Tema 9.

Fenmenos de interferencia
Eva M. Valero
October 2nd, 2012

ndice
1. Interferencias de dos haces por divisin del frente de ondas
1.1. Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.1.1. Definicin de interferencia . . . . . . . . . . . . . .
1.1.2. Condiciones de interferencia . . . . . . . . . . . .
1.2. Experimento de Young . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3. Visibilidad de las franjas . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.1. Efecto de la extensin espacial de la fuente . . . .
1.3.2. Efecto de la monocromaticidad . . . . . . . . . . .
1.4. Dispositivos interferomtricos . . . . . . . . . . . . . . . .

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2. Interferencias de dos haces por divisin de amplitud

2.1. Interferencias en lminas de espesor constante . .
2.2. Interferencias en lminas de espesor variable . . .
2.2.1. Franjas de Fizeau . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.2. Anillos de Newton . . . . . . . . . . . . . .
2.3. Localizacin de las franjas . . . . . . . . . . . . . .
2.4. Interfermetros de doble haz y aplicaciones . . . .
2.4.1. Interfermetro de Michelson . . . . . . . .
2.4.2. Interfermetro de Twyman-Green . . . . .
2.4.3. Interfermetro de Mach-Zender . . . . . .
2.4.4. Interfermetro de Sagnac . . . . . . . . . .
2.4.5. Interfermetro de Jamin . . . . . . . . . . .
2.4.6. Aplicaciones . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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3. Interferencias con haces mltiples

3.1. Lminas de espesor constante: frmulas de Airy .
3.2. Antirreflejantes monocapa y filtros interferenciales
3.2.1. Recubrimientos antirreflejantes monocapa
3.2.2. Filtros interferenciales . . . . . . . . . . . .
3.3. Interfermetro Fabry-Perot . . . . . . . . . . . . .
3.3.1. Descripcin general . . . . . . . . . . . . .
3.3.2. Poder resolutivo espectral . . . . . . . . . .
3.4. Multicapas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.4.1. Aplicaciones . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Resumen
En este tema, abordamos uno de los grandes fenmenos que reflejan el comportamiento ondulatorio de la luz: las interferencias. El contenido se divide en tres grandes secciones, agrupando las dos
clasificaciones ms comunes utilizadas para estudiar los fenmenos interferenciales: segn el procedimiento de obtencin del patrn (por divisin del frente de ondas o por division de amplitud) y por el
nmero de haces involucrados (dos haces o haces mltiples). Las dos primeras secciones se dedican a
interferencias con dos haces, y la ltima a haces mltiples. Este tema es clave dentro de los contenidos
del curso, por lo que se trabaja con muchos ejemplos de clase relativos a diferentes dispositivos para
generar patrones interferenciales, y bastantes problemas de la relacion. Tambin suele preguntarse en
los exmenes, tanto en la parte de teoria como en la de prcticas.

1.
1.1.

Interferencias de dos haces por divisin del frente de ondas

Introduccin

Vamos a comenzar con este tema a analizar para el caso de las ondas e.m. (en particular la luz) un
fenmeno que ya comentamos en el tema de superposicin de ondas (tema 6): la interferencia.
1.1.1.

Definicin de interferencia

Este fenmeno se relaciona muy estrechamente con la naturaleza ondulatoria de la luz, de hecho el
experimento de Young a principios del s. XIX que fue el principio del fin de la teora corpuscular de
Newton pona de manifiesto precisamente un caso de interferencias que estudiaremos ms a fondo a lo
largo del tema. Los fenmenos interferenciales son comunes a todas las ondas, por ejemplo tambin se
dan con el sonido (cuando se superponen en determinadas condiciones ondas sonoras procedentes de
altavoces), en ondas mecnicas como las producidas en la superficie del agua (por ejemplo cuando se
superponen las ondas de ida y vuelta tras un choque de las olas en un dique), o en una cubeta de ondas
como la que vemos en la imagen. Ya volveremos sobre este ejemplo ms adelante. En definitiva, la idea
bsica es que los fenmenos interferenciales son el resultado de la superposicin de ondas (en nuestro
caso van a ser haces de luz) en un punto del espacio bajo determinadas condiciones.
Qu tienen de especial estos fenmenos de interferencia? En primer lugar, la irradiancia (o intensidad) resultante de la superposicin no es la suma de las irradiancias o intensidades de cada una de las
ondas que se superponen, como vimos que pasaba al estudiar la polarizacin. En general, la irradiancia
resultante va a depender de la posicin relativa de ambas fuentes con respecto al punto donde se superponen. Por ejemplo, volviendo a la figura de la cubeta de ondas, vemos que hay zonas en las que se
alternan mximos de intensidad muy brillante con mnimos muy oscuros, mientras que hay otras en las
que no se aprecian variaciones de intensidad, el resultado es una especie de gris uniforme. Las primeras
corresponden a puntos del espacio en los que la onda procedente de una de las fuentes vibra en fase
con la procedente de la otra fuente (es decir, los mximos de una coinciden con los mximos de otra, y
los mnimos tambin). Las segundas (zonas grises) corresponden a puntos para los cuales los mximos
de la primera fuente coinciden con mnimos de la segunda, resultando una intensidad nula (superficie
plana) de la superposicin de ambas.
En el caso particular de la luz, veremos que por lo general vamos a considerar superposicin de
ondas emitidas por la misma fuente, a las que vamos a separar para luego observar el resultado de su
superposicin en una determinada zona del espacio. Si la separacin es en dos componentes a partir de
una fuente emisora comn, segn el procedimiento de separacin utilizado hablamos de interferencia
por divisin del frente de ondas (generalmente para fuentes de pequea extensin, de ella nos ocupamos
a lo largo de esta primera seccion, vemos el ejemplo de partir fsicamente el frente plano de ondas por
medio de una doble rendija); si lo que hacemos es dividir la amplitud de la onda inicial por medio de
superficies reflectantes y/o refractantes, hablamos de interferencia por divisin de amplitud, que puede
construirse para fuentes extensas tambin. La divisin en ambas categoras no se refiere tanto al uso o
no de superficies reflectantes o refractantes, sino a la duplicidad de la fuente original antes de considerar
la superposicin.
Tras considerar las interferencias con dos haces, trataremos aquellas con ms de dos haces, llamadas
generalmente de haces mltiples. Este tipo de interferencias dan lugar a las distintas zonas coloreadas que
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podemos observar al iluminar pelculas delgadas (de jabn o de grasa sobre agua) con luz blanca. En
el caso de pelculas de grasa, para observar bien las franjas coloreadas necesitamos un buen contraste
con el fondo, por eso suelen verse bien sobre el asfalto (que es negro) y no si hacemos la experiencia con
aceite en un vaso de agua sobre una superficie blanca.
Veamos ahora las condiciones necesarias para que se produzcan configuraciones o patrones interferenciales observables. En realidad, ya las avanzamos en el tema 5, cuando hablamos de superposicin de ondas de igual frecuencia y con vectores elctricos paralelos. Recordemos el resultado obtenido
entonces: si escribimos las ecuaciones de ambas ondas en forma compleja, la intensidad resultante es
proporcional al mdulo cuadrado del vector resultante de la suma de ambos, de forma que si estn
desfasados (constante en el tiempo) y son paralelos, podemos expresar la intensidad resultante como la suma de las intensidades de ambas ondas mas un trmino que depende directamente de cos()
y que suele denominarse trmino interferencial. Si lasdos
 ondas son de igual amplitud, la intensidad

resultante puede escribirse como proporcional al cos2 2 .

Con esto, tendremos que si ambas amplitudes son iguales, entonces, dibujando la funcin intensidad
resultante, obtenemos un patrn regular de mximos y mnimos nulos de intensidad, con lo cual dado
que los mnimos son nulos, la configuracin se aprecia mucho mejor que si no lo fueran. Cuando ambas
amplitudes no son iguales, esto es precisamente lo que ocurre, que los mnimos no resultan nulos y por
tanto las franjas se observan un poco peor. Pero el que las amplitudes sean iguales no es condicin necesaria para que se produzcan interferencias. Los mximos de intensidad se darn para aquellos puntos
del espacio para los cuales cos = 1, o sea, = 2m, con m = 0, 1, 2, . . . . Cuando esto se produce,
hablamos de ondas que se superponen en concordancia de fase o ms brevemente en fase. Los mnimos
de intensidad se producen cuando cos = 1, o sea, = (2m + 1), con m entero. En este caso,
decimos que las dos ondas se superponen en oposicin de fase. Segn el punto del espacio en el que se
produzca la superposicin, las dos ondas llegarn a l con una cierta diferencia de camino ptico, que
por la relacin que vimos en el tema 5 se traduce en diferencia de fase considerando el nmero de ondas
para el vaco y el ndice de refraccin del medio. Esto lo vemos representado en la figura.
En trminos de diferencias de camino ptico, la concordancia de fase se dar cuando la diferencia
de camino ptico sea un mltiplo entero de veces la longitud de onda de las ondas que se superponen, mientras que la oposicin de fase corresponder a un mltiplo impar de semilongitudes de onda.
Podemos tratar, pues, la interferencia considerando bien desfases o bien diferencias de camino ptico,
de forma totalmente equivalente. Como vemos a partir de la expresin de la intensidad, en unos puntos
vamos a tener una intensidad cuatro veces superior a la de las ondas que se superponen (suponiendo
que sean de igual amplitud), mientras que en otros vamos a tener intensidad nula. Si comparamos esta
situacin con la resultante de una superposicin simple sin interferencias (intensidad uniforme doble
de la de cada onda), nos damos cuenta de que en realidad el fenmeno interferencial supone una redistribucin de energa, de acuerdo con el principio de conservacin. Plantear como pregunta: si en unos
puntos tenemos cuatro veces la intensidad de cada onda, se ha creado energa?
1.1.2.

Condiciones de interferencia

Veamos ahora cada una de las condiciones necesarias para la interferencia con un poco ms de detalle. La primera se refiere a la constancia del desfase, y se denomina coherencia de las ondas que se
superponen. En esencia, necesitamos que la diferencia de fase sea constante para cada punto del espacio
e independiente del tiempo. Si dos ondas provienen de una misma fuente, estn ms correlacionadas en
su emisin que si se trata de dos fuentes completamente independientes. Por eso, para las interferencias
se utiliza una sola fuente de origen. Aun para puntos emisores de una misma fuente, si estn alejados
entre s las fases respectivas fluctan con periodos del orden de 108 s, con lo cual al superponerse la
diferencia de fase no se mantiene constante y al depender el desfase del tiempo, podemos demostrar que
la intensidad de la superposicin es justo la suma de las intensidades de ambas ondas, pues el promedio temporal del cos se anula, y por tanto lo hace el trmino interferencial. Entonces, decimos que las
ondas son incoherentes.
As pues, de la superposicin de dos ondas incoherentes no resulta nunca interferencia. En una misma fuente, s es cierto que cuanto ms prximos estn los puntos emisores, ms coherente ser su
emisin. Si utilizamos una fuente puntual (o casi puntual) y dividimos los frentes de onda emitidos,
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aseguramos que la diferencia de fase sea constante para cada punto del espacio (coherencia espacial). Si
utilizamos adems fuentes monocromticas o casi-monocromticas, aseguramos una mayor constancia
de la fase en el tiempo (coherencia temporal). Esto no quiere decir que siempre necesitemos fuentes puntuales monocromticas para observar la interferencia, como veremos ms adelante en esta seccin y las
dos siguientes. Pero la condicin de coherencia resulta primordial para obtener patrones interferenciales
observables.
Esta condicin no es la nica necesaria: si nos fijamos en la expresin para la intensidad resultante
que obtuvimos al principio, vemos que si las dos ondas vibran perpendicularmente, tambin se anulara el trmino interferencial y no habra por tanto interferencia, aunque ambas fueran perfectamente
coherentes. Esto se relaciona con lo ya visto sobre la intensidad resultante para distintos estados de
polarizacin (superposicin de ondas con vectores elctricos perpendiculares).
As pues, necesitamos tambin para la interferencia que las ondas que se superponen vibren con
vectores campo elctrico paralelos o casi paralelos. Si son perfectamente paralelos, hemos visto que
podemos tratarlos como escalares. Pero tambin si hay coherencia puede producirse interferencia con
ondas cuyos vectores E no vibren exactamente paralelos, como muestra la situacin de la figura para
las componentes paralelas al plano de incidencia. El patrn se observar peor en este caso que en el
de las componentes perpendiculares al plano de incidencia, que son perfectamente paralelas. Si los dos
vectores forman un cierto ngulo , como vemos en la figura la amplitud resultante variar entre un
mximo cuando ambos estn en fase (flecha azul), y un mnimo cuando estn en oposicin de fase
(flecha naranja). La visibilidad del patrn ser mayor cuanto mayor sea la diferencia entre las amplitudes mxima y mnima. Si baja, aumenta la mxima y disminuye la mnima, con lo cual el patrn
se aprecia mejor. Mirando de nuevo la figura anterior, nos damos cuenta de que ondas en cualquier estado de polarizacin pueden producir interferencias, basta que puedan superponerse por separado las
componentes paralelas de ambas.
As pues, no es necesario que las ondas que se superponen sean linealmente polarizadas para observar interferencias. Por otra parte, si situamos un polarizador delante del patrn interferencial y lo
giramos, vamos a observar generalmente diferencias en la intensidad transmitida por el polarizador
segn su orientacin, o sea, que en general podemos decir que el patrn interferencial est tambin
polarizado.
Fresnel y Arago observaron que no haba interferencias para ondas que vibran con vectores elctricos perpendiculares, y dedujeron de ah el carcter transversal de las ondas luminosas. De hecho, en
nuestro desarrollo en ningn momento hemos utilizado que las ondas e.m. sean transversales. Podemos
entender mejor el razonamiento de Fresnel y Arago si ponemos el trmino de interferencia en funcin del producto escalar de ambos vectores con sus tres componentes. Suponiendo que la direccin de
propagacin sea el eje z pero que las ondas no sean transversales a la direccin de propagacin pero s
perpendiculares entre s, consideramos que la onda E1 est en el plano xz (entonces anulamos su componente y) y la E2 en el plano yz (anulamos su componente x). Entonces, el trmino de interferencia
queda en funcin de las dos componentes z, y como la evidencia experimental nos dice que es nulo
(no hay interferencia para ondas con vectores elctricos perpendiculares), entonces necesariamente las
componentes z de ambas ondas se anulan, y esto implica que E1 vibra segn el eje x y E2 segn el eje y.
Por lo tanto, ambas son transversales a su direccin de propagacin.
Por ltimo, para que haya interferencia necesitamos que las ondas que se superpongan sean de igual
frecuencia. Ya vimos en el tema 6 que si las ondas que se superponen tienen vectores elctricos paralelos
pero diferente frecuencia, la amplitud resultante tiene un trmino de modulacin temporal que depende
de la diferencia de frecuencias, ocasionando fluctuaciones que varan con un perodo mltiplo de T1
y T2 , lo que hace que no sean detectables las variaciones de intensidad producidas por el fenmeno
interferencial. Esta tercera condicin no implica que la luz tenga que ser monocromtica, de hecho ya
sabemos que se producen interferencias con luz blanca (pelculas delgadas, por ejemplo). Basta que
puedan superponerse las frecuencias dos a dos.
Ya hemos visto que si los vectores campo elctrico son paralelos o casi paralelos, puede perfectamente prescindirse del carcter vectorial de las ondas e.m. en el tratamiento terico de las interferencias.
En este caso, est justificado el uso que haremos de la teora escalar de las ondas e.m., que nos va a resultar ms cmodo para obtener los correspondientes resultados tericos. De hecho, durante bastantes aos
se trat el fenmeno de las interferencias considerando a la luz como onda escalar, antes de introducir

