Rayos-X y sus aplicaciones en la mineralogía

• Características de Rayos-X
• Generación de Rayos-X
• Identificación mineral con RX
• Ejemplos identificación mineral
• Aspectos de seguridad laboral
• ( DRX en línea)
• (DRX semicuantitativo-cuantitativo)
 Las características y
la generación
de los Rayos-X

http://www.bruker-axs.de/index.html?page=/company/firstgeneration.php
Medios para remover electrones: Rayos-X intensos, electrones

Esquema de generación de líneas K, L, M.

Tubo de Rayos-X
Técnicas que usan Rayos-X para el análisis/la excitación
de la muestra (DRX y FRX)

Generación de Rayos-X

El impacto de electrones sobre un objeto sólido a alta velocidad genera Rayos-X

(en vacío).
• Fuente de electrones
• La aceleración de los electrones (diferencia de potencial)
• Blanco de impacto o de freno

Un tubo de Rayos-X incorpora los siguientes elementos:

• Un tubo de vidrio al vacío (con protecciones de Pb)
• Un cátodo (filamento de tungsteno) con potencial negativo alto
• Un ánodo o tierra
 TUBO DE RAYOS X

Ref. 1

ESPECTRO DE UN TUBO DE Ag, DISTINTOS VOLTAJES DE TUBO

Ref. 1
El impacto de los electrones sobre el blanco resulta en tres tipos de interacciones:

• excitación de los átomos del blanco

• generación de un espectro continuo del tubo ("Bremsstrahlung")
• retrodispersión (rebote) de los electrones

La excitación de los átomos del blanco implica una ionización de los mismos y en
consecuencia una emisión de los espectros característicos K, L, M del material del
blanco.
Ref. 2
Ref., 2
Según el modelo atómico de Bohr, un electrón que golpea la superficie del blanco
puede tener la energía suficiente para desplazar por completo otro electrón de un
orbital. Esta inestabilidad es de corta duración (10-4 seg) y un electrón de los
orbitales exteriores ocupa la posición vacante. Esta transición está acompañada
por la emisión de un rayo-X característico, un fotón, con una longitud de onda bien
definida.

Por ejemplo: La vacante en el orbital K es ocupada por un electrón del orbital M,

resulta así un rayo Kβ. Si el electrón reemplazante proviene del orbital L se
general rayos del tipo Kα1 y Kα2 .
 La Ley de Bragg y la Difracción de Rayos-X
o como revelar la estructura atómica de un cristal

La ley de Bragg: nλ
λ = 2 d sen θ (1)
Los responsables: Sir W.H. Bragg e su hijo Sir W.L. Bragg (1913). Derivaron esta
ecuación para explicar porque caras cristalinas “reflejan” rayos-X en ciertos ángulos de
incidencia (θ). “d”: Distancia entre capas atomares en un cristal; “λ”: longitud del rayo-X
incidente; “n”: Número entero.
La ley de Bragg se derivó para la aplicación de rayos-X, pero también puede ser aplicado
a otros medios de observación: electrones, iones, neutrones, protones (con una longitud
de onda similar a distancias atomares).

http://www-outreach.phy.cam.ac.uk/camphy/xraydiffraction/xraydiffraction10_1.htm
Difracción de Rayos-X implica la
interferencia constructiva de los
rayos-X difractados de una cara
cristalina y sus planos atomares
consecutivas al interior del cristal.
Condiciones geométricas para
lograr la interferencia constructiva:
En el caso que un rayo-X
dispersado por átomo B continúe
un camino “reflejado” paralelo a
un rayo-X dispersado en Z debe
viajar la distancia adicional AB +
BC.
Esta distancia adicional
corresponde a un múltiple “n” de la
longitud de onda λ (igual para los
dos rayos-X)
nλ
λ = AB + BC (2)
En el triángulo Abz “d” corresponde a
la hipotenusa, por lo tanto:
AB= d senθ
θ (3)
Como AB=BC ecuación 2 se
convierte en

nλ
λ = 2AB (4)

La sustitución de ecuación 3 en
ecuación 4:

nλ
λ = 2d senθ
θ (1)
El Goniómetro
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/xrpd.htm
Ref. 2
 Detector de Rayos-X

Detector de Centelleo, “modelo clásico”

Más detectores bajo FRX, EPMA
Identificación de una muestra con el “J.C.P.D.S. o I.C.D.D. powder
diffraction data file”.

