Boletn

Tcnico
Abril 2010

No. 7

MEDICIN DE RUGOSIDAD
Los equipos para medicin de rugosidad lucen como
es mostrado en la Figura 1, aunque tambin existen de
tipo porttil. Sobre una base se coloca un dispositivo
de nivelacin/sujecin/alineacin sobre el que se
coloca la pieza a medir, un palpador con una punta
cnica con un radio esfrico muy pequeo recorre una
pequea distancia sobre la superficie a la que se
desea medir la rugosidad el palpador es movido por el
dispositivo de alimentacin que esta montado sobre
una columna.
Las caractersticas nominales del equipo de medicin
de rugosidad estn representadas en la Figura 2. Estos
equipos pueden transmitir los datos obtenidos a una
PC para evaluar los parmetros de acuerdo con norma
desde tres perfiles diferentes, el primario, el de
rugosidad y el de ondulacin mediante filtrado.

Columna
Dispositivo de
alimentacin
Ciclo de medicin
Palpador
Punta del palpador
Pieza

Base

Dispositivo

Figura 1
Entrada/Salida

Palpador
Superficie de
la pieza

Punta del
palpador

Medicin
del perfil

Transductor

Ciclo de
medicin

Gua de
referencia

Apariencia

Dispositivo
de
alimentacin

Entrada/Salida

Unidad de transferencia de la seal del eje Z

Amplificador

Convertidor
A/D

Medicin del
perfil
cuantificado

Supresin
del acabado
nominal

Filtro
del
perfil

Perfil
primario

Lnea de
referencia

Evaluacin
de
parmetros
de acuerdo
con norma

Figura 2

Unidad conductora

Forma de la punta
Una forma tpica para el extremo de un palpador es
cnica con una punta esfrica.
Radio de la punta = 2 m, 5 m 10 m
ngulo de la pendiente del cono: 60, 90
En medidores de rugosidad tpicos, el ngulo de la
pendiente del cono del extremo de la punta es 60 a
menos que otra cosa sea especificada.

Figura 3

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V.

Oficinas de servicio:
Naucalpan: ingenieria@mitutoyo.com.mx
Monterrey: m3scmty@mitutoyo.com.mx
Aguascalientes: mitutoyoags@mitutoyo.com.mx
Quertaro: mitutoyoqro@mitutoyo.com.mx
Tijuana: Mitutoyotj@mitutoyo.com.mx

CONTENIDO
Medicin de rugosidad
Pgina 1
Verificacin geomtrica de producto
sin contacto con equipo ptico y lser Pgina 9

Colaboradores de este nmero

Ing. Jos Ramn Zeleny Vzquez
Ing. Hugo D. Labastida Jimnez
Ing. Hctor Ceballos Contreras

Flujo del procesamiento de datos

Fuerza de medicin esttica

Fuerza de medicin en la posicin media de un
palpador: 0.75 mN
Proporcin de variacin de la fuerza: 0 N/m
Valor caracterstico estndar: Fuerza de medicin
esttica en la posicin media de un palpador
Radio de
curvatura
nominal de
la punta del
palpador
m
2
5

10

Fuerza de
medicin esttica
en la posicin
intermedia de la
punta
mN
0.75

Medicin

Nota 1

Definicin: Lugar geomtrico del

centro de la punta del palpador que
traza la superficie de la pieza

Perfil medido

Tolerancia de la
proporcin de las
variaciones de la
fuerza de
medicin esttica
mN/m
0.035

0.75 (4.0)

Definicin: Perfil que resulta de la

interseccin de la superficie real y un
plano rectangular a ella

Perfil de la superficie
sobre la superficie real

Conversin A/D
Definicin: Datos obtenidos
cuantificando el perfil medido

Perfil cuantificado

Suprime geometra irrelevante de la superficie

tal como inclinacin de un elemento plano y
curvatura de un elemento cilndrico usando el
mtodo de mnimos cuadrados

0.2

Filtro paso bajo con

valor de cutoff s

Nota 1 El valor mximo de la fuerza de medicin esttica en la

posicin promedio de un palpador tiene que ser 4.0 mN para un
palpador con estructura especial incluyendo una punta
reemplazable.

Parmetros del perfil

primario

Perfil primario

Caracterizacin metrolgica de filtros de fase

corregida (ISO 11562-1996)
Un filtro de perfil es un filtro de fase corregida sin
retraso de fase (causa de distorsin del perfil
dependiente de la longitud de onda.
La funcin peso de un filtro de fase corregida muestra
una distribucin normal (Gaussiana) en la cual la
amplitud de transmisin es 50% de la longitud de onda
cutoff.

