Microscopía y Difracción de Electrones, 2021, FIME, UANL

Dispersión Elástica e Inelástica

E.A. Padilla-Zarate1, 2
1
Universidad Autónoma de Nuevo León, Facultad de Ingeniería Mecánica y Eléctrica, Centro de
Investigación e Innovación en Ingeniería Aeronáutica (CIIIA); Carretera a Salinas Victoria km. 2.3, C.P.
66600, Apodaca, N.L., México.
2
Universidad Autónoma de Nuevo León, Facultad de Ingeniería Mecánica y Eléctrica; Av. Pedro de Alba s/n,
Ciudad Universitaria, C.P. 66455, San Nicolás de los Garza, N.L., México

RESUMEN

Es posible clasificar las colisiones de partículas en elásticas e inelásticas, para poder entender mejor a que
se refieren estos conceptos en el contexto de la física de partículas, será necesario recordar la definición
clásica. Recordando los ejemplos de bolas de billar, en una colisión elástica se conserva la energía cinética
total y el momento lineal pero además las bolas de billar no son alteradas. En una colisión inelástica solo se
conserva el momento lineal, pero la energía cinética total ya no y esto se debe a que parte de ´esta es
tomada por otros procesos como puede ser vibraciones, ruptura o deformaciones de las bolas de billar.
Ahora bien, en el caso de experimentos de física de partículas y en general, en la vida real, es imposible
tener una colisión puramente elástica ya que siempre habrá alguna perdida de energía debida a vibraciones.
Por ejemplo, en la dispersión electrón, las partículas cambian de dirección tan rápidamente que se aceleran
durante un brevísimo instante y una partícula cargada acelerada emite fotones, a este tipo de colisiones en
las que son emitidos fotones se les llama colisiones radiactivas. Usualmente, los fotones producidos en
dichas colisiones son de una energía muy baja comparada con la energía de las partículas participantes en
la colisión, pero cuando la energía del fotón llega a ser tan grande que deja a la partícula con una energía
cinética baja, entonces la colisión es inelástica. Por otro lado, cuando al menos una de las partículas es
compuesta, como un protón, este se rompe como ocurriría análogamente en el proceso clásico. Pero
además debido al confinamiento de quarks, adicionalmente se crean quarks y anti-quarks.

Palabras clave: Dispersión, dispersión elástica, dispersión inelástica.

1. DISPERSIÓN. ondulatorio, la coherencia indica la alineación de

La principal interacción es a través de colisiones
nucleares: choques elásticos e inelásticos.
La dispersión elástica ocurre para neutrones con
energías menores a 0,1 MeV.
En dispersiones inelásticas, los núcleos quedan
en un estado excitado, se necesitan energías
mayores a 1 MeV.
2. DISPERSIÓN ELÁSTICA.
Los electrones no pierden energía en la
interacción. Esta interacción se suele producir
para ángulos de entre 1º y 10º y para bajas
energías. El conjunto de electrones resultantes
suelen ser coherentes (respecto a su carácter
las longitudes de onda de un conjunto de ondas).
La dispersión elástica pierde coherencia a medida
que el ángulo sobrepasa los 10º. Los electrones
dispersados elásticamente suponen la mayor
fuente de contraste en el TEM, y también crean la
mayor parte de la intensidad de los patrones de
difracción (DPs).
Para una dispersión elástica la única condición es
que satisfaga el principio de conservación de la
energía cinética sin limitaciones en la distribución
de energía entre el neutrón y el núcleo.
Hay dos alternativas para este tipo de reacción: la
formación o no del núcleo compuesto.

