. Un ajuste de la ganancia del receptor.
acoplamiento.
Puede ser necesario cuando se utilizan bloques de calibración planos.
(1) Determine el factor de transductor apropiado, F1,
Las correcciones de ganancia se aplican a la porción de campo lejano del
del Cuadro G461; F1 = 92,9.
haz de sonido.
(2) Determine el Rc de la Figura G461(a);
Rc = 100 pulgadas (2 500 mm).
CALIBRACIÓN G460 (3) Calcule la relación R/Rc; 10 pulg./100 pulg. = 0,1

(250 mm/2 500 mm = 0,1).
G461 DETERMINACIÓN DE CORRECCIÓN DE GANANCIA
(4) Usando la Figura G461(b), obtenga el aumento de ganancia
Para determinar el aumento requerido en la ganancia, la relación de requerido; 12 dB.
El radio del material, R, al radio crítico del transductor, Rc, debe evaluarse de la Este aumento de ganancia calibra el examen en el
siguiente manera. superficie curva después de establecer la sensibilidad de calibración

sobre un bloque de calibración plano.
(a) Cuando la relación de R/Rc, el radio de curvatura de
el material R dividido por el radio crítico del transductor Rc de la Tabla G461 y la
Figura G461(a), es igual
igual o superior a 1,0, no se requiere corrección de ganancia.
Tabla G461
Factor de transductor, F1, para varios ultrasonidos

Diámetros y frecuencias del transductor
Unidades habituales de EE. UU.
Diámetros del transductor, pulg.

0,25 0,5 0,75 1.0 1.125
`,``,``,,`,`,,``
Frecuencia,
megahercio F1, en.
1,0 2,58 10,3 23,2 41,3 52.3
2,25 5,81 23,2 52,2 92,9 118
5,0 12,9 51,2 116 207 262
10,0 25,8 103 232 413 523
Unidades SI
Diámetros del transductor, mm

6.4 13 19 25 29
Frecuencia,
megahercio F1, milímetros
1,0 65,5 262 590 1 049 1 328

2,25 148 590 1 327 2 360 2 987
5,0 328 1 314 2 958 5 258 6 655
10,0 655 2 622 5 900 10 490 13 276

156

Figura G461(a)
Radio crítico, RC, para combinaciones de transductor/acoplador
1.000 (25.000)
500 (12 500)
200 (5 000)
100 (2500)
50 (1 250)
`,``,``,,`,`,,````,`,``,
B
up(
glm
sada)m
rR
cr
C
,ooci,dtcía
20 (500)
10 (250)
Y
5 (125)
2 (50)
1 (25)
0,5 (13)
1.0 2.0 5.0 10 20 50 100 200 500
Factor del transductor, F1
Curva Acoplamiento Cara de desgaste del transductor
A Aceite de motor o agua Óxido de aluminio o carburo de boro

B Aceite de motor o agua Cuarzo
Glicerina o sin. éster Glicerina Óxido de aluminio o carburo de boro
C o sin. éster Aceite de motor Cuarzo

D o agua El plastico
Y Glicerina o sin. ester El plastico
157

158
Figura
G461(b)
BPVC.V2019
ASME
Factor
de
corrección
(ganancia)
para
diversos
parámetros
de
examen
ultrasónico

`4
ARTÍCULO
`,,`,,`,`,,`
`,``,``,,`,`,,
APÉNDICE I NO OBLIGATORIO
EXAMEN DE SOLDADURA UTILIZANDO UNIDADES DE BÚSQUEDA DE HAZ ANGULAR
ALCANCE DE LA I410 en el rango de 60 grados a 70 grados (con respecto a la perpendicular

a la superficie de examen) se utilizará en este volumen de t/4.
Este Apéndice describe un método de examen de
soldaduras utilizando unidades de búsqueda de haz angular.
I472 EXCEPCIONES AL ESCANEO GENERAL

REQUISITOS
Se pueden utilizar otros ángulos para examinar: (a)

EXAMEN I470
soldaduras de bridas, cuando el examen se realiza desde la cara
I471 REQUISITOS GENERALES DE ESCANEO de la brida; b) boquillas
y soldaduras de boquillas, cuando el examen se realice desde el
Generalmente se utilizarán tres haces angulares, con ángulos
orificio de la boquilla;
nominales de 45 grados, 60 grados y 70 grados (con respecto a una
(c) soldaduras de fijación y soporte; (d)
perpendicular a la superficie de examen). Se permiten ángulos de
examen de uniones de doble cono.
haz distintos de 45 grados y 60 grados siempre que la diferencia
medida entre ángulos sea de al menos 10 grados. Se deberá realizar
COBERTURA DEL EXAMEN I473
un examen adicional con haz de ángulo de volumen de t/4 en el
1
volumen del material dentro de /4 del espesor adyacente a la Cada pasada de la unidad de búsqueda deberá superponerse a
superficie de examen. Vigas en ángulo de onda longitudinal o de un mínimo del 50 % de la dimensión del transductor activo
corte de elemento simple o doble (elemento piezoeléctrico) perpendicular a la dirección de la exploración.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 159

APÉNDICE J NO OBLIGATORIO
BLOQUE DE CALIBRACIÓN BÁSICA ALTERNATIVA
ALCANCE DEL J410 y es un factor durante el examen, el bloque de calibración deberá

diseñarse para que sea representativo de esta combinación.
Este Apéndice contiene la descripción de una alternativa al Artículo
4, T434.2 para los bloques de calibración básicos utilizados para técnicas
(c) Tratamiento térmico. El bloque de calibración deberá recibir al
de calibración de corrección de distanciaamplitud (DAC). menos el tratamiento de templado mínimo requerido por la especificación
del material para el tipo y grado y un tratamiento térmico posterior a la
soldadura de al menos 2 horas. (d) Acabado
superficial. El acabado de las superficies del bloque será representativo
EQUIPO J430 de los acabados superficiales del componente. (e) Calidad del bloque. El
material del bloque
BLOQUE DE CALIBRACIÓN BÁSICA J431
de calibración se examinará completamente con una unidad de
Los bloques de calibración básica que contienen reflectores de búsqueda de haz recto.
calibración básica para establecer una respuesta de referencia primaria Las áreas que contengan indicaciones que superen la retrorreflexión
del equipo y construir una curva de corrección de distanciaamplitud restante deberán excluirse de las trayectorias del haz necesarias para
serán como se muestra en la Figura J431. Los reflectores de calibración alcanzar los distintos reflectores de calibración.
básica se ubicarán ya sea en el
material componente o en un bloque de calibración básico. J433 REFLECTORES DE CALIBRACIÓN
(a) Reflectores de calibración básica. El lado de un orificio perforado

J432 MATERIAL DEL BLOQUE DE CALIBRACIÓN BÁSICA con su eje paralelo a la superficie de examen es el reflector de calibración
básico. También se utilizará una muesca cuadrada. La superficie
(a) Selección de Bloque. El material del que está hecho el bloque.
reflectante de las muescas será perpendicular a la superficie del bloque.
se fabrica deberá ser de uno de los siguientes: (1) caída de
Consulte la Figura J431.
la boquilla del componente; (2) una prolongación (b) Línea de trazado. Se trazará una línea como se muestra en la
del componente; (3) material con la Figura J431 en la dirección del espesor a través de las líneas centrales
misma especificación, forma del producto y condición de tratamiento de los orificios en línea y se continuará a través de las dos áreas de examen.
térmico que el material al que se aplica la unidad de búsqueda durante superficies de inación del bloque.
el examen. (c) Reflectores adicionales. Se pueden instalar reflectores adicionales;
estos reflectores no interferirán con el establecimiento de la referencia
(b) Revestido. Cuando el material del componente está revestido y el primaria. (d) Configuración básica del
revestimiento es un factor durante el examen, el bloque debe revestirse bloque de calibración. La Figura J431 muestra la configuración del
hasta el espesor nominal del componente revestido ±1/8 pulg. (3 mm). bloque con el tamaño y la ubicación del orificio.
La deposición del revestimiento se realizará mediante el mismo método Cada espesor de soldadura en el componente debe estar representado
(es decir, laminado, depósito de soldadura manual, depósito de alambre por un bloque que tenga un espesor relativo a la soldadura del
`,``,``,,`,`,,``
automático o depósito de tira automática) que se utiliza para revestir el componente como se muestra en la Figura J431. Cuando el espesor del
componente que se va a examinar. Cuando el método de revestimiento bloque ±1 pulg. (±25 mm) abarca dos de los rangos de espesor de
no se conoce o el método de revestimiento utilizado en el componente soldadura que se muestran en la Figura J431, el uso del bloque deberá
no es práctico para el revestimiento de bloques, la deposición del ser aceptable en aquellas porciones de cada rango de espesor cubiertas
revestimiento puede realizarse mediante el método manual. Cuando los por 1 pulg. (25 mm). . Los agujeros deberán ser de acuerdo con el
materiales base en lados opuestos de una soldadura están revestidos espesor del bloque. Cuando se trate de dos o más espesores de material
con diferentes números P, A o F o designaciones o métodos de materiales, base, el espesor del bloque de calibración deberá ser suficiente para
el bloque de calibración debe revestirse con los mismos números P, A o contener toda la trayectoria del haz de examen. (e) Soldaduras en
F. o designaciones de materiales utilizando el mismo método utilizado en materiales con diámetros
el lado de la soldadura desde donde se realizará el examen. Cuando el mayores a 20 pulgadas (500 mm). Para el examen de soldaduras en
examen se realiza desde ambos lados de la soldadura, el bloque de materiales donde el diámetro de la superficie de examen es superior a 20
calibración deberá proporcionar la calibración tanto para los materiales pulgadas (500 mm), se puede usar un único bloque de calibración básico
como para los métodos de revestimiento. Para soldaduras revestidas con curvo para calibrar los exámenes con haz recto y en ángulo en superficies
un material o método diferente al de los materiales base contiguos, en el rango de curvatura de 0,9.

160

Figura J431
Bloque de calibración básica
2 pulgadas de largo, 1/8 a 1/4 pulgadas de diámetro. extremo plano;
(50 mm de largo, 3 a 6 mm)

muescas de fresado de 2 T de profundidad [Nota (3)]
Ver A
2
A través del espesor del revestimiento
pulgadas (50 mm)
2 T de profundidad en el metal base
2 pulgadas (50 mm)

Agujeros inferiores redondos
T/2 de profundidad [Notas (1), (3),
3 pulg. (75 mm) [Nota (1)]
(6) y (7)
T/4 Revestido [Nota (4)]
Líneas de trazado
T/2
T/4 6 pulg. (150 mm) [Nota (1)]
Perforado y escariado
T/4 [Nota (1)] orificios de 3 pulg. (75 mm) T/2 [Nota (1)]
T/4 [Nota (1)] profundo [Nota (1)]

Líneas de trazado
T/4 [Nota (1)] 13/4T [Nota (1)]
3T [Nota (1)]
Ver A [Nota (5)]
Pasos de 1/2 pulg. (13 mm) en T
T/4
T/4
revestido
T/2
1 pulgada (25 mm) mín. pasos
más allá de T/2
Agujero inferior redondo
Diámetro, pulg. (mm)

Espesor del bloque de calibración básica Diámetro del orificio perforado lateral, [Nota (3)] y [Nota
Espesor de soldadura t, pulg. (mm) T, pulg. (mm) pulg. (mm) [Nota (3)] (6)]
3 3
Más de 2 a 4 (50 a 100) 3 o t (75 o t) 5 o t /16 (5) /8 (10)
1 7
Más de 4 a 6 (100 a 150) (125 o t) 7 o t (175 /4 (6) /16 (11)
5 1
Más de 6 a 8 (150 a 200) o t) 9 o t (225 o t) 11 /16 (8) /2 (13)
3 9
Más de 8 a 10 (200 a 250) o t (275 o t) 13 o t /8 (10) /16 (14)
7 5
Más de 10 a 12 (250 a 300) (325 o t) t ± 1(t±25) /16 (11) /8 (16)
1
Más de 12 a 14 años (300 a 350) /2 (13) 16/11 (17)
Mayores de 14 (350) [Nota 2)] [Nota 2)]
NOTAS:
(1) Dimensiones mínimas.

1
(2) Por cada aumento en el espesor de la soldadura de 2 pulgadas (50 mm) o fracción del mismo sobre 14 pulgadas (356 mm), el diámetro del orificio aumentará /16 pulg.
(1,5 milímetros).
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 161

Figura J431
Bloque de calibración básica (continuación)
NOTAS
(CONTINUACIÓN): (3) Las tolerancias para los diámetros de los orificios serán de ±1/32 pulg. (0,8 mm); las tolerancias en la profundidad de la muesca serán de +10 y −20% (solo es necesario
mantenerlas en el espesor de revestimiento más delgado a lo largo de la superficie reflectante de la muesca); la tolerancia en la ubicación del orificio a través del espesor será de ±1/8
pulg. (3 mm); Las tolerancias perpendiculares en la superficie reflectante de la muesca deben ser de ±2 grados. La tolerancia en la longitud de la muesca debe ser de ±1/4 pulg. (±6 mm).
(4) El revestimiento no se incluirá en T.
1
(5) Orificios de calibración del subsuelo Se deben perforar /8 pulg. (3 mm) (máximo) de diámetro por 11 /2 pulg. (38 mm) de profundidad (mínimo) en el revestimiento a la
1
1 interfaz de metal y en 1 Incrementos de /2 pulg. (13 mm) hasta T/4 desde la superficie del revestimiento, también en base /2 pulg. (13 mm) desde la superficie no revestida y en
Incrementos de /2 pulg. (13 mm) hasta T/4 desde la superficie sin revestir. En cada caso, el agujero más cercano a la superficie se perforará a T/2 del borde del bloque.
1
Agujeros en vals de T/2. Se deben perforar incrementos de espesor de /2 pulg. (13 mm) desde el orificio cercano a la superficie a una distancia mínima de 1 pulg. (25 mm).
(6) Los orificios inferiores redondos (hemisféricos) se perforarán solo cuando lo requiera una Sección del Código de Referencia para mediciones de extensión de vigas (ver
T434.1) y se utilice la técnica de B60. Los orificios de fondo redondo pueden ubicarse en el bloque más grande de un conjunto de bloques de calibración básicos, o en
un bloque separado que representa el espesor máximo a examinar.
(7) El orificio T/2 puede estar ubicado en el extremo opuesto del bloque.
a 1,5 veces el diámetro del bloque de calibración básico. alternativa para calibrar el examen en superficies en el rango de curvatura de 0,9 a 1,5 veces
Alternativamente, se puede utilizar un bloque de calibración básico plano siempre el diámetro del bloque de calibración básico. Por ejemplo, se puede utilizar un
que el radio de curvatura mínimo convexo, cóncavo o compuesto a examinar sea bloque curvo de 8 pulgadas (200 mm) de diámetro para calibrar el examen en
mayor que el radio crítico determinado por el Artículo 4, Apéndice A no obligatorio. superficies en el rango de curvatura de 7,2 pulgadas a 12 pulgadas (180 mm a 300
mm) de diámetro. El rango de curvatura de 0,94 pulg. a 20 pulg. (24 mm a 500 mm)
Para fines de esta determinación, se deberá utilizar la dimensión de la superficie de de diámetro requiere seis curvaturas de bloque como se indica en la Figura
contacto plana de las unidades de búsqueda de haz recto o angular tangente al T434.1.7.2 para cualquier rango de espesor como se indica en la Figura J431. (g)
radio mínimo en lugar del diámetro del transductor en la Tabla A10. Retención y Control. Todos los bloques de calibración básicos para el examen
deberán cumplir con los requisitos de retención y control de la Sección del Código
(f) Soldaduras en materiales con diámetros de 20 pulgadas (500 mm) y menos. de
El bloque de calibración básico deberá ser curvado para referencia.
soldaduras en materiales con diámetros de 20 pulgadas (500 mm) y menos. Se
puede utilizar un único bloque de calibración básico curvo.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
162

`,,`,,`,`
`,``,``,, ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4
APÉNDICE K NO OBLIGATORIO
REGISTRO DE DATOS DEL EXAMEN DE HAZ RECTO PARA PLANAR
REFLECTORES
ALCANCE K410 K490 REGISTROS/DOCUMENTACIÓN

`

Este Apéndice describe un método para registrar datos de examen de haz recto para reflectores planos cuando se va a realizar un dimensionamiento Registre todos los reflectores que produzcan una respuesta igual o superior al 50% de la corrección de distanciaamplitud (DAC). Sin embargo, no
basado en la amplitud. es necesario registrar los reflejos de la interfaz revestida y de la pared posterior. Registre todas las dimensiones de ubicación y posición de la unidad de
búsqueda al décimo de pulgada más cercano.
EXAMEN K470
K471 SUPERPOSICIÓN
Obtenga datos de escaneos sucesivos en incrementos no
mayor que nueve décimos de la dimensión del transductor medida paralelamente al cambio del incremento de escaneo (superposición del 10%). Registre
los datos para los puntos finales según lo determinado por el 50% del DAC.
163

APÉNDICE L NO OBLIGATORIO
DEMOSTRACIÓN DE TAMAÑO TOFD/SONDA DOBLE — COMPUTADORA
TÉCNICA DE IMAGEN
ALCANCE DEL L410 CALIBRACIÓN L460
Este Apéndice proporciona una metodología que se puede utilizar SISTEMA L461
para demostrar la capacidad de un sistema UT para determinar con
El sistema se calibrará según el procedimiento que se
precisión la profundidad y la longitud de las muescas mecanizadas
demostrado.
en la superficie que se originan en la superficie de examen a partir
de las señales difractadas resultantes cuando se utiliza una sonda
dual sin amplitud, difracción de tiempo de vuelo (TOFD). , se utiliza VERIFICACIONES DEL SISTEMA L462
la técnica de imágenes por computadora (CIT) e incluye un sistema
de clasificación/tamaño de fallas. Antes de la demostración se realizarán los siguientes controles:
(a) Verificación del codificador posicional. El codificador posicional

L420 GENERALIDADES
se moverá a lo largo de una distancia medida de 20 pulgadas (500
Los requisitos del Artículo 4 se aplican excepto según se modifique en este documento. mm). La lectura del sistema deberá estar dentro del 1% de la
distancia medida. Los codificadores que no superen esta verificación
se recalibrarán y se repetirá esta verificación.
EQUIPO L430
(b) Verificación de espesor. Se realizará un recorrido libre en el
SISTEMA L431 bloque de medición. La distancia entre la onda lateral y la primera
señal de la pared posterior será de +0,02 pulgadas (+0,5 mm) del
El equipo del sistema [por ejemplo, unidad UT, computadora,
espesor medido del bloque. En las configuraciones que no superen
software, escáner(es), unidad(es) de búsqueda, cable(s), acoplador(es),
esta verificación, se ajustará la distancia de separación de la sonda
codificador(es), etc.] se deberá describir en el procedimiento escrito.
o se cambiará su valor programado y se repetirá esta verificación.
L432 BLOQUE DEMOSTRATIVO
(a) El material y la forma del bloque (plano o curvo) serán los

mismos que los deseados para demostrar la precisión del sistema.
(b) El EXAMEN L470
bloque deberá contener un mínimo de tres muescas mecanizadas
El bloque de demostración se escaneará según el procedimiento
a profundidades de T/4, T/2 y 3T/4 y con longitudes (L) y, si
y se registrarán los datos.
corresponde, orientación como la deseada para demostrar la
precisión del tamaño del sistema. Vea la Figura L432 para ver un Las demostraciones se pueden realizar utilizando: (a)
ejemplo. Técnicas de escaneo D (escaneo no paralelo) (b)
Es posible que sean necesarias muescas adicionales dependiendo de: Técnicas de escaneo B (escaneo paralelo)
(1) el espesor del bloque; (2) el (c) Técnicas de escaneo D (escaneo no paralelo) con las muescas
número de zonas de examen en las que se divide el espesor desplazadas en cantidades variables a ambos lados de estar
del bloque; (3) si las centrado.
zonas tienen o no el mismo espesor /3, /2 y el fondo
1
(por ejemplo: tres zonas podrían dividirse en una zona media
1 1 1
superior /3 y abajo /3 frente a superior /4, medio
1
/4); y (4) EVALUACIÓN L480
las profundidades que se desean demostrar. (c) L481 DETERMINACIONES DE TAMAÑO
Antes de mecanizar las muescas, el material del bloque a través
del cual deben viajar las rutas del sonido se examinará con el La profundidad de las muescas desde la superficie de escaneo y
equipo del sistema para garantizar que no contenga reflectores que su longitud se determinarán según el procedimiento que se
interfieran con la demostración. demostrará.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
164

`,,`,,`,`,,`
`,``,``,,`,`, ASME BPVC.V2019
Figura L432
Ejemplo de bloque de demostración plano que contiene tres muescas
ARTÍCULO 4
Máx. 0,20 pulgadas. Máx. de 1/4 de

(5 milímetros) longitud de onda UT
Detalles de muesca
O
Superficie de examen
60 tu 60 tu
2 pulgadas (50 mm)

mi. (tipo.) l mi. (tipo.) l (tipo.)
t
/4
t
/2
t
t
3/4
`

C/L
NOTA GENERAL: La longitud y el ancho del bloque deben ser adecuados para el UT System Scanner.
L482 DETERMINACIONES DE EXACTITUD DE TAMAÑO SISTEMA DE CLASIFICACIÓN/CLASIFICACIÓN L483
La precisión del tamaño (%) se determinará mediante las

L483.1 Dimensionamiento. Los defectos se clasificarán de la siguiente manera:
siguientes ecuaciones:
(a) Profundidad: (a) Defectos conectados a la superficie superior. Indicaciones de falla
que consisten únicamente en una señal difractada en la punta inferior y con un
debilitamiento, desplazamiento o interrupción asociados del lateral
Se considerará que la señal de onda se extiende hasta la superficie
superior a menos que se evalúe adicionalmente mediante otros métodos de NDE.
(b) Longitud: (b) Defectos Incrustados. Indicaciones de fallo tanto con un
señal difractada de las puntas superior e inferior o únicamente una
señal difractada de la punta superior y sin debilitamiento asociado,
El desplazamiento o la interrupción de la señal de la pared trasera se
considerarán incorporados.
donde Dd y Ld son la profundidad y longitud de las muescas, (c) Defectos conectados a la superficie inferior. Indicaciones de falla
respectivamente, según lo determinado por el sistema UT que se que consiste únicamente en una señal difractada en la punta superior y con
está demostrando, y
un desplazamiento asociado de la pared posterior o una interrupción de la
Dm y Lm son la profundidad y longitud de las muescas,
señal de la pared trasera, se considerará que se extiende hasta la
respectivamente, según lo determinado por medición física (es decir, tales
superficie inferior a menos que otra ECM lo evalúe más a fondo
como replicación) métodos.
NOTA: Utilice unidades consistentes.
L483.2 Determinación de la altura del defecto. Altura del defecto

(dimensión a través de la pared) se determinará de la siguiente manera:
(a) Defectos conectados a la superficie superior. La altura de una falla

conectada a la superficie superior se determinará por la distancia entre la onda
lateral de la superficie superior y la
señal difractada en la punta inferior.
165