su carcter de onda transversal y vectorial e.m.

1.2.

Experimento de Young

Vamos a ver con ms detalle el experimento realizado por Young en 1801 y presentado posteriormente de forma ms elaborada ante la Royal Society en su serie de artculos en 1802 y 1803. Originalmente, Young dividi con un separador de papel fino un haz de luz solar obtenido practicando un
orificio pequeo en un panel que cubra una ventana, y observ una serie de franjas coloreadas en una
pared a varios metros del divisor del orificio.
Posteriormente, refin el experimento dividiendo el frente de ondas emitido por el orificio primario
en dos por medio de dos orificios secundarios practicados en una pantalla opaca. Colocamos la pantalla
de forma que la fuente primaria s est centrada con respecto a las secundarias. No perdamos de vista
que con este dispositivo estamos dividiendo efectivamente el frente de ondas, como se ilustra en la
figura inferior. Como provienen de la misma fuente casi puntual, ambas emiten en fase y son coherentes
entre s. Si consideramos el resultado de su superposicin sobre una pantalla alejada de las dos fuentes
secundarias, la diferencia de camino ptico entre la onda procedente de S1 y la procedente de S2 vara
en cada punto de la pantalla. Ambas ondas tienen vectores campo elctrico paralelos (o casi), y son de
igual frecuencia, por lo que sobre la pantalla P podremos observar el patrn interferencial. Suponemos
que P est en un plano normal a la bisectriz del segmento S1 S2 , y adoptamos un sistema de ejes con x
paralelo a S1 S2 e y perpendicular al mismo.
Llamamos d a la distancia S1 S2 , y a a la distancia S1 S2 P. Entonces, la luz desde la fuente S1
recorre una distancia S1 A hasta el punto de superposicin,
que

 se calcula como distancia eucldea en

funcin de las coordenadas de A = ( x, y, 0) y S1 = 2d , 0, a . Igual para la luz procedente de S2 , que



ahora tiene coordenadas S1 = 2d , 0, a . Restando los cuadrados de las dos distancias, y poniendo la
diferencia de cuadrados como suma por diferencia, obtenemos una expresin para la distancia s2 s1 ,
en funcin de x, d y la distancia s1 + s2 . Si sucede, como suele ser habitual en la prctica, que a  d,
entonces podemos aproximar s1 + s2 por 2a, lo que implica despreciar trminos a partir del segundo
y
orden en xa , a y da . La diferencia de camino ptico queda como el ndice de refraccin por la diferencia
de distancias, y podemos pasar a desfase con ayuda de la expresin correspondiente. Esta aproximacin
conduce a resultados muy realistas en la mayora de situaciones experimentales de divisin del frente de
ondas, ya que la distancia entre las fuentes secundarias suele ser del orden de mm o menor, y la distancia
entre el plano de las fuentes y la pantalla del orden de m.
Bajo nuestra aproximacin, el ngulo < S1 , S2 , A > es pequeo, por lo que confirmamos que las
componentes paralelas al plano de incidencia de E van a ser casi-paralelas al superponerse sobre A.
Como la fuente primaria S est centrada respecto a los dos orificios secundarios, tenemos que ambas
ondas sern tambin de amplitudes iguales, por lo que podemos aplicar la expresin deducida antes
para la intensidad resultante.
Analicemos ahora dnde se sitan sobre la pantalla los puntos de mxima y mnima intensidad. Para
los mximos, la diferencia de camino ptico ser un mltiplo entero de la longitud de onda, con lo cual
podemos obtener la expresin de la x correspondiente. Al mltiplo entero recordemos que le denominamos orden interferencial. En cuanto a los mnimos, operando igual obtenemos la correspondiente
expresin para la x.
Si la escribimos de otra forma, vemos que 2m2+1 = m + 12 , con lo cual el orden interferencial de un
mnimo es el mismo que el del mximo inmediatamente anterior al mismo (de menor x). Si queremos
saber si un punto de la pantalla P va a corresponder a un mximo o mnimo o posicin intermedia, basta
calcular y ver si es entero, o semientero, o situacin diferente de ambas. De cualquier forma, hemos
obtenido que los puntos de mximo y mnimo son de la forma x = cte, es decir, rectas paralelas al eje
y (que es perpendicular al segmento overlineS1 S2 , recordemos). En un experimento de Young con luz
casi-monocromtica, observamos franjas claras y oscuras alternadas orientadas en la perpendicular al
segmento S1 S2 .
Es importante resaltar que en este tipo de interferencias las franjas no estn localizadas en un plano,
sino que son observables en muchos planos a diferente distancia del plano de las fuentes secundarias a lo
largo del eje z. Definimos adems la interfranja como la distancia sobre la pantalla entre mximos adya5

centes, que depende de la longitud de onda, el cociente da y la inversa del ndice de refraccin del medio.
Como vemos en las imgenes, a mayor longitud de onda, mayor interfranja (para el mismo dispositivo,
la interfranja obtenida con luz violeta es menor que con luz roja) , y para una misma longitud de onda, a
mayor separacin entre las fuentes secundarias, menor interfranja. Vemos esto ltimo tambin con una
pelcula. Realizamos dos ejemplos en los que se trabaja con la expresin de la interfranja. Vemos tambin
ms fotos de patrones reales con distintas longitudes de onda e incluso luz policromtica.
Tambin la demo de Matlab como simulacin del efecto de cambiar a, d y la longitud de onda. Si no
hacemos la aproximacin a  d, las superficies de igual intensidad seran hiperboloides con focos S1 y
S2 , y los cortes con P daran lugar a hiprbolas. Lo vemos con la figura tridimensional del texto de Daz
Navas y Medina.
Generalmente, el experimento de Young suele hacerse sustituyendo las fuentes puntuales por rendijas muy finas, con el fin de ganar intensidad en el patrn. Tratamos a las rendijas como un conjunto de
fuentes puntuales no coherentes entre s, pero s dos a dos (las que se superponen). Por la geometra del
experimento, la diferencia de fase sera constante para una lnea orientada perpendicular al segmento
S1 S2 . Sin embargo, debemos mantener estrechas las rendijas, pues si las abrimos demasiado perdemos
coherencia espacial (ya s notaramos los efectos de superponer ondas incoherentes entre s en la configuracin).

1.3.

Visibilidad de las franjas

A la hora de analizar la visibilidad de las franjas, definimos un parmetro denominado contraste

como el cociente entre la diferencia de intensidades mxima y mnima y su suma. A partir de esta
definicin, recordamos que si la diferencia entre los mximos y mnimos resultantes de la interferencia
era pequea, dijimos que el patrn no se apreciaba bien (contraste o visibilidad bajo). Sin embargo,
cuando los vectores campo elctrico son paralelos y las amplitudes iguales, la diferencia entre mximos y
mnimos es mxima, y el contraste es la unidad (Imin = 0). Vemos en la animacin patrones de contraste
variable. Podemos analizar por separado la influencia de dos factores bsicos sobre la visibilidad de las
franjas, relacionados con la coherencia espacial y temporal de las fuentes que se superponen.
1.3.1.

Efecto de la extensin espacial de la fuente

En cuanto al efecto de la extensin espacial de la fuente, si aumentamos la anchura de la fuente

originaria en x 0 (y por tanto la de S1 y S2 ), dado que consideramos cada punto emisor de las rendijas de
forma independiente (puesto que emiten en principio de forma incoherente), sobre la pantalla vamos
a recoger en un punto P las configuraciones interferenciales superpuestas de cada uno de los puntos
emisores, cada una de ellas llegando a P con distinta diferencia de camino ptico, y por tanto estarn
desplazadas unas con respecto a otras (o sea, si una presenta un mximo en P, otra presentar un mnimo
y otra una posicin intermedia entre ambos).
Vamos a evaluar esta diferencia de camino ptico en las configuraciones superpuestas. Fijamos una
diferencia de camino ptico entre las emisiones de puntos de S1 y S2 . Con esta diferencia de camino
ptico, los puntos emisores de S1 y S2 procedentes de un punto S de la fuente originaria centrado con
respecto a S1 y S2 se superpondrn en un punto P de la pantalla. Ya vimos que con la aproximacin
a  d, podemos calcular la diferencia de camino ptico sobre P como xd
a . Los puntos emisores de S1 y
S2 correspondientes a un punto S0 de la fuente originaria a distancia x 0 de S, presentarn otra diferencia
de camino ptico adicional debida a que S0 ya no est centrada con respecto a S1 y S2 . Tenemos entonces,
con la aproximacin x 0  a0 (distancia entre S y el plano de las rendijas), que esta diferencia adicional
0
puede escribirse como xa0d .
Entonces, si para la superposicin con diferencia de camino ptico tenemos un mximo sobre P,
para la otra configuracin no obtendremos un mximo, sinoque la posicin
 de mximo ms prxima
estar en un punto P0 con diferencia de camino ptico <

x0 d
a0

= 0 , y por tanto ms cerca del

centro de la configuracin. Esta posicin P0 sera (para un mximo, haciendo ahora 0 = m) igual a
x0 a
m
0
nd a0 . Vemos que efectivamente x p = x p menos un trmino fijo que depende del incremento de
anchura de la rendija. Sin embargo, la interfranja (distancia entre mximos) no vara para ambas config-

uraciones, con lo que slo se ha producido un desplazamiento relativo de las mismas. Para una variacin
pequea dx, tomamos variacionales en la expresin 0 anterior y obtenemos la relacin entre el incremento de anchura pequeo dx 0 y el desplazamiento de las franjas dx. Si definimos una tolerancia de
desplazamiento para que el patrn siga siendo visible, de un cuarto de interfranja, llegamos a que la
0
tolerancia en apertura de la rendija originaria es a
4d .
As que podramos calcular cunto como mximo podemos abrir la rendija para no perder el patrn
como consecuencia de la prdida de coherencia espacial. En la pelcula, vemos simulado el efecto de
aumentar la apertura de las dos rendijas en un patrn de franjas de Young.
1.3.2.