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En ambos casos el núcleo bombardeado
permanece en su estado fundamental y todo el
proceso puede analizarse como la interacción de
dos partículas clásicas donde se conserva la
energía y la cantidad de movimiento. La velocidad
de los neutrones se reduce gradualmente luego
de sucesivas colisiones elásticas. Su energía
cinética media se hace aproximadamente igual a
la de los átomos del medio dispersante, que
depende de la temperatura, y se llama energía
térmica.
Los electrones dispersos elásticamente son la
principal fuente de contraste en las imágenes
TEM. También crean gran parte de la intensidad
en los DPs, por lo que debemos comprender qué
controla este proceso.
Para comprender la dispersión elástica la
consideraremos en átomos individuales aislados y
luego de muchos átomos juntos en la muestra,
debemos invocar las características de onda y de
partícula de los electrones.
La dispersión de átomos aislados puede ocurrir
como resultado de la interacción de electrones
con la nube de electrones cargados
negativamente, lo que da como resultado
desviaciones angulares de solo unos pocos
grados, o por atracción hacia el núcleo positivo
que dispersa los electrones a través de ángulos
mucho más grandes, hasta 180 grados. Esta
dispersión a menudo se puede interpretar en
términos del tipo de bola de billar, colisiones de
partículas-partículas, secciones transversales.
2.1 PARTÍCULAS Y ONDAS.
Tenemos dos formas diferentes de ver cómo un
haz de electrones interactúa con nuestras
muestras TEM. Podemos considerar el rayo como
una sucesión de partículas o como una serie de
ondas.
Los electrones son partículas, por lo que tienen
las siguientes propiedades
- Tienen una sección transversal de
dispersión y una sección transversal de
dispersión diferencial.
- Pueden estar dispersos a través de
ángulos particulares (recuerde que
nuestros ángulos son semi-ángulos).
2
- Los electrones interactúan con el núcleo y
la nube de electrones a través de las
fuerzas de coulomb.
Los electrones tienen una naturaleza ondulatoria y
el haz de electrones es casi una onda plana, por
lo tanto:
- Las ondas son difractadas por átomos o
"centros de dispersión".
- La intensidad de la dispersión de una
onda por un átomo está determinada por
la amplitud de la dispersión atómica.
- Cuando reunimos átomos en un sólido, el
proceso de difracción se vuelve mucho
más complicado, pero es fundamental
para el TEM.
2.2 MECANISMOS DE DISPERSIÓN
ELÁSTICA.
Los mecanismos de dispersión elástica se dividen
en dos maneras principales: dispersión de
electrones de átomos individuales aislados y
dispersión colectiva de muchos átomos juntos
dentro de la muestra.
Dispersión de electrones de átomos individuales:
La dispersión elástica puede ocurrir de dos
formas, las cuales involucran fuerzas de Coulomb.
Como se muestra en la Figura 1, el electrón
puede interactuar con la nube de electrones,
dando como resultado una pequeña desviación
angular. Alternativamente, si un electrón penetra
en la nube de electrones y se acerca al núcleo,
será fuertemente atraído y puede dispersarse a
través de un ángulo mayor que, en casos raros en
el TEM, puede acercarse a 180 grados (es decir,
retrodispersión completa).
Si solo consideramos un electrón, carga e,
acelerado a través de un voltaje V antes de ser
dispersado desde un átomo aislado, las rutas de
dispersión del electrón y del núcleo del electrón
son hiperbólicas y pueden estar dadas por dos
ecuaciones simples (Hall 1953) que son útiles
porque resumen los principales factores que
controlan la dispersión elástica:
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Donde r es el radio del campo de dispersión del

núcleo y el electrón. Las diferentes secciones
transversales para la dispersión a través de
ángulos >θ y vienen dadas por πrn 2 para el núcleo
y Zπrne2 para la dispersión por Z electrones en la
nube. Si sumamos los dos componentes y
multiplicamos por N0rt / A tendremos una idea
de la dispersión elástica total a través de una
película de espesor t.

Este enfoque es "defectuoso en muchos

aspectos", como dice Hall, pero le da un buen
sentido cualitativo de los diversos parámetros
que afectan la dispersión elástica. Puede ver que
el número atómico Z del átomo controla la
interacción elástica con el núcleo, pero la
dispersión electrón-electrón es más una función
de la energía del haz incidente V. Figura 1: Un átomo aislado puede dispersar un
electrón de alta energía mediante dos
Dispersión colectiva de muchos átomos juntos mecanismos. La interacción culómbica dentro de
dentro de la muestra: la nube de electrones da como resultado una
dispersión de ángulo bajo; La atracción
coulómbica por el núcleo provoca una dispersión
Es particularmente importante en ángulos de
en un ángulo superior (y quizás una
dispersión bajos. Comprender la difracción implica
retrodispersión completa cuando θ>90°). El
tratar el haz de electrones como una onda, en
potencial dentro de la nube de electrones siempre
lugar de como una partícula, como hicimos en la
es positivo.
figura 1.