(b) Defectos Incrustados. La altura (h) de una falla L483.3 Determinación de la longitud del defecto. La longitud del
empotrada estará determinada por: defecto se determinará por la distancia entre los cursos hiperbólicos
(1) la distancia entre la señal difractada de la punta de ajuste final o los puntos finales del defecto después de que se
superior y la señal difractada de la punta haya ejecutado un programa de técnica de enfoque de apertura
inferior o (2) el siguiente cálculo para fallas con solo una sintética (SAFT) en los datos.
señal difractada de la punta superior singular:
DOCUMENTACIÓN L490
dónde L491 INFORME DE DEMOSTRACIÓN
c = velocidad longitudinal del sonido Además de los elementos aplicables en T492, el informe de
d = profundidad del defecto debajo de la superficie de demostración deberá contener la siguiente información: (a)
escaneo s = mitad de la distancia entre el índice de las dos sondas
identificación y revisión del programa computarizado; b)
puntos
td = el tiempo de vuelo a una modo(s) de propagación de ondas utilizado;
profundidad d tp = la duración del pulso acústico (c) configuración del bloque de demostración (material,
NOTA: Utilice unidades consistentes.
espesor y curvatura);
(d) profundidades de las muescas, longitudes y, si
(c) Defectos conectados a la superficie inferior. La altura de
corresponde, orientación (es decir, axial o circunferencial);
una falla conectada a la superficie inferior estará determinada
por la distancia entre la señal difractada de la punta superior y la (e) configuración del instrumento y datos de escaneo;
señal de la pared posterior. (f) resultados de precisión.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
166

`,``,``,,`,`,,``
`,,`,,`,`,,` ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4
APÉNDICE M NO OBLIGATORIO
TÉCNICAS GENERALES PARA LA ONDA LONGITUDINAL DEL HAZ ANGULAR
CALIBRACIONES
ALCANCE M410 M461.1.2 Ajuste del control de rango.14 Posicione la unidad de búsqueda para la
indicación máxima desde el
3
Este Apéndice proporciona técnicas generales para la calibración de ondas /4T SDH. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 6 en la pantalla con el
longitudinales de haz angular. Se pueden utilizar otras técnicas. El rango de barrido se control de rango.
puede calibrar en términos de trayectoria del metal, distancia de la superficie proyectada
M461.1.3 Repetir Ajustes. Repita los ajustes de retardo y rango hasta que las
o profundidad real hasta el reflector. El método particular puede seleccionarse según la 1 3
indicaciones /4T y /4T SDH comiencen en las líneas de barrido 2 y 6.
preferencia del examinador.
M461.1.4 Lecturas de barrido. Dos divisiones en la barrida ahora están igualadas

Las unidades de búsqueda de ondas longitudinales de haz angular normalmente se 1
1 /4T.
limitan a calibraciones de trayectoria de /2V, ya que hay una pérdida sustancial de energía
del haz tras la reflexión debido a la conversión de modo. M461.2 Bloques de Referencia de Superficie Cilíndrica (Ver Figura M461.2).
NOTA: Esta técnica proporciona calibración de barrido para la trayectoria del metal.
M461.2.1 Ajuste del Control de Retardo. Coloque el
CALIBRACIÓN M460 Unidad de búsqueda para la indicación máxima desde 1 pulg.
(25 mm) de superficie cilíndrica. Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 5
CALIBRACIÓN DEL RANGO DE BARRIDO M461 en la pantalla con el control de retardo.
M461.2.2 Ajuste del Control de Alcance. Coloque la unidad de búsqueda para

`
M461.1 Orificios perforados lateralmente (Ver Figura M461.1). obtener la máxima indicación desde la superficie cilíndrica de 2 pulgadas (50 mm). Ajuste

NOTA: Esta técnica proporciona calibración de barrido para la profundidad. el borde izquierdo de esta indicación a la línea 10 en la pantalla con el control de rango.
M461.1.1 Ajuste del Control de Retardo. Coloque el orificio perforado lateral /4T
1 unidad de búsqueda para la máxima indicación del (SDH). M461.2.3 Repetir Ajustes. Repita los ajustes de control de retardo y rango hasta
Ajuste el borde izquierdo de esta indicación a la línea 2 de la pantalla con el control de que las indicaciones de 1 pulg. (25 mm) y 2 pulg. (50 mm) comiencen en las líneas de
retardo. barrido 5 y 10.
Figura M461.1 Rango

de barrido (agujeros perforados lateralmente)
167

`,``,``,,`,`,,````,
Figura M461.2
Rango de barrido (superficies cilíndricas)
`,,`,,`,`,,`
Demora Rango
0 246 8 10 0 2 4 6 8 10
1 pulgada (25 mm) 2 pulgadas (50 mm)
M461.2.4 Lecturas de barrido. El barrido ahora vuelve M461.3.2 Ajuste del Control de Retardo. Ajustar el
presenta 2 pulgadas (50 mm) de distancia de trayectoria del sonido. borde izquierdo de la primera indicación de la pared trasera hasta la línea 5 en el
pantalla con el control de retardo.
M461.3 Unidad de Búsqueda y Referencia de Haz Recto
Bloques (Ver Figura M461.3). M461.3.3 Ajuste del Control de Alcance. Ajustar el
borde izquierdo de la segunda indicación de la pared trasera hasta la línea 10
NOTA: Esta técnica proporciona calibración de barrido para la trayectoria del metal.
en la pantalla con el control de alcance.
M461.3.1 Ubicación de la Unidad de Búsqueda. Colocar un M461.3.4 Repetir Ajustes. Repita el retraso y
Unidad de búsqueda de haz recto en un bloque de referencia de 1 pulgada (25 mm) de ajustes de control de rango hasta que los 1 pulg. (25 mm) y
espesor para mostrar múltiples indicaciones en la pared posterior. Las indicaciones de 2 pulgadas (50 mm) comienzan en las líneas de barrido 5 y 10.
Figura M461.3
Rango de barrido (Unidad de búsqueda de haz recto)
`

Rango
Demora Demora
0 2 4 6 8 10 0 2 4 6 8 10
2 pulgadas (50 mm)
1er
pared posterior 2do
1 pulgada (25 mm) pared posterior

2 pulgadas (50 mm)
168

M461.3.5 Ajuste de Retraso Final. Retire la unidad de búsqueda (b) Ajuste el control de sensibilidad (ganancia) para proporcionar una
de haz recto del cable coaxial y conecte la unidad de búsqueda de haz indicación del 80% (±5%) de la altura completa de la pantalla. Este es el
angular al sistema. Coloque la unidad de búsqueda para obtener la nivel de referencia principal. Marque el pico de esta indicación en la
máxima indicación del pantalla.
Superficie cilíndrica de 2 pulg. (50 mm). Ajuste el borde izquierdo de esta (c) Coloque la unidad de búsqueda para obtener la máxima respuesta
indicación a la línea 10 en la pantalla con el control de retardo. de otro SDH y marque el pico de la indicación en la pantalla.
(d) Coloque la unidad de búsqueda para obtener la máxima respuesta.

M461.3.6 Lecturas de barrido. El barrido ahora vuelve
presenta 2 pulgadas (50 mm) de distancia de trayectoria del sonido.
(e) Conecte las marcas de pantalla de los SDH para proporcionar
M462 CORRECCIÓN DISTANCIAAMPLITUD la curva DAC.
(DAC) (VER FIGURA M462)

del SDH que da la mayor amplitud.
Figura M462
Corrección de sensibilidad y distanciaamplitud
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
169

APÉNDICE NO OBLIGATORIO N
INTERPRETACIÓN DE LA DIFRACCIÓN DEL TIEMPO DE VUELO (TOFD)
N410 ALCANCE (b) Las imágenes TOFD se generan mediante el apilamiento de

estos escaneos A transformados en escala de grises como se muestra
Este Apéndice debe utilizarse como ayuda para la
en la Figura N421 (b). Las señales de onda lateral y de fondo son
interpretación de imágenes ultrasónicas de difracción de tiempo
visibles como líneas multiciclo continuas. El defecto de la pared media
de vuelo (TOFD). La difracción es un fenómeno ultrasónico
que se muestra consiste en una señal visible en la punta superior e inferior.
común y ocurre en condiciones mucho más amplias que la
Estos se muestran como señales multiciclo intermedias
simple difracción longitudinallongitudinal como se usa en los entre la onda lateral y la pared posterior.
exámenes TOFD típicos. Esta guía de interpretación está
(c) Las imágenes TOFD en escala de grises muestran cambios
dirigida principalmente a configuraciones TOFD de difracción
de fase, algunas señales son blanconegroblanco; otros son
longitudinallongitudinal que utilizan transductores separados a
negro blanconegro. Esto permite la identificación de la fuente de
cada lado de la soldadura en una placa, tubería o recipiente
la onda (parte superior o inferior del defecto, etc.), además de
curvo. Otras posibilidades incluyen:
utilizarse para dimensionar el defecto. Dependiendo de la fase del
(a) difracción de corte
pulso incidente (generalmente un voltaje negativo), la onda lateral
cortante (b) difracción de corte
sería positiva, luego la primera señal difractada (punta superior)
longitudinal (c) difracción con un solo transductor (llamada
negativa, la segunda señal difractada (punta inferior) positiva y la
“difracción inversa” o “método
señal de la pared posterior negativa. Esto se muestra
puntaeco” (d) TOFD con transductor doble con ambos transductores en el
esquemáticamente en la Figura N421(c). Esta información de
mismo lado del defecto/soldadura
fase es muy útil para la interpretación de señales; en consecuencia,
(e) inspecciones complejas, por ejemplo, boquillas
para TOFD se utilizan señales de RF y señales no rectificadas.
La formación de fase se utiliza para identificar correctamente las
N420 GENERALIDADES señales (generalmente la parte superior e inferior de los defectos,
si se pueden diferenciar) y para determinar la ubicación correcta para la profundidad.
N421 IMÁGENES TOFD — VISUALIZACIÓN DE DATOS mediciones.
(a) Los datos TOFD se muestran habitualmente como una imagen en
escala de grises del Ascan digitalizado. La Figura N421(a) muestra la
derivación en escala de grises de una señal de escaneo A (o forma de onda).
Figura N421(a)
Esquema que muestra la transformación de forma de onda en escala de grises
Amplitud
Blanco
Tiempo
Negro
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Tiempo
170

`,``,``,,`,`,,````,`, ASME BPVC.V2019
Figura N421(b)
Esquema que muestra la generación de imágenes en escala de grises a partir de múltiples AScan
ARTÍCULO 4
escaneo A
LW
peso corporal
escaneo D
`,,`,,`,`,,`
Superficie superior Pared posterior
Figura N421(c)
Esquema que muestra la configuración y visualización TOFD estándar con forma de onda y fases de señal
Transmisor Receptor
onda lateral
`

Reflexión de la pared trasera
LW peso corporal
punta superior Punta inferior
171

(d) En la Figura N421(d) se muestra una imagen TOFD real, con fallas. La base de el retardo, la separación o la velocidad de los transductores. El tiempo de llegada, Figura
tiempo es horizontal y el eje de mo N451, de la onda lateral (t1) y la señal de la pared trasera (t2) se ingresan en el software
La posición es vertical [igual que el esquema de la Figura N421(c)]. La onda lateral es el de la computadora y luego se muestran los cursores para el dimensionamiento
pulso multiciclo bastante fuerte a la izquierda, y la pared posterior es el pulso multiciclo automatizado.
fuerte a la derecha. Los defectos se muestran como reflejos grises y blancos multiciclos
entre las señales laterales y de fondo. El escaneo muestra varios defectos separados
N452 ERRORES DE POSICIÓN DE FALLO
(fusión incompleta, porosidad y escoria). El ruido ultrasónico normalmente proviene de
reflexiones de grano, lo que limita la frecuencia práctica que se puede utilizar. Es posible
Los defectos no siempre estarán ubicados simétricamente entre los transductores del
que las exploraciones TOFD solo muestren la onda lateral (OD) y la pared posterior (ID),
transmisor y el receptor. Normalmente se utiliza un único par de transductores centrados
con "ruido".
en el eje de soldadura.
Sin embargo, se pueden usar múltiples conjuntos TOFD, particularmente en vasos de
paredes gruesas, y se usan compensaciones para brindar una mejor detección. Además,
También hay información ultrasónica disponible más allá de la pared posterior
normalmente no se producen defectos en la línea central de la soldadura. De cualquier
(normalmente difracciones de ondas de corte), pero generalmente no se utiliza.
manera, las fallas no estarán ubicadas simétricamente, Figura N452(a) y esto será una
fuente de error en la ubicación y el tamaño.
PROCEDIMIENTO N450 Habrá errores de posición y de tamaño asociados con una falla no centrada, como se
muestra en la Figura N452(b).
N451 HERRAMIENTAS DE MEDICIÓN
Sin embargo, estos errores serán pequeños y generalmente son tolerables ya que el
Las variables TOFD son el espaciado de las sondas, el espesor del material, la error máximo debido a la posición fuera del eje es inferior al 10% y el error es en realidad
velocidad del sonido, el retardo del transductor y el tránsito lateral de la onda y el tiempo aún menor ya que tanto la parte superior como la inferior del defecto se compensan en
de llegada de la reflexión en la pared posterior. No todas las variables cantidades similares. Los mayores problemas de tamaño ocurren con pequeños defectos
Es necesario conocer el tamaño de los defectos. Por ejemplo, la calibración utilizando cerca de la pared trasera. Los valores de error exactos dependerán de los parámetros de
sólo las señales de onda lateral (pared frontal o OD) y pared posterior (ID) se puede inspección.
realizar sin saber
Figura N421(d)
Pantalla TOFD con fallas y AScan mostrado
`,``,``,,`,`,,````,
Fusión incompleta
en la raíz
Porosidad
Fusión incompleta de la
pared lateral
Escoria

NOTA GENERAL: El tiempo es horizontal y el eje de movimiento es vertical.
172

`,``,``,,`
`,,`,,`,`, ASME BPVC.V2019
Figura N451
Herramientas de medición para alturas de defectos
ARTÍCULO 4
escaneo A
d1
d1
h
t1 t2
Cursores
`
Incorporado

t1, t2 d1, d2 y h son automáticamente

calculado. PAG
escaneo D
N453 MEDICIÓN DE LONGITUD DE FALLO N480 EVALUACIÓN

Se pueden medir longitudes de defectos paralelas a la superficie
Esta sección muestra una variedad de imágenes TOFD y su interpretación/
de la imagen TOFD ajustando cursores hiperbólicos a
explicación. Desafortunadamente, existen variaciones significativas entre
los extremos de las fallas (ver Figura N453).
fallas y configuraciones TOFD y
muestra, por lo que las siguientes imágenes deben usarse como
N454 MEDICIÓN DE PROFUNDIDAD DE FALLA sólo guía. La experiencia del evaluador y sus habilidades de análisis son
muy importante también.
La altura del defecto perpendicular a la superficie se puede medir a partir
de la imagen TOFD colocando cursores en la
señales de punta superior e inferior. Los siguientes son dos ejemplos de
N481 IMÁGENES DE DEFECTO ÚNICO
mediciones de profundidad de defectos de soldadura en un tubo de 1 pulgada.
(25 mm) de espesor. La Figura N454(a) es una falta de fusión en la pared (a) Los defectos puntuales [Figura N481(a)], como la porosidad, muestran
media y la Figura N454(b) es una grieta en la línea central. Tenga en cuenta que como puntos multiciclo únicos entre los lados lateral y
Las señales TOFD no son lineales, por lo que los defectos de la pared media se muestran en señales de fondo. Los defectos puntuales suelen mostrar una sola
la tercera región superior de la imagen. Es posible alinear los escaneos TOFD Señal TOFD ya que las alturas de los defectos son más pequeñas que el
mediante software de computadora. anillo hacia abajo del pulso (generalmente unos pocos milímetros, dependiendo
Figura N452(a)
Esquema que muestra la detección de fallas fuera del eje
S S
Transmisor Receptor
t0 t0
173
Figura N452(b)
Errores de medición por incertidumbre en la posición del defecto
S S
Transmisor Receptor
t0
t1 t2
Incertidumbre sobre la posición del defecto
NOTA GENERAL: En la práctica, el error máximo en la posición de profundidad absoluta es inferior al 10%. El error en la estimación de la altura de los defectos internos (pequeños) es
insignificante. Tenga cuidado con los pequeños defectos situados en la pared trasera.
sobre la frecuencia del transductor y la amortiguación). Los defectos o unos pocos milímetros de profundidad), entonces la falla probablemente
puntuales suelen mostrar “colas” parabólicas donde la señal cae hacia la será invisible para TOFD. La imagen también muestra una serie de
pared trasera. (b) Las fallas señales de defectos puntuales.
de ruptura en la superficie lejana internas (ID) [Figura N481(b)] no (d) Las fallas en la pared media [Figura N481(d)] muestran señales
muestran ninguna interrupción de la onda lateral, una señal cerca de la
laterales y de pared trasera completas, además de señales de difracción
pared posterior y una interrupción o ruptura relacionada de la pared
desde la parte superior e inferior de la falla. Los ecos de la punta del
posterior (dependiendo del tamaño de la falla). ).
defecto proporcionan un perfil muy bueno del defecto real. Los tamaños
(c) Fallas que rompen cerca de la superficie [Figura N481(c)] muestra
de los defectos pueden ser fácilmente de color blanco y negro, mientras
perturbaciones en la onda lateral. La falla rompe la onda lateral, por lo
que el eco inferior es de color blanco y negro. Observe también la curva
que TOFD se puede utilizar para determinar si la falla rompe la superficie
hiperbólica que es fácilmente visible en el extremo izquierdo del eco
o no. Luego, la señal más baja se puede utilizar para medir la profundidad
superior; esto es similar al efecto de un defecto puntual [ver N481(a)] y
del defecto. Si la falla no rompe la superficie, es decir, sólo está debajo
permite una medición precisa de la longitud de los defectos [ver N450(a)].
de la superficie, la onda lateral no se romperá. Si la falla está cerca del
subsuelo y deberá Si un defecto en la pared media es poco profundo, es decir, menor
bajo (es decir, menos que el tiempo de timbre de la onda lateral que el anillo del pulso del transductor (unos pocos milímetros), las
señales de las puntas superior e inferior no se pueden separar. En estas
circunstancias, no es posible diferenciar la parte superior de la parte
inferior del defecto, por lo que el evaluador sólo puede
Figura N453
Imagen TOFD que muestra “colas” hiperbólicas desde los extremos de una imagen de defecto utilizada para medir la longitud del defecto
158,3 180,6
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 174
`,``,``,,`,`,,````,`, Figura N454(a)

ASME BPVC.V2019
Imagen TOFD que muestra señales difractadas superior e inferior de falla de pared media e interpretación de escaneo A
ARTÍCULO 4
0,43 0,43
pulgadas (11 mm)
0,59
0,59
pulgadas (15 mm)
`,,`,,`,`,,`
0,43 0,59
Lateral eco Eco de Eco de

ola superior fondo fondo
Figura N454(b)
Imagen TOFD que muestra señales difractadas superior e inferior de grieta de línea central y AScan
Interpretación
0,62 0,62
pulgadas (15,7 mm)
0,88 pulg.
0,88
(22,4 mm)
`

0,62 0,88
Pared señal señal Pared posterior
frontal superior inferior
175
`,,`,,`,`,,`
`,``,``,,`,`,, ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Figura N481(a)
Esquemas de generación de imágenes, patrón de escaneo, forma de onda y pantalla TOFD que muestran la imagen del
Defecto puntual
escaneo A
8.2
3.1 3.1
Indicación
Lateral Pared posterior
ola
`

decir que la falla es menor que la distancia de ringdown enterrado en la onda lateral por este defecto en particular. En esto
(que depende de la frecuencia del transductor y la amortiguación, Por ejemplo, la señal de la punta superior es detectable ya que la amplitud de
etc.). la señal de la onda lateral aumenta notablemente. Sin embargo, si este no
(e) La falta de penetración de raíces [ver Figura N481(e)] es fuera el caso, entonces el evaluador sería
similar a una falla interna (ID) de ruptura en la superficie lejana [ver incapaz de medir con precisión la profundidad del defecto.
N481(b)]. Este defecto da una fuerte señal difractada (o (h) La porosidad [ver Figura N481(h)] aparece como una serie
más correctamente, una señal reflejada) con una inversión de fase de curvas hiperbólicas de amplitudes variables, similares a
de la señal de fondo. Tenga en cuenta que si las señales son el defecto puntual [ver N481(a)]. El hiperbólico TOFD
difractado o reflejado no es importante para la caracterización TOFD; El Las curvas se superponen desde la porosidad individual.
análisis y el tamaño son los mismos. También tenga en cuenta los poros están muy juntos. Esto no permite una precisión
aunque hay una perturbación de la señal de la pared trasera, análisis, pero la naturaleza única de la imagen permite la caracterización de
la pared trasera todavía es visible en toda la falla. Esta mamá las señales como “múltiples defectos puntuales pequeños”.
El material también muestra pequeños defectos puntuales y algo de ruido de grano, es decir, porosidad.
lo cual es bastante común. TOFD normalmente enfatiza demasiado (i) Las grietas transversales [ver Figura N481(i)] son similares
pequeños defectos puntuales, que normalmente no se detectan mediante hasta un defecto puntual [ver N481(a)]. El escaneo TOFD muestra un
técnicas convencionales de pulsoeco de onda cortante. hipérbola típica. Normalmente, no sería posible
(f) Los defectos de raíz cóncava [ver Figura N481(f)] son similares diferenciar las grietas transversales de la porosidad cercana a la superficie
a la falta de penetración radicular. La parte superior del defecto es visible en utilizando TOFD; sería necesaria una mayor inspección.
la imagen TOFD, así como la forma general. La señal de la pared posterior (j) La falta de fusión entre pasadas [ver Figura N481(j)] muestra
muestra cierta perturbación como se esperaba. como una señal única de alta amplitud en la región media de la pared. Si
(g) La falta de fusión de la pared lateral [ver Figura N481(g)] es similar a la señal es larga, se diferencia fácilmente de la porosidad
una falla en la pared media [ver N481(d)] con dos diferencias. o fuentes puntuales. No es posible distinguir la parte superior.
Primero, la falla está en ángulo a lo largo de la línea de fusión, por lo que TOFD es y abajo, ya que estos no existen como tales. Tenga en cuenta el cambio de
efectivamente independiente de la orientación, lo cual no es un fase esperado de la onda lateral. Falta entre pases
problema para TOFD. En segundo lugar, la señal de falla superior es en parte de las señales de fusión son generalmente benignas.
176
Figura N481(b)
Esquemas de generación de imágenes, ubicación de defectos y pantalla TOFD que muestra la imagen del interior (ID)
Defecto que rompe la superficie
Transmisor Receptor
Lateral
Eco de la pared trasera
onda lateral
Sin eco en la pared trasera
consejo
Figura N481(c)
Esquemas de generación de imágenes, ubicación de defectos y pantalla TOFD que muestra la imagen del exterior (OD)
177
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`,,````,`
Figura N481(d)
Esquemas de ubicación de fallas, señales y visualización TOFD que muestran la imagen de la falla en la pared media
1
`,,`,,`,`,,`
2
Figuras N481(e)
Ubicación del defecto y pantalla TOFD que muestra la imagen de la falta de penetración de la raíz
1
`

