UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DEL ESTADO DE ZACATECAS

DIRECCIÓN DE MANTENIMIENTO INDUSTRIAL

TAREA DE INVESTIGACIÓN U2-T04:

CAMPO BRILLANTE, CAMPO OBSCURO, LUZ POLARIZADA, SEM,

TEM, OM, AES, ABERRACIÓN ÓPTICA, ABERRACIÓN CROMÁTICA,
ESFÉRICA, FRACTOGRAFÍA

PRESENTA:

FELIPE MALDONADO ESPINOZA

8°B IMI

PROFESOR:

Julián Ramírez Carrillo

VILLA DE COS ZACATECAS. 28 FEBRERO 2022

CAMPO BRILLANTE

Conocida como microscopía de campo brillante esta es la más simple de las técnicas de
iluminación aplicadas en la microscopía óptica. Y es esta misma simplicidad lo que lo
convierte en uno de los más populares en uso. Su nombre proviene de la típica apariencia
de su imagen que es un fondo brillante con una muestra opaca u oscura.

En este microscopio la muestra es iluminada desde abajo con luz blanca y se observa
desde arriba. El contraste se genera por la atenuación de luz causada por las zonas
densas de la muestra.

Composición del microscopio de campo brillante

Este tipo de microscopio es una simple modificación del microscopio óptico común, por
lo que sus partes y composición es casi igual.

Sin embargo, posee cierta diferencia en el recorrido de la luz, el cuál es el siguiente:

❖ Fuente de luz que puede ser una lámpara halógena situada en la base del
microscopio.
❖ Lente condensador el cual enfoca la luz sobre la zona de colocación de la muestra.
❖ Lente objetivo el cual recoge la luz que sale de la muestra y amplía esa imagen.
❖ Oculares o cámara que sirven para visualizar la imagen en cuestión.
CAMPO OBSCURO

La técnica de campo oscuro es muy útil para observar materiales en suspensión,

permitiendo detectar con gran facilidad partículas sólidas con índices de refracción muy
cercanos al del medio en que se encuentran, por esta razón, es un sistema de gran
utilidad para realizar conteos de número de partículas en una muestra. De igual forma,
resulta una herramienta útil para visualizar estructuras muy delgadas que rebasan los
límites conspicuos de la célula u organismo observado.

Existen varias posibilidades para lograr la iluminación de campo oscuro, que dependen
del tipo de condensador y hay dos tipos: condensadores por refracción y condensadores
por reflexión. En general los condensadores por refracción tienen un disco central que
obstruye el paso de la luz, formando así un cono hueco de luz. El disco se puede colocar
sobre la lente frontal del condensador o en el plano focal posterior del mismo, es decir,
a la altura del diafragma de apertura, o bien en el portafiltros; pueden ser usados con
una amplia variedad de aumentos del objetivo (2.5X a 100X).Y su ventaja principal
estriba en ser relativamente económicos y ser dentro de su campo muy versátiles en el
uso para objetivos de poco aumento, hasta 40X.

Es importaste anotar el hecho de que para usar objetivos 100X en campo oscuro, estos
han de tener incorporado un diafragma variable tipo iris que permita reducir la apertura
numérica del objetivo, generalmente se reduce de 1.3 o 1.0 a 0.8, con el fin de mantener
mayor apertura numérica del cono iluminador respecto de la del objetivo.
LUZ POLARIZADA

La luz es una onda electromagnética que provoca una perturbación en el medio debido
a la oscilación en el valor del campo eléctrico y el campo magnético, que son
perpendiculares entre sí.

La luz no es una onda mecánica, no hay partículas u objetos que oscilen, por eso puede
propagarse en el vacío.

Modelos mecánicos para recordar el movimiento de las ondas.

Onda transversal: la onda viaja entre el hombre y la pared mientras oscila hacia arriba
y abajo Onda longitudinal: las partículas oscilan o vibran en la misma dirección que la
de propagación. La luz es una onda transversal, es decir, se propaga en forma
perpendicular a la dirección de la oscilación, en diferentes planos de oscilación. Algunos
materiales tienen la propiedad de hacer que las vibracion es luminosas ocurran en un
solo plano, esa luz se llama “luz polarizada”.

La polarización de la luz ocurre cuando la luz atraviesa ciertos filtros que permiten que
pase sólo la parte de la luz cuyo plano de oscilación coincide con la dirección del filtro.