En el enfoque original de Huygens para la

difracción de la luz visible, imaginamos que cada
átomo del espécimen que interactúa con la onda
plana incidente actúa como una fuente de ondas
esféricas secundarias, como se ilustra en la
Figura 2.

Por lo tanto, la distribución de dispersión elástica

de ángulo bajo es modificada por la estructura
cristalina de la muestra, y fuertes rayos
difractados emergen en ángulos específicos. El
haz difractado disperso a través del ángulo más
pequeño se llama haz de primer orden.

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Figura 2: Una onda de electrones coherente y
plana genera ondas secundarias a partir de una
fila de centros de dispersión (p. Ej., Átomos en la
muestra). Las ondas secundarias interfieren, lo
que da como resultado un haz directo fuerte
(orden cero) y varios haces coherentes (orden
superior) dispersos (difractados) en ángulos
específicos.
2.3 COHERENCIA DE LOS ELECTRONES
DISPERSADOS DE RUTHERFORD.
Hasta ahora, en este capítulo, hemos tratado al
electrón como una partícula, pero se puede
obtener información útil si examinamos la
naturaleza ondulatoria del electrón disperso. Los
electrones dispersos de Rutherford de ángulo alto
son incoherentes: es decir, no hay relación de
fase entre ellos. Este es un concepto complicado
porque estamos dispersando partículas. Esta
dispersión incoherente es importante en dos
aspectos. Primero, la dispersión hacia adelante de
ángulo alto se puede utilizar para formar
imágenes de una resolución excepcionalmente
alta de una muestra cristalina en las que el
contraste de la imagen se debe únicamente al
valor de Z, no a la orientación de la muestra
(como es el caso de ángulo bajo difracción
coherente).
En comparación con otros mecanismos de
contraste de imagen, la imagen de contraste Z es
una técnica relativamente nueva para la mayoría
de los microscopistas pero, particularmente desde
la disponibilidad de los correctores de Cs, ha
mantenido constantemente el récord de imágenes
y análisis de mayor resolución en el TEM (por
ejemplo, Varela et al. 2005) y ya está
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comenzando a revolucionar nuestra comprensión
de la estructura a nivel atómico y la química de los
defectos cristalinos.
2.4 EL FACTOR DE DISPERSIÓN ATÓMICA
El enfoque del factor de dispersión es
complementario al Análisis diferencial de sección
transversal de Rutherford, porque es más útil para
describir el elástico de ángulo bajo (es decir, <38)
dispersión donde el modelo de Rutherford es
inapropiado. Por lo general, f (y) se define de la
siguiente manera
3. DISPERSIÓN INLESTATICA.
Los electrones pierden energía en la interacción.
Se sueleproducir para ángulos pequeños,
menores a 1º, y para electrones de alta energía.
El paquete de electrones resultante suele ser
incoherente. Este tipo de interacción es
interesante en cuanto a la información que nos
aporta sobre la composición química de la
muestra, que no se puede obtener a partir de los
electrones dispersados elásticamente.
Un neutrón rápido experimenta dispersión
inelástica, en una primera etapa es absorbido por
el núcleo el núcleo compuesto excitado. Luego es
emitido un neutrón de energía cinética menor,
quedando el blanco en un estado excitado emite
uno o varios fotones, rayos de dispersión
inelástica. La energía del neutrón incidente debe
ser mayor que la energía del primer nivel excitado.
Para elementos de número de masa medio alto, la
energía mínima de excitación es del orden de 0,1
MeV. Al disminuir la masa, se aumenta la energía
de excitación, por ejemplo, unos 6 MeV para el
oxígeno.
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La probabilidad de que tenga lugar dispersión
inelástica aumenta con la energía en comparación
con la probabilidad de captura radiactiva u otras
alternativas posteriores a la absorción del neutrón
incidente.
Para referirnos a la probabilidad de que un
electrón padezca una dispersión elástica o
inelástica utilizamos el concepto de cross section
o sección eficaz. Esto es un área imaginaria cuya
fracción respecto al área total es igual a la
probabilidad de que el fenómeno ocurra. Así, si la
probabilidad de que un electrón interaccione
inelásticamente con la muestra es de 0,1, la
fracción de sección eficaz respecto al área será la
misma, aunque ésta no representa ninguna área
real. Por lo tanto, cada posible interacción tiene
una cross section o sección eficaz (), que
depende de la energía de la partícula (en nuestro
caso, la energía del haz de electrones) y, como
mayor sea, mayor será la probabilidad de que
ocurra esta interacción.
Para un espécimen observado bajo el TEM, el
número de eventos donde el electrón sufre
desviaciones por unidad de área a lo largo de su
trayectoria a través de la muestra es:
llamado trayectoria libre media (mean free path)
es la distancia media que el electrón recorre entre
dos sucesos de dispersión. Esta distancia será
importante en el sentido de que, conociendo este
concepto, podremos saber cuán fino debe ser el
espécimen para que la dispersión múltiple no sea
significativa. De esta forma, se hace más sencillo
interpretar los datos espectroscópicos e imágenes
en términos de desviaciones únicas.
La relación entre y (trayectoria libre media) es:
Para TEM, los valores típicos de λ para dispersión
son del orden de decenas de nm:esto implica que
para obtener interacciones únicas de dispersión,
necesitaríamos muestras de grosor del orden de
decenas de nanómetros.
A pesar de toda la información anterior, los
valores que podemos conocer de σ y λ siguen
siendo imprecisos, especialmente para energías
de 100-400 KeV utilizadas en TEM. Por lo tanto, lo
que se hace es una simulación Monte Carlo para
predecir la trayectoria del electrón a través de una
capa fina: este método consiste básicamente en la
utilización de números aleatorios en los
programas computacionales, de manera que el
resultado siempre estará regido por la estadística.