2
3
178
Figura N481(f)
Ubicación del defecto y pantalla TOFD que muestra la imagen del defecto de la raíz cóncava
2
3
Figura N481(g)
Ubicación del defecto, pantalla TOFD que muestra la imagen del defecto de falta de fusión de la pared media y el AScan
1
2
3
4
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 179
Figura N481(h)
Ubicación del defecto y pantalla TOFD que muestra la imagen de la porosidad
1
2
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Figura N481(i)
Ubicación del defecto y pantalla TOFD que muestra la imagen de la grieta transversal
1
2
180
Figura N481(j)
Esquemas de generación de imágenes, ubicación de fallas y visualización TOFD que muestran la imagen del paso intermedio
Falta de fusión
Transmisor Receptor
Lateral
reflejado
Pared posterior
l B
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Reflexión
1
2
N482 IMÁGENES DE DEFECTOS MÚLTIPLES N482.2 Lámina 2 [Figura N482(b)]. Figura N482(b)
muestra que:
Las imágenes TOFD de soldaduras defectuosas contienen cuatro defectos cada una.
(a) los cuatro defectos son detectables
(b) la fusión incompleta en la raíz se muestra claramente
N482.1 Lámina 1 [Figura N482(a)]. Figura N482(a)
en esta exploración porque es más profunda. Tanto la perturbación de la pared
ilustra claramente las importantes ventajas de TOFD
trasera como las señales de la punta del defecto son claras.
(detección de fallas en la mitad de la pared, tamaño de fallas), las limitaciones debidas
a zonas muertas, y que (c) la grieta en la corona del dedo del pie es claramente visible, tanto por la
interrupción completa de la onda lateral como por la punta inferior
(a) la fusión incompleta de la pared lateral se muestra claramente, como
señal. Tanto la fusión incompleta en la raíz como en la corona
hace la escoria.
Las grietas del dedo del pie se identifican como roturas de superficie por la
(b) la fusión incompleta en la raíz no fue fácilmente detectada, aunque sí interrupción de la onda lateral y la señal de la pared posterior.
alteró la pared posterior. Esto no es sorprendente en la zona muerta de la pared respectivamente.
trasera debido a un cortecizallamiento. (d) la porosidad es visible como una serie de señales. Este
onda difractada. Este ejemplo ilustra el valor potencial de usar información más Un grupo de porosidad sería difícil de caracterizar adecuadamente usando solo
adelante en la base de tiempo, pero esto es el escaneo TOFD, ya que podría identificarse
fuera del alcance de este manual de interpretación. como escoria o defecto plano.
(c) la grieta de la raíz no es visible en absoluto debido a la zona muerta de la (e) la fusión incompleta de la pared lateral es claramente visible y
pared posterior. podría dimensionarse fácilmente utilizando cursores.
181
`,``,``
`,,`,,`
`
ARTÍCULO 4
Figura N482(a)
ASME BPVC.V2019
Esquema de la ubicación de los defectos e imagen TOFD que muestra la onda lateral, la pared posterior y tres de los cuatro
Defectos
2 – Fusión incompleta 3 – Escoria 4 – Fusión incompleta

de la pared lateral en la raíz
Arriba
2 3
1
4
NOTAS GENERALES:
(a) Grieta de raíz (derecha): ~ 1,6 pulg. (40 mm) a 2,5 pulg. (64 mm) desde un extremo. (b) Fusión
incompleta de la pared lateral (centroizquierda): ~ 4 pulgadas (100 mm) a 5 pulgadas (125 mm). (c)
Escoria: ~ 6,4 pulg. (163 mm) a 7,2 pulg. (183 mm). (d) Fusión
incompleta en la raíz (izquierda): ~ 9,3 pulgadas (237 mm) a 10,5 pulgadas (267 mm).
182
`,``,``,,`,`,,```
`,,`,,`,`,,` Figura N482(b)
ASME BPVC.V2019
Esquema de ubicaciones de fallas y pantalla TOFD que muestra la onda lateral, la pared posterior y cuatro fallas
ARTÍCULO 4
1 – Incompleto 2 – Grieta en el dedo del pie 3 – Porosidad 4 – Fusión

fusión en la raíz incompleta de la pared lateral
3
2 4
NOTAS GENERALES:
(a) Fusión incompleta en la raíz (izquierda): ~ 0,6 pulgadas (15 mm) a 1,8 pulgadas (45 mm) desde un extremo. (b)
Grieta en la punta (arriba a la izquierda): ~ 3 pulg. (80 mm) a 4 pulg. (100 mm).
(c) Porosidad: ~ 5,5 pulgadas (140 mm) a 6,25 pulgadas (160 mm). (d)
Fusión incompleta de la pared lateral (arriba a la derecha): ~ 8 pulg. (200 mm) a 9,25 pulg. (235 mm).
N483 PROBLEMAS TIPICOS CON TOFD abarcar la señal de la pared posterior de la onda lateral y la onda
`

INTERPRETACIÓN longitudinal; la puerta puede extenderse hasta la pared posterior de la

onda de corte, si es necesario. Normalmente, la mejor señal para usar
Las imágenes TOFD pueden dañarse debido a configuraciones
como guía es la primera pared posterior (onda longitudinal), ya que es
incorrectas u otros problemas como ruido eléctrico. Las siguientes
fuerte y siempre está presente (suponiendo que la separación del
imágenes se tomaron todas en la misma placa para mostrar algunos
transductor sea razonablemente correcta). Las siguientes figuras
de los problemas típicos que pueden ocurrir. Comenzando primero
muestran ejemplos de posicionamiento incorrecto de la puerta, lo que
con un escaneo aceptable y luego escaneos posteriores realizados
inherentemente conducirá a una mala detección de fallas.
para mostrar varios daños en esta imagen. (a)
Exploración aceptable [Figura N483(a)]. La ganancia y la El primer ejemplo, Figura N483(d)(1), muestra la puerta colocada
configuración de la puerta son razonables y el ruido eléctrico es mínimo. demasiado pronto, la onda lateral es visible y la pared trasera no. Se
pasará por alto cualquier defecto interno (ID) cerca de la pared posterior.
(b) Configuración incorrecta de ganancia baja [Figura N483(b)]. La

onda lateral y algunas de las señales difractadas están empezando a El segundo ejemplo, Figura N483(d)(2), muestra que la puerta se
desaparecer. A niveles de ganancia aún más bajos, algunas de las instaló demasiado tarde. La onda lateral no es visible. La primera señal
señales difractadas se volverían indetectables. (c) es la pared posterior y la segunda señal es la pared posterior de la
Configuración incorrecta de ganancia alta [Figura N483(c)]. El nivel onda de corte. Con esta configuración, se pasarán por alto todos los
defectos externos (OD) cercanos a la superficie.
de ruido aumenta para oscurecer las señales difractadas; esto puede
conducir a una reducción de la probabilidad de detección y a un El tercer ejemplo, Figura N483(d)(3), es con la puerta demasiado
dimensionamiento deficiente. Los granos grandes también pueden larga. Aunque esto no es técnicamente incorrecto, la imagen mostrará
provocar altos niveles de ruido. En este caso, la solución es reducir la la señal de onda de corte difractada en la pared posterior. Estas ondas
frecuencia SS pueden mostrar información adicional y confirmatoria. Las ondas
ultrasónica. (d) La configuración correcta de la puerta es de corte difractadas muestran la porosidad más claramente que las
fundamental, porque los escaneos TOFD A no son tan fáciles de ondas longitudinales difractadas y hay una fuerte señal convertida en
modo que
interpretar ya que hay múltiples señales visibles. Como mínimo, las puertas deben
183
Figura N483(a)
Niveles de ruido aceptables, defectos, onda lateral y pared posterior de onda longitudinal
Defecto de rotura de superficie OD
onda lateral
Defecto cerca de la
defecto enterrado
superficie
Región de
porosidad: a
menudo difícil de
detectar
Pared posterior
ocurre justo antes de la puerta de la onda de corte, lo que podría (g) Si los transductores no están centrados en la soldadura [Figura
causar problemas de interpretación. Normalmente, la puerta se N483(g)], las amplitudes de la señal difractada disminuirán hasta el
establece bastante corta para encerrar sólo la onda lateral y la pared punto en que la detección de fallas se vea seriamente afectada. (h)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
posterior de la onda longitudinal para aclarar la Los niveles
interpretación. (e) La separación incorrecta (demasiado separada) de ruido [Figura N483(h)] pueden afectar seriamente la
del transductor [Figura N483(e)] da como resultado que la señal de interpretación del TOFD. El ruido puede provenir de diversas fuentes,
la pared posterior se distorsione, la onda lateral se debilite y algunas como eléctricas, ultrasónicas, de granos y de acoplamiento.
de las amplitudes de la señal difractada Normalmente, el ruido ultrasónico y de grano aparece universalmente
caigan. (f) La separación incorrecta del transductor (demasiado en la imagen TOFD. El ruido eléctrico aparece como un patrón de
juntos) [Figura N483(f)] da como resultado que las ondas laterales interferencia, dependiendo de la fuente de ruido. Una vez que la
se vuelvan más fuertes y la pared posterior se debilite. Nuevamente, aparición del ruido eléctrico aumenta más allá de cierto punto, la
la imagen TOFD de los defectos es pobre. interpretación se vuelve esencialmente imposible.
184
Figura N483(b)
Imagen TOFD con ganancia demasiado baja
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Las
señales se
vuelven
invisibles en este
área.
185
`,``,``,,`,`
Figura N483(c)
Imagen TOFD con ganancia demasiado alta
Las señales se
están
volviendo confusas.
en estos
áreas.
`

Figura N483(d)(1)
Imagen TOFD con la puerta configurada demasiado pronto
onda lateral
186
Figura N483(d)(2)
Imagen TOFD con la puerta configurada demasiado tarde
Fondo
de onda L
Señal
de fondo
de onda S
Figura N483(d)(3)
Imagen TOFD con la puerta configurada demasiado larga
onda lateral
Señal
de fondo
de onda L
Señal
de fondo
de onda S
187
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`,,````,`,
Figuras N483(e)
Imagen TOFD con transductores demasiado separados
Distorsionado
Fondo
de onda L
Figura N483(f)
Imagen TOFD con transductores demasiado juntos
Fuerte
onda lateral
`

Señal de fondo
de onda
L débil
188
Figura N483(g)
Imagen TOFD con transductores no centrados en el eje de soldadura
Figura N483(h)
Imagen TOFD que muestra interferencia de ruido eléctrico
`,``,``,

189
`,``,``,,`,`,,
APÉNDICE O NO OBLIGATORIO
TÉCNICA DE DIFRACCIÓN DEL TIEMPO DE VUELO (TOFD) — GENERAL
CONFIGURACIONES DE EXAMEN
O410 ALCANCE EXAMEN O470

Este Apéndice describe el examen general de soldadura. Para espesores cercanos a 3 pulg. (75 mm), la viga
Configuraciones para el tiempo de difracción de vuelo (TOFD) No es probable que la divergencia de una sola unidad de búsqueda
técnica. proporcione suficiente intensidad para una buena detección en todo el territorio.
Volumen de examen. Por lo tanto, para un espesor de 3 pulg.
(75 mm) y mayores, el volumen de examen debe
EQUIPO O430 dividirse en múltiples zonas. La Tabla O470 proporciona orientación
O432 UNIDADES DE BÚSQUEDA general sobre el número de zonas para garantizar una adecuada
cobertura de volumen.
Las tablas O432(a) y O432(b) proporcionan búsqueda general
Ejemplos de diseño de la unidad de búsqueda y aproximados.
parámetros unitarios para rangos de espesor específicos en ferrítico
La cobertura del volumen del haz se proporciona en la Figura O470(a).
soldaduras. Para materiales austeníticos u otros materiales de alta atenuación,
hasta la Figura O470(d).
ver T451.
`

Tabla O470
Tabla O432(a)
Zonas TOFD recomendadas para soldaduras a tope
Parámetros de unidad de búsqueda para zona única
Hasta 12 pulg. (300 mm) de espesor
Exámenes Hasta 3 pulg. (75 mm)
Número de Haz
Espesor, t, Nominal Tamaño del elemento,
Espesor, t, Zonas Intersección
pulgadas (mm) Frecuencia, MHz pulgadas (mm) ángulo, tu
pulgadas (mm) [Nota 1)] Rango de profundidad (Aprox.)
< 0,5 (< 13) 10 a 15 0,125 a 0,25 60 a 70 2
<2 (<50) 1 0at /3t
(3 a 6) 1 1
2a<4 2 0a /2t / /3t
0,5 a < 1,5 5 a 10 0,125 a 0,25 50 a 70 1 5
(50 a <100) 2t a t /6t
(13 a < 38) (3 a 6) 1 2
4a<8 3 0a /3t / /9t
1,5 a < 3 2a5 0,25 a 0,5 45 a 65 1 2 5
(100 a <200) 3t a /3t /9t
(38 a <75) (6 a 13) 2 8
/3t a t /9t
1 1
8 a 12 4 0a /4t / /6t
1 1 5
(200 a 300) 4t a /2t /12t
1 3 2
/2t a /4t /3t
Cuadro O432(b) 3
/4t a t 11/12t
Parámetros de unidad de búsqueda para zona múltiple
Exámenes Hasta 12 pulg. (300 mm) de espesor NOTA:
(1) No es necesario que varias zonas tengan la misma altura.
muro nominal, Nominal Tamaño del elemento,
pulgadas (mm) Frecuencia, MHz pulgadas (mm) ángulo, tu
< 1,5 (< 38) 5 a 15 0,125 a 0,25 50 a 70

(3 a 6)
1,5 a 12 1a5 0,25 a 0,5 45 a 65

(38 a 300) (6 a 12,5)
190
Figura O470(a)
Ejemplo de configuración TOFD de zona única
Zona 1
Figura O470(b)
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Ejemplo de configuración TOFD de dos zonas (alturas de zona iguales)
Sonda 2 Sonda 1 Sonda 1 Sonda 2
Zona 1
Zona 2
Figura O470(c)
Ejemplo de una configuración TOFD de tres zonas (alturas de zona desiguales con la zona 3 abordada por dos compensaciones)
Escaneos)
Sonda 4 Sonda 3 Sonda 2 Sonda 1 Sonda 1 Sonda 2 Sonda 4 Sonda 3
Zona 1
Zona 2
Zona 3
(2 escaneos compensados)
191
`,,`,,`,`,,`
`,``,``,,`,`,,` ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019
Figura O470(d)
Ejemplo de una configuración TOFD de cuatro zonas (alturas de zona iguales)
Sonda 4 Sonda 3 Sonda 2 Sonda 1 Sonda 1 Sonda 2 Sonda 3 Sonda 4
Zona 1
Zona 2
Zona 3
Zona 4
`

192
APÉNDICE P NO OBLIGATORIO
INTERPRETACIÓN DE MATRIZ EN FASES (PAUT)
ALCANCE DEL P410 PROCEDIMIENTO P450
Este Apéndice no obligatorio debe utilizarse como ayuda para la P451 HERRAMIENTAS DE MEDICIÓN
interpretación de imágenes de pruebas ultrasónicas de matriz en fase
Los instrumentos PAUT suelen tener ayudas para dimensionar defectos
(PAUT).19 La metodología de interpretación de señales de fallas que utiliza
contenidas en el software. Estas ayudas para dimensionar se basan en el uso
PAUT es muy similar a la de los ultrasonidos convencionales; sin embargo,
de múltiples conjuntos de cursores horizontales y verticales superpuestos en
PAUT ha mejorado las capacidades de la tapa de imágenes que ayudan en
las distintas visualizaciones de imágenes. Los instrumentos PAUT se basan
la interpretación de señales de fallas. Esta guía de interpretación está dirigida
en la precisión de la información ingresada por el usuario (como el espesor
principalmente al uso de vigas con ángulo de onda de corte en soldaduras a
del componente) y la calibración para mostrar con precisión las mediciones y
tope. Otras posibilidades incluyen (a) ondas longitudinales (b) escaneo de
ubicaciones de los defectos.
cero grados (c) inspecciones
complejas, por ejemplo, boquillas,
soldaduras en ángulo
P452 TÉCNICAS DE DIMENSIÓN DE DEFECTOS
La determinación del tamaño de los defectos se puede realizar usando

P420 GENERALIDADES una variedad de técnicas aceptadas en la industria, tales como técnicas de
caída de amplitud (por ejemplo, caída de 6 dB) y/o técnicas de difracción de punta.
P421 IMÁGENES PAUT — VISUALIZACIÓN DE DATOS
Diferentes tipos de defectos pueden requerir diferentes técnicas de
Los datos PAUT se muestran habitualmente utilizando una paleta de dimensionamiento.
colores del arco iris, y la gama de colores representa un rango de amplitud de
señal. Generalmente, "blanco" representa una amplitud de señal del 0%, P452.1 Longitud del defecto. Las longitudes de los defectos paralelas a la
superficie se pueden medir a partir de las imágenes de escaneo D o C
"azul" (o colores más claros) representa amplitudes bajas y "rojo" (o colores
más oscuros) representa una amplitud de señal superior al rechazo (consulte codificadas a distancia utilizando técnicas de caída de amplitud colocando los
cursores verticales en las extensiones del defecto que se muestran en la
la Figura P4211) . (a) PAUT tiene la capacidad de generar
pantalla de escaneo D o C. La Figura P452.1 muestra un ejemplo de cursores
imágenes de los datos en el mismo formato que los ultrasonidos
convencionales: Ascan y Bscan, Dscan y C codificados en tiempo o utilizados para dimensionar longitudes.
distancia. (Ver Figura P4212.)

P452.2 Altura del defecto. La altura del defecto normal a la superficie se
puede medir a partir de las imágenes de escaneo B, E o S utilizando técnicas
NOTA: Los ejemplos que se muestran aquí no son necesariamente típicos de todos los de caída de amplitud o difracción de punta.
defectos debido a diferencias en forma, tamaño, orientación del defecto, rugosidad,
(a) Utilizando técnicas de caída de amplitud, los cursores horizontales se
etc.
colocan en las extensiones superior e inferior de los defectos mostrados. La
(b) Las visualizaciones de imágenes primarias PAUT son un Escan o S Figura P452.21 muestra un ejemplo de cursores utilizados para dimensionar
scan, exclusivo de la técnica PAUT. Tanto el Escan como el Sscan muestran la altura con la técnica de caída de amplitud. (b) Utilizando técnicas de
los datos en una vista 2D, con la distancia desde el frente de la cuña en el eje
difracción de punta, los cursores horizontales se colocan en las señales
X y la profundidad en el eje Y. Esta vista también se considera una "vista final".
de punta superior e inferior del defecto mostrado. La Figura P452.22 muestra
un ejemplo de cursores utilizados para dimensionar la altura con la técnica de
Los escaneos E y los escaneos S se componen de todos los escaneos A (o
difracción de punta.
leyes focales) en una configuración particular. El escaneo A para cada haz (o
ley focal) está disponible para su uso en la interpretación de señales de fallas.
(c) Un Escan
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
(también denominado escaneo electrónico de trama) es una ley focal única

multiplexada, a través de un grupo de elementos activos, para un haz de
P480 EVALUACIÓN
ángulo constante que avanza a lo largo de la longitud de la sonda de matriz
en fase en incrementos definidos. La figura P4213 muestra un ejemplo de Esta sección muestra una variedad de imágenes PAUT y su interpretación/
un Escan. (d) Un escaneo S (también denominado explicación. Existen variaciones significativas entre los defectos y las
escaneo sectorial, sectorial, de ángulo barrido o azimutal) puede referirse configuraciones y visualizaciones de PAUT, por lo que las siguientes
al movimiento del haz o a la visualización de datos (consulte la Figura P4214). imágenes deben usarse solo como guía. La experiencia del evaluador y las
habilidades de análisis también son muy importantes.
193
`,``,``
`,,`,,` ARTÍCULO 4
P481 ID (DIÁMETRO INTERIOR) CONECTADO

GRIETA
ASME BPVC.V2019
viajar hasta la señal a medida que la sonda se mueve hacia adentro y hacia afuera
la soldadura. El reflector suele ser detectable y puede ser
trazado desde la línea de referencia de profundidad OD correcta o
Por lo general, muestran múltiples facetas y bordes visibles.
lectura en profundidad. Normalmente, las grietas de los dedos de los pies se
en el Ascan y el Sscan. Hay un comienzo y una parada distintos.
caracterizan mejor en los escaneos S y en los canales de escaneo E de ángulo inferior. Cifra
en el Ascan, y un viaje ecodinámico significativo hacia el
P481.3 muestra un ejemplo.
señal a medida que la sonda se mueve hacia adentro y hacia afuera de la soldadura (si
la grieta tiene una extensión vertical significativa). El reflector es P481.4 (Penetración Incompleta). La penetración incompleta (IP)
generalmente detectable y se puede trazar desde ambos lados de la
`
normalmente muestra señales de alta amplitud con

la soldadura. El reflector debe trazarse con el ID correcto. Viaje ecodinámico significativo o viaje sobre el salto ID.
referencia de profundidad o lectura de profundidad, como se muestra en la Figura línea. Los IP normalmente responderán y conspirarán desde ambos lados del conflicto.
P481.
la soldadura en geometrías de soldadura comunes cerca de los indicadores de
P481.1 Falta de fusión de paredes laterales. LOF (falta de fusión) se traza referencia de la línea central. Generalmente, IP se detecta en todos los canales,
correctamente en la línea de fusión de soldadura, ya sea con la mayor amplitud en un Escan de ángulo alto. El
mediante trazado geométrico o mediante superposiciones de soldadura. Allá La exploración A muestra un tiempo de subida y bajada rápido con pulso corto
puede haber una respuesta significativamente diferente de cada lado del duración indicativa de un defecto plano. La figura P481.4 muestra
la soldadura. LOF generalmente se detecta por varios de los ángulos. una señal IP.
en un Sscan desde la misma posición. La exploración A muestra una Tenga en cuenta que el IP debe abordarse en relación con la soldadura.
tiempo de subida y bajada rápido con duración de pulso corta indicativa bisel. Por ejemplo, una soldadura de doble V tendrá IP en el
de un defecto plano. No hay múltiples facetas ni consejos. mitad de la pared, mientras que un solo bisel en V será
Inclinar ligeramente la sonda no produce múltiples rompedor de superficie. Sin embargo, el tiempo de subida y bajada de la señal.
picos o facetas dentadas como en una grieta. Puede haber múltiples señales es similar al de las grietas de los dedos de los pies y otros defectos de la raíz.
convertidas en modo que suben y bajan juntas y Esto requiere especial cuidado por parte del operador. Nota
mantener igual separación. La figura P481.1 muestra una que la penetración incompleta puede parecer similar a la superficie
ejemplo. falta de fusión de las paredes laterales.
P481.2 Porosidad. La porosidad muestra múltiples respuestas de señales,