Efecto de la monocromaticidad

Nos planteamos ahora qu efecto tiene sobre la configuracin interferencial el que la fuente de origen
no sea monocromtica.
Ya dijimos que no es necesario que la luz sea monocromtica para producir interferencias, pero vamos a plantearnos qu caractersticas tiene el patrn resultante de superponer varias configuraciones,
cada una correspondiente a una longitud de onda determinada. Partimos de una fuente puntual (o lineal, si es rendija), para no mezclar con el efecto de aumentar la anchura de rendija que hemos visto
antes. En primer lugar, si iluminamos con luz blanca, tenemos que para todas las longitudes de onda,
la posicin del mximo central (orden cero) no vara, con lo cual la franja central va a ser blanca (resultado de la superposicin en el mismo punto de todas las longitudes de onda en mximo). Para el
resto de mximos, sin embargo, la interfranja y por tanto la distancia al centro depende directamente de
, y diferenciando la expresin de la posicin de los mximos para un orden m dado, obtenemos que
a
, que es
la variacin de x cuando vara en d depende del orden del mximo (m), y del cociente nd
constante para todas las longitudes de onda.
Para el primer mnimo, la variacin va a ser muy pequea dentro del espectro visible (porque m
es cero), con lo cual veremos franjas oscuras al lado del mximo central. Esto tambin ayuda en su
localizacin. Como las longitudes de onda menores tienen menor interfranja, esperamos ver las primeras
franjas coloreadas como azules hacia el centro, y rojas hacia la periferia. Luego, como el desplazamiento
crece con m, podemos encontrar todo tipo de variaciones en el aspecto de las franjas.
Si iluminamos, por el contrario, con luz casi-monocromtica (la variacin en longitud de onda es muy
pequea alrededor de la media del intervalo de longitudes de onda de la fuente), entonces la variacin
de x (al menos para los primeros rdenes) es mucho menor que la interfranja, con lo cual apenas apreciamos efectos sobre la configuracin. De todas formas, algunos aparecen, como puede verse en el montaje
de las prcticas de dispositivos interferenciales con luz de Na.
El uso de configuraciones interferenciales con luz blanca tiene la ventaja de que es ms fcil localizar
la posicin del mximo central (orden cero). Algunas aplicaciones interferomtricas utilizan los patrones
obtenidos con luz policromtica, como las que miden distancias de acoplamiento o profundidades de
superficies rugosas (FLIC y CPM entre otras, esto sera mejor verlo mediante un seminario dedicado a
este tipo de aplicaciones).
La aplicacin que vamos a ver un poco ms despacio es la obtencin de ndices de refraccin de
gases utilizando el interfermetro de Rayleigh. Presenta el montaje esquematizado en la figura: una fuente
S situada en el foco objeto de una lente L0 , que manda un haz paralelo al eje hacia dos rendijas S1 y S2 . La
luz atraviesa dos cmaras de la misma longitud y material (t1 y t2 ), luego dos lminas compensadoras C1
y C2 y la lente L1 , que focaliza de nuevo ambos haces. El plano de su combinacin se observa aumentado
por medio de una lente cilndrica L2 en el plano P. La ltima lente es cilndrica porque slo es crtico el
aumento en la direccin perpendicular a las franjas. La diferencia de camino ptico entre los brazos se
produce al introducir un cierto gas en el brazo T2 . Al hacer esto, se produce un desplazamiento de las
franjas, y contando el nmero de rdenes de este desplazamiento se calcula directamente la diferencia
de camino ptico inducida y por tanto ( conociendo la longitud l de los brazos) el ndice del gas en
cuestin.
Hay varios aspectos secundarios del dispositivo que resultan interesantes: por ejemplo, inicialmente
se vacan T1 y T2 e iluminando con luz blanca, se comprueba que las posiciones de orden cero los brazos
y el patrn de referencia coinciden. Mediante una lmina auxiliar G situada debajo de C1 y C2 , puede
obtenerse el patrn de referencia (sin que la luz pase por las cmaras de los brazos). Primero se calibra

con luz blanca, luego se afina con luz monocromtica una vez encontrada la posicin del orden cero.
Una vez calibrado, se introduce el gas en T2 , y esto ocasiona un desplazamiento de toda la configuracin. Ms que contar el nmero de franjas desplazadas, lo que se hace es compensar el desplazamiento girando la lmina C2 . De nuevo, primero se hace con luz blanca, y despus se afina con luz ms
monocromtica. Se mide el incremento de m a partir del giro de C2 (con una escala calibrada), y conociendo la longitud de onda de la luz casi-monocromtica que permite afinar las medidas, se obtiene el
ndice de refraccin del gas.

1.4.

Dispositivos interferomtricos por divisin del frente de ondas

Ya hemos visto varias tcnicas de interferometra aplicada bastante recientes, lo que nos confirma
que los dispositivos basados en generar patrones de interferencia siguen en constante evolucin y resultan todava muy tiles para caracterizar superficies o distancias de acoplamiento. Pero todo esto ha
supuesto una evolucin a partir de unos dispositivos mucho ms simples y primitivos para producir
patrones interferenciales, algunos de los cuales vamos a tratar en esta seccin.
1. Doble rendija de Young. En primer lugar, volvemos a mencionar este dispositivo, que puede utilizarse para estimar la longitud de onda de una fuente casi-monocromtica a partir de medidas
precisas de la interfranja y la distancia rendijas-pantalla. En esencia, como ya hemos dicho, en la
divisin del frente de ondas se trata de ingenirselas para generar dos fuentes coherentes a partir
de una dada (duplicarla).
2. Espejos de Fresnel. El dispositivo de espejos de Fresnel utiliza dos espejos que forman un ngulo
obtuso para lograr dos imgenes de una fuente puntual S. Si observamos las marchas de rayos (utilizando los conocimientos que ya tenemos de ptica geomtrica) veremos que las dos fuentes virtuales que hemos creado estn localizadas en un plano situado detrs de ambos espejos. Adems,
ambas estn a una distancia b de los espejos (la misma de la fuente S con respecto a los mismos).
Tambin, para los dos rayos centrales tenemos que el efecto equivalente es como si hubiramos
girado el espejo un ngulo al pha, al incidir casi en el mismo punto de uno y otro espejo; entonces,
sabemos que el rayo reflejado gira un ngulo 2, con lo cual el ngulo entre las prolongaciones de
ambos rayos reflejados que van a parar a las dos fuentes virtuales ser tambin 2. Las razones por
las cuales cumplen las condiciones de interferencia son completamente anlogas a las expuestas
para la doble rendija.
Si observamos el patrn obtenido en una pantalla P situada a bastante distancia de los espejos, la
zona ocupada por las franjas (sin considerar problemas de coherencia) es la rayada en la figura.
Recordemos que realizando la aproximacin a  d, la interfranja queda como a
d . En nuestro caso,
podemos conocer d midiendo la distancia de la fuente S al vrtice de los espejos, y el ngulo que
forman ambos. As mismo, podemos conocer a como la suma de b cos 2 y la distancia vrticepantalla. De nuevo, podemos medir la interfranja y determinar la longitud de onda, o medir b a
partir de la interfranja si conocemos la longitud de onda. Vemos un ejemplo de trabajo con los
parmetros de los espejos de Fresnel.
3. Espejo de Lloyd. Otro dispositivo an ms simple es el espejo de Lloyd. En l, situamos una fuente
alejada y a escasa altura sobre el plano de un espejo horizontal (no es un espejo metlico sino una
lmina de medio homogneo no metlico pero pulido para que sea altamente reflectante), que nos
crea una imagen virtual de la fuente. La interferencia se produce entre la propia fuente y su imagen
virtual (o, si queremos ser ms precisos, entre la luz directa de la fuente que llega a la pantalla P y
la que llega tras reflejarse en el espejo).
De nuevo, nuestro problema se reduce a calcular d y a y la zona de superposicin de ondas (marcada en la figura). d lo podemos determinar conociendo la altura de la fuente sobre el plano del
espejo (o la distancia de la fuente al borde del espejo y el ngulo ), y a conociendo adems la
separacin entre la fuente y el borde inicial del espejo. Necesitamos adems la longitud del espejo
y la distancia espejo-pantalla. El espejo de Lloyd tiene una caracterstica adicional interesante, y
es que al reflejarse la luz en el vidrio que recubre el espejo se introduce una diferencia de fase adicional de (recordemos lo dicho sobre reflexin en dielctricos cuando se pasa de menor a mayor
8

ndice). Entonces, para la franja central (m = 0) tenemos un mnimo en vez de un mximo, y toda
la configuracin es complementaria de la que se obtendra para la doble rendija o los espejos de
Fresnel (pensar por qu). Vemos mediante un ejemplo cmo determinar (sin incluir problemas de
coherencia) el nmero mximo de franjas visibles en la pantalla en un caso concreto de espejo de
Lloyd.
4. Biprisma de Fresnel. Otro de los dispositivos clsicos es el biprisma de Fresnel, que se ver montado en el laboratorio. En esta ocasin, utilizamos un dispositivo formado por dos prismas de pequeo ngulo , unidos por sus bases, que refractan la luz proveniente de una fuente casi-puntual
S. Como los ngulos de incidencia del rayo central y el superior (o inferior) que llega al borde del
prisma no son iguales, en realidad los rayos refractados no formaran un pincel estigmtico. Pero
el efecto aberrante puede despreciarse si tanto los ngulos de incidencia como el de refringencia
de ambos prismas son lo bastante pequeos (entonces, recordemos que la desviacin no depende
del ngulo de incidencia, aprox. Prismas delgados).
Bajo esta restriccin, podemos considerar que cada prisma forma una imagen virtual de S, y ambas
imgenes quedan situadas en el mismo plano que S. Vemos las marchas de rayos y la zona de superposicin de las dos ondas. Podemos determinar d y a a partir de la desviacin con aproximacin
de prismas delgados y las distancias S-biprisma y biprisma-pantalla. Pero en el laboratorio, se miden d y a por un mtodo basado en las dos posiciones de Bessel de una lente delgada convergente
de focal conocida. A partir de d y a, y midiendo la interfranja, se determina la longitud de onda de
la fuente utilizada (Na). Vemos el mtodo terico propuesto para determinar la longitud de onda
y el nmero mximo observable de franjas en el ejemplo 5.
5. Semilentes de Billet. Este dispositivo se basa en colocar una fuente S sobre el eje ptico de una
lente delgada, cortarla por la mitad y separar una distancia h las dos partes de la lente. Como
consecuencia del desplazamiento de 2h de cada eje ptico respectivo, se forman dos imgenes reales
de la fuente S, separadas una cierta distancia d y que cumplen las condiciones de interferencia. Se
recoge el patrn sobre una pantalla a distancia A de las dos fuentes, y distancia a2 de las semilentes.
Vemos mediante el ejemplo 6 cmo la separacin d queda en funcin de h y el aumento lateral
introducido por la lente original para S, y A puede calcularse a partir de a2 y la distancia d0 , que
queda tambin en funcin de la longitud de las semilentes, h y a0 (distancia imagen para la lente
original y S, ver folio adicional de cuentas). En el ejemplo, resulta ms fcil porque se aplica al caso
de S en el punto antiprincipal de la lente original.
Una aplicacin interesante de interferometra para medidas de tamaos angulares de fuentes estelares es el interfermetro estelar de Michelson, pero al ser un dispositivo que ilustra muy bien la coherencia espacial de las fuentes, se desarrolla como ejemplo en el tema dedicado a coherencia, puesto
que si lo introducimos en este tema no podramos darle toda la complejidad conceptual que merece,
pues podramos hablar slo de fuentes puntuales separadas una cierta distancia angular. Este dispositivo se utiliza (todava hoy da, como veremos) con resoluciones del orden de la diezmilsima de segundo
de arco.

2.

Interferencias de dos haces por divisin de amplitud

Vamos a tratar en esta segunda seccin del tema las interferencias por divisin de amplitud de dos
haces. En la siguiente seccin, nos referiremos al mismo tipo de interferencias con haces mltiples (entendindose por mltiples un nmero superior a 2). La diferencia fundamental entre ambos tratamientos
vendr dada por el factor de reflexin de la superficie de que se trate. Si la superficie es muy reflectante,
no podremos considerar que el resultado global de las interferencias es consecuencia de la superposicin
de los dos primeros haces, puesto que habr ms contribuyendo de manera significativa. As pues, en
la misma situacin experimental, la intensidad final resultante tendr la expresin que calcularemos en
esta seccin o bien la de la siguiente, segn la reflectancia de la superficie con la que estemos tratando.

2.1.