Donde σ es la sección eficaz para la interacción

del electrón con un átomo, es el número Nₒ de
Avogadro, la masa atómica de la muestra, la
densidad y el grosor. No obstante, debido a la
cantidad de variables que afectan tanto la sección
eficaz para un átomo como la total, se suele
mostrar una estimación: para las energías del
TEM (100-400 KeV), la elástica es casi siempre el
componente dominante de la dispersión (del
orden de).

En vez de utilizar el área para describir la

interacción también podemos utilizar una medida
de longitud, ya que la distancia que recorre el
electrón entre interacciones será importante para
muestras finas (que son las utilizadas para
microscopía electrónica). Este nuevo parámetro,

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obtener información sobre materiales. Hay ciertas

analogías entre la difracción de rayos X y de
electrones, pero en realidad los mecanismos
implicados son distintos (más complejos en la
difracción de electrones).

La difracción de rayos X se produce porque estos

son desviados por los electrones presentes en el
material, ya que la carga negativa de los
electrones interacciona con el campo
electromagnético de los rayos X.

Los electrones responden al campo aplicado del

flujo de rayos X oscilando con el período de este
haz, y las partículas cargadas aceleradas
Figura 3. Simulación de Monte Carlo para la resultantes emiten su propio campo
dispersión de electrones (haz de 1000 electrones electromagnético, de idéntica longitud de onda y
de energía 100 KeV) a través de una capa fina de fase que el de los rayos X incidentes. El campo
Cu (A) y Au (B). Se puede observar un aumento resultante, que se propaga radialmente desde
en el ángulo de dispersión para la muestra de cada fuente de dispersión, se denomina la onda
mayor número atómico (oro). difractada.