P481.5 Escorias. La escoria suele mostrar múltiples facetas.
que varían en amplitud y posición. las señales
y bordes visibles en el Ascan y el Sscan. El escaneo A
trazar correctamente al volumen de soldadura. El inicio de las señales y
muestra un tiempo de subida y bajada lento con una duración de pulso larga,
Las posiciones de parada se mezclan con el fondo a baja amplitud. El tiempo de
indicativo de un defecto no plano. Normalmente la escoria se muestra más baja
subida y bajada lento del Ascan con pulso largo
amplitud que los defectos planos, y puede ser difícil distinguirlos de la porosidad
La duración es indicativa de un defecto no plano. La porosidad puede
o de algunos defectos planos más pequeños. La escoria suele ser detectable
puede o no ser detectado desde ambos lados de la soldadura, pero
por ambos lados, puede
debe ser similar desde ambos lados. La figura P481.2 muestra
Se traza desde ambos lados de la soldadura y, a menudo, se caracteriza mejor
un ejemplo de porosidad.
utilizando un Sscan. Un reflector de escoria normalmente
P481.3 Grieta en la punta del diámetro exterior (OD). Dedo del pie Trazar el área de profundidad correcta y las líneas de referencia que coincidan
Las grietas suelen mostrar múltiples facetas y bordes visibles. con el volumen de soldadura. La figura P481.5 muestra una
en el Ascan y el Sscan. Hay una ecodinámica significativa. ejemplo.
Figura P4211
Versión en blanco y negro (B&N) de la paleta de colores
0% Respuesta de amplitud de señal 100%
Luz azul) Rojo (oscuro)
194
Figura P4212
Formato del patrón de escaneo
Vista superior (C)
Eje índice
eje
odinosartlU
odinosartlU
Escanear
Dscan (vista lateral)

odinosartlU
Profundidad
Escaneo B (vista final)
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 195
Figura P4213
Ejemplo de visualización de imágenes de EScan
196
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Figura P4214
Ejemplo de visualización de imágenes SScan
Figura P452.1
Dimensionamiento de la longitud del defecto mediante la técnica de caída de amplitud y los cursores verticales en la pantalla CScan
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
197
`,``,``,,`,`,,```
`,,`,,`,`,,` ARTÍCULO 4
Figura P452.21
ASME BPVC.V2019
Escaneo que muestra el tamaño de la altura del defecto usando la técnica de caída de amplitud y los cursores horizontales en la
pantalla BScan
Figura P452.22
Dimensionamiento de la altura del defecto utilizando la técnica de difracción superior y los cursores horizontales en la pantalla SScan
`

NOTA GENERAL: Las dos flechas en el escaneo A de la izquierda muestran las señales relevantes para la medición.
198
Figura P481
SScan de grieta conectada ID
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Figura P481.1
Escaneo electrónico de LOF en Midwall
199
Figura P481.2
SScan de porosidad, que muestra múltiples reflectores
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Figura P481.3
Grieta del dedo del pie OD detectada mediante SScan
200
Figura P481.4
Señal IP en SScan, posicionada en la raíz
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
Figura P481.5
Escoria mostrada como un defecto en la pared media en SScan
201
APÉNDICE Q NO OBLIGATORIO
EJEMPLO DE CURVA DAC DIVIDIDA
ALCANCE DEL Q410 Q422 SEGUNDO DAC
Este apéndice proporciona un ejemplo de una curva DAC dividida cuando Comenzando con una posición SDH antes de que la respuesta del
una única curva DAC, para el rango de distancia requerido, tendría una reflector caiga por debajo del 20 % de FSH, establezca la ganancia de modo
parte del DAC por debajo del 20 % de la altura de la pantalla completa que esta respuesta sea del 80 % ± 5 % de FSH. Registre la configuración
(FSH). Consulte la Figura Q410. de ganancia del nivel de referencia para esta segunda parte de la curva DAC.
Marque los picos de las indicaciones SDH restantes en la pantalla y conecte
los puntos para formar la segunda curva DAC. Ver Figura Q422.
Q420 GENERALIDADES
Q421 PRIMER DAC

Cree una curva DAC de forma normal hasta que la señal máxima de
Q423 REFLECTORES DE MUESCA
indicación de orificio perforado lateral (SDH) caiga por debajo del 20 % de FSH.
Ver Figura Q421. Esta técnica también se puede utilizar para reflectores de muesca.
Figura Q410
Corrección de distanciaamplitud
10
80%
5
Cae por debajo
20% FSH
0 5 10
Los reflectores se
movieron hacia el haz.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
202
Figura Q421
Primera curva DAC
10
42dB 80%
20%
0
5 10
Reflectores movidos
en viga
Figura Q422
Segunda curva DAC
42dB 52dB
10
80%
0
5 10
Los reflectores se
movieron hacia el haz.
203
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE R NO OBLIGATORIO
BLOQUES DE CALIBRACIÓN DE HAZ RECTO PARA RESTRINGIDOS
ACCEDER A EXÁMENES DE SOLDADURA
ALCANCE DEL R410 El bloque de calibración se fabricará con un material más grueso.
al, con reflectores de referencia del mismo tamaño según T434.2.1,
Este Apéndice se debe utilizar como ayuda para la fabricación de
espaciados en el rango de distancia que garantiza la cobertura del
bloques de calibración utilizados para exámenes de soldaduras con
volumen de examen.
haz recto que no se pueden examinar completamente desde dos
direcciones utilizando la técnica del haz en ángulo (por ejemplo,
uniones en esquina y en T) según T472.2. EQUIPO R430
BLOQUES DE CALIBRACIÓN R434
R420 GENERALIDADES
(a) Ejemplo de soldadura de esquina. La Figura R4341 es un
Cuando se utilizan bloques de calibración de haz angular ejemplo de la configuración del bloque de calibración para un examen
estándar para la calibración de haz recto de exámenes de con haz recto de una soldadura de
soldadura de acceso restringido (Figura T434.2.1), estos esquina. (b) Ejemplo de soldadura en T. La Figura R4342 es un
bloques generalmente no proporcionan un rango de distancia ejemplo de la configuración del bloque de calibración para un examen
adecuado que abarque el volumen a examinar. Cuando esto ocurre un
consegundo
viga recta de una soldadura en T.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
204

Figura R4341
Ejemplo de soldadura de esquina
Superficie de
examen con haz ST
Rango de distancia, DR
Volumen de interés, VI
Tres (3) perforaciones laterales, SDH, espaciadas

en el rango del volumen de interés, VI.
DR
NOSOTROS
SDH Ø en función del espesor de soldadura, t.
NOTAS GENERALES:
(a) La ilustración superior muestra los detalles de la soldadura para la determinación del volumen de interés (VI). El bloque de calibración no requiere soldadura a menos que lo requiera la Sección
del Código de referencia o T451. (b) Los detalles y tolerancias de los bloques son los
mismos que los requeridos para los bloques de calibración estándar según T434.2.
205
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Figura R4342
Ejemplo de soldadura en T
Superficie de
examen con haz ST
Rango de distancia, DR
Volumen de interés, VI
Tres (3) perforaciones laterales, SDH, espaciadas

DR
en el rango del volumen de interés, VI.
NOSOTROS
SDH Ø en función del espesor de soldadura, t.
NOTAS GENERALES: (a)
La ilustración superior muestra los detalles de la soldadura para la determinación del volumen de interés (VI). El bloque de calibración no requiere soldadura a menos que lo requiera la Sección del Código de
referencia o T451. (b) Los detalles y tolerancias de los bloques son los mismos que los
requeridos para los bloques de calibración estándar según T434.2.
206 `,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

ARTÍCULO 5
MÉTODOS DE EXAMEN POR ULTRASONIDOS DE MATERIALES
ALCANCE DEL T510 El valor o rango de valores especificado en el procedimiento escrito

requerirá una revisión del procedimiento escrito o una adición al
Este artículo proporciona o hace referencia a requisitos que se mismo.
utilizarán en la selección y desarrollo de procedimientos de examen
ultrasónico para piezas, componentes, materiales y todas las
determinaciones de espesor. Cuando se hace referencia a los EQUIPO T530
documentos SA, SB y SE, se ubican en el Artículo 23. Se deberá
INSTRUMENTO T531
consultar la Sección del Código de referencia para requisitos
específicos para lo siguiente: (a) requisitos de Se utilizará un instrumento ultrasónico del tipo pulsoeco. El
calificación/certificación del personal; b) requisitos de instrumento deberá poder funcionar a frecuencias en el rango de
procedimiento/demostración, cualificación, aceptación; (c) al menos 1 a 5 MHz y estará equipado con un control de ganancia
características del escalonado en unidades de 2,0 dB o menos. Si el instrumento tiene
sistema de examen; (d) retención y control de un control de amortiguación, se puede utilizar si no reduce la
sensibilidad del examen. El control de rechazo deberá estar en la
bloques de calibración; (e) extensión del examen y/o
posición "apagado" para todos los exámenes, a menos que se
volumen a escanear; (f) estándares de aceptación; (g) retención pueda demostrar que no afecta la linealidad del examen.
de
registros, y (h) requisitos de
informes. UNIDADES DE BÚSQUEDA T532
La frecuencia nominal será de 1 MHz a 5 MHz a menos que

Las definiciones de los términos utilizados en este artículo están contenidas en
variables como la estructura del grano del material de producción
Artículo 1, Apéndice I obligatorio, I121.2, UT — Ultrasonidos.
requieran el uso de otras frecuencias para asegurar una penetración
adecuada o una mejor resolución. Se pueden utilizar unidades de
búsqueda con cuñas de contacto contorneadas para ayudar al
acoplamiento ultrasónico.
T520 GENERAL
ACOPLANTE T533
T521 REQUISITOS BÁSICOS
T533.1 Generalidades. El acoplante, incluidos los aditivos, no
Los requisitos de este artículo se utilizarán juntos.
deberá ser perjudicial para el material que se examina.
con el Artículo 1, Requisitos Generales.
T533.2 Control de Contaminantes. a) Los
acopladores utilizados en aleaciones a base de níquel no
T522 REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO ESCRITO
contendrán más de 250 ppm de azufre.
Requisitos T522.1. El examen ultrasónico se realizará de acuerdo (b) Los acopladores utilizados en acero inoxidable austenítico o
con un procedimiento escrito que, como mínimo, deberá contener titanio no deberán contener más de 250 ppm de haluros (cloruros
los requisitos enumerados en la Tabla T522. El procedimiento más fluoruros).
escrito establecerá un valor único, o rango de valores, para cada
requisito. REQUISITOS DEL BLOQUE DE CALIBRACIÓN T534
El material con el que se fabrica el bloque deberá ser (a) la misma
T522.2 Habilitación de Procedimiento. Cuando la calificación del forma del producto, (b) la misma
procedimiento es especificada por la Sección del Código de especificación de material o equivalente.
referencia, un cambio de un requisito en la Tabla T522 identificado Agrupación de números P, y
como una variable esencial del valor especificado, o rango de (c) del mismo tratamiento térmico que el material que se examina.
valores, requerirá la recalificación del procedimiento escrito.
Un cambio de un requisito identificado como una variable no esencial A los efectos de este párrafo, la forma del producto se define
del valor especificado, o rango de valores, no requiere recalificación como forjada o fundida, y los PNos. Los materiales 1, 3, 4, 5A a 5C
del procedimiento escrito. Todos los cambios de variables esenciales y 15A a 15F se consideran equivalentes.
o no esenciales del
207
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Tabla T522
Variables de un procedimiento de examen ultrasónico
No esencial
Requisito Tipos Variable esencial Variable
de materiales y configuraciones que se examinarán, incluidas las dimensiones de espesor y la forma del producto.
(fundición, forja, chapa, etc.) X …
Las superficies desde las cuales se realizará el examen Técnica(s) (haz X …
recto, haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X …
Ángulo(s) y modo(s) de propagación de la onda en el material Tipo(s) X …
de unidad de búsqueda, frecuencia(s) y tamaño(s)/forma(s) del elemento X …
Unidades de búsqueda especiales, cuñas, zapatos o monturas, cuando se X …
utilicen instrumentos ultrasónicos. X …
Direcciones y alcance del escaneo X …
Escaneo (manual versus automático) X …
Método para dimensionar indicaciones X …
Adquisición de datos mejorada por computadora, cuando se utiliza X …
Superposición de escaneo (solo disminución) X …
Requisitos de desempeño del personal, cuando sea necesario. X …
Requisitos de calificación del personal. … X

Condición de la superficie (superficie de examen, bloque de calibración). … X
limpieza posterior al examen Alarma … X
automática y/o equipo de registro, cuando corresponda Registros, incluidos … X
los datos mínimos de calibración que se registrarán (p. ej., configuración del instrumento) … X
El acabado de la superficie de escaneo del bloque será T561.1 Linealidad de altura de pantalla. La linealidad de la altura de la pantalla
representativo del acabado de la superficie de escaneo del material a examinar. del instrumento ultrasónico (excluye los instrumentos utilizados para medir el
espesor) se evaluará en
de conformidad con el Apéndice I obligatorio del Artículo 4.
T534.1 Bloques de Calibración de Productos Tubulares.
T561.2 Linealidad del Control de Amplitud. el ultrasónico
(a) Los reflectores de calibración deberán tener muescas longitudinales (axiales)
instrumentos (excluye instrumentos utilizados para medir el espesor
y tendrán una longitud que no exceda 1 pulgada.
1 medición) la linealidad del control de amplitud se evaluará de acuerdo con el
(25 mm), un ancho que no exceda /16 pulg. (1,5 mm), y
Apéndice II obligatorio del artículo
profundidad que no debe exceder 0,004 pulg. (0,10 mm) o el 5 % de la
4.
espesor nominal de la pared, el que sea mayor.
(b) El bloque de calibración deberá ser lo suficientemente largo para simular el

T562 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN
manejo del producto que se examina mediante
el equipo de examen. Sistema Ultrasónico T562.1. Las calibraciones incluirán el sistema ultrasónico
completo y se realizarán antes del uso del sistema en el rango de espesor.
T534.2 Bloques de calibración de fundición. Calibración
Los bloques tendrán el mismo espesor ±25% que la pieza fundida. bajo examinación.
para ser examinado.
T562.2 Superficie de Calibración. Las calibraciones serán
T534.3 Bloques de calibración de materiales de empernado y realizado desde la superficie (revestida o no revestida; convexa o
Técnicas de examen.20 Se utilizarán bloques de calibración de acuerdo con la
cóncavo) correspondiente a la superficie del material.
Figura T534.3 para vigas rectas. a partir del cual se realizará el examen.
examen.
T562.3 Acoplador. Se utilizará el mismo acoplante
durante el examen se utilizará para la calibración.
CALIBRACIÓN T560 T562.4 Cuñas de Contacto. Las mismas cuñas de contacto.

que se utilizará durante el examen se utilizará para
T561 VERIFICACIONES DE LINEALIDAD DEL INSTRUMENTO calibración.
Se deberán cumplir los requisitos de T561.1 y T561.2. T562.5 Controles de instrumentos. Cualquier control que afecte la linealidad del
a intervalos que no excedan los tres meses para instrumentos de tipo analógico y instrumento (por ejemplo, filtros, rechazo o recorte),
un año para instrumentos de tipo digital, o estará en la misma posición para la calibración, calibración
antes del primer uso y posteriormente. controles, controles de linealidad de instrumentos y exámenes.
208
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Figura T534.3
Bloques de calibración de vigas rectas para atornillar
Nomenclatura
(a) Bloque A
d = diámetro del perno

D = diámetro del bloque de calibración
= diámetro del agujero de fondo plano
Dh
D yo = longitud del perno
/4
l = longitud del bloque de calibración
= longitud del agujero de fondo plano
yo
/8 Lh
“perno” se refiere al material

l
para ser examinado (atornillado)
(tipo)
(b) Bloque B
D yo
/4
(tipo)
Lh
(tipo)
(c) Bloque C
Dh
yo
(tipo) /2
Bloque de calibración Fondo plano
Designación Profundidad del orificio, izquierda
A 1,5 pulgadas.
(38 milímetros)
B 0,5 pulg.
(13mm)
C 0,5 pulg.
(13mm)
Diámetro del material de empernado a ser Bloque de calibración Agujero de fondo plano
examinado, d Diámetro, D Diámetro, Dh
d 1
Hasta 1 pulgada (25 mm) re ± /4 /16 pulg. (1,5 mm)
d 1
Más de 1 pulg. (25 mm) a 2 pulg. (50 mm) re ± /4 /8 pulg. (3 mm)
d 3
Más de 2 pulg. (50 mm) a 3 pulg. (75 mm) re ± /4 /16 pulgadas (5 mm)
d 5
Más de 3 pulg. (75 mm) a 4 pulg. (100 mm) re ± / /16 pulg. (8 mm)
3
Más de 4 pulg. (100 mm) 4 d ± 1 pulg. (25 mm) /8 pulg. (10 mm)
NOTA GENERAL: Se puede aplicar una tolerancia de ±5%.

`,``,``

209

T562.6 Temperatura. Para el examen de contacto, el La calibración o la verificación de calibración se marcarán como nulas.
diferencial de temperatura entre el bloque de calibración y se volverá a examinar la zona cubierta por los datos anulados. Si el ajuste
y las superficies de examen deben estar dentro de los 25°F (14°C). de sensibilidad ha aumentado, todos los datos grabados
Para el examen de inmersión, la temperatura del acoplante indicaciones desde la última calibración o calibración válida
para la calibración debe estar dentro de los 25 °F (14 °C) del acoplador. La verificación se volverá a examinar y sus valores se cambiarán en las
temperatura para el examen. hojas de datos o se registrarán nuevamente.
T563 CONFIRMACIÓN DE CALIBRACIÓN T564 CALIBRACIÓN DE FUNDICIÓN PARA

HAZ DE ÁNGULO SUPLEMENTARIO
T563.1 Cambios en el sistema. Cuando se cambie cualquier parte del EXAMENES
sistema de examen, se realizará una verificación de calibración.
realizarse en el bloque de calibración para verificar que la distancia Para exámenes suplementarios con haz angular, la ganancia del
Los puntos de alcance y los ajustes de sensibilidad satisfacen los requisitos instrumento se ajustará durante la calibración, de manera que
de T563.3. que la indicación del agujero perforado lateralmente que produce
la amplitud más alta es del 80% ± 5% de la altura completa de la pantalla.
T563.2 Verificaciones de calibración. Una verificación de calibración en
Éste será el nivel de referencia primario.
al menos uno de los reflectores en el bloque de calibración o
Se realizará una verificación utilizando un simulador al finalizar cada examen
o serie de exámenes similares, y cuando el personal examinador (excepto EXAMEN T570
T571 EXAMEN DE FORMAS DE PRODUCTO

equipos automatizados) se cambian. El rango de distancia
y los valores de sensibilidad registrados deberán satisfacer los requisitos de Placa T571.1. La placa se examinará de acuerdo
T563.3. con SA435/SA435M, SA577/SA577M, SA578/
NOTA: Se pueden realizar verificaciones de calibración intermedias entre la SA578M, o SB548, según corresponda, excepto según enmendada
calibración inicial requerida y la verificación de calibración final. La decisión por los requisitos establecidos en otras partes de este artículo.
de realizar verificaciones de calibración provisionales debe basarse en
T571.2 Forjas y Barras.
estabilidad del instrumento ultrasónico (analógico versus digital), el riesgo de tener
realizar reexámenes y el beneficio de no realizar exámenes provisionales. (a) Las piezas forjadas y barras se examinarán de acuerdo
comprobaciones de calibración. con SA388/SA388M o SA745/SA745M, según corresponda, excepto
según lo modifiquen los requisitos en otra parte
T563.2.1 Verificaciones del Simulador. cualquier simulador en este articulo.
Los controles que se utilicen deberán correlacionarse con el original. (b) Todas las piezas forjadas y barras serán examinadas por el
calibración en el bloque de calibración durante la calibración original. Las Técnica de examen con haz recto.
comprobaciones del simulador pueden utilizar diferentes tipos de (c) Además de (b), anillos forjados y otros anillos huecos
reflectores o bloques de calibración (como IIW) y/o simulación electrónica. Las piezas forjadas también se examinarán mediante la técnica de examen
Sin embargo, la simulación utilizada será de viga en ángulo en dos direcciones circunferenciales, a menos que el
identificable en la(s) hoja(s) de calibración. el simulador espesor de la pared o la configuración geométrica lo permitan.
Se realizará una verificación en todo el sistema de examen. el examen con haz angular no es práctico.
No es necesario comprobar todo el sistema en una sola operación; sin (d) Además de (b) y (c), anillos forjados hechos para multar
embargo, para su verificación, la unidad de búsqueda deberá Prácticas de fusión de granos y utilizadas para secciones del casco de los recipientes.
conectado al instrumento ultrasónico y verificado También se examinará mediante el examen de haz angular.
contra un reflector de calibración. Precisión del simulador. Técnica en dos direcciones axiales.
Los controles se confirmarán mediante el bloque de calibración. (e) Se podrán utilizar técnicas de inmersión.
cada tres meses o antes del primer uso a partir de entonces.
T571.3 Productos Tubulares. Los productos tubulares serán
T563.3 Valores de Aceptación de Confirmación. examinado de acuerdo con SE213 o SE273, según corresponda, excepto
T563.3.1 Puntos de alcance de distancia. Si hay alguna distancia según lo modifiquen los requisitos en otra parte
El punto de alcance se ha movido en la línea de barrido más de en este articulo.
10% de la lectura de distancia o 5% del barrido completo (lo que sea mayor),
T571.4 Piezas fundidas. Las piezas fundidas se examinarán de acuerdo
corrija la calibración del rango de distancia y
con SA609/SA609M, excepto lo modificado por
tenga en cuenta la corrección en el acta del examen. Todos re
los requisitos establecidos en otras partes de este artículo.
Las indicaciones con cable desde la última calibración válida o control
(a) Para exámenes con haz recto, la sensibilidad
de calibración deberán ser reexaminadas y sus valores
compensación en el párrafo 8.3 de SA609/SA609M deberá
modificarse en las hojas de datos o volverse a registrar. no ser utilizado.
T563.3.2 Configuración de sensibilidad. Si hay alguna sensibilidad (b) Se deberá realizar un examen suplementario con haz angular.
La configuración ha cambiado en más del 20% o 2 dB de su amplitud, corrija Realizado en piezas fundidas o áreas de piezas fundidas donde hay una espalda.
la calibración de sensibilidad y tenga en cuenta la La reflexión no se puede mantener durante el examen con haz recto, o
corrección en el acta de examen. Si el ajuste de sensibilidad ha disminuido, cuando el ángulo entre la parte delantera y trasera
todas las hojas de datos desde la última vez válida Las superficies de la pieza fundida superan los 15 grados.
210
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

Material de pernos T571.5. El material de los pernos deberá ser EVALUACIÓN DEL T580
examinado de acuerdo con SA388/SA388M, excepto
según enmendado por los requisitos en otras partes de este Artículo. Para exámenes que utilizan calibraciones DAC, cualquier imperfección
(a) El material de los pernos deberá examinarse radialmente antes de con una amplitud de indicación superior al 20% de DAC
enhebrado. La sensibilidad se establecerá utilizando la indicación del lado Se investigará en la medida en que pueda evaluarse.
del orificio en el bloque de calibración A en en términos de los criterios de aceptación del Código de referencia
Sección.
trayectorias metálicas radiales de D/4 y 3D/4. La ganancia del instrumento
se ajustará de manera que la indicación del D/4 o
3D/4 orificios (el que tenga la amplitud de indicación más alta) es 80 % ± 5
% de la altura completa de la pantalla (FSH). Esto deberá DOCUMENTACIÓN T590
ser el nivel de referencia primario. Se establecerá una curva de corrección
T591 INDICACIONES DE GRABACIÓN
distanciaamplitud (DAC) utilizando las indicaciones de los orificios D/4 y 3D/
4 y se extenderá T591.1 Indicaciones no rechazables. Las indicaciones no rechazables
para cubrir todo el diámetro del material que se examina. se registrarán según lo especificado en el documento de referencia.
(b) El material de los pernos se debe examinar axialmente desde ambos Sección de Código.
superficies de los extremos, ya sea antes o después del roscado. La