Interferencias en lminas de espesor constante

La primera situacin que vamos a estudiar se refiere a lminas de espesor constante, es decir, de
caras paralelas. Por simplificar, tratamos el caso de la lmina sumergida en medios de igual ndice,
siendo este ndice n1 . Supondremos que la lmina es de un material dielctrico de ndice de refraccin
n, y tiene espesor d.
Como ya hemos indicado, la reflectancia va a ser lo bastante baja como para que consideremos slo
los dos primeros haces por reflexin. Supondremos que el medio no es absorbente, y vamos a iluminar
con una fuente puntual monocromtica que incide con un cierto ngulo . Al incidir sobre la lmina
plano-paralela, sta acta como un divisor de amplitud (en el sentido de que parte de la energa incidente se refracta y parte se refleja). El primer haz reflejado lo denotamos por Er1 . Al punto de incidencia
lo llamamos A. El primer haz transmitido llega a la segunda cara de la lmina en el punto B, formando
un ngulo 0 con la normal a la lmina en A. De nuevo, parte de l se refracta (formando el haz E1t ) y
el resto se refleja y vuelve a la cara superior de la lmina en el punto C. Parte de l vuelve a reflejarse
(pero el coeficiente de reflexin es tan bajo que no lo tendremos en cuenta), y la parte que nos interesa
se refracta en C y sale paralelo a Er1 , formando el haz Er2 .
Si vamos a estudiar la superposicin de ambos haces reflejados (Er1 y Er2 ), que se producira en el
infinito, nos interesa saber la diferencia de camino ptico que hay entre ambos. Sealamos entonces el
punto D, que marca el camino recorrido en el medio n1 por el haz Er1 mientras el haz Er2 estaba en el
interior de la lmina. Expresamos esta diferencia de camino ptico (pizarra) en funcin de la longitud
de los segmentos recorridos y los ndices correspondientes. Aplicamos que AB = BC, y relacionamos
ambos con d y cos 0 . AD lo expresamos en funcin de AC y sin , utilizando la ley de la refraccin en
funcin de sin . As mismo, ponemos AC en funcin de d y de la tan 0 . Sustituimos todo en AD y luego
en la diferencia de camino ptico, y nos queda la expresin conocida de 2nd cos 0 .
Si consideramos el desfase total entre las dos ondas reflejadas, deberemos incluir un trmino adicional que tenga en cuenta el salto de fase por diferencia entre reflexin interna y externa en ambas
caras de la lmina. Si sta est sumergida en medios de igual ndice, este salto de fase adicional es de .
Si la fuente es extensa, en este caso el patrn recogido en el infinito tambin sera visible, puesto que el
desfase depende del ngulo de incidencia y no de la posicin de cada uno de los emisores de la fuente.
Dicho patrn estara localizado en el infinito, como ya hemos sealado.
Estudiamos entonces el desfase y la diferencia de camino ptico para los mximos y mnimos de
intensidad (observando que el patrn es complementario al de franjas de Young que vimos en el captulo
anterior, debido al salto de fase adicional por reflexin). Entonces, los mximos de intensidad se dan
para diferencias de camino ptico 2nd cos 0 que sean mltiplos impares de semilongitudes de onda, y
los mnimos para mltiplos enteros de la longitud de onda.
Dado que las franjas van al infinito, si utilizamos una lente (o nuestro ojo, convenientemente enfocado al infinito) para recoger el patrn resultante, todos los rayos de igual 0 (o sea, igual ) van a parar
al mismo punto del plano focal imagen de la lente o retina, as que se denominan en general franjas de
igual inclinacin, pues los mximos o mnimos corresponden a haces reflejados con el mismo ngulo.
Veamos ahora el aspecto que presentan estas franjas. Dado que hay simetra alrededor de la posicin de la fuente (variando el ngulo desde incidencia normal hasta el mximo que seamos capaces
de recoger con nuestra lente u ojo), en el plano de superposicin final veremos anillos concntricos. El
crculo central corresponde a incidencia normal ( 0 = = 0 ), y como tiene la mxima diferencia de
camino ptico, tendr tambin el orden interferencial mximo, dado por 2nd = mo . Observemos que
el valor mo no tiene por qu ser necesariamente entero; si no lo es, tomaremos como orden el entero
inferior ms prximo.
En la figura, vemos la manera de resolver el problema de la iluminacin normal sin que la propia
fuente nos estorbe para ver la configuracin, por medio de un divisor de haz (beamsplitter en ingls),
que es una lmina semitransparente que refleja la luz de la fuente hacia la lmina y deja pasar la luz
proveniente de la lmina hasta la lente o dispositivo colector.
Para fuente puntual, si consideramos la configuracin mostrada en la figura, nos damos cuenta de
que hay tambin franjas en una determinada zona del espacio por encima de la lmina (reales) o por
debajo de la misma (virtuales), segn las condiciones de iluminacin y observacin. Estas franjas son
no localizadas, como las que hemos visto en el tema anterior, y no las vemos con una fuente extensa
por problemas ligados a la falta de coherencia. Otra configuracin posible es la que resulta de la super10

posicin en la propia superficie de la lmina (pizarra). Siempre con fuente puntual, segn la colocacin
de nuestro dispositivo de observacin veremos una pequea porcin de la lmina con franjas. En el
momento en que la apertura del dispositivo de observacin permita slo recoger uno de los haces, no
se podr recoger el resultado de la superposicin en el punto correspondiente del plano imagen. Discutiremos ms ampliamente la cuestin de la localizacin de las franjas en apartados posteriores de esta
seccin.
Volviendo a las franjas de igual inclinacin, para fuente puntual, observando las figuras de Hecht
vemos que en general slo vamos a poder recoger la luz que provenga de una pequea porcin de
la lmina, y cuando el espesor se hace grande tampoco las vemos porque la distancia AC crece y no
podemos recoger los dos haces con nuestro dispositivo de observacin. Este problema se hace menor
si utilizamos fuente extensa, puesto que podemos recoger sobre nuestro elemento de observacin rayos
procedentes de distintos puntos de la fuente con diferentes inclinaciones (obviamente, cada uno ir a
parar a distinto punto del plano focal imagen, como muestra la figura).
No hemos hablado de la interfranja hasta ahora, pero parece claro que no es constante a lo largo
del patrn interferencial, o sea, que cuando nos pidan la interfranja debern especificarnos a qu anillo
o franja se estn refiriendo. Lo vemos con un ejemplo para franjas de igual inclinacin. En cuanto al
efecto de la monocromaticidad de la fuente, vemos con dos ejemplos que en general es mayor cuanto ms gruesa sea la lmina. Por ejemplo, para una lmina de 1 cm de grosor, calculamos los rdenes
correspondientes a los extremos del espectro visible y vemos que se diferencian en 32000, luego hay
potencialmente 32000 longitudes de onda superpuestas en una configuracin con luz blanca. Sin embargo, para una lmina de 0,1 mm (100 m) , habra 320 configuraciones superpuestas. En las fotos, vemos
anillos de Haidinger para una lmina delgada con luz espectral (no blanca), tambin con luz blanca para
una lmina muy delgada, pero no es posible observar nada si la lmina es gruesa, y an peor si como en
la foto la situamos sobre fondo blanco, porque no hay apenas contraste (experiencia de clase con lminas
de vidrio de diferente grosor).

2.2.

Interferencias en lminas de espesor variable

Discutimos ahora el conjunto de configuraciones interferenciales para las cuales el parmetro dominante es el espesor ptico (producto nd) frente al ngulo de incidencia que hemos visto en las franjas
de Haidinger. A esta clase de patrones suele denominarse franjas de igual espesor, puesto que para una
lmina de material dielctrico dado e ndice n constante, corresponden a zonas de igual espesor de
material.
2.2.1.

Franjas de Fizeau

Consideramos ahora el mismo esquema que para las lminas de caras planas, pero con una cua de
material dielctrico de ndice n sumergida en un medio de ndice n1 (ver esquema en pizarra). El ngulo
de la cua lo denotamos por . Localizamos los puntos de incidencia A, B y C sobre la cua, los rayos
reflejados Er1 y Er2 , el punto D y el punto E sobre la cua, a mitad de camino entre A y C. Este punto
nos sirve como referencia para el espesor d. Como vemos, en la situacin que hemos dibujado las franjas
seran virtuales y no localizadas (estn en una regin por debajo de la lmina). El punto D se obtiene
trazando un arco de circunferencia desde P0 (punto de superposicin virtual), arco que pasa tambin por
C. Tomamos el eje x desde el vrtice de la cua. Tambin har falta tener en cuenta el desfase adicional
de por la diferencia entre reflexin interna y externa en la cua, pero esto lo haremos al final. Pensemos
que, si el ngulo de la cua es relativamente grande, el espesor aumenta rpidamente con la distancia
x, con lo cual las franjas se acumulan en la zona cercana al vrtice, y sern menos visibles. Por eso es
ms habitual trabajar con cuas de ngulo pequeo. Vamos a calcular la diferencia de camino ptico
entre los haces reflejados, de nuevo suponiendo que la reflectancia del material es lo bastante baja como
para que slo debamos considerar los dos primeros haces. Hay una demostracin alternativa en Born y
Wolf[1], que conviene mirarse, pero aqu vamos a seguir la que se muestra en el Casas[2]. Pintamos un
esquema mayor de la cua, con los puntos A,B y C como siempre; trazamos la normal a la cara inferior
de la cua por el punto B, y trazamos las perpendiculares a ella por C (que determina el punto D sobre
la normal), el punto E que como antes es el punto de corte de la normal con la cara superior de la cua,

11

y el punto F que resulta de cortar la paralela a la base de la cua que pasa por A con la normal trazada
en B. Por ltimo, el punto G es el que marca el camino ptico recorrido por Er1 mientras Er2 est en el
interior de la cua.
Planteamos la ecuacin de la diferencia de camino ptico global en funcin de los ndices y los segmentos recorridos. Nos damos cuenta de que con cada reflexin en la cua sumamos al ngulo de refraccin 0 , de forma que el primer ngulo de reflexin es 0 + (podemos utilizar el tringulo ABF para
ver esto si fuera necesario, de ngulos r (el que queremos averiguar), 90 y 90 ( 0 + )). Entonces,
la distancia AF + DC (distancia horizontal entre A y C) puede escribirse como ( AB + BC ) sin( 0 + ) o
bien como ( AE + EC ) cos . Por otra parte, la distancia AG es AC sin i , y por tlimo podemos aplicar
la ley de Snell para relacionar el sin i con sin 0 . Utilizamos la expresin de AG para sustituir en la
parte de que depende de n1 , luego cambiamos AC por AE + EC, y AE + EC por su correspondiente expresin en funcin de AB + BC. Ya tenemos todo en funcin de AB + BC. Ahora, nos damos
cuenta de que si d es pequeo, podemos aproximar BF + BD por 2d (que sera la distancia BE), con lo
cual 2d = ( AB + BC ) cos( 0 + ), y podemos poner en funcin de d, n, 0 y , sacando factor comn
2nd
. Ahora es cuando consideramos que  0 , y cos = 1, con lo que queda la misma exprecos( 0 +)
sin que para la lmina de espesor constante, slo que ahora d se aproxima por x. Entonces, las franjas
(zonas de cte) seran lneas paralelas a la arista de la cua (x=cte). Si aadimos el desfase por reflexin,
obtenemos las correspondientes expresiones generales para la diferencia de camino ptico y el desfase.
Si trabajamos en incidencia prxima a normal, podemos obtener las diferencias de camino ptico
y espesores correspondientes a mximos y mnimos. De nuevo la interfranja depende de la incidencia,
pero a incidencia normal (franjas de Fizeau), podemos obtener la interfranja como diferencia de espesores
entre dos mximos (o diferencia de valores x entre dos mximos). Para una cua de aire entre dos

vidrios, bajo incidencia normal la interfranja es 2

, y los espesores correspondientes a mximos seran

mltiplos impares de 4 . Vemos en la foto cmo efectivamente la interfranja es fija para franjas de Fizeau
con una cua.
Para qu sirve todo esto? La primera aplicacin que veremos es la deteccin de irregularidades en
superficies, mediante el dispositivo denominado interfermetro de Fizeau, que no es ms que una fuente
con un divisor de haz y un colector de las franjas. Como sabemos, las franjas representan contornos de
igual espesor ptico, as que si, por ejemplo, queremos controlar la superficie superior de dos pernos de
aluminio, podemos colocar una lmina transparente encima de forma que se apoye un poco inclinada
sobre uno de los pernos y se forme una pequea cua de aire, iluminar normalmente con nuestro divisor
de haz y una fuente adecuada y recoger la configuracin con una lente. As, seramos capaces de detectar
las irregularidades de la superficie de los pernos tan pequeas como media interfranja (siendo poco
exigentes, en realidad se puede llegar a bastante ms sensibilidad).
Tambin podemos obtener franjas de Fizeau utilzando un escner, como tuvimos ocasin de comprobar hace unos aos en nuestro laboratorio, si el escner tiene la tapa lo bastante reflectante, con la
fuente de iluminacin del mismo pueden observarse contornos de igual espesor en la capa de aire que
queda entre la tapa y el vidrio del escner. Son los contornos que vemos en la foto, que se observan
mejor manipulando el histograma de color mediante el software del escner. Sin embargo, como ya
hemos dicho, necesitamos que la tapa sea lo bastante reflectante y que tenga una componente importante de reflexin especular, por lo que en rigor deberamos atenernos a la descripcin de interferencias
con haces mltiples que veremos en el prximo captulo. Experiencia de clase sobre los tres experimentos y las preguntas que deben contestar los diferentes grupos. Tambin se discuten diferentes aspectos
de las franjas de Fizeau a partir de la foto del ejemplo 10.
2.2.2.