Como ya hemos comentado, por la dualidad onda- Por su parte, los electrones se difractan tanto por
partícula, los electrones en movimiento a altas los electrones como por los núcleos presentes en
velocidades también tienen propiedades la muestra a estudiar, al interactuar las cargas
ondulatorias. Por lo tanto, no sólo son negativas con los campos electromagnéticos
susceptibles a interaccionar con la muestra como locales del espécimen.
partículas, sino también como ondas. De esta
forma, cuando los electrones atraviesan la De esta forma, los electrones del haz son
muestra, también se produce el fenómeno de dispersados de una forma directa por la muestra
difracción, que ocurre cuando una onda (no se trata de un intercambio de campo a campo
interacciona con un objeto que se encuentra en el como en el caso de los rayos X). Así, los
límite de su trayectoria. electrones son más fuertemente dispersados que
los rayos X.
Este fenómeno permite obtener patrones de
difracción (DP, Diffraction Patterns), que también
aportan información sobre la muestra. De forma
simplificada, podemos decir que los patrones de
difracción se obtienen por interferencias
constructivas entre ondas (electrones) que se
encuentran en el plano de difracción: la amplitud
de las ondas se suma cuando su fase difiere en
un múltiplo de 2, lo que requiere que la diferencia
de caminos ópticos entre estas ondas sea un
múltiplo de la longitud de onda, según la ley de
Bragg (vista en apartados anteriores). Esta ley se
formuló para rayos X, pero dado que no depende
del mecanismo de difracción, sino de la
geometría, es también aplicable a los electrones.

La difracción de rayos X se ha usado

históricamente en la mayoría de los estudios para

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Figura 4. El haz incidente de electrones en la
muestra se convierte en un conjunto de haces
desviados por diferentes fenómenos.
Los patrones de difracción (DP) de electrones se
corresponden estrechamente con la difracción de
Fraunhofer observada en la luz visible (esta
difracción se produce cuando un frente de onda
plano interacciona con un objecto; dado que una
onda emitida por una fuente puntual se vuelve
plana a largas distancias, se conoce como
difracción de campo lejano). Aunque, en realidad,
lo que observamos en el patrón se corresponde
con el efecto de la difracción de Fresnel para la
luz visible (conocida como difracción de campo
cercano).
El TEM tiene las características necesarias para
poder obtener imágenes de la distribución de los
electrones dispersados: patrones de difracción.
Imaginemos que colocamos una placa fotográfica
justo debajo de la muestra fina y que los
electrones desviados de la figura 4 inciden
directamente en la película imprimiendo el punto
de su trayectoria.
En estas circunstancias, contra mayor es el
ángulo de desviación, más lejos del centro
impactará el electrón: por tanto, las distancias en
el film corresponden a los ángulos de dispersión
de los electrones.
Figura 5. Ejemplos de patrones de difracción de
electrones en un TEM convencional de 100 KeV.
(A) Carbón amorfo (B) cristal simple de aluminio.
4. FACTORES AFECTAN A LA DISPERSIÓN
DE LOS ELECTRONES EN EL TEM.
7
La σ total de dispersión disminuye contra mayor
es la energía: por lo tanto, la dispersión de un haz
de electrones a 300 KeV será menor que a 100
KeV. La densidad de la muestra también afecta a
la dispersión: las regiones de alta densidad
producen más eventos de dispersión que las de
baja densidad y, contra mayor sea el número
atómico Z de la muestra, más dominará la
dispersión elástica.
Además, en general habrá menos dispersión a
ángulos mayores (cuando seleccionamos
electrones que se han desviado un cierto ángulo
θde su trayectoria, estamos cambiando su sección
eficaz efectiva, que disminuye contra mayor es el
ángulo). Por esto, la dispersión que más nos
interesará en el TEM convencional es la que se
produce hacia delante (atravesando la muestra),
ya que la mayoría de los electrones desviados se
encuentran dentro de del haz directo
(obtendremos más información).
La AEM (Analytical Electron Microscopy)
conforma las técnicas de recopilación de datos
espectroscópicos en el microscopio electrónico de
transmisión. Estas señales se basan en diversos
fenómenos generados durante las interacciones
inelásticas de los electrones con la muestra
(explicadas anteriormente).
Estas señales se pueden utilizar para identificar y
cuantificar la concentración de elementos
presentes en un área de la muestra, mapear su
distribución en la muestra con una alta resolución
espacial e incluso determinar su estado químico.
Aunque hay diversas señales generadas por la
interacción del haz incidente de electrones, las
principales técnicas de la AEM se basan en la
detección de rayos X y la medida de las pérdidas
de energía de los electrones. En el primer caso,
hablamos de EDXS o espectroscopia de
dispersión de energía de rayos X (Energy
Dispersive X-ray Spectroscopy) y, en el segundo,
de EELS o espectroscopía por pérdida de energía
de los electrones (Electron Energy Loss
Spectroscopy); estas técnicas se realizan en un
TEM con los detectores correspondientes. Hay
otras técnicas incluidas en la AEM, como la
catodoluminiscencia o la especroscopia de Auger,
pero no se suelen implementar en los TEMs
comerciales.
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Las condiciones inherentes a la microscopía
STEM, como veremos, dan lugar a la realización
de diversas técnicas de microscopía analítica,
como la técnica de EELS, que también
describiremos en este texto.
La microscopía STEM (Microscopía electrónica de
transmisión de barrido) combina los principios de
TEM y SEM.
En STEM, algunas de las técnicas que se pueden
realizar en función de las señales detectadas son:
- Electrones dispersados: En STEM, los
electrones del haz que han sido dispersados en
un ángulo relativamente grande son detectados
utilizando un detector HAADF (High Angle Annular
Dark Field, campo oscuro anular de grandes
ángulos). Hablaremos de esto más adelante.