T591.2 Indicaciones Rechazables. Se registrarán las indicaciones de
ganancia del instrumento se ajustará de manera que la indicación de
rechazo. Como mínimo, el tipo de indicación (es decir, grieta, laminación,
el orificio de fondo plano que produce la amplitud de indicación
inclusión, etc.), ubicación y
más alta es 80% ± 5% FSH. Éste será el nivel de referencia
se registrará la extensión (es decir, la longitud).
principal. Se establecerá una curva DAC utilizando el
indicaciones de los tres orificios de fondo plano y deberá
extenderse para cubrir toda la longitud del material que se está REGISTROS DE EXAMEN T592
examinado. Si la amplitud de alguna indicación del orificio de fondo plano es

Para cada examen ultrasónico, los requisitos de
menos del 20% de FSH, construya dos líneas DAC usando los bloques de
El artículo 1, T190(a) y la siguiente información
calibración A y B, y los bloques de calibración B y C y
ser registrado:
registre la configuración de ganancia necesaria para ajustar la amplitud de
(a) identificación de instrumentos ultrasónicos (incluidos
indicación más alta para cada DAC a 80% ± 5% FSH.
número de serie del fabricante)
(c) Se podrán utilizar técnicas de inmersión.
b) identificación de la(s) unidad(es) de búsqueda (incluido el número de
T572 EXAMEN DE BOMBAS Y VÁLVULAS serie, la frecuencia y el tamaño del fabricante)
(c) ángulo(s) del haz utilizado
El examen ultrasónico de bombas y válvulas se realizará en
(d) acoplante utilizado, marca o tipo
de conformidad con el Apéndice I obligatorio.
(e) cable(s) de la unidad de búsqueda utilizados, tipo y longitud
T573 EXAMEN EN SERVICIO f) equipos especiales, cuando se utilicen (unidades de búsqueda,
T573.1 Radio interior de la boquilla y región de la esquina interior. El cuñas, zapatos, equipos de escaneo automático, grabación
examen en servicio de los radios internos de la boquilla y de las regiones equipos, etc).
de las esquinas internas deberá realizarse de acuerdo con (g) identificación y revisión de programas computarizados,
Apéndice II obligatorio. cuando se usa
(h) identificación del bloque de calibración

T573.2 Examen en servicio de empernado. En servicio
El examen de los pernos se realizará de acuerdo con el Apéndice IV (i) bloque(s) de simulación y simulador(es) electrónico(s)
identificación, cuando se utiliza
obligatorio.
(j) ganancia del nivel de referencia del instrumento y, si se usa, humedad
T573.3 Examen de revestimiento en servicio. El examen interno del
configuración(es) de recepción y rechazo
revestimiento, excluyendo el metal de soldadura sobre el revestimiento
k) datos de calibración [incluido(s) reflector(es) de referencia,
colocado, deberá realizarse de acuerdo con SA578/
SA578M. amplitud(es) de indicación y lectura(s) de distancia]
(l) datos que correlacionan el(los) bloque(s) de simulación y el(los) electrónico(s)
T574 MEDICIÓN DE ESPESOR simulador(es), cuando se utilice, con calibración inicial
(m) identificación del material o volumen escaneado
La medición del espesor se realizará de acuerdo con SE797, excepto
según lo modifiquen los requisitos en otras partes de este artículo. (n) superficie(s) desde la cual se realizó el examen,
incluyendo la condición de la superficie
(o) mapa o registro de indicaciones rechazables detectadas o
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
T577 LIMPIEZA POSTEXAMEN áreas despejadas
Cuando la limpieza posterior al examen sea requerida por el p) zonas de acceso restringido o zonas inaccesibles
procedimiento, debe realizarse tan pronto como sea práctico. Los puntos (a) a (l) pueden incluirse o adjuntarse en un
después de la evaluación y documentación mediante un proceso que registro de calibración separado siempre que el registro de calibración esté
no afecta negativamente a la pieza. incluido en el registro de examen.
211

INFORME T593 MEDIOS DE ALMACENAMIENTO T594
Se levantará un informe de los exámenes. El informe Los medios de almacenamiento para datos de escaneo computarizados
incluirá aquellos registros indicados en T591 y T592. y software de visualización deberán ser capaces de almacenar y recuperar
El informe se presentará y mantendrá de acuerdo con la datos de forma segura durante el período de tiempo especificado por la
Sección del Código de referencia. Sección del Código de referencia.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
212

APÉNDICE OBLIGATORIO I
EXAMEN ULTRASÓNICO DE BOMBAS Y VÁLVULAS
ALCANCE DE LA I510 CALIBRACIÓN I560

Este Apéndice describe requisitos complementarios al Artículo 5 para CALIBRACIÓN DEL SISTEMA I561
el examen ultrasónico de soldaduras o bases.
La calibración del sistema se realizará de acuerdo con el Artículo 4,
reparaciones de materiales, o ambas, en bombas y válvulas.
T463 excluyendo T463.1.1.
EQUIPO I530
BLOQUES DE CALIBRACIÓN I531 EXAMEN I570
Los bloques de calibración para bombas y válvulas estarán en ac. El examen se realizará de conformidad con el artículo 4, T470.
de conformidad con el Artículo 4, Apéndice J no obligatorio.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
213
EXAMEN EN SERVICIO DEL RADIO DE LA ESQUINA INTERIOR DE LA BOQUILLA
Y REGIONES DE LAS ESQUINAS INTERIORES
II510 ALCANCE (a) Las muescas o grietas se distribuirán radialmente en dos zonas con
al menos una muesca o grieta en cada zona.
Este Apéndice describe los requisitos complementarios al Artículo 5 para
La zona 1 oscila entre 0 grados y 180 grados (±45 grados) y la zona 2 son
el examen en servicio de la boquilla dentro del cor.
los dos cuadrantes restantes, centrados en el eje de la boquilla.
Radio interior y regiones de esquinas interiores.
(b) Se colocarán muescas o grietas dentro del volumen de examen de

II530 EQUIPO los radios internos de la boquilla y se orientarán paralelas al plano axial de
la boquilla; la tolerancia de orientación es ±2 grados. (c) Las longitudes de
II531 BLOQUES DE CALIBRACIÓN
las
Los bloques de calibración deberán ser boquillas a escala real o de muescas o grietas deben ser de 1 pulgada (25 mm) como máximo /16
sección parcial (maquetas), que sean suficientes para contener la trayectoria máximo. Los anchos de muesca nominales serán 1pulgadas (1,5 mm).
máxima del haz de sonido, el volumen de examen y los reflectores de
(d) Profundidad de muescas o grietas, medidas desde la boquilla
calibración.
superficie interior, deberá ser:
II531.1 Generalidades. Se aplicarán los requisitos generales del bloque (1) Reflector No. 1: 0,20 pulg. a 0,35 pulg. (5 mm a 9 mm)
de calibración del artículo 4, T434.1 .
II531.2 Maquetas. Si los haces de sonido solo pasan a través de las (2) Reflector n.º 2: 0,35 pulg. a 0,55 pulg. (9 mm a 14 mm)
boquillas forjadas durante los exámenes, las maquetas de boquillas pueden
ser boquillas forjadas o segmentos de forjas, fijados en estructuras según
(3) Reflector n.º 3: 0,55 pulg. a 0,75 pulg. (14 mm a 19 mm)
sea necesario para simular las superficies de los recipientes adyacentes.
Si los haces de sonido pasan a través de las soldaduras de la boquilla a la
carcasa durante los exámenes, los modelos de boquillas deberán contener
soldaduras de boquilla y componentes de la carcasa de tamaño suficiente
para permitir la calibración. II560 CALIBRACIÓN
II531.3 Espesor. El bloque de calibración deberá igualar o exceder el II561 CALIBRACIÓN DEL SISTEMA
espesor máximo del componente a examinar.
La calibración del sistema se realizará de acuerdo con el Artículo 4,
T463 excluyendo T463.1.1.
II531.4 Reflectores. El bloque de calibración deberá
tener un mínimo de tres muescas dentro del examen
volumen. Alternativamente, se pueden usar grietas inducidas o incrustadas
en lugar de muescas, que también se pueden emplear para demostrar las EXAMEN II570
capacidades de dimensionamiento cuando lo requiera la Sección del Código
de referencia. Las muescas o grietas cumplirán los siguientes requisitos: Los requisitos generales de examen del artículo 4,
Se aplicará T471 .
214
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE OBLIGATORIO IV
EXAMEN DE PERNOS EN SERVICIO
IV510 ALCANCE Como alternativa a las muescas de corte recto, se pueden utilizar
otras muescas (por ejemplo, corte circular) siempre que el área de la
Este Apéndice describe los requisitos suplementarios.
muesca no exceda el área de las muescas de corte recto aplicables
al artículo 5 para el examen en servicio de los pernos.
requeridas por este párrafo.
EQUIPO IV530
IV531 BLOQUES DE CALIBRACIÓN
IV560 CALIBRACIÓN
Los bloques de calibración deberán ser pernos a escala real o de
sección parcial, que sean suficientes para contener la trayectoria máxima IV561 CALIBRACIÓN DAC
del haz de sonido y el área de interés, y para demostrar la técnica de
Se establecerá una curva DAC utilizando los reflectores de calibración
escaneo. en IV531.2. El haz de sonido se dirigirá hacia el reflector de calibración
IV531.1 Materiales. El bloque de calibración deberá tener la misma que produzca la respuesta máxima y el instrumento se configurará para
especificación de material, forma de producto y acabado superficial que obtener una indicación del 80 % de la altura de la pantalla completa.
los pernos a examinar. Éste será el nivel de referencia principal. Luego se manipulará la unidad
IV531.2 Reflectores. Los reflectores de calibración serán muescas de búsqueda, sin cambiar la configuración del instrumento, para obtener
ð19Þ
las respuestas máximas de los otros reflectores de calibración para
de corte recto. Se mecanizarán un mínimo de dos muescas en el
estándar de calibración, ubicadas en las trayectorias metálicas mínima generar una curva DAC. La calibración establecerá tanto la calibración
del rango de barrido como la corrección de distanciaamplitud.
y máxima, excepto que no es necesario ubicar las muescas a menos de
un diámetro de perno de
cualquiera de los extremos. Las profundidades de las muescas serán las siguientes:
Diámetro del perno Profundidad de la muesca [Nota (1)]
Menos de 2 pulgadas (50 mm) 2 1 profundidad de hilo

5
pulgadas (50 mm) y más, pero menos de 3 /64 pulg. (2,0 mm) IV570 EXAMEN
pulgadas (75 mm) 3 pulgadas (75
3
mm) y más /32 pulg. (2,5 mm) IV571 REQUISITOS GENERALES DEL EXAMEN
NOTA: Los requisitos generales de examen del artículo 4,
(1) Medido desde la parte inferior de la raíz de la rosca hasta la parte inferior de la muesca. Se aplicará T471 .
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`
215
ARTÍCULO 6
EXAMEN DE LÍQUIDO PENETRANTE
ALCANCE DEL T610 cambios de variables esenciales o no esenciales de aquellas

especificado en el procedimiento escrito requerirá una revisión del
Cuando lo especifique la Sección del Código de referencia, las técnicas procedimiento escrito o una adición al mismo.
de examen con líquidos penetrantes descritas en este
Se utilizará el artículo. En general, este artículo cumple con SE165, Método T621.3 Tiempos de Paso Mínimo y Máximo. El
de prueba estándar para el examen de líquidos penetrantes. Este El procedimiento escrito tendrá un mínimo y un máximo
documento proporciona detalles para ser tiempos para los pasos de examen aplicables enumerados en la Tabla
T621.3.
considerados en los procedimientos utilizados.
Cuando este artículo esté especificado por un Código de referencia
Sección, el método de líquido penetrante descrito en esta
El artículo se utilizará junto con el artículo 1, Requisitos generales. Las EQUIPO T630
definiciones de los términos utilizados en este artículo aparecen en el
El término materiales penetrantes, tal como se utiliza en este artículo, es
Artículo 1, Apéndice I obligatorio , I121.3, PT —
destinado a incluir todos los penetrantes, emulsionantes, disolventes o
Liquido Penetrantes.
Agentes de limpieza, reveladores, etc., utilizados en el examen.
proceso. Las descripciones de las clasificaciones de líquidos penetrantes y
tipos de materiales se proporcionan en SE165 de
T620 GENERALES Artículo 24.
El método de examen con líquidos penetrantes es un medio eficaz para

detectar discontinuidades que están abiertas.
a la superficie de metales no porosos y otros materiales.
T640 REQUISITOS VARIOS
Las discontinuidades típicas detectables por este método son T641 CONTROL DE CONTAMINANTES
grietas, uniones, vueltas, cierres fríos, laminaciones y porosidades.
El usuario de este Artículo deberá obtener certificación del contenido de
En principio, se aplica un líquido penetrante a la superficie.
contaminantes para todos los materiales líquidos penetrantes utilizados.
ser examinado y permitido entrar en discontinuidades. Todo
sobre aleaciones a base de níquel, aceros inoxidables austeníticos o dúplex,
Luego se elimina el exceso de penetrante, se seca la pieza y
y titanio. Estas certificaciones incluirán los números de lote de los fabricantes
Se aplica un revelador. El desarrollador funciona como
de penetrantes y los resultados de las pruebas.
un papel secante para absorber el penetrante que ha quedado atrapado en
obtenido de acuerdo con el Apéndice II Obligatorio de
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
discontinuidades, y como fondo contrastante para realzar Este artículo. Estos registros se mantendrán según lo exige la Sección del
la visibilidad de las indicaciones penetrantes. Los tintes en penetrantes son
Código de referencia.
de contraste de color (visibles bajo luz blanca)
o fluorescente (visible bajo luz ultravioleta).
T642 PREPARACIÓN DE SUPERFICIE
a) En general, pueden obtenerse resultados satisfactorios
cuando la superficie de la pieza está en la forma soldada, laminada,
Requisitos T621.1. El examen con líquidos penetrantes se realizará de
condición como fundido o forjado. Preparación de la superficie mediante
acuerdo con un procedimiento escrito que deberá, como mínimo, contener
Puede ser necesario rectificar, mecanizar u otros métodos.
la
donde las irregularidades de la superficie podrían enmascarar indicaciones.
requisitos enumerados en la Tabla T621.1. El procedimiento escrito
(b) Antes de cada examen con líquidos penetrantes, la superficie a
establecerá un valor único, o rango de valores, para
examinar y todas las áreas adyacentes dentro de al menos
cada requisito.
1 pulgada (25 mm) debe estar seca y libre de suciedad, grasa, pelusa,
T621.2 Habilitación de Procedimiento. cuando el procedimiento incrustaciones, fundente de soldadura, salpicaduras de soldadura, pintura,
la calificación se especifica en la sección del código de referencia, aceite y otras materias extrañas que podrían oscurecer las aberturas de la superficie o
un cambio de un requisito en la Tabla T621.1 identificado como de otra manera interferir con el examen.
una variable esencial requerirá la recalificación de la (c) Los agentes de limpieza típicos que pueden usarse son detergentes,
Procedimiento escrito mediante demostración. Un cambio de un requisito disolventes orgánicos, soluciones desincrustantes y pintura.
identificado como variable no esencial no removedores. Métodos de desengrase y limpieza ultrasónica.
exigir la recalificación del procedimiento escrito. Todo También se puede utilizar.
216
`,``,``,,`,`,,
`,,`,,`,`,,` ASME BPVC.V2019
Tabla T621.1
Requisitos de un procedimiento de examen de líquidos penetrantes
ARTÍCULO 6
No esencial
Requisito Variable esencial Variable
Identificación y cualquier cambio en el tipo o grupo familiar de materiales penetrantes, incluidos X …
reveladores, emulsionantes, etc.

Preparación de la superficie (acabado y limpieza, incluido el tipo de disolvente de limpieza) X …
Método de aplicación del penetrante. X …
Método para eliminar el exceso de penetrante superficial. X …
Concentración de emulsionante hidrófilo o lipófilo y tiempo de permanencia en tanques de inmersión y agitación. X …
Es hora de emulsionantes hidrofílicos

Concentración de emulsionante hidrófilo en aplicaciones de pulverización. X …
Método de aplicación del revelador. X …
Períodos de tiempo mínimos y máximos entre pasos y auxiliares de secado. X …
Disminución del tiempo de permanencia del penetrante. X …
Aumento del tiempo de permanencia del desarrollador (Tiempo de Interpretación) X …
Intensidad de luz mínima X …
Temperatura de la superficie exterior 40°F a 125°F (5°C a 52°C) o según lo previamente calificado X …
Demostración de rendimiento, cuando sea necesario X …
Requisitos de calificación del personal … X
Materiales, formas o tamaños a examinar y alcance del examen. … X
Técnica de limpieza postexamen … X

`
(d) Los disolventes de limpieza deberán cumplir los requisitos de TÉCNICA T650

T641. El método de limpieza empleado es un factor importante.

parte del proceso de examen. TÉCNICAS T651
NOTA: Acondicionamiento de superficies antes del examen según lo requerido en
Se debe utilizar un penetrante de contraste de color (visible) o un
(a) puede afectar los resultados. Ver SE165, Anexo A1.
penetrante fluorescente con uno de los siguientes
tres procesos penetrantes:
T643 SECADO DESPUÉS DE LA PREPARACIÓN (a) lavable con agua
(b) postemulsionante
Después de la limpieza, secado de las superficies a examinar.
se realizará mediante evaporación normal o con (c) eliminable con disolvente
aire frío o caliente forzado. Un período mínimo de tiempo deberá Los penetrantes visibles y fluorescentes utilizados en combinación
establecerse para garantizar que la solución de limpieza tenga con estos tres procesos penetrantes dan como resultado seis
evaporado antes de la aplicación del penetrante. Técnicas de líquidos penetrantes.
Tabla T621.3
Límites de tiempo mínimos y máximos para los pasos en los procedimientos de examen penetrante
Paso del procedimiento Mínimo Máximo
Secado tras la preparación (T643) X …
Morada penetrante (T672) X X
Eliminación de penetrantes, lavable con agua/removible con solvente (T673.1/T673.3) … …
Eliminación de penetrantes con emulsionante lipófilo [T673.2(a)] XX

Eliminación de penetrantes con emulsionante hidrófilo [T673.2(b)]
Preenjuague … X
Inmersión … X
Aerosol emulsionante de agua … X
Inmersión en agua o enjuague posterior por aspersión … X
Secado después de la eliminación del penetrante (T674)

Penetrantes para eliminación de … X
solventes Penetrantes postemulsionables y lavables con agua … X
Aplicación de revelador (T675) … X
Tiempo de revelado e interpretación (T675.3 y T676) X X
217
T652 TÉCNICAS PARA ESTÁNDAR Durante el tiempo de permanencia, no se permitirá que el penetrante se
TEMPERATURAS seque. Si por alguna razón el penetrante se seca, el
El procedimiento de examen se repetirá, comenzando con
Como técnica estándar, la temperatura del penetrante y la superficie de
una limpieza de la superficie de examen.
la pieza a procesar deberán
no estar por debajo de 40°F (5°C) ni por encima de 125°F (52°C) durante
T673 ELIMINACIÓN DEL EXCESO DE PENETRANTE
todo el período de examen. La calefacción o refrigeración local es
permitido siempre que la temperatura de la pieza se mantenga en el Una vez transcurrido el tiempo de penetración (permanencia) especificado
rango de 40°F a 125°F (5°C a 52°C) durante el examen. Cuando no sea transcurrido, cualquier penetrante que quede en la superficie deberá
práctico cumplir con estas limitaciones de temperatura, se pueden aplicar eliminarse, teniendo cuidado de minimizar la eliminación del penetrante
otras temperaturas y tiempos. de discontinuidades.
utilizarse, siempre que los procedimientos estén calificados según lo T673.1 Penetrantes Lavables con Agua.
especificado en T653.
(a) El exceso de penetrantes lavables con agua se eliminará con un
rociador de agua. La presión del agua no
T653 TÉCNICAS PARA NO ESTÁNDAR
exceder los 50 psi (350 kPa) y la temperatura del agua deberá
TEMPERATURAS
no exceda los 110°F (43°C).
Cuando no es práctico aplicar un líquido penetrante (b) Como alternativa a (a), penetrantes lavables con agua.
examen dentro del rango de temperatura de 40°F Puede eliminarse limpiando con un paño limpio, seco y sin pelusa.
a 125°F (5°C a 52°C), el procedimiento de examen en paño o papel absorbente, repitiendo la operación hasta
el rango de temperatura más bajo o más alto propuesto requiere Se han eliminado la mayoría de los restos de penetrante. Los restos
calificación de los materiales penetrantes y procesamiento en restantes se eliminarán limpiando la superficie con un
de conformidad con el Apéndice III obligatorio de este artículo. paño o papel absorbente, ligeramente humedecido con agua.
Para minimizar la remoción de penetrante de las discontinuidades,
T654 RESTRICCIONES TÉCNICAS Se tendrá cuidado de evitar el uso de exceso de agua.
El examen con penetrantes fluorescentes no deberá seguir un T673.2 Penetrantes PostEmulsificación.