Se identifica una fase cristalina (excepto fases nuevas) a través de una

comparación con un estándar o varios estandares, sean estos minerales, fases
inorgánicas u orgánicas. Existen más que 300000 fases cristalinas descritas y
aceptadas como referencias difractométricas.

La identificación de una fase con poca posibilidad de sustitución composicional

presenta pocas dificultades, sin embargo determinar la composición de un mineral
dentro de una serie de solución sólida resulta problemático, si se usan
exclusivamente los estandares J.C.P.D.S.
El procedimiento tradicional (hoy apoyado por computador) es el siguiente:

- identificación de los valores "d" del difractograma (o película), mediante al

ecuación Bragg.
- identificación según la base de datos I.C.D.D. (puede incluir datos de
análisis químico, nombre, incluyendo nombre comercial del material).

Es importante dar un margen de error suficiente, en particular para reflexiones a

ángulos 2θ bajos y de menor intensidad, para compensar por la "distorsión"
geométrica del goniómetro y variaciones de composición con respecto a los
estándares. Nótese que no todas las direcciones cristalográficas (y en
consecuencia sus valores "d") responden en proporciones iguales a cambios
composicionales.
Estudios Mineralógicos por Difracción de Rayos-X
Objetivos Principales de la Técnica

• Identificación de fases cristalinas

• (Semi)-cuantificación de fases minerales
• Determinación de grupos minerales específicos (por
ejemplo arcillas)
• Estudios de cristalinidad
• Caracterización cristalográfica de fases cristalinas
(nuevas y modificadas)
• Estudios de deformación
 Uso de Difracción de Rayos-X (DRX) con
respecto a la Microscopía

• Ambigüedad en la identificación microscópica

• Granulometría muy fina
• Intercrecimientos
• Alteración
• Estudios de metamorfismo y alteración de baja
temperatura (geotermómetros y/o barómetros relativos)
• Mejorar la identificación de fases cristalinas con amplia
solución sólida)
• Imposibilidad de confeccionar un corte o briqueta
• Tiempo insuficiente para confección y descripción de
cortes o briquetas.
 Información NO entregada por la DRX

• Se pierde o no hay información textural

• No se identifican mineraloides (material amorfo)
– Se detecta su presencia (a veces se puede identificar
la fase por las características del ruido de fondo, por
ejemplo crisocola)
• No se detectan con facilidad sustituciones elementales
en fases isoestructurales que no resultan en un cambio
de una o varias caras cristalinas
 Tipo de Muestra
• Polvo de una muestra (total o “roca total”), >0,2
gramos
• Fases minerales separadas
• Lámina de roca delgada (solo si es de grano
muy fino, por ejemplo un esquisto)
• Suspensión secada (con o sin separación
granulométrica previa)
Escalas de resolución muy distintas:

DRX Polvo de material, < 1 gramo

FRX Polvo de material o superficie lisa, <1gramo

EPMA Superficie 60 - 2 µm

SEM Superficies sub mm - 2µm

TEM Escala nanométrica

Elementos comunes:

• Generación de rayos-x característicos en la muestra

• Excitación de la muestra con Rayos-X o un haz de electrones

• Uso de un mecanismo de goniómetro (DRX, FRX, EPMA-WD)

• Uso de detectores de Si (EPMA-ED, TEM-ED)

 Pero DRX – Arcillas: Una herramienta
indispensable

• Fina granulometría (<2µm) e intercrecimiento hacen difícil una resolución por vía de
microscopía óptica

• Cambios de cristalinidades

• Cambios o gradación granulométrica en el mismo grupo mineral

• Un grupo mineral considerado no importante (“alteración argílica” de estudios

petrográficos, ya que no siempre inciden o tienen alta relevancia para el modelaje
geológico (en particular en estudios antiguos, sin disponibilidad real de DRX)).

• Algunas variedades pueden no aparecer en un difractograma de muestra total

http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/mlayclay.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/smc.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/smc.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/kaogr.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/images/halpatt.jpg
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/images/illpatt.jpg
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/images/chlpatt.jpg
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/mlayclay.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/verm.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/seppaly.htm
http://pubs.usgs.gov/of/of01-041/htmldocs/clays/seppaly.htm