Filtro paso alto con

valor de cutoff c

Filtro paso banda que pasa

longitudes de onda entre los
valores de cutoff c y f

Perfil de rugosidad

Perfil de ondulacin

Parmetros del perfil

de rugosidad

Parmetros del perfil

de ondulacin

PROXIMOS CURSOS

INSTITUTO DE METROLOGA MITUTOYO

19 - 20 Abril Naucalpan
21 22 Junio Naucalpan
21 22 - 23 Abril Naucalpan
23 24 25 Junio Naucalpan
04, 05 y 06 Mayo Tijuana
26 27 28 Abril Naucalpan

$ 6600 ms IVA

29 y 30 Abril Naucalpan

$ 4300 ms IVA

03 04 05 Mayo Naucalpan
23 24 25 Junio Monterrey
07 de Mayo Naucalpan

$ 7500 ms IVA

17 18 19 Mayo Naucalpan
28 29 30 Abril Monterrey
20 21 de Mayo Naucalpan
27 28 Mayo Monterrey
24 25 -26 Mayo Naucalpan

$ 6200 ms IVA

$ 6200 ms IVA

Verificacin Geomtrica de Producto con CMM

26 Mayo Naucalpan

$ 2100 ms IVA

Medicin de Acabado Superficial para Verificacin

Geomtrica de Producto
Equipo ptico y lser para Verificacin Geomtrica de
Producto sin contacto

27 Mayo Naucalpan

$ 2100 ms IVA

28 Mayo Naucalpan

$ 2100 ms IVA

Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones

Fechas de comn acuerdo

Metrologa Dimensional 1 (MD1)

Metrologa Dimensional 2 (MD2)
Calibracin de Instrumentos (CIVGP)
Control Estadstico del Proceso (CEP)
Tolerancias Geomtricas Norma ASME Y14.5-2009
Especificacin y Verificacin Geomtrica de Producto
Incertidumbre en Metrologa Dimensional
Anlisis de Sistemas de Medicin (MSA)
Aplicacin de ISO 17025 en Laboratorios de Calibracin

Informes e inscripciones: capacitacion@mitutoyo.com.mx

Tel: (0155) 5312 5612
www.mitutoyo.com.mx

$ 4300 ms IVA
$ 6200 ms IVA

$ 5100 ms IVA

$ 4400 ms IVA

Relacin entre el valor del cutoff y el radio de la

punta del palpador
La siguiente tabla lista la relacin entre el perfil de
rugosidad cutoff valor c, radio de punta del
palpador y proporcin de cutoff c/s.
c
mm

s
mm

c/s

0.08
0.25
0.8
2.5
8

2.5
2.5
2.5
8
25

30
100
300
300
300

rtip
mximo
m
2
2
2 Nota 1
5 Nota 2
10 Nota 2

Perfil de rugosidad
Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro
De paso bajo con un valor de cutoff s.

Perfil de ondulacin
Perfil obtenido aplicando un filtro paso banda al
perfil primario para remover las longitudes de onda
ms largas arriba de f y las longitudes de onda
debajo de c.

Longitud de
muestreo
mxima mm
0.5
0.5
0.5
1.5
5

Nota 1: Para una superficie con Ra>0.5 m Rz>3 m

un error significativo usualmente no ocurrir en una
medicin an si rtip = 5 m
Nota 2: Si un valor de cutoff s es 2.5 m u 8 m,
atenuacin de la seal debida al efecto de filtrado
mecnico de una punta con el radio recomendado
aparece fuera del perfil de rugosidad paso banda. Por lo
tanto un pequeo error en el radio o forma de la punta no
afecta los valores del parmetro calculado desde
mediciones si una proporcin de cutoff especifica es
requerida, la proporcin debe ser definida

Definicin de parmetros (pico y valle)

Parmetros de amplitud (pico y valle)
Altura mxima de picos del perfil primario Pp
Altura mxima de picos del perfil de rugosidad Rp
Altura mxima del perfil de ondulacin Wp
Mayor altura del perfil de picos Zp dentro de
una longitud de muestreo

Amplitud de transmisin %

Rp

Perfiles de la superficie ISO 4287:1997 (JIS B0601)