Anillos de Newton

Un caso especial de franjas de igual espesor se produce cuando se crea una capa de aire de espesor
variable entre una lente convexa y una lmina plano-paralela de vidrio (en realidad, debe ser lo que
denominamos un plano ptico, es decir, una superficie que no se desve ms de un cuarto de longitud
de onda de un plano perfecto).
Supondremos que iluminamos con luz monocromtica e incidencia normal. Este fenmeno fue observado por Newton, y de ah su nombre (aunque l no pudo encontrar una explicacin adecuada para
el mismo debido a que no utiliz el modelo terico adecuado para describir la luz). Dada la simetra
12

del conjunto, la configuracin estar formada por un conjunto de anillos concntricos centrados en la
fuente, como vemos en la foto. Para el anillo oscuro de orden m, la diferencia de camino ptico (teniendo
en cuenta el desfase por reflexin interna-externa correspondiente) ser un mltiplo impar de semilongitudes de onda, de lo que deducimos que el espesor de la capa de aire correspondiente es un mltiplo
de semilongitudes de onda. Para el crculo central, si la lente est en contacto perfecto con el plano ptico, toda la luz pasar (no hay interfase), con lo cual tendremos una diferencia de camino ptico nula, y
como toda la luz pasa, el crculo central es oscuro.
Naturalmente, si observamos la configuracin por transmisin el crculo central sera mximo, y los
anillos oscuros por reflexin corresponderan a anillos brillantes por transmisin. Del tringulo dibujado en la figura, aplicando el teorema de Pitgoras y despreciando el trmino en dm 2 frente a 2Rdm ,
obtenemos la expresin del radio del anillo de orden m en funcin del radio de la lente, el orden m y la
longitud de onda. Con la simulacin de Matlab, podemos observar el efecto previsible de aumentar o
disminuir R sobre la configuracin, e igual para la longitud de onda. Por ejemplo, si aumentamos la longitud de onda, el anillo de orden m aumenta su radio, con lo cual estar situado ms hacia la periferia, y
observando el mismo campo veremos menos anillos y con mayor interfranja entre ellos. Si disminuimos
R, el efecto es el contrario: podemos razonarlo pensando que al disminuir R, d aumenta ms rpidamente en la capa de aire creada, con lo cual los anillos se desplazan hacia el centro y se acercan ms
unos a otros. Por otra parte, vemos que como ocurra con los anillos de Haidinger, la interfranja no es
constante en esta configuracin (es inmediato comprobar que depende del orden m, hacindose menor
conforme m crece). En el laboratorio, se utilizan para medir el radio de la lente R, tras haber obtenido
dos radios de anillos no consecutivos.
Como caso especial de las franjas de Fizeau, los anillos de Newton pueden utilzarse para control
de irregularidades en superficies de lentes o espejos. Como vemos, son observables con luz blanca en
condiciones favorables. En la parte inferior de la diapositiva, vemos diferentes patrones de anillos de
Newton obtenidos con diferentes fuentes casi-monocromticas. Vemos con un ejemplo la posibilidad de
formar los anillos de Newton con dos lentes, una convexa y otra cncava.

2.3.

Localizacin de las franjas

En los dispositivos para generar interferencias por divisin del frente de onda, se genera el desfase
por diferencia de camino ptico entre dos rayos que se superponen en un punto P, de forma que el
valor del desfase, fijada la posicin de las fuentes, depende de la posicin de P pero queda determinado
unvocamente para todo P.
En una regin amplia del espacio, podemos encontrar franjas en todos los planos. Hablamos entonces de franjas no localizadas, que son caractersticas del uso de fuentes puntuales, como ya hemos
visto para las lminas y cuas en interferencias por divisin de amplitud (pero no para las franjas de
igual inclinacin, que estn localizadas en el infinito). Si la fuente es extensa (compuesta de infinidad
de fuentes puntuales), entonces el desfase en P no ser el mismo para todos los rayos de la fuente, por
lo que hay desplazamiento de las configuraciones individuales en la vecindad de P y la visibilidad es
menor. Entonces, trabajando con fuente extensa puede suceder que haya una determinada zona del espacio para la cual la visibilidad se aproxima a la que tendramos con fuente puntual, y para el resto de
zonas no puedan apreciarse las franjas. En este caso, hablamos de franjas localizadas.
En general, si no se fijan las condiciones de iluminacin y observacin, la localizacin de las franjas
puede ser un proceso bastante largo (ver la figura en pizarra con los dos casos). Las franjas para ngulos
de incidencia pequeos son virtuales y se sitan alrededor de P1 , mientras que para ngulos grandes son
reales y se sitan alrededor de P2 . Colocando un diafragma en la fuente S y seleccionando un conjunto
de rayos, podemos escoger entre ambas situaciones.
Para una cua con ngulo pequeo e incidencia prxima a la normal, las franjas aparecen localizadas
en una de las superficies de la cua. Puede consultarse la demostracion de la expresion que permite
obtener la distancia AP en funcion de los parmetros que controlan la iluminacin y la geometra de
observacion en Born y [1]. Sirve tambin para el caso de franjas virtuales.
Si la cua es de aire entre dos vidrios delgados, encontramos AP = x sin i , con lo cual P estara
en un crculo de dimetro OS1 , donde O es el vrtice de la cua y S1 la imagen de la fuente S en la
primera cara de la cua. Esto quiere decir que en ocasiones las franjas pueden curvarse, como veremos

13

en algunos casos del siguiente apartado. Si estamos cerca de la incidencia normal, i se acerca a cero y
la distancia AP se aproxima a cero, con lo que las franjas estaran situadas en la cara inferior de la cua
(para P virtual).
Por otra parte, si la fuente est muy lejos de la cua o bien inciden slo rayos paralelos entre s,
resulta que la distancia AP es directamente proporcional a x, con lo cual las franjas se localizan en un
plano que pasa por x = 0 (vrtice de la cua). Vemos un ejemplo de este caso, en el que se pide localizar
el plano de las franjas.

2.4.

Interfermetros de doble haz y aplicaciones

Vamos a analizar una serie de dispositivos que sirven para producir interferencias por divisin de
amplitud, con bastantes aplicaciones en distintos campos, como veremos.
2.4.1.

Interfermetro de Michelson

En primer lugar, vemos el interfermetro de Michelson. Con este dispositivo, se producen interferencias por divisin de amplitud de forma mucho ms verstil que con lminas plano-paralelas o cuas.
En su formulacin original, consta de una fuente extensa que ilumina un divisor de haz colocado a 45
con dos espejos perpendiculares entre s (como muestra la figura).
Si seguimos la marcha de un haz que parta de la fuente con incidencia sobre la horizontal, al llegar
al divisor de haz se refracta (despreciando la reflexin en la primera cara) y en la segunda cara parte se
refleja y va hacia el espejo E2 , y parte se refracta y va hacia el espejo E1 . Los dos haces se reflejan en sus
respectivos espejos, y el que proviene de E1 se refleja en la segunda cara de la lmina al volver, mientras
que el que proviene de E2 atraviesa de nuevo la lmina. Entonces, el haz que va a E1 atraviesa la lmina
slo una vez, mientras que el que va a E2 la atraviesa tres veces. Para compensar esto, se introduce la
lmina C en el brazo de E1 .
Los dos haces salen paralelos del divisor de haz, por lo que se superpondran en el infinito o bien en
el plano focal del elemento de observacin. Si ponemos nuestro ojo, entonces para nosotros los dos haces
vendran desde arriba, con lo cual el dispositivo es equivalente a que el haz 1 provenga de una superficie
E10 (reflejo de E1 en el divisor de haz). Entonces, la situacin creada por el Michelson es equivalente a
una lmina plano-paralela de aire de espesor d = d2 d1 , y para el rayo que hemos visto, la diferencia
de camino ptico asociada sera 2d (sin tener en cuenta los saltos de fase por diferencia entre reflexin
interna y externa en el divisor de haz).
Qu pasara para haces con otros ngulos de incidencia? Viendo la equivalencia con la lmina planoparalela de aire, es fcil ver que la diferencia de camino ptico entre los dos haces ser entonces 2d cos ,
siendo el ngulo que forma el haz incidente con la horizontal. Como hay simetra circular alrededor del
centro de la fuente, para luz casi-monocromtica, la configuracin constara de un conjunto de anillos
concntricos claros y oscuros alternados. De nuevo, la mxima diferencia de camino ptico (y por tanto,
el orden mximo) corresponde al crculo central.
A esta diferencia de camino ptico habra que aadir, como ya hemos dicho, el desfase por diferencia
de reflexiones interna y externa en el divisor de haz. Tambin, como muestran algunos textos, podemos
considerar al sistema como el producto de la interferencia de las dos imgenes que producen E10 y E2 de
la imagen de la fuente que da el divisor de haz.
La configuracin interferencial puede observarse por medio de una lente o telescopio, a ojo desnudo
(siempre que la fuente no sea un lser) o recogerse directamente sobre una pantalla, como hacemos
en el laboratorio. Generalmente, uno de los espejos est dotado de un mecanismo de desplazamiento
para poder variar la distancia entre ambos, y por tanto, la diferencia de camino ptico. Si partimos
de la situacin inicial (E2 en el brazo ms largo), y alejamos E1 del divisor de haz, el camino ptico
disminuye globalmente, con lo cual el orden del crculo central tambin disminuye, y como los rdenes
van decreciendo hacia la periferia, tenemos que desaparecen anillos por el centro. La variacin de orden
en la periferia va a ser ms lenta, puesto que la diferencia de camino ptico va modulada por el trmino
cos . Si, por el contrario, acercamos E1 al divisor de haz, entonces globalmente el camino ptico crece,
con lo cual el orden del crculo central crece y surgen anillos por el centro. Podemos ver un ejemplo en

14

la pelcula, y decidir qu est ocurriendo globalmente y especular sobre la posicin probable (en qu
brazo) del tornillo de desplazamiento.
Si bajamos tanto la diferencia de camino ptico que la longitud de ambos brazos llega a igualarse,
tendramos diferencia de camino ptico nula para todos los haces, con lo cual obtendramos un campo
uniforme (no habra variaciones de intensidad). Tampoco si la diferencia de camino ptico crece mucho
veremos anillos, debido a problemas de coherencia de la fuente que comentaremos ms adelante. La
1
por el producto de
separacin angular entre mximos (diferencia de cosenos) resulta proporcional a 2d
la diferencia de rdenes por la longitud de onda. Entonces, es inmediato deducir que los anillos ms en
la periferia estarn ms juntos entre s que los del centro, pues si el ngulo crece, el coseno disminuye y
a menor variacin angular corresponde una mayor diferencia de cosenos.
Para qu puede servir este dispositivo? Vemos tres posibles usos:
1. Medida de distancias. Si consideramos que podemos apreciar perfectamente cundo el crculo
central pasa de brillante a oscuro (entonces, la diferencia de camino ptico ha variado en una
semilongitud de onda, y el desplazamiendo de los espejos en un cuarto de longitud de onda),
podemos medir distancias de desplazamiento de dos espejos con mucha precisin contando los
anillos que aparecen o desaparecen por el centro. Aqu tendramos la limitacin de la longitud
de coherencia de la fuente, por ejemplo resultara imposible medir distancias de 50 cm con una
fuente de Na. En realidad, hemos sido demasiado generosos con la sensibilidad mnima, puesto
1
1
de orden, y visualmente de hasta 20
que se han llegado a detectar desplazamientos de hasta 1000
de orden.
2. Medida de ndices de refraccin.. Si partimos de la posicin d = 0, e introducimos una lmina de
espesor e conocido en uno de los brazos, aparece una configuracin de anillos debida a la diferencia de camino ptico introducida por la lmina (2ne). Compensando esta diferencia adicional con
el desplazamiento gradual de uno de los espejos, hasta volver a conseguir que d = 0, y contando
los anillos que desaparecen por el centro, obtendramos la diferencia de camino ptico y por tanto
el ndice de la lmina.
3. Medida de variaciones del ndice de refraccin en gases. Otra aplicacin relacionada con esta ltima es el estudio de las variaciones de ndices de refraccin de gases con la presin. Esto es lo
que realizamos en el laboratorio. Se necesita la ayuda de un manmetro auxiliar que nos de la
presin en el interior de una cpsula situada en uno de los brazos. Vamos extrayendo aire progresivamente y calculando la variacin de ndice a partir de la variacin de camino ptico observada
en la configuracin de anillos del Michelson.
Cuando la separacin entre los espejos es pequea (de unas cuantas longitudes de onda), podemos
ver la configuracin con luz blanca. En realidad, hoy en da el instrumento apenas se utiliza fuera de los
laboratorios docentes, pero es muy famoso a causa del experimento de Michelson-Morley para medir la
velocidad de desplazamiento del ter. Adems, es la base de otros dispositivos que veremos a continuacin que s se utilizan bastante hoy da para algunas aplicaciones.
Algunas complicaciones prcticas que pueden surgir:
1. Si los espejos no estn perpendiculares entre s, el sistema equivalente ser una cua de aire en vez
de una lmina plano-paralela, con lo cual se formarn franjas en vez de anillos como resultado de
la interferencia.
2. Si utilizamos una fuente puntual, ya hemos visto que pueden formarse patrones interferenciales de
tipo no localizado, en este caso reales. Si utilizamos una fuente extensa, estos patrones desaparecen
por problemas de coherencia.
3. Coherencia de los trenes de onda: las fuentes reales, como vimos anteriormente, no emiten un
continuo de radiacin, sino trenes de ondas discretos (pulsos de longitud finita). Esto implica que
dos pulsos emitidos al mismo tiempo (y por tanto, coherentes) pueden no llegar a superponerse
en un punto P si la diferencia de camino ptico entre ellos es muy grande (pintar figura con lmina
plana). Los pulsos 1 y 100 son coherentes, pero los que en realidad se superponen, 1 y 300 , no lo son.
Puede haber distintos grados de coherencia si los pulsos coherentes se superponen parcialmente.
15

