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Intoduccion A Las Tecnicas de Caracterizacion PDF
Intoduccion A Las Tecnicas de Caracterizacion PDF
Tcnica
Respuesta
Perturbacin
Iones
Fotones
Electrones
Respuesta
Iones
Fotones
Electrones
Tcnicas Instrumentales
Emisin de radiacin
Absorcin de radiacin
Dispersin de radiacin
Refraccin de radiacin
Refractometra, interferometra
Difraccin de radiacin
Potencial elctrico
Potenciometra
Corriente elctrica
Polarografa, amperometra
Resistencia elctrica
Conductimetra
Espectrometra de masas
Seal analtica
Transductor de
entrada o
detector
Seal de entrada
mecnica o elctrica
Procesador
de seales
Registrador
Display digital
0.213
Transductores de salida
Medidor de escala
Generador
de seal
Instrumento
Generador
de seal
Seal
analtica
Transductor
de entrada
Seal
transducida
Procesador de
seal
Lectura
Fotmetro
Lmpara de
wolframio,
filtro de vidrio,
muestra
Haz de luz
atenuado
Fotoclula
Corriente
elctrica
Ninguno
Medidor de
corriente
Espectrmetro de
emisin atmica
Llama,
monocromador,
muestra
Radiacin
UV-VIS
Tubo
fotomultiplicador
Potencial
elctrico
Amplificador,
desmodulador
Registrador sobre
papel.
Computador
Difractmetro de
rayos X
Tubo de rayos
X, muestra
Radiacin
difractada
Pelcula
fotogrfica,
contador de fotones
de rayos X
Imagen latente.
Potencial
elctrico
Revelador qumico.
Amplificador,
desmodulador
Imgenes
ennegrecidas en
una pelcula.
Computador
Parmetro de calidad
1. Precisin
Desviacin
estndar
absoluta,
desviacin
estndar
relativa,
coeficiente de variacin, varianza
2. Exactitud
3. Sensibilidad
Sensibilidad
de
sensibilidad analtica
4. Lmite de deteccin
5. Intervalo de concentracin
6. Selectividad
Coeficiente de selectividad
error
calibracin,
Criterios cualitativos:
- Velocidad
- Facilidad y comodidad
- Habilidad del operador
- Coste y disponibilidad del equipo
- Coste por muestra
Definicin*
(x
s=
i) Precisin
Grado de cuidado
con que se realiza
una medida
Error aleatorio
Varianza
i =1
x)2
N 1
RSD =
sm =
CV =
s
x
s
N
s
100%
x
s2
*x
i
x = media de N medidas =
x
i =1
ii) Exactitud
Aproximacin al valor verdadero (error sistemtico o determinado)
Blancos y calibracin (eliminacin de error)
Exactitud = - xt
iii) Sensibilidad
Capacidad de discriminar entre pequeas diferencias en el valor de un parmetro de anlisis.
Factores de los que depende:
-Pendiente de la curva de calibracin
-Precisin
IUPAC(International Union of Pure Applied Chemists)
Sensibilidad Pendiente en curva de calibracin
S = Sbl + mC
(S=seal, Sbl=blanco, m=pendiente y C=concentracin)
Fco. Javier Gonzlez Benito
Lmite de deteccin =
vii) Selectividad
Grado con que se evitan interferencias de especies sin inters analtico
Errores de mtodo
Errores personales
c) Errores grandes
6.2.- Expresin del error
a) Error absoluto Ea = - x
b) Error relativo Er = Ea/
Preciso y exacto
Preciso y no exacto
Fco. Javier Gonzlez Benito
s=
(x
i =1
x) 2
N 1
(x
i =1
x) 2
s
RSD =
x
s
CV = 100
x
Varianza, s2 2
Qexp =
xq xn
d
=
w x h xl
b) La prueba T
Tn
(
x
=
xn
N de
medidas
0.941
0.970
0.994
0.765
0.829
0.926
0.642
0.710
0.821
0.560
0.625
0.740
0.507
0.568
0.680
0.468
0.526
0.634
0.437
0.493
0.598
10
0.412
0.466
0.568
CL = x
t s
N
7.- Bibliografa
a)
b)
a)
H.H. Willard, L.L. Merritt Jr.,J.A. Dean, F.A. Settle Jr., Mtodos
Instrumentales de anlisis, Grupo Editorial Iberoamericana S.A. de
C.V., Mxico (1991).
b)
c)