Perfil primario

100

Perfil de
ondulaci

Perfil de
rugosidad

50

Longitud de muestreo
s

c
Longitudes de onda

Mxima profundidad de valles del perfil primario Pv

Mxima profundidad de valles del perfil de rugosidad Rv
Mxima profundidad de valles perfil de ondulacin Wv

Mayor profundidad del perfil de valles Zv

dentro de una longitud de muestreo

Rv

Perfil primario
Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando
un filtro paso bajo con valor de cutoff s

NOMBRE DEL CURSO

CMM SOFTWARE

VISION SOFTWARE

FORM SOFTWARE

M3SC Naucalpan

M3SC Monterrey

M3SC Tijuana

COSTO

GEOPAK-WIN V 3.0

Abril 12, 13 y 14

Abril 19, 20 y 21

Abril 26, 27 y 28

$ 7500.00 ms IVA

SCANPAK

Abril 15

Abril 22

Abril 29

$ 2500.00 ms IVA

CAT100 PS

Abril 16

Abril 23

Abril 30

$ 2500.00 ms IVA

QVPAK V 7.0

Mayo 03, 04 y 05

Mayo 10, 11 y 12

Mayo 17, 18 y 19

$ 7500.00 ms IVA

Mayo 20 y 21

$ 5000.00 ms IVA

QSPAK V 7.0

Mayo 06 y 07

Mayo 13 y 14

FORMPAK-1000

Junio 07 y 08

Junio 14 y 15

$ 5000.00 ms IVA

ROUNDPAK V 5.0

Junio 09 y 10

Junio 16 y 17

$ 5000.00 ms IVA

SURFPAK

Junio 11

Junio 18

$ 2500.00 ms IVA

Altura mxima del perfil primario Pz

Altura mxima del perfil de rugosidad Rz
Altura mxima del perfil de ondulacin Wz

Rv

Rz

Rp

Suma de la altura del pico ms alto y la mayor profundidad

del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo

Longitud de muestreo

En JIS antigua e ISO 4287-1:1984 Rz fue usada para

indicar la altura de irregularidades de diez puntos.
Debe tenerse cuidado dado que las diferencias entre los
resultados obtenidos de acuerdo a las normas actuales y
normas antiguas no son siempre despreciablemente
pequeas. Asegrese de verificar si las instrucciones del
dibujo estn de acuerdo con las normas actuales o las
antiguas.
Altura promedio de elementos del perfil primario Pc
Altura promedio de elementos del perfil de rugosidad Rc
Altura promedio de elementos del perfil de ondulacin Wc
Valor promedio de las alturas de elementos del perfil
Zt dentro de una longitud de muestreo

Zt6

Zt3

Zt2

Zt1

Zt5

1 m
Zti
m i =1

Zt4

Pc, Rc,Wc =

Longitud de muestreo

Duracin 8 horas
Solo en instalaciones del
usuario fecha y horario de
comn acuerdo
Costo $ 12850.00 ms IVA ms
gastos de viaje desde la Ciudad
de Mxico.
Lneas
y
Smbolos,
Proyecciones en el tercer
cuadrante (sistema americano),
Cortes y secciones, Vistas
auxiliares, Tolerancias y ajustes
Disponible tambin usando
proyecciones en el primer
cuadrante (sistema europeo).

Altura total del perfil primario Pt

Altura total del perfil de rugosidad Rt
Altura total del perfil de ondulacin Wt

Longitud de
muestreo

Rz

Rt

Rz

Rz

Suma de la altura ms grande altura del perfil de picos Zp y la mayor

profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de evaluacin

Longitud de evaluacin

Altura total del perfil primario Pq

Altura total del perfil de rugosidad Rq
Altura total del perfil de ondulacin Wq

Parmetros de amplitud (promedio de ordenadas)

Altura total del perfil primario Pa
Altura total del perfil de rugosidad Ra
Altura total del perfil de ondulacin Wa

Valor de la raz cuadrtica media de los valores de la

ordenada Z(x) dentro de una longitud de muestreo

Media aritmtica de los valores absolutos de las

ordenadas Z(x) dentro de una longitud de muestreo

Pq, Rq,Wq =

Pa, Ra, Wa =

1
Z ( x) dx
l 0

Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso

1 2
Z ( x)dx
l 0

Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso

Sesgo del perfil primario Psk

Sesgo del perfil de rugosidad Rsk
Sesgo del perfil de ondulacin Wtsk

Curso de Tolerancias
Geomtricas (GD&T)
basado en la nueva
norma ASME Y14-5-2009

Cociente del promedio del valor cbico de los valores

ordenados Z(x) y el cubo de Pq, Rq o Wq
respectivamente, dentro de una longitud de muestreo

