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PREGUNTAS DE AUTOEVALUACIÓN
Q2.3 ¿Por qué estamos interesados en las variaciones en la intensidad de dispersión y la distribución
angular de dispersión de electrones?
Q2.5 ¿Qué queremos decir con el término haces de electrones y por qué hacemos esta pregunta?
A menudo nos referiremos a los electrones incidentes y dispersos como haces de electrones,
porque estamos tratando con muchos electrones, no con un electrón individual; estos
electrones generalmente se limitan a trayectorias bien definidas en el microscopio. Por lo
tanto, los electrones que golpean la muestra a menudo se llaman haz incidente y los
dispersados por la muestra se llaman haces dispersos.
El haz que atraviesa la muestra, pero permanece paralelo a la dirección de los electrones
incidentes, es un haz muy importante, que se llama haz directo.
El ángulo en el cual suceden los eventos entre electrones entre estos es la diferencia, mientras
en la retrodispersion se necesita un ángulo mayor a 90º la dispersión directa debe de ser en
un ángulo menor a 1º.
La difracción es una forma muy especial de dispersión elástica y se define como: el proceso
en el que las partículas, átomos, etc. se desvían como resultado de una colisión.
La difracción de Fraunhofer ocurre cuando un frente de onda plano interactúa con un objeto.
Como una onda emitida por un punto se vuelve planar a grandes distancias, esto se conoce
como difracción de campo lejano. Y la difracción de Fresnel ocurre cuando no es Fraunhofer.
Este caso también se conoce como difracción de campo cercano.
Q2.13 Distinga los ángulos 𝛼, 𝛽, 𝜃 y 𝛺.
Q2.15 ¿Cuántas formas diferentes puede controlar los procesos de dispersión en el TEM?
1. Ángulo de dispersión
2. Intensidad del haz
3. Densidad del espécimen
Q2.16 ¿Cómo se pueden seleccionar los electrones que han sufrido un tipo específico de dispersión?
Son todos aquellos electrones, que se desvían como resultado de una colisión.
Un diagrama fasorial es una forma de trazar la amplitud y la fase de la onda dispersa total;
en otras palabras, cuando agregamos las amplitudes de los haces, debemos tener en cuenta
su fase.
Q2.20 ¿Qué tan pequeño es un ángulo pequeño en el TEM y por qué los ángulos de dispersión en el
TEM suelen ser tan pequeños?
T2.1 Escriba definiciones concisas de coherente, incoherente, elástico e inelástico a medida que los
usemos y vincule estas definiciones a la información en la Figura 2.2.
T2.4 Distinga los ángulos de dispersión 𝜃 y 𝛺 en la Figura 2.3 y la información que se puede reunir
dentro de ellos. Relacione estos ángulos con los ángulos relevantes en un TEM descrito en la Figura
2.12.
Los electrones se dispersan en un ángulo 𝜃 y el
ángulo sólido total de dispersión es 𝛺. Un
incremento incremental en el ángulo de dispersión
d𝜃 da un aumento incremental en un ángulo sólido
d𝛺, que es la base para determinar la sección
transversal de dispersión diferencial.
Existen diferentes factores que no se pueden tomar en cuenta, aberraciones o errores en las
lentes que es por lo cual no se pueden obtener los mismos resultados, ni auqnue sea la misma
muestra pero en diferente sitio siempre hay pequeñas diferencias que cambian las
condiciones en lo que se puede obtener de información y no serán igualdas, suamndo los
defectos tanto de la muestra como del mismo aparto es como no se pudieran ocnseguir las
mismas imágenes.
T2.6 ¿Por qué los electrones retrodispersados son tan pocos en la Figura 2.4A y B y por qué todos
se dispersan hacia un lado en la Figura 2.4A?
T2.7 Dibuje diagramas equivalentes a la Figura 2.5 para (a) 2 rendijas d/2 separadas; (b) 2 rendijas
separadas por 2d; (c) 5 rendijas d separadas. ¿Qué te dice esto sobre el efecto en la distribución de
dispersión tanto del número como del espaciado de los centros de dispersión?
𝜃 𝜃
𝜃
𝜃
d d d d d
T2.8 Dibuja un diagrama fasorial como la Figura 2.6, pero solo para tres rendijas.
Mientras la figura 2.10, se podría decir que es un esquema de las intensidad de onda
proyectadas, en la figura 2.11 sería la imagen en 3D ademas de una vista diferente y la imagen
que se podría conseguir con el TEM de anillos.