Si la longitud del pulso emitido por la fuente (longitud de coherencia) es lo , disponemos de un

tiempo mximo to = lco para poder lograr una superposicin coherente. Por eso no podemos
medir distancias muy grandes con el Michelson, pues si la diferencia de camino ptico es muy
alta, los pulsos coherentes no llegan a superponerse. Ya vimos que la coherencia espacial tambin
da problemas en los dispositivos de Young, por la misma razn que en el Michelson (los pulsos
coherentes no llegan a superponerse).
En el ejemplo 13, se ve cmo utilizar el interfermetro para medida de ndices de refraccin.
2.4.2.

Interfermetro de Twyman-Green

El interfermetro de Twyman-Green es un dispositivo Michelson modificado para que haya incidencia con haces colimados. Su utilidad principal es la comprobacin de superficies pticas. Se coloca una
lente L1 de forma que la fuente est situada en su foco, y otra lente L2 para recoger los haces a la salida
del interfermetro. Por lo general, los haces inciden siempre paralelos a la horizontal, con lo cual a la salida obtendremos un campo uniforme, brillante u oscuro segn sea la diferencia de camino ptico entre
ambos brazos. Si colocamos en el brazo de E2 (por ejemplo) una superficie plana transparente, cualquier
irregularidad de la superficie de tamao 4 ocasionara una variacin de camino ptico de media longitud de onda, con lo que en el punto de superposicin tendramos oscuridad si el interfermetro estaba
regulado para mostrar un campo uniforme brillante antes de insertar la superficie.
El resultado sobre el plano focal de L2 es una serie de contornos de nivel, entre cada dos contornos
hay 2 de diferencia en camino ptico, sobre una cantidad fija que puede medirse poniendo previamente
el interfermetro a diferencia nula de camino ptico. Tambin puede utilizarse para caracterizar un
objetivo de cmara fotogrfica, si en el brazo E2 se coloca un espejo convexo con el centro coincidente
con F 0 del objetivo. Podemos obtener configuraciones que reflejen las distintas aberraciones que presenta
el objetivo. Tambin podra comprobarse un anteojo o telescopio refractor (pensar cmo) y superficies
de prismas, como vemos en el ejemplo 14.
2.4.3.

Interfermetro de Mach-Zender

En el interfermetro de Mach-Zender, disponemos de dos divisores de haz y dos espejos de forma

que cada uno ocupa los vrtices de un cuadrado (o rectngulo). As, el camino de cada brazo no se
recorre dos veces, como en el Michelson, sino slo una. El resultado de la interferencia puede observarse
en el plano focal del colector L2 .
Como vemos, trabaja normalmente con haces colimados, y suele utilizarse para medir variaciones
de ndice de refraccin (ligadas a variaciones de densidad) en flujos de gases bajo presin. De nuevo,
suele inclinarse ligeramente uno de los espejos para producir un patrn equivalente a unas franjas de
Fizeau que sirva como referencia. Se miden diferencias de camino ptico (desplazamientos de franjas)
en la imagen obtenida con L2 . Si se utiliza fuente puntual, la localizacin de las franjas vara a lo largo
del brazo E2 , y L2 se regula convenientemente para recoger las franjas en el plano imagen. Los desplazamientos (incrementos de rdenes) observados pueden relacionarse fcilmente con diferencias de ndice
de refraccin en las distintas zonas de la muestra, y por tanto con este interfermetro podemos elaborar
un mapa de niveles de densidad. Por ejemplo, la regin de localizacin de las franjas puede regularse de
forma que coincida con el extremo de un tnel de viento o una cubeta de ondas de choque. Debern incorporarse en el otro brazo los correspondientes dispositivos compensadores para los nuevos elementos
introducidos.
En una modificacin posterior debida a Bates, este dispositivo puede utilizarse tambin para medir
aberraciones en frentes de onda, sin necesidad de un frente de referencia libre de aberraciones como le
ocurre al Twyman-Green. Suele llamarse en este caso interfermetro shearing (corte, divisin).
En la parte inferior de la diapositiva, vemos un ejemplo de montaje real de un interfermetro MachZehnder para un experimento de ptica cuntica, con las trayectorias del haz lser en su recorrido en
ambos brazos. Y en la diapositiva siguiente, un esquema tpico del montaje utilizado para controlar la
intensidad en circuitos de fibra ptica.
Tambin se usa este interfermetro para estudiar el efecto Pockels, creando interferencias destructivas por aplicacin de voltaje en uno de los brazos selectivamente.
16

2.4.4.

Interfermetro de Sagnac

El interfermetro de Sagnac es otra variacin del Mach-Zender, con tres espejos en vez de dos espejos
y dos divisores de haz. El resultado es que los dos haces recorren el mismo camino en sentidos opuestos.
Entonces, si introducimos una lmina de vidrio amorfo en un lado cualquiera, no tendramos diferencia
de camino ptico adicional, como sucede con el resto de interfermetros.
En qu casos resulta til este dispositivo entonces? Principalmente, cuando queramos estudiar efectos no recprocos, es decir, comportamiento de sistemas para los cuales el sentido de paso de la luz a
travs de los mismos es importante. Por ejemplo, si insertamos una clula cerrada en uno de los lados
y aplicamos un campo magntico H en un sentido, al utilizar luz circularmente polarizada en el interfermetro encontramos que el ndice de refraccin asociado a un sentido y a otro es diferente (esto se
relaciona con el fenmeno de actividad ptica), con lo cual ya estamos creando una diferencia de camino
ptico.
Una modificacin adicional es el girmetro de Sagnac, en versin circular (slo con fibra de vidrio y
un divisor de haz) o triangular, con dos espejos y el divisor. Sirve para medir velocidades angulares de
rotacin. Veamos la versin circular: con la plataforma en reposo, la diferencia de camino ptico entre
los dos sentidos es nula. Pero si la plataforma gira a velocidad angular en un sentido, en el tiempo
que se tarda en recorrer una vuelta, el divisor de haz avanza una distancia Tr en el mismo sentido, con
lo cual el haz que viaja en el mismo sentido que la plataforma debe recorrer ms distancia que el haz
que viaja en sentido contrario. La diferencia de camino ptico adicional en cada vuelta puede escribirse
como funcin lineal de incluyendo el ndice de refraccin de la fibra, c y el radio del crculo. Para
que la medida sea efectiva, necesitamos un nmero bastante alto de vueltas, como puede verse con el
ejemplo 15. Normalmente, se introducen dos lminas L1 y L2 para que los haces reflejen y refracten el
mismo nmero de veces. Como fuente suele utilizarse un lser de He-Ne, que como veremos es una
de las fuentes ms coherentes de que disponemos. En la foto, se ilustra un montaje del interfermetro
con componentes no muy difciles de conseguir, y la referencia donde puede encontrarse explicado el
proceso de montaje.
2.4.5.

Interfermetro de Jamin

Por ltimo, vemos brevemente otro dispositivo basado en las interferencias de dos haces por divisin
de amplitud: el de Jamin. Tambin presenta un recorrido simtrico de ambos haces, y se construye con
dos lminas de caras planas. Se utiliza de forma similar al interfermetro de Rayleigh, para medir ndices
de refraccin de gases.
Pero a diferencia del Rayleigh, los ajustes no se realizan comparando con una configuracin de referencia, sino fijando el retculo del telescopio en una franja de referencia (obtenida con luz blanca en la
fase de calibrado), y midiendo su desplazamiento al introducir el gas en una de las cmaras.
Vemos un montaje real, con el recorrido de los dos haces cuando se utiliza una fuente de He-Ne.
Tambin se muestra un patrn real conseguido con este interfermetro.
Adems, puede utilizarse para la medida de efectos relativamente poco intensos como el Pockels
(ej. medida de diferencias de camino ptico absolutas para varias temperaturas). Vemos en el ej. 16 la
aplicacin a medida de ndices.
2.4.6.

Aplicaciones

Para finalizar la seccion, vamos a ver tres aplicaciones ms de los dispositivos de interferometra por
divisin de amplitud.
1. Determinacin de gradientes de temperatura. Podemos obtener mapas de gradientes de T contando
franjas simplemente con un Michelson (vemos en la figura el ej con una vela).
2. Medidas de grosor en pelculas delgadas. Por ejemplo, mediante el dispositivo de la figura (TwymanGreen), ajustado para generar franjas de Fizeau, se coloca la lmina fina cubierta por una capa
reflectante en uno de los espejos. Si el borde de la lmina tiene un bisel para que la transicin no
sea abrupta, podemos controlar el desplazamiento y contar el nmero de franjas desplazadas y

17

por tanto el espesor de la lmina (en realidad es una lmina de aire, que queda entre la parte realzada que contiene el revestimiento y el resto del espejo, por lo que la diferencia de camino ptico
adicional es directamente 2d).
Tambin pueden realizarse medidas de este tipo con un montaje parecido al interfermetro de
Fizeau, creando una capa de aire entre una lmina semitransparente y otra revestida de Ag o Al
sobre el depsito de espesor fino. En este caso, como vemos en la figura, el corte es abrupto entre
las dos partes de la foto.
3. Interferogramas con medios cristalinos anistropos.. Por ltimo, veremos otra aplicacin curiosa
en cristalografa, para el estudio de medios anistropos mediante un diagrama interferencial creado en lminas finas y observado entre dos polarizadores. Suele realizarse la observacin en un instrumento especial denominado polariscopio (microscopio adaptado), y el objetivo es determinar
cualitativamente el grado de birrefringencia y el tipo de material cristalino de que se trata (unixico o bixico, aunque puede profundizarse ms en la clasificacin por comparacin de diferentes
diagramas con elementos conocidos). El fundamento detallado de la formacin de estos interferogramas puede consultarse en Born[1].
En el ejemplo 17, se analizan cualitativamente dos casos simples de medio unixico.

3.
3.1.