Examen con penetrante de contraste de color. No se permite la mezcla de (a) Emulsificación lipófila. Después del tiempo requerido de permanencia
materiales penetrantes de diferentes familias o diferentes fabricantes. Una
del penetrante, el exceso de penetrante en la superficie deberá eliminarse.
nueva prueba con agua lavable. emulsionado sumergiendo o inundando la pieza con el
Los penetrantes pueden causar pérdida de indicaciones marginales debido a emulsionante. El tiempo de emulsificación depende del tipo.
contaminación. de emulsionante y condición de la superficie. El tiempo real de emulsificación
se determinará experimentalmente. Después de la emulsión, la mezcla se
eliminará sumergiéndola en
CALIBRACIÓN T660
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
o enjuagar con agua. La temperatura y presión de
Fotómetros, tanto de luz visible como fluorescente (negra) el agua será la recomendada por el fabricante.
medidores, se calibrarán al menos una vez al año o cuando el medidor haya (b) Emulsificación hidrofílica. Después del tiempo de permanencia del
sido reparado. Si los medidores no han sido penetrante requerido, las piezas se pueden enjuagar previamente con agua.
en uso durante un año o más, se deberá realizar la calibración antes de su rociar o directamente sumergido o rociado con un
uso. mezcla de emulsionante y agua. Un prelavado permite eliminar
exceso de penetrante superficial de los objetos examinados antes
a la aplicación de emulsionantes hidrófilos. hidrófilo
EXAMEN T670 Los emulsionantes actúan por acción detergente. Para aplicaciones de
APLICACIÓN DE PENETRANTE T671 inmersión, los objetos de examen deben ser mecánicamente
movido en el baño de emulsionante o el emulsionante debe ser
El penetrante puede aplicarse por cualquier medio adecuado, agitado por burbujas de aire, de modo que con cualquier método, el
como sumergir, cepillar o rociar. Si el penetrante El emulsionante entra en contacto con la capa penetrante.
se aplica mediante pulverización utilizando un aparato de tipo aire Con la inmersión, la concentración del emulsionante
comprimido, los filtros se colocarán en el lado aguas arriba, cerca del El baño de agua será el recomendado por el fabricante. Para aplicaciones
entrada de aire para evitar la contaminación del penetrante por por aspersión, todas las superficies de las piezas deben ser
aceite, agua, suciedad o sedimentos que puedan haberse acumulado en rociado uniformemente con una mezcla de emulsionante y agua.
las líneas.
En aplicaciones por aspersión, la concentración del emulsionante
Deberá estar de acuerdo con las recomendaciones del fabricante.
T672 TIEMPO DE PENETRACIÓN (PERMANENCIA) recomendaciones, pero no podrá ser superior al 5%. El final
El tiempo de penetración (permanencia) es crítico. El tiempo mínimo de El paso posterior a la emulsificación es una inmersión en agua o una inmersión en agua.
penetración será el requerido en la Tabla T672 o como rocíe después del enjuague para eliminar el penetrante emulsionado. Todo
calificados mediante demostración para aplicaciones específicas. El Los tiempos de permanencia deben mantenerse al mínimo y deben ser
El tiempo máximo de permanencia no debe exceder las 2 horas o según lo calificado. no más de 2 minutos a menos que se califique un tiempo mayor en
mediante demostración para aplicaciones específicas. Independientemente de una parte específica. Las presiones (agua emulsionante y agua
218
Tabla T672
Tiempos mínimos de permanencia
Tiempos de permanencia
[Nota (1)], (minutos)

Material Forma Tipo de discontinuidad penetrante
Aluminio, magnesio, acero, latón y Piezas fundidas y soldaduras Cierres fríos, porosidad, falta de 5
Bronce, titanio y alta temperatura. fusión, grietas (todas las formas)

aleaciones
Materiales forjados Vueltas, grietas 10
extrusiones, forjados, placa

Herramientas con punta de carburo Soldado o soldado Falta de fusión, porosidad, grietas. 5
El plastico Todas las formas Grietas 5
Vaso Todas las formas Grietas 5
Cerámico Todas las formas Grietas 5
NOTA:
(1) Para rangos de temperatura de 50°F a 125°F (10°C a 52°C). Para temperaturas desde 40°F (5°C) hasta 50°F (10°C), permanencia mínima del penetrante
El tiempo será 2 veces el valor indicado.
pulverización) y las temperaturas (agua y emulsionante) serán Con penetrantes de contraste de color, sólo un revelador húmedo
de acuerdo con los requisitos para lavar con agua deberia ser usado. Con penetrantes fluorescentes, húmedo o seco.
penetrantes. Se puede utilizar revelador.
NOTA: Se puede obtener información adicional en SE165. Aplicación de revelador seco T675.1. revelador seco
se aplicará únicamente sobre una superficie seca con un cepillo suave, a mano
T673.3 Penetrantes Removibles con Solvente. El exceso de penetrantes
pera de pólvora, pistola de pólvora u otros medios, siempre que
removibles con solvente se eliminará limpiando el polvo se espolvorea uniformemente sobre toda la superficie
con un paño limpio, seco y sin pelusa o con papel absorbente, repitiendo la examinado.
operación hasta que se hayan eliminado todos los restos de penetrante.
Aplicación de revelador húmedo T675.2. Antes de aplicar revelador
sido eliminado. Los restos restantes se eliminarán mediante
húmedo tipo suspensión a la superficie, el revelador debe agitarse
limpiando la superficie con un paño o papel absorbente, ligeramente
completamente para asegurar una cantidad adecuada.
humedecido con solvente. Para minimizar la eliminación del penetrante de las
dispersión de partículas en suspensión.
discontinuidades, se debe tener cuidado para evitar
(a) Aplicación de revelador acuoso. revelador acuoso
el uso de exceso de disolvente.
Se puede aplicar sobre una superficie húmeda o seca. será
ADVERTENCIA: Está prohibido lavar la superficie con solvente después de la aplicación aplicado por inmersión, brocha, pulverización u otros medios,
del penetrante y antes del revelado. siempre que se obtenga una fina capa sobre toda la superficie
siendo examinado. El tiempo de secado se puede reducir usando
aire caliente, siempre que la temperatura de la superficie de la pieza
T674 SECADO DESPUÉS DEL EXCESO DE PENETRANTE no se eleva por encima de 125°F (52°C). Secar no es
ELIMINACIÓN permitido.
(b) Aplicación de desarrollador no acuoso. Los reveladores no acuosos se
(a) Para la técnica lavable con agua o postemulsionante, las superficies
aplicarán mediante pulverización, excepto cuando se requieran medidas de seguridad.
pueden secarse secando con agua limpia.
o el acceso restringido lo impiden. En tales condiciones,
materiales o utilizando aire circulante, siempre que la temperatura de la
El desarrollador se puede aplicar con brocha. Para penetrantes lavables con
superficie no supere los 125 °F (52 °C).
agua o postemulsionables, el revelador
(b) Para la técnica de eliminación con solvente, las superficies
se aplicará sobre una superficie seca. Para remover con solvente
Puede secarse mediante evaporación normal, secado, limpieza,
penetrantes, el revelador se puede aplicar tan pronto como sea posible
o aire forzado.
después de eliminar el exceso de penetrante. El secado se realizará mediante
Evaporación normal.
T675 EN DESARROLLO T675.3 Tiempo de desarrollo. Tiempo de desarrollo para la final.

La interpretación comienza inmediatamente después de la solicitud.
El revelador se aplicará tan pronto como sea posible después
de un revelador seco o tan pronto como una capa de revelador húmedo
eliminación de penetrantes; el intervalo de tiempo no excederá de ese
está seco.
establecido en el procedimiento. Un espesor de recubrimiento insuficiente
puede no sacar el penetrante de las discontinuidades;
por el contrario, el espesor excesivo del recubrimiento puede enmascarar
indicaciones.
219
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

`,``,``,,`,`,,````,` ARTÍCULO 6
ð19Þ INTERPRETACIÓN T676

T676.1 Interpretación Final. Interpretación final
ASME BPVC.V2019
f) La intensidad de la luz UVA se medirá con un

Medidor de luz UVA antes de su uso, siempre que la potencia de la luz
la fuente se interrumpe o cambia, y al finalizar la
se realizará en no menos de 10 minutos ni más de
el examen o serie de exámenes.
60 minutos después de que se cumplan los requisitos de T675.3 , a
g) Las lámparas de arco de vapor de mercurio producen longitudes
menos que se califique lo contrario según T653. Si el sangrado lo hace
de onda UVA principalmente con una longitud de onda máxima de 365
no alteran los resultados del examen, se permiten períodos más largos.
nm para inducir fluorescencia. Diodo emisor de luz (LED) UVA
Si la superficie a examinar es lo suficientemente grande como para
fuentes que utilizan un solo LED UVA o una serie de LED UVA
impedir un examen completo dentro del plazo prescrito o
tendrán características de emisión comparables a las de
tiempo establecido, el examen se realizará en
`,,`,,`,`,,`
otras fuentes de UVA. Las fuentes LED UVA deberán cumplir con los
incrementos.
requisitos de SE2297 y SE3022. Luz LED UVA
T676.2 Indicación(es) Caracterizante(s). El tipo de Se debe certificar que las fuentes cumplen con los requisitos.
Las discontinuidades son difíciles de evaluar si el penetrante de SE3022 y/o ASTM E3022.
se difunde excesivamente en el revelador. Si esta condición
ocurre, observación cercana de la formación de indicación T677 LIMPIEZA POSTEXAMEN
(s) durante la aplicación del revelador puede ayudar a caracterizar y
Cuando la limpieza posterior al examen sea requerida por el
determinar el alcance de la(s) indicación(es).
procedimiento, debe realizarse tan pronto como sea práctico.
T676.3 Penetrantes de Contraste de Color. con un color
después de la Evaluación y Documentación utilizando un proceso que
penetrante de contraste, el revelador forma una capa blanca no afecta negativamente a la pieza.
razonablemente uniforme. Se indican las discontinuidades de la superficie.
por sangrado del penetrante, que normalmente es un líquido profundo.
Color rojo que tiñe el revelador. Indicaciones con un EVALUACIÓN DEL T680
El color rosa claro puede indicar una limpieza excesiva. Una limpieza
(a) Todas las indicaciones se evaluarán en términos de la ac
inadecuada puede dejar un fondo excesivo que dificulta la interpretación.
estándares de aceptación de la Sección del Código de referencia.
Iluminación (natural o
luz blanca suplementaria) de la superficie de examen es (b) Las discontinuidades en la superficie se indicarán mediante
necesarios para la evaluación de las indicaciones. El mínimo sangrado del penetrante; sin embargo, las irregularidades localizadas
La intensidad de la luz será de 100 fc (1 076 lx). La intensidad de la en la superficie debido a marcas de mecanizado u otras condiciones de
luz, fuente de luz blanca natural o suplementaria, deberá ser la superficie pueden producir indicaciones falsas.
medido con un fotómetro blanco antes de la evaluación (c) Amplias áreas de fluorescencia o pigmentación que
Se utilizará una serie de indicaciones o una fuente de luz verificada. podrían enmascarar indicaciones de discontinuidades son inaceptables,
y dichas áreas deberán limpiarse y reexaminarse.
Se requiere demostrar la verificación de las fuentes de luz.
sólo una vez, documentada y mantenida en archivo.
T676.4 Penetrantes Fluorescentes. Con fluorescente
DOCUMENTACIÓN T690
penetrantes, el proceso es esencialmente el mismo que en
T676.3, con la excepción de que el examen se realiza utilizando luz T691 REGISTRO DE INDICACIONES
ultravioleta, denominada luz UVA . El examen se realizará de la T691.1 Indicaciones no rechazables. Las indicaciones no
siguiente manera: rechazables se registrarán según lo especificado en el documento de referencia.
(a) Se realizará en un área oscura con un nivel máximo de luz Sección de Código.
blanca ambiental de 2 fc (21,5 lx) medido
T691.2 Indicaciones Rechazables. Se registrarán las indicaciones
con un fotómetro blanco calibrado en el examen
de rechazo. Como mínimo, el tipo de indicaciones (lineales o
superficie.
redondeadas), ubicación y extensión (longitud o
`
(b) Los examinadores estarán en un área oscura durante al menos

diámetro o alineados).
5 minutos antes de realizar los exámenes para permitir su
ojos para adaptarse a la visión en la oscuridad. Gafas o lentes usados
REGISTROS DE EXAMEN T692
por los examinadores no serán fotosensibles.
(c) El área de examen deberá estar iluminada con Para cada examen, la siguiente información deberá
ser registrado:
Luces UVA que funcionan en el rango entre 320 nm
y 400 nm. (a) los requisitos del artículo 1, T190(a);
(d) Las luces UVA alcanzarán un mínimo de (b) tipo líquido penetrante (visible o fluorescente);
1000 μW/cm2 en la superficie de la pieza que se examina (c) tipo (número o letra de designación) de cada penetrante,
durante todo el examen. removedor de penetrante, emulsionante y revelador utilizado;
e) Los reflectores y los filtros deberían comprobarse y, si es (d) mapa o registro de indicaciones según T691;
necesario, limpiarse antes de su uso. Reflectores agrietados o rotos, (e) material y espesor, y;
Los filtros, gafas o lentes deberán reemplazarse inmediatamente. f) equipos de iluminación.
220
CONTROL DE CONTAMINANTES POR LÍQUIDO PENETRANTE
EXAMEN
II610 ALCANCE SE165, Anexo 2 para cloro y SE165, Anexo 3 para

flúor. El contenido total de cloro y flúor deberá
Este Apéndice contiene requisitos para el control de
no exceder el 0,1% en peso.
Contenido de contaminantes para todos los materiales líquidos penetrantes.
utilizado en aleaciones a base de níquel, aceros inoxidables austeníticos,
y titanio.
II643 AGUA
(a) Para el agua utilizada en la limpieza previa o como parte de

procesos que involucran agua, si es agua potable (por ejemplo, potable,
II640 REQUISITOS Si se utiliza agua embotellada, destilada o desionizada), no es necesario
II641 ALEACIONES BASE NÍQUEL analizarla para detectar cloro y azufre.
(b) Cualquier otro tipo de agua utilizada que no cumpla con los
Al examinar aleaciones a base de níquel, todos los materiales
Los requisitos de (a) anteriores se analizarán para detectar cloro.
penetrantes se analizarán individualmente para determinar el contenido de azufre en
de acuerdo con ASTM D1253 y para azufre de acuerdo con SD516. El
de acuerdo con SE165, Anexo 4. Alternativamente, el material puede
contenido de cloro no deberá exceder
descomponerse de acuerdo con SD129 y
0,1% en peso y el contenido de azufre no deberá exceder
analizados de acuerdo con SD516. El contenido de azufre
0,1% en peso.
no excederá el 0,1% en peso.
II642 INOXIDABLE AUSTENÍTICO O DÚPLEX

ACERO Y TITANIO II690 DOCUMENTACIÓN
Al examinar acero inoxidable austenítico o dúplex Las certificaciones obtenidas sobre materiales penetrantes deberán
y titanio, todos los materiales penetrantes se analizarán individualmente incluir los números de lote de los fabricantes de penetrantes y
para determinar el contenido de cloro y flúor de acuerdo los resultados de las pruebas obtenidos de acuerdo con II640. Estos
con SE165, Anexo 4. Alternativamente, el material puede ser Los registros se mantendrán según lo exige la Sección del Código de
descompuesto y analizado de acuerdo con SD808 o referencia.
221
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

APÉNDICE OBLIGATORIO III

TÉCNICAS DE CALIFICACIÓN PARA EXÁMENES EN
TEMPERATURAS NO ESTÁNDAR
III610 ALCANCE rango. Se compararán las indicaciones de grietas entre los bloques
“A” y “B”. Si las indicaciones obtenidas bajo las condiciones propuestas
Cuando no se puede realizar un examen con líquido penetrante
en el bloque “B” son esencialmente
dentro del rango de temperatura estándar de 40°F
Lo mismo que se obtuvo en el bloque “A” durante el examen.
a 125°F (5°C a 52°C), la temperatura del examen se calificará de
a 40°F a 125°F (5°C a 52°C), el procedimiento propuesto
acuerdo con este Apéndice.
se considerará calificado para su uso. Un procedimiento calificado a
una temperatura inferior a 40°F (5°C) deberá calificarse desde esa
temperatura hasta 40°F (5°C).
ð19Þ III630 MATERIALES
III641.2 Temperatura mayor a 125°F (52°C). Si
Se debe fabricar un bloque comparador de líquido penetrante como la temperatura propuesta para el examen es superior
sigue. Los bloques comparadores de líquidos penetrantes deberán ser 125°F (52°C), el bloque “B” se mantendrá a esta temperatura
3
hecho de aluminio, ASTM B209, tipo 2024, /8 pulg. durante todo el examen. Los indicios de grietas.
(10 mm) de espesor y debe tener unas dimensiones de cara se comparará como se describe en III641.1 mientras que el bloque
aproximadas de 2 pulg. × 3 pulg. (50 mm × 75 mm). En el centro de “B” está a la temperatura propuesta y el bloque “A” está a
En cada cara, se marcará un área de aproximadamente 1 pulgada (25 rango de temperatura de 40°F a 125°F (5°C a 52°C).
mm) de diámetro con una temperatura de 950 °F (510 °C) que indica
crayón o pintura. El área marcada será
calentado con un soplete, un mechero Bunsen o un dispositivo similar
a una temperatura entre 950 °F (510 °C) y 975 °F
(524ºC). La muestra deberá ser inmediatamente
se enfría en agua fría, lo que produce una red de finos Figura III630
grietas en cada cara. Comparador de líquidos penetrantes
Luego, el bloque se secará calentándolo a aproximadamente 300
°F (149 °C). Después de enfriar, el bloque será Escriba
Cortar por la mitad. La mitad del espécimen se designará línea
m(
)sortemí9li3
1p1
bloque “A” y el otro bloque “B” para identificación en sub

g/lu
.2
procesamiento posterior. La Figura III630 ilustra los bloques

comparadores “A” y “B”. Como alternativa a cortar el
5lu7m
sada)gm 3
p(
bloque por la mitad para hacer los bloques “A” y “B”, bloques separados
Se pueden fabricar 2 pulgadas × 3 pulgadas (50 mm × 75 mm) usando la
)sortemí9li3m(
1p
g/lu
.2 1
técnica de calentamiento y enfriamiento como se describió anteriormente. Dos

bloques comparadores con patrones de grietas muy parecidos
puede ser usado. Los bloques estarán marcados como “A” y “B”.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
2
3/8
pulgadas (50 mm)
pulg. (10 mm)
III640 REQUISITOS
III641 APLICACIÓN DEL COMPARADOR
B
III641.1 Temperatura inferior a 40°F (5°C). Si esto es
Si se desea calificar un procedimiento de examen con líquidos
penetrantes a una temperatura inferior a 40 °F (5 °C), el procedimiento
A
propuesto se aplicará al bloque “B” después de la
bloque y todos los materiales se han enfriado y mantenido en el
temperatura de examen propuesta hasta la comparación
esta completado. Un procedimiento estándar que previamente
demostrado que es adecuado para su uso se aplicará a NOTA GENERAL: Las dimensiones proporcionadas son sólo orientativas y
bloque “A” en la temperatura de 40°F a 125°F (5°C a 52°C) no crítico.
222
`,``,``
`,,`,,` Para calificar un procedimiento para temperaturas superiores a 125°F
(52°C), para penetrantes normalmente usados en temperaturas de 40°F.
ASME BPVC.V2019
Las indicaciones del comparador se demostrarán en

ARTÍCULO 6
200°F a 400°F (93°C a 204°C) usando el tiempo de permanencia máximo observado.]

a 125 °F (5 °C a 52 °C), se calificará el límite de temperatura superior y luego se aplicará
el procedimiento.
III641.3 Técnicas alternativas para el contraste de color
utilizable entre la temperatura superior calificada y la
Penetrantes. Como alternativa a los requisitos de
temperatura más baja normal de 40°F (5°C). [Como ejemplo,
III641.1 y III641.2, cuando se utilizan penetrantes de contraste de color, está permitido
para calificar un penetrante normalmente utilizado entre 40°F y 125°F
utilizar un solo bloque comparador
(5°C a 52°C) rango de temperatura a 200°F (93°C), la capacidad de tapa del penetrante
`
para las temperaturas estándar y no estándar y para

solo necesita estar calificada para 40°F
hacer la comparación por fotografía.
a 200°F (5°C a 93°C) usando el rango normal de permanencia
veces.] (a) Cuando se utiliza el bloque comparador único y la técnica fotográfica, se aplican
El rango de temperatura puede ser cualquier rango deseado por el los detalles de procesamiento (según corresponda) descritos en III641.1 y III641.2. El
usuario. Para un penetrante de alta temperatura que normalmente no se usa

en el rango de temperatura de 40°F a 125°F (5°C a 52°C), el El bloque se limpiará minuciosamente entre los dos pasos del procesamiento. Las
La capacidad de un penetrante para revelar indicaciones en el comparador debe fotografías se tomarán después del procesamiento.
demostrarse tanto en la parte inferior como en la inferior. a la temperatura no estándar y luego, después del proceso, cante a la temperatura
temperaturas superiores. [Como ejemplo, para calificar un penetrante de alta temperatura estándar. La indicación de grietas.
para uso entre 200°F y 400°F se compararán entre las dos fotografías. El
(93°C a 204°C), la capacidad del penetrante para revelar Se aplicarán los mismos criterios de calificación que III641.1.
(b) Se utilizarán técnicas fotográficas idénticas para

hacer las fotografías comparativas.
223

ARTÍCULO 7
EXAMEN DE PARTÍCULAS MAGNÉTICAS
ð19Þ ALCANCE DEL T710 requisitos enumerados en la Tabla T721. El procedimiento escrito
establecerá un valor único, o rango de valores,
Cuando lo especifica la Sección del Código de referencia, el para cada requisito.
técnicas de examen de partículas magnéticas descritas en
T721.2 Habilitación de Procedimiento. cuando el procedimiento
se utilizará este artículo. En general, este artículo cumple con SE709,
la calificación se especifica en la sección del código de referencia,
Guía estándar para pruebas de partículas magnéticas. Este documento
un cambio de un requisito en la Tabla T721 identificado como un
proporciona detalles para ser
variable esencial requerirá la recalificación del procedimiento escrito
considerados en los procedimientos utilizados.
mediante demostración. Un cambio de un requisito identificado como
Cuando este artículo esté especificado por un Código de referencia una variable no esencial no
Sección, el método de partículas magnéticas descrito en este
exigir la recalificación del procedimiento escrito. Todo
El artículo se utilizará junto con el artículo 1, Requisitos generales. La
cambios de variables esenciales o no esenciales de aquellas
definición de los términos utilizados en este artículo es
especificado en el procedimiento escrito requerirá una revisión del
en el artículo 1, Apéndice I obligatorio, I121.4, MT — Partícula
procedimiento escrito o una adición al mismo.
magnética.
EQUIPO T730
T720 GENERAL Un medio adecuado y apropiado para producir el

Se empleará el flujo magnético necesario en la pieza,
El método de examen de partículas magnéticas se aplica a
utilizando una o más de las técnicas enumeradas y descritas en T750.
detectar grietas y otras discontinuidades en las superficies de
Materiales ferromagnéticos. La sensibilidad es mayor para
discontinuidades superficiales y disminuye rápidamente a medida que T731 MEDIO DE EXAMEN ð19Þ
aumenta la profundidad de las discontinuidades debajo de la superficie.
Las partículas ferromagnéticas finamente divididas utilizadas para la
Tipos típicos de discontinuidades que pueden detectarse mediante este
El examen deberá cumplir con los siguientes requisitos.
método son grietas, vueltas, costuras, cierres fríos y
laminaciones. (a) Tipos de partículas. Las partículas se tratarán para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes o ambos) para
En principio, este método implica magnetizar un área
hacerlas altamente visibles.
a examinar y aplicar partículas ferromagnéticas (las
(contrastando) contra el fondo de la superficie que se está
medio de examen) a la superficie. Patrones de partículas examinado.
se forman en la superficie donde se fuerza el campo magnético
(b) Partículas. Las partículas secas y húmedas y los vehículos en
fuera de la pieza y sobre discontinuidades para causar una fuga
suspensión deberán estar de acuerdo con las especificaciones
campo que atrae las partículas. Los patrones de partículas son
aplicables enumeradas en SE709, párr. 2.2.
generalmente característico del tipo de discontinuidad que se
(c) Limitaciones de temperatura. Se utilizarán partículas
detectado.
dentro de las limitaciones del rango de temperatura establecidas por el
Cualquiera que sea la técnica utilizada para producir el imán fabricante de las partículas. Alternativamente, las partículas pueden ser
flujo en la pieza, la máxima sensibilidad será a discontinuidades lineales utilizado fuera de las recomendaciones del fabricante de partículas,
orientadas perpendicularmente a las líneas de flujo. siempre que el procedimiento esté calificado de acuerdo
Para una eficacia óptima en la detección de todo tipo de discontinuidades, con el artículo 1, T150 a la temperatura propuesta.
cada área debe examinarse al menos dos veces,
siendo las líneas de flujo durante un examen aproximadamente
perpendiculares a las líneas de flujo durante el
otro.
Requisitos T721.1. El examen de partículas magnéticas se realizará

de acuerdo con un procedimiento escrito que, como mínimo, contendrá
la
`,``,
224


Tabla T721
Requisitos de un procedimiento de examen de partículas magnéticas
No esencial
Requisito Variable esencial Variable
Técnica de magnetización X …
Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rango especificado en este artículo o como se indica anteriormente X …
calificado
Preparación de la superficie X …
Partículas magnéticas (fluorescentes/visibles, color, tamaño de partícula, húmedas/secas) X …
Método de aplicación de partículas. X …
Método de eliminación del exceso de partículas. X …
Intensidad de luz mínima X …
Recubrimientos existentes, mayores que el espesor demostrado. X …
Mejora del contraste de la superficie no magnética, cuando se utiliza X …
Demostración de rendimiento, cuando sea necesario X …
Temperatura de la superficie de la pieza de examen fuera del rango de temperatura recomendado por el X …
fabricante de las partículas o como previamente calificado