T2.10 Haga una copia de la Figura 2.13. Recorte dos orificios circulares con diámetros de 5 y 40 mm
en otra hoja de papel correspondiente a diferentes ángulos de recogida (b) en la Figura 2.12.
Superponga el orificio circular más pequeño en los diferentes patrones en diferentes posiciones
para simular la selección de electrones para formar imágenes en un TEM. Tenga en cuenta lo fácil
que es seleccionar electrones dispersos en direcciones específicas, pero también observe cuántos
electrones se excluyen cuando hace esto. (a) ¿Qué le dice esto sobre las ventajas y desventajas de
una pequeña abertura de selección (o detector pequeño)? Ahora superponga el agujero más grande
y observe cuántos más electrones se pueden seleccionar. (b) ¿Qué le dice esto sobre las ventajas y
desventajas de una gran apertura de selección (o detector grande)?
Con un detector mas grande se puede percibir más en la imagen pero perdiendo los detalles
que con el detector pequeño se podrian tener, dependiendo de lo que se este buscando obtener
de información es detector con el cual se debera ser utilizado para interpretar la información
que se esta obteniendo.
Capitulo 6
PREGUNTAS DE AUTOEVALUACIÓN
Q6.1 ¿Cómo enfoca una imagen en un TEM?
Q6.2 ¿A qué tipo de lente de luz visible se asemeja el comportamiento de una lente
magnética?
Q6.3. Nombrar los componentes principales de una lente magnética y establecer sus
funciones.
Q6.4 ¿Cuáles son los planos posterior y frontal focal de una lente magnética?
Q6.5 ¿Qué queremos decir con el término 'eje óptico'?
Q6.6 ¿Qué fuerza actúa sobre un electrón en un campo magnético y cómo podemos controlar
esta fuerza?
Q6.7 ¿Qué efecto tiene la lente magnética en la trayectoria del electrón con respecto al eje
óptico?
Q6.8 Para lograr la mayor ampliación, ¿dónde debería ubicarse la muestra en relación con la
lente objetivo?
Q6.9 Define 'underfocused' y 'overfocused'.
Q6.10 ¿Por qué el objetivo es la lente más importante en un TEM?
Q6.11 Definir el plano eucéntrico.
Q6.12 Explique la diferencia entre un diafragma y una apertura.
Q6.13 ¿Por qué utilizamos aperturas en el TEM?
Q6.14 ¿Qué causa la aberración esférica y cómo podemos minimizarla?
Q6.15 Define la aberración cromática y describe cómo minimizarla.
Q6.16 ¿Qué causa el astigmatismo y cómo lo corregimos?
Q6.17 Definir la resolución (estrictamente hablando, el poder de resolución) del TEM?
Q6.18 ¿Qué limita en última instancia la resolución de TEM?
Q6.19 En la práctica, ¿qué limita a menudo la resolución práctica de TEM?
Q6.20 En el TEM, ¿qué es la profundidad de campo, qué lo controla y por qué es importante?
Q6.21 En el TEM, ¿cuál es la profundidad de enfoque, qué lo controla y por qué es
importante?
PREGUNTAS ESPECÍFICAS DE TEXTO
T6.1 Estime el límite de resolución en un TEM de 100 kV si la muestra es muy delgada.
Supongamos Cs = 1 mm yb = 10 mrads.
T6.2 En las mismas condiciones, estime el límite de resolución si la muestra es lo
suficientemente gruesa para que cada electrón en promedio experimente una pérdida de
plasmón de 𝜃 15 eV.
T6.3 Si su muestra es pura, ¿qué espesor tiene que tener para que cada electrón típicamente
sufra una sola pérdida de plasmón? (Sugerencia: regrese al Capítulo 4.)
T6.4 Vaya a la Web para encontrar la resolución de imagen que ofrecen los fabricantes
comerciales para un TEM típico de 200 kV. (Encuentra páginas web para FEI, Hitachi, JEOL,
Zeiss). Compara la resolución con tus respuestas a las preguntas 1 y 2. ¿Qué le dice este
ejercicio sobre las suposiciones que se hacen cuando una resolución TEM?
¿está especificado?