Interferencias con haces mltiples

Lminas de espesor constante: frmulas de Airy

En la seccion anterior, hemos descrito los fenmenos de interferencia con lminas plano-paralelas de
un dielctrico, cuando el coeficiente de reflexin era lo bastante pequeo como para despreciar la contribucin al fenmeno de ms de dos haces reflejados o transmitidos. Ahora vamos a describir el fenmeno de interferencias en lminas plano-paralelas cuando esta aproximacin ya no es vlida, porque el
coeficiente de reflexin es alto y debemos considerar la contribucin de mltiples haces al calcular las
amplitudes e intensidades resultantes de la superposicin.
Para empezar el tratamiento terico de estos fenmenos, supondremos una lmina plano-paralela
de material dielctrico de ndice n sumergida en un medio de ndice n1 . Como hemos dicho, vamos a
considerar el resultado de la superposicin de mltiples haces reflejados y transmitidos. Cada uno de
estos haces difiere en camino ptico del precedente en la misma cantidad, que corresponde al doble paso
por la lmina. Escribimos la diferencia de camino ptico y fase correspondiente, teniendo en cuenta que
si se trata de luz reflejada, hay un salto de fase adicional de , como vimos en el tema anterior. Llamamos
r, t a los coeficientes de reflexin y transmisin (que se calculan de acuerdo a las frmulas de Fresnel)
respectivamente en el paso del medio de ndice n1 a la lmina, y r 0 ,t0 a los correspondientes coeficientes
para el paso de la lmina al medio de ndice n1 .
Teniendo en cuenta estos coeficientes, vamos escribiendo la serie de las amplitudes de los haces reflejados, y utilizando que el producto tt0 es igual a 1 r2 (vlido si no se trata de un medio absorbente)
calculamos el resultado global de la suma, que no es ms que la suma de trminos de una serie geomtrica de razn r 02 ei . Una vez obtenida la amplitud resultante, es inmediato calcular la intensidad
resultante de la superposicin, con lo que se obtiene la primera frmula de Airy.
En cuanto a la luz transmitida, operamos anlogamente y obtenemos los distintos trminos de amplitud para los haces transmitidos, calculamos la suma de la serie geomtrica y a partir de la amplitud
resultante, calculamos fcilmente la intensidad total transmitida (segunda frmula de Airy). De nuevo,
si no hay absorcin en el medio, puede comprobarse cmo se verifica el principio de conservacin de la
energa, y la intensidad incidente es la suma de la reflejada y transmitida segn las frmulas de Airy.
Vemos ahora un poco ms en profundidad la estructura de la configuracin: suponemos que la vamos a recoger en el plano focal de una lente colectora (puesto que todos los rayos de salida tanto reflejados como transmitidos, correspondientes a un mismo ngulo de incidencia, salen paralelos entre s de
la lmina). En cuanto a la intensidad reflejada, tenemos un mximo cuyo valor depende de r, alcanzado
siempre que se verifique que el desfase es un mltiplo impar de . Los mnimos son nulos y se alcanzan
cuando el desfase sea un mltiplo par de . En la figura, podemos ver las distribuciones de intensidad
reflejada en funcin del desfase para tres valores diferentes del coeficiente de reflexin: si aumenta ste,
18

el efecto sobre la configuracin es el de aumentar la distancia entre mximos y mnimos y hacer ms

estrechos los mnimos, y por tanto ms anchos los mximos. Esto se ve tambin en las simulaciones de
patrones interferenciales incluidos en la diapositiva.
En cuanto a la intensidad transmitida, es inmediato su anlisis si consideramos que las configuraciones reflejada y transmitida son complementarias: se alcanzan mximos de valor Io cuando el desfase
es mltiplo par de , y mnimos de valor variable dependiendo de r cuando el desfase es mltiplo impar
de .
En la figura, vemos de nuevo el efecto de variar r sobre las distribuciones de intensidad transmitida
en funcin del desfase, y nos damos cuenta de que lgicamente el efecto de aumentar r sobre la configuracin transmitida es estrechar los mximos de transmisin y aumentar el contraste (los mnimos se
acercan ms a cero). Lo vemos claramente en las simulaciones de patrones interferenciales incluidas.
Una forma de parametrizar esta dependencia con el coeficiente de reflexin es introducir el factor de
Fineza como el trmino que depende de r y aparece en ambas frmulas de Airy para los mnimos por
transmisin y mximos por reflexin. Este factor controla, como hemos sealado, al anchura de pico y
el contraste en las configuraciones: a mayor Fineza, mayor contraste y menor anchura de pico para los
mximos por transmisin.
En cuanto a la anchura de pico a mitad de altura, vamos a calcular su dependencia con F: definimos
como e el desfase para el cual la intensidad transmitida baja a la mitad de la incidente: suponiendo
que sea bastante pequeo y aproximando el seno por el propio e en la frmula de Airy para la luz
transmitida, llegamos a la relacin con el factor de Fineza. Se define tambin (aunque resulte algo confuso)
el parmetro separacin o fineza como el cociente entre la distancia en desfase entre mximos (2) y la
anchura a mitad de pico, que hemos denotado por e. La separacin, como es lgico, resulta directamente
proporcional al factor de fineza definido anteriormente.
Un caso especial se produce, como ya debemos haber supuesto, cuando trabajamos con lminas
plano-paralelas que tienen recubrimientos metlicos, ya que en entonces tratamos con medios absorbentes.
Esto influye, por un lado, en el balance energtico, que debe incluir un factor de absorcin A, (R + T +
A = 1).
Por otro lado, ya sabemos tambin que el desfase introducido por reflexin en una interfase dielctricometal depende del ngulo de incidencia y las constantes pticas del metal, con lo cual debemos aadir
un trmino variable 2 al desfase debido a las dos reflexiones en el recubrimiento metlico. El efecto
del nuevo balance energtico sobre la intensidad resultante transmitida es muy fcil de calcular, y nos
resulta en una disminucin del valor mximo para esta configuracin. En cuanto al efecto del desfase

adicional, es equivalente a un incremento en el espesor ptico de la lmina de 2o , y para incidencia

casi normal suele despreciarse frente al otro trmino de desfase. En los ejemplos 18 y 19, vemos casos de
clculo de intensidades reflejada y transmitida para recubrimiento con vidrio y metlico.

3.2.

Antirreflejantes monocapa y filtros interferenciales

3.2.1.

Recubrimientos antirreflejantes monocapa

Para optimizar la apariencia y el rendimiento de las superficies pticas de un sistema, resulta interesante evitar las reflexiones parsitas (fenmeno que todo el que haya llevado gafas desde pequeo
conocer seguramente).
Una forma eficaz de evitarlas es depositar una capa de material muy delgada sobre el vidrio o compuesto orgnico de la lente, de forma que se minimice la reflexin y se maximice la transmisin en
determinadas longitudes de onda. Supondremos inicialmente que trabajamos con luz de longitud de
onda en el vaco o y que el medio depositado sobre el material de la lente verifica 1 < n < nv . Entonces, el problema se reduce a determinar el ndice n y el grosor de la capa necesarios para que todos
los haces reflejados de la longitud de onda de trabajo se anulen mutuamente, con lo cual se transmitir
de manera mucho ms eficiente. Si miramos el esquema (ya familiar), la forma ms simple de operar
es conseguir que todos los haces reflejados a partir del segundo estn en fase entre s, y a su vez en
oposicin de fase con respecto al primer haz reflejado.
Vamos viendo los desfases correspondientes al segundo haz con respecto al primero, en incidencia
normal o casi normal. Luego, del tercero con respecto al segundo (exigimos aqu que sea un mltiplo

19

par de ), y as sucesivamente.
Si nos planteamos cul debera ser el espesor mnimo necesario para la monocapa, vemos entonces
que nos sale (poniendo un desfase mnimo de 2) un espesor ptico de 4o , o equivalentemente un
grosor de 4 , siendo la longitud de onda dentro del recubrimiento, para el depsito de material sobre
el vidrio. Este valor es muy muy pequeo y se necesitan tcnicas complejas para realizar el depsito,
pero por otra parte ahorramos material y peso sobre la lente.
Tambin, si conviene, podemos aumentar este grosor, siempre que obtengamos un mltiplo impar
de 4 para el recubrimiento antirreflejante monocapa. Una vez fijado el espesor, nos falta garantizar que
la luz reflejada va a ser efectivamente de intensidad global nula: para ello, necesitamos que la suma de
amplitudes de los haces 2,3,4, y sucesivos iguale a la amplitud del primer haz reflejado. Como queremos
expresarlo todo en funcin de los ndices del vidrio y el material de recubrimiento, trabajando en incidencia normal o casi normal podemos sustituir las expresiones correspondientes para los coeficientes de
reflexin en funcin de los ndices de refraccin, e igualando el resultado de la suma de los haces a partir
del 2 con el haz 1 (que lleva un solo factor r), obtenemos que es condicin necesaria y suficiente que los
coeficientes de reflexin aire-monocapa y monocapa-vidrio sean iguales, y operando se llega fcilmente
a la relacin de ndices entre el material de la monocapa y el de la lente.
Vemos en el ejemplo 20 que esta relacin de ndices hace que resulte bastante difcil encontrar materiales de recubrimiento adecuados, con lo cual los recubrimientos monocapa resultan poco prcticos.
Como vemos en la foto del objetivo de cmara fotogrfica, el reflejo observado en las lentes se ve
del color complementario a la longitud o longitudes de onda eliminadas por el recubrimiento. Este
color puede cambiar en las distintas superficies del sistema, y es conveniente que as sea, puesto que
si no cambiamos la longitud de onda eliminada por las distintas superficies, la imagen final quedara
cromticamente descompensada. Suele eliminarse la longitud de onda central del espectro visible, a la
que el ojo es ms sensible, para instrumentos pticos. Entonces, el reflejo queda de color prpura cuando
se ilumina con luz blanca, y verde-violeta cuando se ilumina con un fluorescente como los que tenemos
en clase. Por el tipo de recubrimiento presente en las cmaras, se habla generalmente de ptica azul para
este tipo de instrumentos formadores de imagen.
3.2.2.

Filtros interferenciales

En el caso de los filtros interferenciales, el planteamiento es radicalmente diferente: se trata de eliminar prcticamente todas las longitudes de onda en la luz transmitida, de filtrarla para que pase slo un
conjunto muy reducido de las mismas.
Generalmente, se construyen con una lmina muy delgada de material dielctrico colocada entre dos
superficies tratadas para ofrecer una reflectancia muy elevada. La luz (supongamos que en principio es
blanca) llega al filtro, atraviesa el recubrimiento, se refleja y transmite mltiples veces en la capa de
material dielctrico y atraviesa el filtro, de modo que el resultado es luz transmitida casi nula para la
mayora de longitudes de onda de entrada. El que la intensidad de mnimo sea casi nula se produce
porque las superficies reflectantes tienen alto r, como ya vimos antes.
Este es, pues, un requerimiento esencial en el diseo de los filtros. En general, vimos que pasaban
en mximo las longitudes de onda que dan un desfase mltiplo par de (o, lo que es equivalente, sean
de valor 2d
m ). Si d es grande, habr varias longitudes de onda que cumplan este requisito en el espectro
visible, y observaremos entonces un espectro de tipo acanalado. Las longitudes de onda iguales a 2d 1
m+ 2

pasan en mnimo, y corresponden por tanto a las bandas negras del espectro por transmisin del filtro.
Si d es lo suficientemente pequeo, slo habr una longitud de onda en el visible que pase en mximo,
y el filtro alcanzar su mayor eficacia.
Vemos un ejemplo para d = 2500 Amstrong y para d = 25 m. El espesor mnimo se alcanza para
m = 1, o sea, longitud de onda igual a 2nd. En general, los filtros suelen fabricarse con recubrimientos
multicapa de alta reflectancia, que estudiaremos al final de la seccin. Si se piensa en utilizar lminas
metlicas, ya sabemos que habra que considerar el posible desfase introducido por cada reflexin, pero
como ya dijimos, salvo en determinadas situaciones, no resulta muy prctico utilizar recubrimientos
metlicos porque son bastante absorbentes.
Las caractersticas ms destacadas de un filtro interferencial son la longitud de onda de pico y el

20

ancho de banda espectral, que si consideramos despreciables las variaciones de r con la longitud de onda
en el intervalo espectral considerado, dependen slo del factor de fineza que hemos visto al principio
del tema.
De los dos factores anteriores depende esencialmente el tercer parmetro importante, que es la transmitancia de pico o razn de intensidades transmitida/incidente para la longitud de onda de pico. Generalmente, como vemos en la tabla, se encuentra que un menor ancho de banda espectral va tambin
unido a una menor transmitancia de pico, para una longitud de onda de pico similar. En el ejemplo 21,
se pide determinar el coeficiente de reflexin y espesor mnimo de un filtro de criolita.

3.3.

Interfermetro Fabry-Perot

3.3.1.

Descripcin general

Algunas de las principales aplicaciones de las interferencias con haces mltiples se basan en un dispositivo de gran sencillez que resulta muy til como espectroscopio de alta resolucin y tambin forma
parte de las cavidades resonantes en algunos tipos de lseres: el dispositivo se denomina usualmente
Fabry-Perot, presentado por primera vez en 1899.
La configuracin ms bsica consiste en dos lminas de cuarzo o vidrio recubiertas de un material de reflectancia elevada, de forma que entre ellas se forma una lmina de caras planas de aire. Las
otras caras pueden tallarse en forma de cua, para reducir efectos procedentes de la primera interfase
aire-vidrio sobre la configuracin resultante. Como vemos en el esquema, para una fuente que entre al
interfermetro con ngulo de incidencia i , tras producirse mltiples reflexiones y transmisiones obtenemos haces de salida con el mismo ngulo i , que recogidos por una lente colectora nos daran en el
plano focal de la misma una configuracin en forma de anillos alternados claros y oscuros, con distribucin de intensidades correspondiente a reflectancia elevada en las superficies. Si iluminamos con fuente
extensa, obtenemos en cada punto del plano de recogida la superposicin de los puntos de la fuente que
emitan con un determinado ngulo de incidencia.
Si utilizamos recubrimientos metlicos en vez de multicapas, debemos recordar que se produce un
desfase adicional en cada reflexin, y adems tener en cuenta el factor de absorcin correspondiente.
Sin embargo, para ngulos de incidencia pequeos, puede considerarse el desfase adicional constante, y
como en general el espesor es mucho mayor que la longitud de onda de referencia considerada, puede
despreciarse el trmino de desfase adicional. Con estas aproximaciones, podemos decir que en los dispositivos Fabry-Perot los mximos en la configuracin interferencial correspondern a diferencias de
camino ptico de 2nd cos i . El orden mximo en la configuracin corresponde al crculo central, y se
calcula como 2d
, aunque este resultado no tiene por qu ser necesariamente entero. El orden va entonces
disminuyendo conforme aumenta i .
Vemos ahora el efecto de variar el espesor de la capa de aire en el interfermetro con la pelcula
correspondiente: si d aumenta, debe aumentar el orden del mximo central, y por tanto, surgen anillos
por el centro de la configuracin. Otra forma de razonar lo que sucede es fijarse en un anillo de orden k
dado: si 2d crece, para compensar, cos i debe disminuir, y por tanto i aumentar, con lo que los anillos
se desplazan hacia la periferia. El efecto opuesto sucede si reducimos el espesor de la capa de aire:
desaparecen anillos por el centro, o bien los anillos se van desplazando hacia el centro.
Vemos tambin con otra pelcula el efecto de variar la reflectancia de los recubrimientos sobre los
anillos, que ya conocemos de apartados anteriores.
Generalmente, cuando el dispositivo tiene un tornillo que permite variar d, se denomina interfermetro de Fabry-Perot, y cuando slo nos interesa la capa de aire entre las dos lminas pero sin que pueda
variarse su espesor, hablamos entonces de etaln Fabry-Perot. En el ejemplo 22, calculamos el orden mximo y el radio del tercer anillo para un Fabry-Perot.
3.3.2.

