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Resumen ADC y DAC
Resumen ADC y DAC
Facultad de Ingeniería en
Electrónica y Comunicaciones
Experiencia Educativa:
Señales y Sistemas
Presenta:
Azuara Vargas Julio Cesar
Hernández Sánchez Julio Cesar
Torres Zumaya Gerardo Abdiel
Xoxocotla Mar Manuel
Maestro:
Luis Javier Morales Mendoza
Poza Rica de Hgo, ver. 24/02/2023
los cada vez más bajos costos de los circuitos VSLI permiten que varias funciones
analógicas puedan ser realizadas digitalmente. Sin Embargo, el mundo real es y
siempre será fundamentalmente analógico. Debido a esto las señales analógicas
de interés son trasformadas en señales digitales que cualquier computadora pueda
utilizar. esta conversión es la función de un ADC (analog to digital converter).
después de procesar el flujo digital de información es regresado a manera analógica
por un DAC(digital to analog coverter). una vez devuelta a la forma analógica, la
información puede ser consumida por los sentidos humanos o manipulada por
circuitos analógicos
Flash DACs
un conversor digital a analógico tipo flash , a veces llamado DAC paralelo, es
caracterizado por su habilidad de generar una señal de salida dentro de un solo
ciclo del reloj, la velocidad del DAC flash es archivada por el generador paralelo de
set de referencias elegidas. Este set esta completo, esto es que son capases de
construir todos los posibles valores de salida del DAC. por ello cualquier salida
puede ser creada casi instantáneamente proveyendo DACS flash con la habilidad
de trabajar a altas velocidades, la diferencia entre el DAC de resistores en línea ,
el DAC de carga escalonada y el DAC de manejo de corriente es primeramente
como cada una genera el set de referencias y las combina para generar una
salida.
DACs de cadena de resistencias
Los convertidores de digital a analógico de cadena de resistencias utilizan una red
divisora de voltaje de resistencia, conectada entre dos voltajes de referencia, para
generar un conjunto completo de voltajes. Cada toma divisora de tensión
corresponde a una entrada digital. Un DAC flash de cadena de resistencia de bits
B utiliza al menos resistencias 2B. Algunos diseños usan resistencias adicionales
para crear voltajes de referencia más precisos, o voltajes que corresponden a
valores digitales redondeados en lugar de truncados. Los interruptores,
controlados por la entrada digital del DAC, seleccionan el voltaje de referencia
apropiado para usar como salida. La figura 2 muestra una arquitectura DAC flash
de cadena de resistencia de tres bits.
La cadena de resistencias divide el voltaje de referencia del DAC, VREF, en 2B
voltajes igualmente espaciados, Vk para k = 0, 1, ..., 2B – 1. La arquitectura del
DAC en la Figura 2(a) usa interruptores 2B para conectar el voltaje apropiado a la
salida DAC, y(t). Las señales de control de conmutación, Sk para k = 0, 1, ..., 2B-1,
son generadas por un decodificador B:2B (no mostrado). Para longitudes de
palabra más largas, aparece una gran capacitancia parásita en la salida del DAC,
lo que limita la velocidad de funcionamiento del DAC. Una arquitectura DAC de
cadena de resistencia alternativa en la Fig. 2 (b) organiza los interruptores en una
estructura de árbol binario. Esta arquitectura no necesita un decodificador
dedicado y utiliza los bits de entrada digital del DAC, xk[n], y sus complementos,
*xk[n], para k = 0, 1, ..., 2B – 1, para controlar el interruptores, Además, las
capacitancias parásitas se reducen ya que la salida está conectada a la mayoría
de los interruptores B cerrados y B abiertos, lo que aumenta la velocidad de
conversión.
Las principales desventajas de la arquitectura flash DAC de cadena de
resistencias en la Fig. 2 son los requisitos de coincidencia de resistencias de
cadena de voltaje extremo y la incapacidad del DAC para impulsar cargas sin un
búfer. La precisión de la división de voltaje de la cadena de resistencias está
restringida por las limitaciones de la tecnología VLSI. Incluyen: errores de
gradiente lineal debido a variaciones en la densidad de dopaje o anchos de
resistencia fabricados, errores no lineales en resistencias difusas de espesor de
capa de agotamiento no uniforme, errores aleatorios debido a incertidumbres
geométricas, resistencias de contacto aleatorias, ruido de componentes y
envejecimiento de componentes. Además, la salida de un DAC de división de
voltaje debe ser amortiguada por un amplificador de alta impedancia. Si se extrae
una corriente apreciable de la red del divisor de voltaje, se introducirán errores
adicionales debido a la no linealidad de los interruptores analógicos del DAC.
Las no linealidades del amplificador de alta impedancia se introducen
directamente en la salida del DAC. Se requiere un decodificador B:2B para
proporcionar las señales 2B que controlan los interruptores para la implementación
de DAC en la Fig. 2 (a). Además, la salida del DAC siempre está conectada a 2B:
1 interruptor abierto y un interruptor cerrado. Para B grande, la capacitancia
parásita en el nodo de salida del DAC crece y los tiempos de conversión se
alargan. En la Fig. 2 (b) se muestra una implementación alternativa del DAC flash
de cadena de resistencias. Esta implementación utiliza una matriz de interruptores
de árbol binario. La salida DAC está conectada a B interruptores cerrados y B
interruptores abiertos. Menos interruptores conectados a la salida DAC reducen
las capacitancias parásitas y reducen el tiempo de conversión. Los interruptores
de matriz de árbol binario están controlados por la entrada binaria del DAC, ya que
la decodificación es inherente a la disposición de árbol binario de los interruptores.
Las arquitecturas DAC de cadena de resistencias en la Fig. 2 son tan precisas
como la combinación de resistencias divisoras de voltaje. A medida que aumenta
la longitud de la palabra de entrada del DAC, el tamaño del paso de cuantificación
disminuye.
Dado que el flash ADC determina su salida completa en un solo paso, el flash
ADC tiene la capacidad de operar muy rápido. El circuito interno del flash ADC
funciona a la frecuencia de muestreo. Por lo tanto, se utiliza en las aplicaciones de
muestreo más rápidas. Con su arquitectura simple y velocidades de operación
lentas, los ADC de rampa iversa tienen tamaños de chip muy pequeños, baja
disipación de energía y costos muy bajos. Debido a su tasa de datos moderada y
su arquitectura de examen bit a bit, los ADC de aproximación sucesiva son
adecuados para la transmisión en serie de salida digital. Las transmisiones en
serie a la computadora digital producen un paquete de chip compacto y un bajo
consumo de área de placa de circuito, por lo tanto, bajos costos. Dado que se
necesita un comparador para cada uno de los posibles niveles de cuantificación y
se requiere una lógica de codificador binario de termómetro, el circuito ADC flash
se duplica con creces en tamaño por cada bit adicional de salida. Los ADC flash
intercambian efectivamente el tamaño del circuito por la velocidad. También se
debe tener en cuenta que la longitud de la palabra de salida está limitada por el
tamaño del chip; en consecuencia, los ADC flash más grandes suelen tener entre
8 y 10 bits. La mayor complejidad del circuito de los ADC flash contribuye a sus
costos generales más altos debido al empaquetado del circuito y la utilización del
espacio de la placa.
Conclusión