❖ Cámaras polaroid
❖ Anteojos
❖ Parabrisas polarizados
❖ Filtros polarizadores

Desde un foco luminoso, salen muchísimas ondas, de diferentes longitudes de onda,

amplitudes y planos de oscilación. foco luminoso filtro Un filtro polarizador sólo permite
que lo atraviesen las ondas que oscilan en uno de los planos.
SEM

El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy), utiliza un

haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de la
superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la observación y caracterización
superficial de sólidos inorgánicos y orgánicos.

El microscopio electrónico de barrido está equipado con diversos detectores, entre los
que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios para obtener imágenes
de alta resolución SEI (Secundary Electron Image), un detector de electrones
retrodispersados que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de
la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de energía dispersiva
EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la
muestra y realizar diversos análisis semicuantitativo y de distribución de elementos en
superficies.

Se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de los

distintos materiales con los que trabajan los investigadores científicos y las empresas
privadas, además del procesamiento y análisis de las imágenes obtenidas. Las
principales utilidades del SEM son la alta resolución (~1 nm), la gran profundidad de
campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes y la sencilla preparación de
las muestras.

La preparación de las muestras es relativamente sencilla las principales características

son: muestra sólida, conductora. Caso contario, la muestra es recubierta con una capa
de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades
conductoras a la muestra. De lo contrario, las muestras no conductoras se trabajan en
bajo vacío.

Las aplicaciones del equipo son muy variadas, y van desde la industria petroquímica o
la metalurgia hasta la medicina forense.
TEM

Permite determinar la estructura interna de materiales inclusive biológicos.

Materiales para TEM deben prepararse especialmente para espesores que permitan
transmitir los e- a través de la muestra.

Debido a que λ de los e- es λ << A luz, la resolución óptima adquirida para imágenes
TEM es varios órdenes de magnitud > Microsc. óptico.

TEM muestra detalles de la estructura interna, magnificaciones x350,000 (imágenes de

átomos pueden obtenerse con x15 millones)

La E de los e- en TEM determina el grado de penetración en una muestra. E 400 kV,

provee condiciones para la observación de = muestras relativamente gruesas (<0,2 μm).

La elaboración de especímenes para TEM es en sí mismo un campo de estudio. Cada

tipo de muestra se comporta de diversas maneras y por tanto cada tipo de muestra puede
requerir una preparación diferente. Así las cosas, se necesita hacer un proceso de
ensayo y error, que por lo general conduce a la elaboración de varias preparaciones por
muestra y por tanto del uso de varias rejillas por muestra, por lo que se recomienda que
cada usuario adquiera su "set" de rejillas.
OM AES

Se trata de una técnica de análisis, para obtener información química de superficies de

materiales sólidos.

Objetivo:

Determinar la composición y el estado químico de los elementos presentes en la

superficie de materiales sólidos. Materiales aislantes y conductores, pueden ser
analizados en superficie en áreas de unas pocas micras. Su funcionamiento está en el
efecto Auger, que consiste en la emisión de un electrón de energía definida después de
la ionización por producción de un hueco en un nivel interno de un átomo.

La muestra a estudiar se debe encontrar en condiciones de ultra alto vacío (mejor que
10e-9), y ser expuesta en estas condiciones frente a una fuente de electrones, con
energía comprendidas entre 1000eV y 5000eV.

Funcionamiento:

Los electrones que provienen de una fuente, inciden contra la superficie a analizar. En la
interacción del átomo con fotones o electrones que se hacen incidir sobre la superficie,
se produce un ión, que rebaja su energía rellenando el hueco creado por un electrón de
un nivel más alto, con emisión de la energía sobrante. Esta puede emitirse en forma de
fotón o suministrarse como energía cinética a otro electrón menos ligado. El segundo
efecto, sin emisión de radiación es el efecto Auger. En la practica los espectros Auger se
miden en forma diferenciada (dn(e)/de), comúnmente se etiquetan las energías de las
transiciones Auger como la correspondiente a la posición del mínimo (excursión
negativa) del pico diferenciado, que, como vemos no es la de la verdadera transición que
está en el máximo del pico en n(e).
ABERRACIÓN ÓPTICA

El término aberración se deriva del latín, y significa salirse del camino o desviarse. Este
fenómeno se puede explicar desde la física, afirmando que cada frente de onda de luz
que pasa a través del sistema óptico se compara con el rayo principal cruza el centro de
la pupila. La magnitud de esas diferencias se denomina aberraciones de frente de onda
de un ojo.