Poder resolutivo espectral

Como hemos visto, la diferencia de camino ptico y por tanto la disposicin de la configuracin dependen de la longitud de onda de la fuente, con lo cual si iluminamos con luz no monocromtica, sobre
la pantalla observaremos la superposicin de las distintas configuraciones correspondientes a diferentes
longitudes de onda, como vemos en la foto.
21

Supongamos que iluminamos con una fuente compuesta de dos longitudes de onda prximas entre s ( y + ). Nos planteamos entonces cul sera la mnima separacin entre ellas que permita
apreciar que hay dos configuraciones presentes y no slo una: en definitiva, qu capacidad tiene el interfermetro para separar dos longitudes de onda (poder resolutivo espectral, que podemos cuantificar en

).
funcin del cociente
Consideremos la distribucin de intensidades en funcin del desfase o la posicin sobre el plano de
recogida: necesitamos un criterio de resolucin, que nos diga cundo vamos a considerar que los dos
picos de intensidad, correspondientes a ambas longitudes de onda, estn lo suficientemente separados
como para distinguirlos. Consideramos los tres puntos clave P (posicin del pico de ), M (posicin
correspondiente a la mitad de la intensidad de pico o 2I para ) y Q (posicin del pico de intensidad
correspondiente a + ). Suele emplearse el criterio de considerar ambas longitudes de onda justamente resolubles o separables cuando las dos distribuciones se cortan aproximadamente a mitad de
intensidad de pico, como est representado en la figura. Este criterio suele llamarse de Rayleigh, aunque
generalmente se formula como que el primer mnimo de una distribucin de intensidad corresponde a
la posicin del pico central de la otra distribucin. El punto M estar separado de P por un desfase
2 ,
y Q estar separado de P por un desfase . Si aproximamos la intensidad en M por Imax
,
operando
2
llegamos a una expresin para sin2 2M , que ponemos en funcin de y si ste es pequeo (como suele
suceder si las dos longitudes de onda estn muy prximas), podemos aproximar el seno por el ngulo
y obtener una expresin para en funcin de r. Nos falta ahora relacionar con el poder resolutivo espectral. Hay varias formas de hacerlo; por ejemplo, calculando la variacin de con y luego
relacionando con por medio de la expresin de la diferencia de camino ptico, o bien calculando
directamente la variacin de con , despejando el poder resolutivo espectral y sustituyendo que
la diferencia de camino ptico es m, para luego utilizar la expresin de en funcin de r, o la ms
directa utilizando los nmeros de onda para y + y luego aproximando y empleando la expresin
obtenida para .
En todo caso, el resultado final es el mismo: el poder resolutivo espectral depende del orden interferencial (posicin del anillo de que se trate), y del coeficiente de reflexin de los recubrimientos
reflectantes. Cuanto ms alto sea r, mayor poder resolutivo tenemos.
Hasta ahora estamos suponiendo que los dos orden m de cada longitud de onda son iguales, pero
puede suceder que la diferencia ya no sea pequea, y el desplazamiento de los mximos haga que
se solapen mximos adyacentes correspondientes a diferentes longitudes de onda pero con distintos
rdenes. Es interesante controlar este factor, por lo que habitualmente se define el denominado rango
espectral libre utilizando la expresin que relaciona el poder resolutivo espectral con y sustituyendo
por 2.
Obtenemos entonces la mxima separacin de longitudes de onda que podramos utilizar sin estos
inconvenientes, y que depende del orden y la longitud de onda de referencia. Si estamos cerca del centro
2
de la configuracin, el rango espectral libre se aproxima al cociente 2d .
Podemos relacionar el rango espectral libre con la fineza que definimos anteriormente utilizando la
expresin de en funcin de r y la del rango espectral libre en funcin de m y ?, con lo cual la fineza
queda como el cociente entre el rango espectral libre y la mnima separacin resoluble en longitud de
onda. Est entonces claro que si aumenta la fineza, aumenta tambin el poder separador del interfermetro, lo que resulta bastante intuitivo.
Si tenemos varias longitudes de onda diferentes en la luz incidente, y queremos separar las diferentes configuraciones, es inmediato que podemos tener problemas de superposicin de las mismas en
el mismo punto de la pantalla. Por esto, puede utilizarse un Fabry-Perot en combinacin con un prisma
a la salida, para poder observar las distintas configuraciones ms cmodamente sobre la pantalla.
Una de las principales aplicaciones del Fabry-Perot es la medida de la estructura fina de las lneas
espectrales, es decir, del intervalo que separa dos lneas muy prximas. Esto es lo que puede verse
en el laboratorio aplicado al doblete de Na: se mide la distancia entre dos espesores correspondientes a
posiciones adyacentes de discordancia en las configuraciones (mximos de una coincidentes con mnimos
de la otra de diferentes rdenes) y puede obtenerse en funcin de esta diferencia de espesores y la
longitud de onda media del doblete. En los ejemplos 23 y 24, se comparan las prestaciones de dos FabryPerot con diferentes parmetros, y dos configuraciones Fabry-Perot de diferente r en los recubrimientos.

22

3.4.

Multicapas

Ya hemos sealado los inconvenientes que presentan los recubrimientos metlicos utilizados para
conseguir reflectancia elevada: principalmente elevada absorcin, con lo que perdemos luz transmitida.
Para evitar este problema, suele recurrirse a los recubrimientos de tipo multicapa, que ofrecen elevada
r sin una absorcin tan elevada. Vamos a limitarnos en esta seccin a describir sus principales aplicaciones.
3.4.1.

Aplicaciones

1. Multicapas antirreflejantes. Como nuestro objetivo es evitar las reflexiones parsitas, debemos
exigir r = 0 para la multicapa. Ya vimos el resultado sobre la relacin de ndices que se obtiene
para una monocapa.
Vemos ahora un recubrimiento bicapa con ndices n1 y n2 y espesores 4 ; obtenemos una relacin
entre los tres ndices para una bicapa sumergida en aire-vidrio que resulta mucho ms verstil
que la obtenida para la monocapa, como puede verse en el ejemplo 25. Lgicamente, en el diseo
podemos utilizar distintas combinaciones de materiales y espesores, incluso 4 con 2 , obteniendo
los resultados que vemos en la figura para el factor de reflexin en funcin de la longitud de onda.
Se obtiene una eficacia bastante considerable como antirreflectante en amplias zonas del espectro
visible.
En general, podemos tener mejores prestaciones cuanto mayor sea el nmero de capas, siempre
pensando en un diseo optimizado de la multicapa. Hoy en da, vemos los resultados en los recubrimientos de las lentes utilizadas como correccin ptica e incluso en las pantallas de los monitores de PC y porttiles.
2. Multicapas de alta reflectancia. Veamos a continuacin la aplicacin de objetivo contrario, que
ya indicamos al tratar los filtros interferenciales y el Fabry-Perot: ahora nos proponemos obtener
elevada reflectancia para un recubrimiento. Generalmente, se utiliza un diseo que combina capas
alternadas de un material de ndice elevado con otro de ndice ms bajo, y ambas de espesores 4 .
Si suponemos una multicapa formada por N lminas de medios de alto y bajo ndice alternados,
o
y espesores 4 (distintos, recordemos que dependen de cada ndice, pues 4 = 4n
),Si la multicapa
est sumergida en aire, se obtiene la expresin para el factor de reflexin global. Comprobamos
cmo tiende a la unidad para N grande.
En la figura, vemos cmo el rendimiento de la multicapa aumenta conforme crece el nmero de
capas. Tambin podemos aumentar el rango espectral de efectividad calculando los espesores pticos de las diferentes capas para que vayan pasando en mximo diferentes longitudes de onda,
como se muestra en el esquema de la figura. Aplicando la misma estrategia de diseo a una multicapa antirreflejante no sumergida en aire, nos queda una expresin para la relacin de ndices que
puede obtenerse si nm+1 > no y n A < n B , al contrario de lo que sucede para las multicapas de alta
reflectancia.
3. Filtros interferenciales. Vemos ahora otra aplicacin que tambin mencionamos en apartados anteriores: aplicacin de multicapas a la construccin de filtros interferenciales. Generalmente, el
diseo en este caso es el mostrado en la figura: multicapas de alta reflectancia en los extremos (de
ndices elevado y bajo alternados), y en el centro una estructura con una lmina AB, otra A de
espesor 2 y otra BA de tipo 4 .
Si estuviera sumergido en aire, obtenemos r = 0 y t = 1, pero generalmente no est sumergido
en aire sino en vidrio, con lo cual el comportamiento es algo menos perfecto, mostrando la transmitancia espectral del tipo que puede verse en la figura. Aun as, pueden conseguirse anchos de
banda espectrales bastante reducidos, y resultan mucho ms fciles de construir que los filtros con
capa de aire interna.
4. Espejos dicroicos. Otra aplicacin son los espejos dicroicos, que reflejan selectivamente una zona
determinada del espectro visible, de forma que combinando tres diferentes podemos descomponer
23

una radiacin incidente blanca en tres haces azul, verde y rojo, lo cual tiene muchas aplicaciones,
pues como sabemos la mayora de displays funcionan con base tricromtica para reproducir los
colores (cmaras de TV, etc), muchos de ellos utilizan tres filtros coloreados o tres sensores con
respuesta espectral diferenciada, pero los espejos dicroicos tambin funcionan bien. En la foto,
podemos ver cmo reflejan selectivamente y transmiten el color complementario.
5. Fenmenos de iridiscencia en la naturaleza. Por ltimo, hay algunos efectos de color en muchas
especies de animales que se deben a fenmenos interferenciales o multicapas, como en las alas
de las mariposas, o el plumaje de algunas aves, o el caparazn de algunos escarabajos (como
el Dendroica cerulea), o las conchas de algunos moluscos (como los Haliotis o conchas Paua de
Nueva Zelanda). En las fotos, vemos la estructura interna de un ala de la mariposa Rethenor, que
acta como multicapa de alta reflectancia para la zona azul-amarilla del espectro. Tambin otras
mariposas presentan efectos de color basados en interferencias, lo que provoca que el aspecto vare
segn el ngulo de observacin de la superficie (ya vimos que el desfase introducido depende del
ngulo de incidencia, aunque hemos hecho casi todo el desarrollo para el caso ms simple de
incidencia normal). Otros efectos notables son la mezcla de colores, que en el caso de la Rethenor
se obtiene con zonas microscpicas de espesor diferente de las multicapas, de forma que se reflejen
pequeos puntos de amarillo, no resolubles para el ojo, con lo cual vemos el color resultante como
un azul verdoso claro. Tambin hay otras especies que presentan un aspecto espectacular debido
a estrucutras multicapa. Adems, tambin podemos observar patrones interferenciales en algunas
ocasiones en los bordes de las nubes, debido a un efecto similar obtenido en diferentes capas de
vapor de agua y cuando el Sol las ilumina en condiciones especficas.

Referencias
[1] B ORN , M. Y W OLF, E., Principles of Optics, Cap. 7,14.
[2] C ASAS , J.,ptica, Cap. 10
[3] P EDROTTI , F. L., Y P EDROTTI , L.S.,Introduction to Optics, Cap. 10, 11, 19.
[4] H ECHT, E., Z AJAC , A.,ptica, Cap. 9
[5] J ENKINS , F.E., W HITE , H.E.,Fundamentals of Optics, Cap. 13, 14.
[6] D AZ N AVAS , J.A., M EDINA , J.M.,Ondas de Luz, Cap. 8.
[7] K ENYON , I.R.,The Light Fantastic, Cap. 5.

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