Como en SEM, la técnica de STEM desliza un haz - Microanálisis de rayos X: los rayos X emitidos
de electrones fino y focalizado a lo largo de la por la muestra a causa del bombardeo de
muestra. La interacción entre este haz y los electrones, son característicos de la composición
átomos de la muestra generan un flujo de señales elemental de esta. Para contar y clasificar los
que se correlacionan con la posición del haz para rayos X en función de su energía, se utiliza un
construir una imagen virtual donde la intensidad espectrómetro dispersivo de energía de rayos X
de señal en cualquier localización de la muestra (EDX, Energy Dispersive X-ray spectrometer).
es representada por la intensidad en la escala de
gris de la correspondiente localización en la
imagen. La principal ventaja respecto al SEM
convencional es la mejora en la resolución
espacial.

Como en TEM, la técnica de STEM requiere

muestras muy finas y detecta principalmente los
electrones transmitidos a través del espécimen.
Su principal ventaja respecto al TEM convencional
es que permite el uso de otras señales que no
puede ser espacialmente correlacionados en
TEM, como los electrones secundarios, electrones
dispersados, rayos X característicos y pérdidas de
energía de los electrones.

3.1 DETECTORES EN EL STEM

Como se ha explicado en apartados anteriores, la

obtención de contraste en el TEM se puede
realizar de dos modos en función de los
electrones seleccionados en el sistema de
creación de la imagen: mediante campo claro (BF,
Bright Field), donde se recogen los electrones del
haz directo, o campo oscuro (DF, Dark Field), Figura 7. Comparación del modo de obtención de
donde se seleccionan los electrones dispersados. imágenes en DF o BF para TEM convencional y
En el STEM, también se seleccionan estos dos STEM.
tipos de electrones, pero mediante detectores en
lugar de aperturas.

Para seleccionar los electrones del haz directo, se

utiliza un detector situado en el eje del haz (on-
axis), mientras que, para recoger los electrones
dispersados, se utiliza un detector anular
alrededor (off-axis).