Forma o tamaño del objeto de examen. … X
Equipo del mismo tipo. … X
Temperatura (dentro de las especificadas por el fabricante o según lo previamente calificado) … X
Técnica de desmagnetización … X
Técnica de limpieza postexamen … X
Requisitos de calificación del personal … X
T740 REQUISITOS VARIOS mejora. No es necesaria la medición del espesor de esta mejora del contraste de la
superficie no magnética.
T741 ACONDICIONAMIENTO DE SUPERFICIES
NOTA: Consulte T150(a) como guía para la demostración requerida en T741.1(d) y
T741.2.
T741.1 Preparación.
(a) Generalmente se obtienen resultados satisfactorios cuando el

Las superficies están en condiciones de soldadura, laminación, fundición o forjado.
TÉCNICA T750
Sin embargo, la preparación de la superficie mediante
Puede ser necesario esmerilar o mecanizar cuando las regularidades de la superficie TÉCNICAS T751
puedan enmascarar indicaciones debidas a discontinuidades.
Se utilizarán una o más de las cinco técnicas de magnetización siguientes:
(b) Antes del examen de partículas magnéticas, la superficie
a examinar y todas las áreas adyacentes dentro de al menos
(a) técnica de pinchazo
1 pulgada (25 mm) debe estar seca y libre de suciedad, grasa, pelusa,
(b) técnica de magnetización longitudinal
incrustaciones, fundentes y salpicaduras de soldadura, aceite u otros materiales extraños.
asunto que pueda interferir con el examen. (c) técnica de magnetización circular
(d) técnica del yugo

(c) La limpieza se puede lograr usando detergentes o solventes orgánicos,
soluciones desincrustantes, removedores de pintura, vapor (e) técnica de magnetización multidireccional
desengrasado, chorro de arena o granalla o limpieza ultrasónica

métodos.
TÉCNICA DE PRODUCCIÓN T752
(d) Si quedan recubrimientos no magnéticos en la pieza en el

T752.1 Procedimiento de Magnetización. Para la técnica del producto, la
En el área que se examina, se deberá demostrar que se pueden detectar indicaciones magnetización se logra mediante productos portátiles.
a través del espesor máximo de revestimiento existente aplicado. Cuando se utiliza tipo contactos eléctricos presionados contra la superficie en
la técnica del yugo AC, el área a examinar. Para evitar la formación de arcos, un control remoto
La demostración se realizará de acuerdo con las normas obligatorias. El interruptor, que puede estar integrado en los mangos de la picana, debe estar
Apéndice I de este artículo. proporcionado para permitir que la corriente se aplique después de
Las picanas se han colocado correctamente.
T741.2 Mejora del contraste de superficies no magnéticas. Se pueden aplicar
contrastes de superficie no magnéticos mediante T752.2 Corriente Magnetizante. Directo o rectificado
el examinador a superficies no recubiertas, sólo en cantidades suficientes para Se utilizará corriente magnetizante. La corriente será
mejorar el contraste de las partículas. Cuando no es magnético 100 (mínimo) amperios/pulg. (4 amperios/mm) a
Si se utiliza mejora del contraste de la superficie, se deberá demostrar que las 125 (máximo) amperios/pulg. (5 amperios/mm) de espacio entre puntas
3
indicaciones pueden detectarse a través del para secciones de /4 pulg. (19 mm) de espesor o más. Para secciones
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,` 225

3
menos de /4 pulg. (19 mm) de espesor, la corriente deberá ser de 90 (b) Piezas con relaciones L/D inferiores a 4 pero no inferiores a 2.
amperios/pulgada. (3,6 amperios/mm) a 110 amperios/pulg. (4,4 Los amperiosvueltas magnetizantes deberán estar dentro del 10% del
amperios/mm) de espacio entre puntas. valor de amperiosvueltas determinado de la siguiente manera:
T752.3 Espaciado de productos. El espacio entre puntas no debe

exceder las 8 pulgadas (200 mm). Se pueden utilizar espacios más
cortos para adaptarse a las limitaciones geométricas del área que se
examina o para aumentar la sensibilidad, pero los espacios entre las
(c) Piezas con relaciones L/D inferiores a 2. No se puede utilizar la
puntas de menos de 3 pulgadas (75 mm) generalmente no son prácticos
técnica de magnetización de bobina.
debido a la formación de bandas de partículas alrededor de las puntas.
(d) Si el área a magnetizar se extiende más allá de 9 pulgadas (225
Las puntas de las picanas se mantendrán limpias y revestidas. Si el
mm) a cada lado del centro de la bobina, la adecuación del campo se
voltaje del circuito abierto de la fuente de corriente magnetizante es
deberá demostrar utilizando un indicador de campo magnético o cuñas
superior a 25 V, se recomienda utilizar picanas con punta de plomo,
de falla artificiales según T764. (e) Para piezas
acero o aluminio (en lugar de cobre) para evitar depósitos de cobre en
la pieza que se examina. grandes debido al tamaño y la forma, la corriente magnetizante será
de 1200 amperiosvueltas a 4500 amperiosvueltas. La adecuación del
campo se demostrará utilizando cuñas de falla artificiales o un indicador
de campo magnético en forma de tarta de acuerdo con T764. No se
T753 MAGNETIZACIÓN LONGITUDINAL
debe utilizar un gausímetro de sonda de efecto Hall con técnicas de
TÉCNICA magnetización de bobina envolvente.
T753.1 Procedimiento de Magnetización. Para esta técnica, la

magnetización se logra haciendo pasar corriente a través de una bobina T753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener
fija (o cables) de múltiples vueltas que se enrolla alrededor de la pieza o la intensidad del campo magnetizante necesaria se determinará
sección de la pieza que se va a examinar. Esto produce un campo dividiendo los amperiosvueltas obtenidos en los pasos T753.2(a) o
magnético longitudinal paralelo al eje de la bobina. T753.2(b) por el número de vueltas en la bobina de la siguiente manera:
Si se utiliza una bobina fija prebobinada, la pieza se colocará cerca

del costado de la bobina durante la inspección. Esto es de especial
importancia cuando la abertura de la bobina es más de 10 veces el área
de la sección transversal de la pieza.
Por ejemplo, si se utiliza una bobina de 5 vueltas y los amperios por
T753.2 Intensidad del campo magnético. Se utilizará corriente vuelta necesarios son 5000, utilice
continua o rectificada para magnetizar las piezas examinadas mediante
esta técnica. La intensidad de campo requerida se calculará en función
de la longitud L y el diámetro D de la pieza de acuerdo con (a) y (b), o
según lo establecido en (d) y (e), siguientes. Las partes largas se
examinarán en secciones que no excedan las 18 pulgadas (450 mm), y
se utilizarán 18 pulgadas (450 mm) para la parte L al calcular la T754 TÉCNICA DE MAGNETIZACIÓN CIRCULAR
intensidad de campo requerida. Para piezas no cilíndricas, D será la T754.1 Técnica de Contacto Directo. (a)
diagonal máxima de la sección transversal. (a) Piezas con relaciones L/ Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización
D iguales o superiores a 4. se logra haciendo pasar corriente a través de la pieza a examinar. Esto
produce un campo magnético circular que es aproximadamente
La corriente magnetizante deberá estar dentro del 10% del valor de perpendicular a la dirección del flujo de corriente en la pieza.
amperiosvueltas determinado de la siguiente manera:
(b) Corriente magnetizante. Se utilizará corriente magnetizante directa
o rectificada (rectificada de media onda o rectificada de onda completa).
(1) La corriente será de 300 amperios/pulgada. (12 A/mm) a 800

amperios/pulg. (31 A/mm) de diámetro exterior.
(2) Para piezas con formas geométricas que no sean redondas, se
Por ejemplo, una pieza de 250 mm (10 pulg.) de largo × 2 pulg.
utilizará la diagonal de sección transversal más grande en un plano
(50 mm) de diámetro tiene una relación L/D de 5. Por lo tanto,
perpendicular al flujo de corriente en lugar del diámetro exterior indicado
en (1) arriba.
(3) Si no se pueden obtener los niveles de corriente requeridos
para (1), se utilizará la corriente máxima obtenible y se demostrará la
adecuación del campo de acuerdo con T764.
226
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

T754.2 Técnica de Conductor Central.

Figura T754.2.2
(a) Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, un elemento central
La región efectiva de examen cuando
El conductor se utiliza para examinar las superficies internas de piezas Uso de un conductor central desplazado
cilíndricas o anulares. El conductor central
La técnica también se puede utilizar para examinar las superficies conductor central
Eficaz
exteriores de estas formas. Donde se encuentran cilindros de gran diámetro 4d
región
Para ser examinado, el conductor debe colocarse cerca de
la superficie interna del cilindro. Cuando el conductor está
no centrado, la circunferencia del cilindro deberá ser
examinado en incrementos. Mediciones de intensidad de campo
de acuerdo con T764 se utilizará para determinar d
se puede examinar la extensión del arco para cada posición del conductor
o se pueden seguir las reglas en (c) a continuación.
Las barras o cables pasados a través del orificio de un cilindro pueden
utilizarse para inducir magnetización circular.
(b) Corriente magnetizante. La intensidad de campo requerida

será igual a lo determinado en T754.1(b) para un
Conductor central de una sola vuelta. El campo magnético aumentará
en proporción al número de veces que el centro
El cable conductor pasa a través de una parte hueca. Por ejemplo, si se TÉCNICA DEL YUGO T755
requieren 6000 A para examinar una pieza usando un solo
Para esta técnica, se utilizarán yugos electromagnéticos de corriente
pasar el conductor central, entonces se requieren 3000 A cuando 2
alterna o continua, o yugos de imán permanente.
Se utilizan pasos del cable pasante y se requieren 1200 A si se utilizan usado.
5 pasos (consulte la Figura T754.2.1). Cuando
Se utiliza la técnica del conductor central, campo magnético.
T756 MAGNETIZACIÓN MULTIDIRECCIONAL
La idoneidad se verificará utilizando un campo de partículas magnéticas.
TÉCNICA
indicador de acuerdo con T764.
T756.1 Procedimiento de Magnetización. Para esta técnica,
(c) Conductor central compensado. Cuando el conductor que pasa
La magnetización se logra mediante una potencia de alto amperaje.
por el interior de la pieza se coloca contra una pared lateral interior de la
paquetes que operan hasta tres circuitos que se energizan uno a la vez
pieza, los niveles de corriente, como se indica en
en rápida sucesión. El efecto de estos
Se aplicará T754.1(b)(1), excepto que el diámetro utilizado
para los cálculos actuales será la suma del diámetro corrientes magnetizantes que alternan rápidamente es producir una
del conductor central y el doble del espesor de la pared. Magnetización general de la pieza en múltiples direcciones.
Se pueden generar campos magnéticos circulares o longitudinales.
La distancia a lo largo de la circunferencia de la parte (exterior) que
en cualquier combinación utilizando las diversas técnicas descritas en
está efectivamente magnetizado se considerará cuatro veces el
T753 y T754.
diámetro del conductor central, como se ilustra en la Figura
T754.2.2. Toda la circunferencia será inspeccionada por T756.2 Intensidad del campo magnético. Sólo tres fases,
girando la pieza sobre el conductor, permitiendo aproximadamente un Se utilizará corriente rectificada de onda completa para magnetizar.
10% de superposición del campo magnético. la parte. Los requisitos iniciales de corriente magnetizante.
Figura T754.2.1
Técnica del conductor central de una y dos pasadas
227 `,``,``,,`,`,,````,`,``,,,```,,`,,`,`,,`

para cada circuito se establecerá utilizando los métodos previamente T763 GAUSSÍMETROS
pautas descritas (ver T753 y T754). La idoneidad del campo magnético se
Los gausímetros de sonda de efecto Hall utilizados para verificar la
demostrará utilizando
intensidad del campo magnetizante de acuerdo con T754 se calibrarán al
cuñas de defecto artificiales o una partícula magnética en forma de pastel
indicador de campo de acuerdo con T764. Un efecto Hall menos una vez al año o cuando el equipo
ha sido sometido a una reparación importante, revisión periódica,
El gausímetro de sonda no se utilizará para medir la adecuación del campo
o daño. Si el equipo no ha estado en uso durante un año
para la técnica de magnetización multidireccional.
o más, la calibración se deberá realizar antes del primer uso.
Se obtendrá un campo adecuado en al menos dos
direcciones perpendiculares, y las intensidades de campo serán
equilibrado de modo que un campo fuerte en una dirección no
T764 ADECUACIÓN DEL CAMPO MAGNÉTICO Y
abrumar el campo en la otra dirección. Para áreas
DIRECCIÓN
cuando no se puedan demostrar intensidades de campo adecuadas,
Se utilizarán técnicas adicionales de partículas magnéticas para Solicitud T764.1. El uso de indicadores de campo magnético, cuñas
obtener la cobertura bidireccional requerida. artificiales o campos tangenciales de efecto Hall

Las sondas solo están permitidas cuando se hace referencia específicamente a ellas.
mediante las siguientes técnicas de magnetización:
CALIBRACIÓN T760
(a) Longitudinal (T753)
T761 FRECUENCIA DE CALIBRACIÓN (b) Circular (T754)

(c) Multidireccional (T756)
T761.1 Equipos Magnetizadores.
(una frecuencia. Los equipos magnetizadores con amperímetro deberán
T764.2 Adecuación del campo magnético. El campo magnético aplicado
calibrarse al menos una vez al año, o cuando sea
deberá tener fuerza suficiente para producir indicaciones satisfactorias, pero
el equipo ha sido sometido a reparaciones eléctricas importantes, revisiones
no será tan fuerte como para
periódicas o daños. Si el equipo no tiene
provoca el enmascaramiento de indicaciones relevantes por acumulaciones
estado en uso durante un año o más, la calibración se deberá realizar
no relevantes de partículas magnéticas. Factores que influyen
antes del primer uso.
La intensidad de campo requerida incluye el tamaño, la forma y
(b) Procedimiento. La precisión del medidor de la unidad será
permeabilidad material de la pieza; la técnica de la magnetización;
verificado anualmente por equipos rastreables a un nivel nacional
revestimientos; el método de aplicación de partículas; y
estándar. Se tomarán lecturas comparativas durante al menos
el tipo y ubicación de las discontinuidades a detectar.
tres niveles diferentes de salida de corriente que abarcan
Cuando es necesario verificar la adecuación de los campos magnéticos.
rango utilizable.
intensidad del campo, se verificará utilizando uno o más
(c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deberá desviarse
de los siguientes tres métodos.
en más de ±10% de la escala completa, en relación con la lectura real.
(a) Indicador de campo de partículas magnéticas en forma de tarta. El
valor actual como lo muestra el medidor de prueba.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
indicador, que se muestra en la Figura T764.2(a), se colocará
T761.2 Fotómetros. Los fotómetros se calibrarán al menos una vez al en la superficie a examinar, de modo que el lado recubierto de cobre quede
año o siempre que un contador haya sido alejado de la superficie inspeccionada. Una adecuada
reparado. Si los medidores no han estado en uso durante un año o La intensidad del campo se indica cuando una línea claramente definida (o
Además, la calibración se realizará antes de su uso. Líneas) de partículas magnéticas se forman a través de la cara de cobre.
del indicador cuando se aplican las partículas magnéticas
ð19Þ T762 PODER DE ELEVACIÓN DE YUGOS
simultáneamente con la fuerza magnetizante. Cuando un
(a) Se verificará el poder magnetizante de los yugos. Si no se forma una línea de partículas claramente definida, se cambiará la
antes de usar cada día que se use el yugo. la magnetización técnica de magnetización según sea necesario. Los indicadores tipo tarta se
El poder de los yugos se verificará siempre que el yugo haya utilizan mejor con procedimientos de partículas secas.
sido dañado o reparado. (b) Calzas para defectos artificiales. Una de las cuñas que se muestran en
(b) Cada yugo electromagnético de corriente alterna deberá Se utilizará la Figura T764.2(b)(1) o la Figura T764.2(b)(2) cuya orientación
tener una potencia de elevación de al menos 10 lb (4,5 kg) en el espacio sea tal que pueda tener una componente perpendicular al campo magnético
máximo entre postes, con un contacto similar al que será aplicado. cuñas
utilizado durante el examen. con muescas lineales se orientarán de manera que al menos una
(c) Cada yugo magnético permanente o de corriente continua La muesca es perpendicular al campo magnético aplicado.
deberá tener una potencia de elevación de al menos 40 lb (18 kg) en el Se pueden utilizar cuñas con muescas circulares únicamente en cualquier
separación máxima entre polos, con contacto similar al que orientación. Se colocarán cuñas en la superficie que va a ser ex
ser utilizado durante el examen. aminado, de modo que el lado del defecto artificial de la cuña quede
(d) Cada peso deberá pesarse con una báscula de un fabricante hacia la superficie inspeccionada. Una intensidad de campo adecuada es
acreditado y estar estampada con las indicaciones aplicables. Se indica cuando aparece una línea (o líneas) claramente definidas de
peso nominal antes del primer uso. Un peso sólo necesita ser partículas magnéticas, que representan el defecto del 30% de profundidad.
verificado nuevamente si está dañado de una manera que podría haber (s) en la cara de la cuña cuando se aplican partículas magnéticas
causó una posible pérdida de material. simultáneamente con la fuerza magnetizante. Cuando un
228

T765 CONCENTRACIÓN DE PARTÍCULAS HÚMEDAS Y

Figura T764.2(a)
CONTAMINACIÓN
Indicador de campo de partículas magnéticas en forma de tarta
En las unidades horizontales húmedas se determinará la concentración y la
contaminación del baño midiendo su volumen de sedimentación. Esto se logra mediante

el uso de un tubo de centrífuga en forma de pera con un vástago de 1 ml (divisiones de
0,05 ml) para suspensiones de partículas fluorescentes o un vástago de 1,5 ml (divisiones
de 0,1 ml) para suspensiones no fluorescentes (consulte SE709, Apéndice X5). Antes del
muestreo, la suspensión debe pasar a través del sistema de recirculación durante al
menos 30 minutos para asegurar una mezcla completa de todas las partículas que podrían
haberse depositado en el tamiz del sumidero y a lo largo de los lados o el fondo del tanque.
T765.1 Concentración. Tomar una porción de 100 mL de la suspensión de la manguera

o boquilla, desmagnetizarla y dejar reposar por aproximadamente 60 min con
suspensiones de destilados de petróleo o 30 min con suspensiones a base de agua.
`,``,``,,`,`,,````,`,``,,,
Figura T764.2(b)(1)
Calzas para defectos artificiales
0,002
A
pulgadas (0,06 mm)
0,005 pulg.
20 mm
(0,125 mm)
Si no se forma una línea de partículas claramente definida, se cambiará la técnica de (0,75 pulg.)
típico
magnetización según sea necesario. Los indicadores tipo cuña se utilizan mejor con
procedimientos de partículas húmedas. 0,0006
A
NOTA: Las cuñas circulares que se muestran en la Ilustración (b) de la Figura T764.2(b) pulgadas (0,015 mm)
6 mm
(2) también tienen profundidades de falla menores y mayores que el 30 %.
(0,25 pulg.) Sección aA
Tipo B
(c) Sonda de campo tangencial de efecto Hall. Se utilizará un gaussímetro y una sonda
de campo tangencial de efecto Hall para medir el valor máximo de un campo tangencial.
A 0,002
La sonda se colocará en la superficie a examinar de manera que se determine la intensidad pulgadas (0,05 mm)
máxima del campo. Una intensidad de campo adecuada se indica cuando el campo
medido es 20 mm
(0,75 pulg.)
1
dentro del rango de 30 G a 60 G (2,4 kAm a 4,8 kAm1) mientras se aplica la fuerza
A 0,0006
magnetizante. Consulte el Artículo 7, Apéndice A no obligatorio.
pulgadas (0,015 mm)
0,5 pulg.
(12,5 mm) Sección aA
T764.3 Dirección del campo magnético. La(s) dirección(es) de magnetización se Tipo C
determinarán mediante indicaciones de partículas obtenidas usando un indicador o cuñas
como se muestra en la Figura T764.2(a), la Figura T764.2(b)(1) o la Figura T764.2(b). 2 pulgadas (50 mm) 0,002 pulgadas.
(2). Cuando no se forma una línea de partículas claramente definida Defecto División
(0,05 milímetros)
10 mm
(0,4 pulg.)
(a) en la dirección deseada, o (b) en al menos 0,005 pulg.
dos direcciones casi perpendiculares para la técnica multidireccional (0,125 mm)

0,2 pulgadas.
típico
(5 milímetros)
0,0006
La técnica de magnetización se cambiará según sea necesario.
Tipo R pulgadas (0,015 mm)

NOTA GENERAL: Arriba se muestran ejemplos de cuñas de fallas artificiales utilizadas en

la verificación del sistema de inspección de partículas magnéticas (no dibujadas a escala).
Las cuñas están hechas de acero con bajo contenido de carbono (lámina de acero 1005).
El defecto artificial se graba o mecaniza en un lado de la lámina hasta una profundidad del
30% del espesor de la lámina.
229

Figura T764.2(b)(2)
Calzas para defectos artificiales
0,75 pulg. (típico) (19,05 mm) 0,75 pulg. (típico) (19,05 mm)
6,36 mm 6,36 mm
(0,25 pulg.) (0,25 pulg.)
0,507 pulgadas de diámetro. 0,507 pulgadas de diámetro.

DE (12,88 mm) DE (12,88 mm)
0,007 pulgadas 0,007 pulgadas

(típico) (0,18 mm) (típico) (0,18 mm)
Muescas: Muescas:
Profundidad: 30 % 0,0006 pulg. Profundidad: 30 % 0,0012 pulg.

(0,015 mm) (0,030 mm)
230 Grosor de la cuña: 430 Grosor de la cuña:
0,002 pulg. (0,05 mm) 0,004 pulg. (0,10 mm)
Tipo de cuña CX230 Tipo de cuña CX430
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
(a)
0,75 pulg. (típico) (19,05 mm) 0,75 pulg. (típico) (19,05 mm)
0,007 pulg. (tipo) (0,18 0,007 pulg. (tipo) (0,18

mm) 0,507 pulgadas de diámetro. mm) 0,507 pulgadas de diámetro.
DE (12,88 mm) DE (12,88 mm)
0,383 pulgadas de diámetro. 0,383 pulgadas de diámetro.

DE (9,73 mm) DE (9,73 mm)
0,258 pulgadas. diámetro. DE 0,258 pulgadas de diámetro.

