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CONTENIDO TEMTICO
MATERIALES CRISTALINOS Y NO CRISTALINOS
3 . 1 2 M O N O C R I S TAL E S
3.13 MATERIALES POLICRISTALINOS
3.14 ANISOTROPA
3.15 DIFRACCIN DE RAYOS X: DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS
3.16 SLIDOS NO CRISTALINOS
DESARROLLO
La forma refleja la estructura cristalina. La Figura 3.15, aparecen varios monocristales. En los
ltimos aos los monocristales han adquirido extraordinaria importancia en la moderna tecnologa,
sobre todo en microelectrnica, que emplea monocristales de silicio y de otros semiconductores.
3.13 MATERIALES POLICRISTALINOS
La mayora de los slidos cristalinos son un conjunto de muchos cristales pequeos o granos. Este
tipo de material se denomina policristalino. En la Fig.3.16 se esquematiza varias etapas de la
solidificacin de una muestra policristalina. Al principio, aparecen pequeos cristales o ncleos en
distintas posiciones. Estas orientaciones cristalogrficas son completamente al azar y estn
indicadas por cuadrados. Los granos pequeos crecen por la sucesiva adicin a la estructura de
tomos del lquido subenfriado. Los extremos de granos adyacentes interaccionan entre s al
finalizar el proceso de solidificacin. La Fig.3.16 indica que la orientacin cristalogrfica vara de un
grano a otro. Tambin existe alguna irregularidad en la disposicin atmica en la regin donde se
unen dos granos.
(a)
(b)
(c)
(d)
Fig.3.16 Etapas de solidificacin de material policristalino; las cuadrculas representan celdillas unidad. (a)
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Ncleos de cristalizacin. (b) Crecimiento de cristales pequeos. Se observa que algn cristal obstruye el
crecimiento de su vecino. (c) Al terminar la solidificacin aparecen granos de formas irregulares. (d) Bajo el
microscopio, la estructura de los granos aparece con lneas oscuras en los lmites de grano.
3.14 ANISOTROPA
Por ejemplo la madera, debido a sus granos o fibras, es un material que es homogneo y
anisotrpico.
La anisotropa es la propiedad de ser direccional dependiente, en oposicin a la isotropa, que
implica propiedades idnticas en todas las direcciones. Se puede definir como una diferencia,
cuando se mide a lo largo de diferentes ejes, en las propiedades fsicas o mecnicas de un material
Un ejemplo de anisotropa es la luz que entra a travs de un polarizador. Un ejemplo de un material
anisotrpico es la madera, la cual es ms fcil de dividir a lo largo de su grano de contra ella.
La ciencia de los materiales y de la ingeniera
Anisotropa, en Ciencia de los Materiales, es una dependencia direccional de materiales de una propiedad fsica. La
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Figura 3.17 (a) Dos ondas (la 1 y la 2) con la misma longitud de onda y que
permanecen en fase despus de un fenmeno de dispersin (ondas 1' y 2')
se interfieren positivamente. La amplitud de la onda resultante es la suma
de las ondas dispersadas. (b) Dos ondas (la 3 y la 4) con la misma longitud
de onda y que resultan desfasadas despus de un fenmeno de dispersin
(ondas 3' y 4') se interfieren destructivamente. Las amplitudes de las dos
ondas dispersadas se cancelan mutuamente.
3.15.1
EL FENMENO DE DIFRACCIN
Ocurre difraccin cuando una onda encuentra una serie de obstculos separados
regularmente, que (1) son capaces de dispersar la onda y (2) estn separados por
distancias comparables en magnitud a la longitud de onda.
Adems, la difraccin es la consecuencia de relaciones entre fases especfcas,
establecidas entre dos o ms ondas dispersadas por los obstculos.
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En la Figura 3.17a se consideran las ondas 1 y 2, que tienen la misma longitud de onda
y estn en fase en 0-0'. Se supone que experimentan dispersin al recorrer
diferentes caminos. Es importante la relacin entre las fases de ondas dispersadas, que
depende de la longitud del camino. En la Figura 3.17a se aprecia que estas ondas
dispersadas (denominadas 1' y 2') continan en fase. Se dice que se refuerzan
mutuamente (con interferencia constructiva) y se suman sus amplitudes, como indica el
resultado de la derecha de la fgura. Esta es una manifestacin de la difraccin y los
rayos difractados estn compuestos de gran nmero de ondas dispersas que se
refuerzan mutuamente.