T6.5 Use valores adecuados de bob y procure deducir valores para Dob y Dim bajo las dos
condiciones siguientes:
(a) electrones de 100 keV, aumento de 20 k𝜃, buscando detalles de 1 nm en la imagen; (b)
electrones de 200 keV,
Aumento de 800 k𝜃, buscando detalles de 0,2 nm en la imagen.
T6.6 Examine la Figura 6.9. ¿Por qué B es exactamente paralelo al eje óptico? ¿El electrón
viaja exactamente paralelo a
¿SEGUNDO? Muestre, con diagramas, que comprende el motivo de estas preguntas.
T6.7 Al derivar la ecuación 6.14 decimos que esto se usa solo para rayos paraxiales. ¿Por
qué?
T6.8 Explica por qué los electrones de la figura 6.13 están "sobreenfocados" si han perdido
energía.
T6.9 Discutir la precisión de usar una copa de Faraday para medir la corriente del haz.
T6.10 ¿Por qué? Siempre quitamos los electrones como conversores y por qué no hemos sido
capaces de construir concavidades para
electrones utilizando lentes cilíndricamente simétricas? (Sugerencia: recientemente este
problema, en efecto, se ha resuelto y
ha resultado en una solución al problema de larga data de reducir la aberración esférica).
T6.11 Simplemente por gusto, trate de dibujar la Figura 6.1 a escala suponiendo que la
distancia focal y la distancia del objeto son de aproximadamente 3 y 1,5 mm,
respectivamente, y que la abertura en el orificio del objetivo es de 60 mm de diámetro.
Calcule los valores de ayb y explique cuál de las diversas propiedades de la lente no sería
una buena opción para una lente real en TEM.
T6.12 Calcule el radio de la trayectoria espiral de electrones de 100 y 300 kV en un campo
magnético de 1 T.
T6.13 Usa diagramas de rayos para distinguir los términos bajo enfoque y sobre enfoque. Por
lo general, es bueno operar cualquier tipo de microscopio con las lentes enfocadas. ¿Puedes
pensar en alguna ocasión cuando estás bajo el foco (o sobre
enfoque) las condiciones pueden ser útiles? (Sugerencia: consulte las Figuras 6.4 y 6.5)
T6.14 ¿Por qué usamos imanes blandos y no imanes permanentes para lentes de electrones?
Si de hecho fuéramos a usar un
imán permanente ¿qué ventajas puede traer esto al diseño de un TEM?
T6.15 ¿Por qué tenemos que enfriar los lentes de electrones? Enumera todos los
inconvenientes que puedas para tener que enfriar los lentes. ¿Puedes pensar en lentes que no
requieran refrigeración? Podríamos diseñar un TEM de tal manera
que no es necesario enfriar la lente?
T6.16 ¿Cómo se puede compensar la rotación introducida en un haz de electrones por la
acción de la lente
¿campo? Por qué querrías hacer esto?
T6.17 Distinga el plano de la confusión mínima (o mínima), el plano de la imagen gaussiana,
el plano focal posterior
y el plano focal frontal de una lente, usando diagramas donde sea necesario. (Sugerencia: la
Figura 6.11 es un buen lugar para
comienzo.)
T6.18 Explique (usando diagramas donde sea necesario) por qué los rayos paraxiales de un
punto en un objeto no están sujetos a
aberración esférica significativa, sin embargo, todavía se enfocan en el plano de la imagen
gaussiana como un disco
en lugar de como un punto.
T6.19 Calcula el radio del disco de imagen en el plano de menor confusión y en el plano de
imagen Gaussiano
bajo condiciones de aberración esférica. Suponga valores razonables para todos los términos
y justifique su
suposiciones.
T6.20 Calcule el semiexángulo óptimo de la colección para la apertura de objetivos en la
disminución de las contribuciones de
aberración esférica en un microscopio de 200 keV. Indique cualquier suposición. ¿Cuál es la
resolución práctica de
el TEM bajo estas condiciones?
T6.21 ¿De qué manera la resolución práctica de TEM se cumple aún más cuando se utilizan
los especímenes?
resolución esperada (es decir, el radio del disco en el plano de menor confusión en el plano
de imagen gaussiano) suponiendo que todos los electrones sufren una pérdida de energía de
𝜃 15 eV. Suponga valores razonables para todos los términos y justifique sus suposiciones.
T6.22 ¿Por qué los términos se desvanecen y se desplazan de manera diferente en TEM, pero
se usan indistintamente en SEM?