(6,55 milímetros) DE (6,55 mm)
Profundidad de la Profundidad de la
muesca: 20% 0,0004 muesca: 20% 0,0004
pulg. (0,010 mm) DE pulg. (0,010 mm) DE
30% 0,0006 pulg. 30% 0,0006 pulg.
4234 2234
(0,015 mm) centro 40% (0,015 mm) centro 40%
Tipo de cuña 3C4234 Grosor 0,0008 pulg. (0,020 Tipo de cuña 3C2234 Grosor 0,0008 pulg. (0,020
de la cuña 0,004 pulg. (0,102 mm) mm) DI de la cuña 0,002 pulg. (0,05 mm) mm) DI
(b)
0,79 pulg. (típico) (20,06 mm) 0,235 0,79 pulg. (típico) (20,06 mm) 0,235
pulg. (típico) pulg. (típico) (5,97
(5,97 milímetros) mm)
0,255 pulgadas de diámetro. 0,255 pulgadas. diámetro
DE (6,48 mm) DE (6,48 mm)
0,006 pulg. (típico) 0,006 pulg. (típico)

(0,152 mm) (0,152 mm)
0,395 pulg. 0,20 pulgadas (tipo) 0,395 pulg. 0,20 pulgadas (tipo)
(típico) (10,03 mm) (5,08 milímetros) (típico) (10,03 mm) (5,08 milímetros)
Profundidad de la Profundidad de la
muesca: 30 % 0,0006 muesca: 30 % 0,0012
pulg. (0,015 mm) pulg. (0,030 mm)
230 430
Grosor de la cuña 0,002 pulg. (0,051 mm) Grosor de la cuña 0,004 pulg. (0,102 mm)
Tipo de cuña CX230 Tipo de cuña CX4430
(C)
230

suspensiones antes de la lectura. El volumen que se deposita (b) Uso del anillo de prueba. El anillo de prueba (consulte
en el fondo del tubo es indicativo de la concentración de la Figura T766.1) está magnetizado circularmente con CA
partículas en el baño. rectificada de onda completa que pasa a través de un
conductor central con un orificio de 1 pulg. a 11/4 pulg. (25
T765.2 Liquidación de Volúmenes. Para partículas
mm a 32 mm) de diámetro ubicado en el centro del anillo. .
fluorescentes, el volumen de sedimentación requerido es de 0,1
El conductor debe tener una longitud mayor a 16 pulgadas
ml a 0,4 ml en una muestra de baño de 100 ml y de 1,2 ml a 2,4
(400 mm). Las corrientes utilizadas serán 1400 A, 2500 A y
ml por 100 ml de vehículo para partículas no fluorescentes, a
3400 A. El número mínimo de orificios mostrados será tres,
menos que el fabricante de las partículas especifique lo
cinco y seis, respectivamente. El borde del anillo debe
contrario. Los controles de la concentración se realizarán al menos cada ocho horas.
examinarse con luz negra o luz visible, según el tipo de
T765.3 Contaminación. Tanto las suspensiones fluorescentes partículas involucradas. Esta prueba se realizará a los tres
como las no fluorescentes se revisarán periódicamente para detectar amperajes si la unidad se utilizará a estos o a amperajes
contaminantes como suciedad, incrustaciones, aceite, pelusa, superiores. En el ensayo no se excederán los valores de
pigmentos fluorescentes sueltos, agua (en el caso de suspensiones amperaje indicados. Si la prueba no revela el número
de aceite) y aglomerados de partículas que puedan afectar requerido de orificios, el equipo se retirará de servicio y se
determinará
negativamente el rendimiento del sistema magnético. proceso de examen de partículas. y corregirá la causa de la pérdida de sensibilidad.
La prueba de contaminación se realizará al menos una vez Esta prueba se realizará al menos una vez por semana.
por semana.
(a) Contaminación del portador. Para baños
fluorescentes, el líquido directamente encima del precipitado EXAMEN T770
debe examinarse con luz de excitación fluorescente. El
líquido tendrá un poco de fluorescencia. Su color se puede T771 EXAMEN PRELIMINAR
comparar con una muestra recién elaborada con los
Antes de realizar el examen de partículas magnéticas, se
mismos materiales o con una muestra no utilizada del baño debe realizar una verificación de la superficie de examen para
original que se conservó para este fin. Si la muestra "usada"
Ubique cualquier abertura de discontinuidad de la superficie que
es notablemente más fluorescente que el estándar de
no pueda atraer ni retener partículas magnéticas debido a su ancho.
comparación,
se deberá reemplazar el baño. (b) Contaminación por
partículas. La porción graduada del tubo debe examinarse T772 DIRECCIÓN DE MAGNETIZACIÓN
bajo luz de excitación fluorescente si el baño es fluorescente
Se realizarán al menos dos exámenes separados en
y bajo luz visible (tanto para partículas fluorescentes como
cada área. Durante el segundo examen, las líneas de
no fluorescentes) para detectar estrías o bandas, diferencias de color o apariencia.
flujo magnético serán aproximadamente perpendiculares
Las bandas o estrías pueden indicar contaminación. Si el
a las utilizadas durante el primer examen. Para el
volumen total de los contaminantes, incluidas bandas o
segundo examen se podrá utilizar una técnica diferente
estrías, excede el 30% del volumen de partículas de magnetización.
magnéticas, o si el líquido es notablemente fluorescente,
se reemplazará el baño.
T773 MÉTODO DE EXAMEN
RENDIMIENTO DEL SISTEMA T766 DE HORIZONTAL
Las partículas ferromagnéticas utilizadas en un medio de
UNIDADES
examen pueden estar húmedas o secas y pueden ser
La muestra de anillo Ketos (Betz) (consulte la Figura T766.1) fluorescentes o no fluorescentes. Los exámenes se realizarán
se utilizará para evaluar y comparar el rendimiento general y
mediante el método continuo.
la sensibilidad de técnicas de partículas magnéticas (a) Partículas secas. La corriente magnetizante
fluorescentes y no fluorescentes, tanto secas como húmedas, permanecerá encendida mientras se aplica el medio de
utilizando una técnica de magnetización de examen y mientras se elimina cualquier exceso del medio de
conductor central. (a) Material del anillo de prueba Ketos examen. (b) Partículas húmedas. La corriente magnetizante
(Betz). El anillo de acero para herramientas (Ketos) debe se activará después de que se hayan aplicado las partículas.
mecanizarse a partir de material AISI 01 de acuerdo con la El flujo de partículas se detendrá con la aplicación de
Figura T766.1. El anillo mecanizado o la pieza en bruto de corriente. Las partículas húmedas aplicadas desde latas de
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
acero deben recocerse a 1650 °F (900 °C), enfriarse 50 °F (28 aerosol o pulverizadores de bomba se pueden aplicar antes
°C) por hora hasta 1000 °F (540 °C) y luego enfriarse con aire y/o durante la aplicación de corriente magnetizante. Se
a temperatura ambiente para dar resultados comparables pueden aplicar partículas húmedas durante la aplicación de
usando anillos similares que han tenido el mismo tratamiento. corriente magnetizante si no se aplican directamente al área
El material y el tratamiento térmico son variables importantes. de examen y se les permite fluir sobre el área de examen o
La experiencia indica que controlar la suavidad del anillo se aplican directamente al área de examen con velocidades
únicamente mediante la dureza (90 HRB a 95 HRB) es insuficiente. bajas insuficientes para eliminar las partículas acumuladas.
231

(2)
La
tolerancia
en
la
distancia
Des
±0,005
pulg.
(±0,1
mm).
(1)
Todos
los
diámetros
de
los
orificios
son
±0,005
pulg.
(±0,1
mm).
Los
orificios
números
del
8
al
12
son
opcionales.
NOTAS:
(540°C).
Enfríe
en
horno
o
aire
a
temperatura
ambiente.
Termine
el
anillo
a
RMS
25
yprotéjalo
de
la
corrosión.
(d)
El
anillo
puede
tratarse
térmicamente
de
la
siguiente
manera:
Calentar
a
1400
°F
a1500
°F
(760
°C
a
790
°C).
Mantener
a
esta
temperatura
durante
1hora.
Enfríe
a
una
velocidad
mínima
de
40
°F/
hr
(22
°C/
h)
hasta
menos
de
1000
°F
(c)
El
material
es
acero
para
herramientas
01
ANSI
de
material
redondo
recocido.
(b)
En
la
tabla
del
texto,
todas
las
dimensiones
están
en
pulgadas,
excepto
los
valores
entre
paréntesis,
que
están
en
milímetros.
(a)
Todas
las
dimensiones
son
±0,03
pulg.
(±0,8
mm)
o
como
se
indica
en
las
Notas
(1)
y(2).
NOTAS
GENERALES:
0,07
(1,8)
0,14
(3,6)
0,21
(5,3)
0,28
(7,1)
0,35
(9,0)
0,42
(10,8)
0,49
(12,6)
0,56
(14,4)
0,63
(16,2)
0,70
(18,0)
0,77
(19,8)
0,84
( 21.6) “D”
(2)] [Nota
(1)]
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8)
0,07
(1,8) Diámetro
[Nota
12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 Agujero
(22mm)
7/8
pulg.
11
10 D
9 12
8
232
milímetros)
7 (32 milímetros)
(125
11/4
pulg.
5
pulg. 6
5
4
3

12
`
125
No
Tipo.
3/4
pulg.
(19
mm)
de
Anillo
prueba
Ketos
(Betz)
Figura
T766.1
apto
para
Us
ASM
MDT
Pet
Mo
7
A
`,,`,,`,
revent
`,``,``,
02/07/
598
Lice
BPVC
13:29:
COBERTURA DEL EXAMEN T774 (a) Se realizará en un área oscura con un nivel máximo de luz blanca
ambiental de 2 fc (21,5 lx) medido
Todos los exámenes se realizarán con suficiente campo
con un fotómetro blanco calibrado en el examen
se superponen para garantizar una cobertura del 100% a la sensibilidad
superficie.
requerida (T764).
(b) Los examinadores estarán en un área oscura durante al menos
5 minutos antes de realizar los exámenes para permitir su
T775 CORRIENTE RECTIFICADA
ojos para adaptarse a la visión en la oscuridad. Gafas o lentes usados
(a) Siempre que se requiera corriente continua, se podrá utilizar por los examinadores no serán fotosensibles.
corriente rectificada. La corriente rectificada para la magnetización. (c) El área de examen deberá estar iluminada con
deberá ser corriente trifásica (rectificada de onda completa), Luces UVA que funcionan en el rango entre 320 nm
o corriente monofásica (rectificada de media onda). y 400 nm.
(b) El amperaje requerido con un sistema trifásico de onda completa. (d) Las luces UVA alcanzarán un mínimo de
La corriente rectificada se verificará midiendo la corriente promedio. 1000 μW/cm2 en la superficie de la pieza que se examina
durante todo el examen.
(c) El amperaje requerido con corriente monofásica (rectificada de (e) Los reflectores, filtros, gafas y lentes deben ser
media onda) se verificará midiendo Comprobado y, si es necesario, limpiado antes de su uso. Agrietado
la salida de corriente promedio durante el medio ciclo de conducción o reflectores, filtros, gafas o lentes rotos deberán ser reemplazados
únicamente. inmediatamente.
(d) Al medir corriente rectificada de media onda con un f) La intensidad de la luz UVA se medirá con un
medidor de prueba de corriente continua, las lecturas se multiplicarán por Medidor de luz UVA antes de su uso, siempre que la potencia de la luz
dos.
la fuente se interrumpe o cambia, y al finalizar la
el examen o serie de exámenes.
T776 ELIMINACIÓN DE PARTÍCULAS EXCESIVAS g) Las lámparas de arco de vapor de mercurio producen longitudes
de onda UVA principalmente con una longitud de onda máxima de 365
Acumulaciones de exceso de partículas secas en exámenes.
nm para inducir fluorescencia. Fuentes LED UVA que utilizan un solo UVA
deberá eliminarse con una ligera corriente de aire procedente de una bombilla o
Los LED o una serie de LED UVA tendrán características de emisión
jeringa u otra fuente de aire seco a baja presión. La corriente o potencia
comparables a las de otras fuentes UVA. CONDUJO
de examen se mantendrá mientras se eliminan las partículas sobrantes.
Las fuentes UVA deberán cumplir con los requisitos de SE2297 y
SE3022. Las fuentes de luz LED UVA deberán estar certificadas como
Cumplir con los requisitos de SE3022 y/o ASTM.
ð19Þ INTERPRETACIÓN DEL T777 E3022.
La interpretación identificará si una indicación como

T777.3 Partículas Magnéticas Fluorescentes Con Otros
falso, no relevante o relevante. Las indicaciones falsas y no pertinentes
Longitudes de onda de excitación fluorescente. Alternativamente a
se acreditarán como falsas o no pertinentes. Se llevará a cabo una
los requisitos en T777.2, los exámenes pueden ser
interpretación para identificar las ubicaciones de
realizado utilizando fuentes de luz de longitud de onda alternativa
indicaciones y el carácter de la indicación.
que causan fluorescencia en recubrimientos de partículas específicas.
`,,,``,`,````,,``,,`,,`,,```,,``,,`
T777.1 Partículas magnéticas visibles (contraste de color). Cualquier fuente de luz de longitud de onda de luz alternativa y específica.
Las discontinuidades de la superficie están indicadas por acumulaciones de Las designaciones de partículas utilizadas deberán calificarse21 de
partículas magnéticas que deben contrastar con la superficie de examen. acuerdo con el Apéndice IV obligatorio. El examen
El color de las partículas magnéticas deberá se realizará de la siguiente manera:
ser diferente al color de la superficie de examen. Iluminación (luz blanca a) Se realizará en una zona oscura.
natural o suplementaria) del (b) Los examinadores estarán en un área oscura durante al menos
Se requiere una superficie de examen para la evaluación de las 5 minutos antes de realizar los exámenes para permitir su
indicaciones. La intensidad mínima de luz será de 100 fc. ojos para adaptarse a la visión en la oscuridad. Gafas o lentes usados
(1 076 litros). La intensidad de la luz, natural o suplementaria. por los examinadores no serán fotocromáticos ni exhibirán ningún
fuente de luz blanca, se medirá con una luz blanca fluorescencia.
medidor antes de la evaluación de las indicaciones o una verificación
(c) Si la fuente de luz de excitación de fluorescencia emite intensidades
Se utilizará una fuente de luz. La verificación de las fuentes de luz es
de luz visible superiores a 2 fc (21,5 lx), el examinador deberá usar gafas
debe demostrarse sólo una vez, documentarse,
con filtro que mejoren la fluorescencia.
y mantenido en archivo.
aprobado por el fabricante de la fuente de luz para su uso con
T777.2 Partículas Magnéticas Fluorescentes. Con partículas esa fuente de luz.
magnéticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo. (d) La fuente de luz de excitación de fluorescencia deberá
Igual que en T777.1, con la excepción de que el examen se realiza Lograr al menos la intensidad de luz mínima en la superficie de la pieza
utilizando una luz ultravioleta, llamada UVA. durante todo el examen según lo calificado.
luz. El examen se realizará de la siguiente manera: en las pruebas del Apéndice IV Obligatorio.
233
`,``,``,,`,`,,```` ARTÍCULO 7 ASME BPVC.V2019
(e) Los reflectores, filtros, gafas y lentes deben revisarse y, si es

necesario, limpiarse antes de su uso. Los reflectores, filtros, gafas o
lentes agrietados o rotos deberán reemplazarse inmediatamente.
DOCUMENTACIÓN T790
T791 MAGNETIZACIÓN MULTIDIRECCIONAL
BOCETO TÉCNICO
`,,`,,`,`,,`
(f) La intensidad de la luz de excitación de fluorescencia se medirá Se debe preparar un boceto técnico para cada geometría diferente
con un fotómetro de excitación de fluorescencia adecuado antes de su examinada, mostrando la geometría de la pieza, la disposición y las
uso, siempre que se interrumpa o cambie la fuente de alimentación de conexiones de los cables, la corriente magnetizante para cada circuito
la luz, y al finalizar el examen o la serie de exámenes. y las áreas de examen donde se obtienen intensidades de campo
adecuadas. Las piezas con geometrías repetitivas, pero dimensiones
diferentes, se pueden examinar utilizando un solo boceto siempre que
la intensidad del campo magnético sea adecuada cuando se demuestre
T778 DESMAGNETIZACIÓN
de acuerdo con T756.2.
Cuando el magnetismo residual en la pieza pueda interferir con el
procesamiento o uso posterior, la pieza deberá desmagnetizarse en T792 REGISTRO DE INDICACIONES
cualquier momento después de completar el examen.
T792.1 Indicaciones no rechazables. Las indicaciones no
rechazables se registrarán según lo especificado en la Sección del
T779 LIMPIEZA POSTEXAMEN Código de referencia.
Cuando se requiere una limpieza posterior al examen, se debe T792.2 Indicaciones Rechazables. Se registrarán las indicaciones
realizar tan pronto como sea posible utilizando un proceso que no afecte de rechazo. Como mínimo se registrará el tipo de indicaciones (lineales
negativamente a la pieza. o redondeadas), ubicación y extensión (longitud o diámetro o alineadas).
EVALUACIÓN DEL T780 REGISTROS DE EXAMEN T793
(a) Todas las indicaciones se evaluarán en términos de la ac Para cada examen se registrará la siguiente información:
estándares de aceptación de la Sección del Código de referencia.
(b) Las discontinuidades en o cerca de la superficie se indican por la (a) los requisitos del Artículo 1, T190(a) (b) equipo
retención del medio de examen. Sin embargo, las irregularidades de partículas magnéticas y tipo de corriente (c) partículas
localizadas de la superficie debido a marcas de mecanizado u otras magnéticas (visibles o fluorescentes, húmedas o secas) (d) mapa o
condiciones de la superficie pueden producir indicaciones falsas.
(c) Están prohibidas las áreas amplias de acumulación de partículas, registro de indicaciones según T 792 (e) material y
que podrían enmascarar indicaciones de discontinuidades, y dichas espesor (f) equipo de iluminación
áreas deberán limpiarse y reexaminarse.
`

234

Asme V 2019 151 302

Cargado por

Información del documento

Título original

Derechos de autor

Formatos disponibles

Compartir este documento

Compartir o incrustar documentos

Opciones para compartir

¿Le pareció útil este documento?

¿Este contenido es inapropiado?

Copyright:

Formatos disponibles

Asme V 2019 151 302

Cargado por

Copyright:

Formatos disponibles

Machine Translated by Google

ASME BPVC.V­2019 ARTÍCULO 2

Copyright ASME Internacional (BPVC)

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V­2019

MÉTODOS DE EXAMEN POR ULTRASONIDOS PARA SOLDADURAS

T­432.2 Cuñas de Contacto. Según lo requerido por (a) y (b) a

Copyright ASME Internacional (BPVC)

ASME BPVC.V­2019 ARTÍCULO 4

Requisitos de un procedimiento de examen ultrasónico

Requisito Variable esencial Variable no esencial

Configuraciones de soldadura a examinar, incluidas las dimensiones de espesor y la base.

haz en ángulo, contacto y/o inmersión) X …

Ángulo(s) y modo(s) de propagación de la onda en el material Tipo(s) X …

de unidad de búsqueda, frecuencia(s) y tamaño(s)/forma(s) del elemento X …

Unidades de búsqueda especiales, cuñas, zapatos o monturas, cuando se X …

utilicen instrumentos ultrasónicos. X …

Calibración [bloque(s) de calibración y técnica(s)] X …

Direcciones y alcance del escaneo Escaneo X …

(manual versus automático) X …

Método para discriminar indicaciones geométricas de defectos Método para X …

dimensionar indicaciones Adquisición X …

de datos mejorada por computadora, cuando se utiliza X …

Superposición de escaneo (solo disminución) X …

Requisitos de desempeño del personal, cuando sea necesario. X …

Requisitos de calificación del personal. Condición … X

unidad a medida que se mueve a lo largo de la circunferencia del desde OD

<4,0 (<100) <1 (<25)

A = longitud de la huella de la unidad de búsqueda durante el escaneo circunferencial o el

D = el diámetro del componente en la superficie de inspección

(DI/DE), pulgadas (mm) Componente real en el interior Disminución permitida en

determinado utilizando la misma dimensión del componente de

en el que se realiza el examen (ID o OD).

T­432.3 Revestimiento de superposición de metal soldado — Buscar

Unidad.8 Unidades de búsqueda de haz recto de doble elemento que utilizan un

Se utilizará la técnica de captura de lanzamiento en ángulo. el incluido

El ángulo entre los elementos de la unidad de búsqueda será tal

que la distancia efectiva del punto focal esté centrada en el

Copyright ASME Internacional (BPVC)

material que se examina.

T­434.1.4 Revestimiento. (a) Selección

de Bloque. El material del que está hecho el bloque.

(2) una prolongación del componente (3) material de la misma

lugar de muescas, orificios de fondo plano en lugar de de agujeros laterales).

números P, A o F o designaciones o métodos de material, el bloque de calibración debe revestirse

utilizado en el lado de la soldadura desde donde se realizará el examen.

calibración debe diseñarse para ser representativo de esta combinación.

el cual se realizará el examen. Si el examen se realizará desde ambos lados, se proporcionarán

T­434.1.6 Acabado Superficial. El final del escaneo

escaneo del componente a examinar.

calibración básica y en el componente a examinar, o (2) dos unidades de búsqueda colocadas en la

misma orientación en el bloque de calibración básica y T­434.1.7 Curvatura de bloque.

puede usar un bloque de esencialmente la misma curvatura o, alternativamente, un bloque de

La sensibilidad del examen se ajustará según la diferencia. calibración básico plano.

T­434.1.3 Calidad. Antes de la fabricación, el material del bloque se examinará completamente

Copyright ASME Internacional (BPVC)

T­434.2 Bloques de calibración sin tuberías.

La configuración del bloque de retención y los reflectores serán los siguientes.

0,93 (23) 1,56 (39)

Diámetro de la superficie de examen, pulg. (mm)

Copyright ASME Internacional (BPVC)

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V­2019

Dimensiones de la muesca, pulg. (mm)

Profundidad de la muesca = 1,6% T a 2,2% T

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 2

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

T432.2 Cuñas de Contacto. Según lo requerido por (a) y (b) a

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4

T432.3 Revestimiento de superposición de metal soldado — Buscar

T434.1.4 Revestimiento. (a) Selección

T434.1.6 Acabado Superficial. El final del escaneo

misma orientación en el bloque de calibración básica y T434.1.7 Curvatura de bloque.

T434.1.3 Calidad. Antes de la fabricación, el material del bloque se examinará completamente

T434.2 Bloques de calibración sin tuberías.

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4

T434.4.3 Bloque de Calibración para la Técnica Dos.

T434.4 Bloques de calibración de revestimiento de superposición de metal de soldadura.9

Figura T434.31 Bloque de

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

ð19Þ Figura T434.32 Bloque de

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

Figura T434.4.2.1 Bloque de

`,``,``,,`,`,,````,` ASME BPVC.V2019

11/2 pulg. (38 mm) [Alto]

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4

ARTÍCULO 4 ASME BPVC.V2019

T467.2.1 Verificaciones del simulador. cualquier simulador

ASME BPVC.V2019 ARTÍCULO 4

T472.2 Soldaduras de acceso de un solo lado. Las soldaduras

T475 ZONA DE FUSIÓN DE SOLDADURA LATERAL DE BOQUILLA Y/

T482.2 Técnicas de amplitud y no distancia. Todas las indicaciones que