Entre ondas dispersadas existen otras relaciones de fases que no conducen al
reforzamiento mutuo. Esta condicin est registrada en la Figura 3.17b, donde la
diferencia entre las longitudes de los caminos despus de la dispersin es un nmero
impar de semilongitudes de onda. Las ondas dispersadas no estn en fase. Las
amplitudes se anulan entre s o interferen destructivamente (p.ej., la onda resultante
tiene amplitud cero), como indica el extremo derecho de la fgura. Existen relaciones de
fase intermedias entre estos dos extremos, resultando slo un reforzamiento parcial.
3.15.2 DIFRACCIN DE RAYOS X Y LEY DE BRAGG
Los rayos X son una forma de radiacin electromagntica que tiene elevada energa y
corta longitud de onda: del orden de los espacios interatmicos de los slidos. Cuando
un haz de rayos X incide en un material slido, parte de este haz se dispersa en todas
direcciones a causa de los electrones asociados a los tomos o iones que encuentra en
el trayecto. Condiciones necesarias para la difraccin de rayos X por una disposicin
ordenada de tomos.
FIGURA 3.18 Difraccin de rayos-X por los planos de tomos A-A y B-B
En la Figura 3.18 se consideran dos planos paralelos de tomos AA' y BB' que
tienen los mismos ndices de Miller h, k y l y estn separados por una distancia
interplanar dhkl. Se supone que un haz paralelo, monocromtico y coherente (en fase) de
rayos X de longitud de onda , incide en estos dos planos segn un ngulo . Dos
rayos de este haz, sealados como 1 y 2, son dispersados por los tomos P y Q. Segn
un ngulo con los planos, ocurre una interferencia constructiva de los rayos
dispersados 1' y 2', siempre que las diferencias de recorrido entre 1-P-1' y 2-Q-2' (p.ej.
SQ + QT) equivalgan a un nmero entero, n, de longitud de onda. Es decir, la condicin
para la difraccin es:
+ QT
(3.8)
n=SQ
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Ley de Bragg
n = es el orden de difraccin, que puede ser cualquier nmero entero (1, 2, 3...)
siempre que sen no exceda la unidad.
As, se obtiene una simple expresin que relaciona la longitud de onda de los rayos X y
la distancia interatmica con el ngulo de incidencia del haz difractado. Si no se cumple
la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no constructiva y el campo del haz
difractado es de muy baja intensidad.
La magnitud de la distancia entre dos planos de tomos contiguos y paralelos (p.ej., la
distancia interplanar dhkl) es funcin de los ndices de Miller (h, k y l) as como de los
parmetros de red. Por ejemplo, para estructuras cristalinas de simetra cbica.
a
d hkl= 2 2 2
h +k +l
Dnde: a = Parmetro de red (longitud de la arista de la celdilla unidad).
Los otros seis sistemas cristalinos, anotados en la Tabla 3.2, (ver clase 5) cumplen
a
d hkl= 2 2 2
relaciones similares pero ms complejas que las de la Ecuacin;
h +k +l
La ley de Bragg,
no sufciente para la difraccin en cristales reales. Esta ley especifca condiciones para
que ocurra la difraccin en celdillas unidad con tomos slo en los vrtices. Los tomos
situados en otras posiciones (p.ej., en las caras y en el interior de la celdilla como en FCC
y BCC) los centros actan como centros extras de dispersin que, a ciertos ngulos de
Bragg, pueden producir dispersiones desfasadas. El resultado es la ausencia de algunos
haces difractados que deberan estar presentes segn la Ecuacin 3.9. Por ejemplo, para
la estructura cristalina BCC, h + k + l debe ser un nmero par para que tenga lugar la
difraccin, mientras que para FCC, h, k y l deben ser todos impares o pares.
3.15.3
TCNICAS DE DIFRACCIN
La tcnica de difraccin ms comn utiliza una muestra pulverizada o policristalina
consistente en muchas partculas diminutas y orientadas al azar, que se exponen a una
radiacin de rayos X monocromtica. Como cada partcula de polvo es un cristal,
teniendo gran cantidad de ellos libremente orientados se asegura que algunas
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0,0
10,0
20,0
30,0
40,0
50,0
60,0
70,0
80,0
90,0
100,0
ngulo de difraccin 2
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d hkl=
a
h +k 2 +l2
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(a)
tomo de silicio
(b)
tomo de oxgeno
Figura 3.21 Esquemas bidimensionales de las estructuras de: (a) dixido de silicio cristalino y
(b) dixido de silicio no cristalino
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