Desde el punto de vista matemático, las aberraciones son funciones que caracterizan las
propiedades de formación de imágenes en cualquier sistema óptico, inclusive en el ojo
humano. Es de vital importancia entender algunos conceptos básicos previos para lograr
interpretar la información suministrada por los mapas de frentes de onda y visualizar el
valor que las aberraciones tienen a nivel ocular, ya qu e el ojo no es un sistema
ópticamente perfecto.

Una forma de caracterizar las aberraciones es cuantificando la diferencia entre el frente

de onda generado por el sistema y un frente de onda esférico de referencia. Esta
diferencia se denomina aberración de onda. El frente de onda es la superficie de camino
óptico constante para un punto objeto. Allí los rayos luminosos son siempre
perpendiculares, entonces se presenta un sistema perfecto, libre de toda aberración, que
tiene un frente esférico y forma imágen es ideales en la retina.
ABERRACIÓN CROMÁTICA

También conocida como ‘halos de color’ o ‘franjas de color’, la aberración cromática es

un defecto óptico. Se produce como resultado de la dispersión de la lente, cuando esta
no posee capacidad para llevar todas las longitudes de color al mismo plano focal o
cuando se enfocan, dichas longitudes, en diferentes posiciones dentro del mismo plano.

Al realizar la toma es probable que no te percates de ello, pero cuando das zoom es
habitual observar la imagen borrosa o los elementos fotografiados con bordes de colores
(azul, verde, amarillo, violeta o magenta), sobre todo, en las zonas de alto contraste.

Las lentes deben enfocar todas y cada una de las longitudes de onda en un solo punto
focal; sin embargo, debido a la calidad de esta y a otras cuestiones como la distancia
focal o la apertura, dichas longitudes de color no llegan al punto de mejor enfoque (o de
menor confusión) sino a lugares anteriores o posteriores. Aberración cromática axial o
longitudinal Aberración cromática lateral o transversal.
ABERRACIÓN ESFÉRICA

Se produce cuando los rayos paralelos próximos al eje óptico (rayos paraxiales) de una
lente esférica o de un espejo esférico se concentran en un punto y los alejados del eje
óptico en otro, en lugar de hacerlo todos en el foco, como en el caso ideal. Este
comportamiento es inevitable y se debe a la propia simetría esférica de las superficies.

Abajo una lente esférica y arriba un espejo esférico. Los rayos alejados del eje óptico
convergen a distinta distancia que los cercanos al mismo. Este efecto quedaba
disimulado con la aproximación paraxial, al entenderse que todos los rayos eran
próximos al eje.

La aberración esférica puede corregirse de distintas maneras:

• utilizando un diafragma que impida el paso de los rayos más alejados del eje
óptico
• combinando lentes con efectos opuestos
• usando superficies parabólicas en lugar de esféricas
FRACTOGRAFÍA

El objetivo de este servicio es la determinación de las causas de la formación y

propagación de grietas, defectos de materiales y fractura de un componente en servicio
y la manera de evitarla, ya sea mediante un nuevo diseño de la pieza o reemplazar el
material utilizado.

El análisis comienza con una inspección visual de las características macroscópicas de

la superficie en la cual se presenta la irregularidad, de la cual puede obtenerse los
primeros indicios acerca de las causas de nucleación de la fisura, mecanismo y dirección
de propagación y magnitud de las cargas actuantes.

En nuestro campo de trabajo usamos métodos analíticos auxiliados de algunas ramas

de la mecánica como la ciencia de los materiales para investigar la relación de la
estructura molecular y las propiedades de los materiales.

La mecánica de los materiales, para realizar métodos experimentales para determinar la

resistencia relativa del material a la fractura y determinar los esfuerzos que actúan sobre
la pieza.

La óptica nos permite finalmente la caracterización del proceso microscópico de

propagación de fractura identificando así facetas de clivaje, cavidades o ‘dimples’ de
fractura transgranular, zonas facetadas de fractura intergranular, morfología de los
límites de grano, estrías de fatiga, superficies de corrosión bajo tensiones o imágenes
características como cavidades o porosidades de solidificación.

Los análisis antes mencionados, nos proporcionan información sobre los siguientes
parámetros.

Mecanismo de propagación de la fisura

Fracto-tenacidad del material

Configuración de tensiones: distribución y magnitud

Medio químico (composición del material, cantidad de carbono, etc.)

Origen de la fractura
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