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La espectrometría dispersiva de longitud de onda
de rayos X (WDX, Wavelength Dispersive X-ray
spectrometry) mide y cuenta los rayos X según su
longitud de onda, como el nombre indica (la
longitud de onda se puede correlacionar con la
energía). Un espectrómetro de longitud de onda
utiliza un cristal o una rejilla de espaciado
conocido para difractar los rayos X característicos.
- EELS: analiza los electrones transmitidos para
determinar la cantidad de energía que han perdido
en la interacción con la muestra. Se explicará con
detalle más adelante.
Como veremos, en STEM se pueden detectar y
medir prácticamente todas las señales generadas
por una muestra fina bajo un haz de electrones.
Por tanto, se podrían reproducir todas las técnicas
convencionales utilizadas en TEM y otras menos
convencionales, como el contraste Z y otras
técnicas especializadas. No obstante, el modo de
operación de STEM está enfocado a la obtención
de información donde el TEM convencional tiene
limitaciones, y de la misma forma, el modo STEM
no será tan óptimo en técnicas en las que el TEM
constituye el modo más especializado y adaptado,
como veremos.
Un STEM permite una mayor flexibilidad en la
selección de los electrones a detectar que el TEM,
ya que es posible modificar el ángulo del detector,
de manera que se obtiene el equivalente a una
apertura de objetivo variable y se tiene un mayor
control de los electrones que contribuirán a formar
la imagen. Siempre podremos, por tanto, ajustar el
contraste en una imagen de STEM modificando
los controles de procesamiento de señal en el
ordenador (ganancia del detector, brillo, etc.).
Aun así, las imágenes de STEM en campo claro
suelen tener una baja resolución, ya que para un
espécimen de pequeño grosor, el haz directo
domina la resolución (por ello se necesita un
mayor haz de electrones para obtener imágenes
de intensidad aceptable). En general, en una
imagen de STEM obtendremos un mayor
contraste pero también más ruido que en la
misma imagen para TEM.
En cambio, las imágenes de STEM en campo
oscuro (en el que la mayoría de electrones
dispersados son recogidos por el detector, a
9
diferencia del campo oscuro en el TEM),
contienen menor ruido que en TEM. Dado que no
se utilizan lenes para la creación de la imagen,
éstas no sufren las aberraciones típicas del
TEM(mencionadas en apartados anteriores). A
pesar de esto, la resolución en el STEM siempre
será menor, excepto para muestras de mayor
grosor, ya que la aberración cromática en este
caso no afecta a la formación de las imágenes en
STEM.
En definitiva, el uso de STEM está indicado en
aquellos casos en los que la visualización de
contraste sea más importante que la resolución:
por ejemplo, en muestras de polímeros no
teñidos, que no mostrarían contraste en un TEM
convencional. El modo STEM también es muy útil
en caso de que la muestra a estudiar sea sensible
a la irradiación de los electrones: de esta forma se
puede controlar el área irradiada de la muestra,
convirtiéndolo en una forma de microscopía de
baja dosis. También es adecuado utilizar STEM
en caso de que la muestra sea tan gruesa que la
aberración cromática limite la resolución en TEM,
que tenga un contraste bajo de forma inherente o
que se óptima para HRTEM (High Resolution
TEM) por contraste de número atómico Z.
Actualmente, el modo STEM en un TEM se ha
convertido en una técnica rutinaria de alta
resolución.
5. CONCLUSIÓN.
Las técnicas y modos de operación expuestos en
este texto ponen de manifiesto que la microscopía
electrónica de transmisión no constituye
únicamente la solución a la falta de resolución
proporcionada en su momento por los
microscopios ópticos. En efecto, hemos visto que
las posibilidades que ofrece un TEM van más allá
de la extraordinaria resolución de las imágenes
que permite obtener: la comprensión de la
interacción entre los electrones del haz y la
muestra a estudiar nos ha permitido desarrollar
técnicas y acoplar detectores complementarios
que permiten obtener una gran cantidad de
información valiosa sobre la naturaleza del
material de estudio.
El amplio espectro de datos de diferente categoría
que permite obtener es la base de los estudios
que se están llevando a cabo en la actualidad. Es
por esto que la microscopía electrónica de
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transmisión se ha convertido uno de los recursos

principales y fundamentales de investigación en el
campo de la nanociencia y la nanotecnología.

6. BIBLIOGRAFÍA.

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