Despus de 15 aos la norma ASME sobre

dimensionado
y
tolerado
fue
actualizada
incluyendo diversas mejoras entre las que
destacan la diferenciacin de los modificadores de
la condicin de material cuando es aplicada a la
tolerancia o a los datos llamando a esto ultimo
frontera de mximo o mnimo material.
Se introducen algunos smbolos nuevos incluyendo
el de perfil desigualmente dispuesto y la aplicacin
de una zona de tolerancia no uniforme.
Se usa el concepto de grados de libertad con
relacin al establecimiento de marcos de referencia
dato. Se permite la aplicacin de marcos de
referencia dato, personalizados y datos movibles.
Se introduce el concepto de sistema coordenado
con relacin al marco de referencia dato.
Se permite usar ms segmentos en los marcos de
control de elemento compuestos.
Todo el material fue reacomodado en 9 secciones
en vez de las 6 de la versin anterior.
Para saber ms: capacitacion@mitutoyo.com.mx

lr

1 1
Rsk =
Z 3 ( x)dx
3

Rq lr 0

La ecuacin anterior define Rsk. Psk y Wsk son

definidos en una manera similar. Psk, Rsk y Wsk son
medidas de la asimetra de la funcin de densidad de
probabilidad de los valores ordenados
Kurtosis del perfil primario Pku
Kurtosis del perfil de rugosidad Rku
Kurtosis del perfil de ondulacin Wku

Cociente del promedio del valor a la cuarta de los

valores ordenados Z(x) y la cuarta potencia de Pq, Rq
o Wq respectivamente, dentro de una longitud de
muestreo.

Rku =

1
Rq 4

1 lr 4

Z ( x)dx
lr 0

La ecuacin anterior define Rku. Pku y Wku son

definidos en una manera similar. Pku, Rku y Wku son
medidas de la asimetra de la funcin de densidad de
probabilidad de los valores ordenados
Parmetros de espaciamiento
Altura total del perfil primario PSm
Altura total del perfil de rugosidad RSm
Altura total del perfil de ondulacin WSm
Valor promedio de los anchos de elementos de perfil
Xs dentro de una longitud de muestreo

PSm, RSm,WSm =
XS1 XS2

XS3

XS4

1 m
X Si
m i =1
XS5

Calibracin de
anillos patrn de
6 a 120 mm con
mquina que
incorpora una
holo escala lser
con resolucin de
0,1 m y
repetibilidad de
0,2 m
SERVICIOS
ACREDITADOS

XS6

Longitud de muestreo
Parmetros Hbridos
Raz cuadrtica media pendiente del perfil primario Pq
Raz cuadrtica media pendiente del perfil de rugosidad
Rq
Raz cuadrtica media pendiente del perfil de ondulacin
Wq

dZ(x)
dx
dZ(x)
dx

dZ(x)
dx

Valor de la raz cuadrtica media de la pendientes

ordenadas dZ/dX dentro de una longitud de muestreo

dZ(x)
dx

dZ(x)
dx

Servicio de calibracin de patrones de

rugosidad y medicin de rugosidad
El laboratorio de calibracin de Mitutoyo
Mexicana, S.A. de C.V. ha instalado un
equipo de medicin de rugosidad para
proporcionar a sus clientes usuarios
servicio de calibracin de patrones de
rugosidad, as como, servicio de
medicin
de
rugosidad,
ambos
acreditados.
De acuerdo con los requerimientos
actuales de los sistemas de gestin de
calidad, todos los equipos y patrones de
medicin,
deben
ser
calibrados
peridicamente y antes de usarlos
cuando son nuevos.
En muchos casos, los equipos de
medicin de rugosidad son calibrados de
acuerdo con lo anterior, sin embargo, no
ocurre lo mismo con los patrones. Los
patrones de rugosidad son utilizados
para determinar si, en un momento
dado, es necesario ajustar la ganancia
de los equipos, para verificaciones
peridicas de los mismos y para la
calibracin de los rugosmetros. El
servicio, ya esta disponible con
ACREDITACIN
a
los
patrones
nacionales

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a

travs de su departamento de
ingeniera de servicio tiene disponible
servicio de medicin de piezas, para
lo cual cuenta con variedad de
equipo, tal como Mquinas de
Medicin por Coordenadas (CMM),
equipo de medicin por visin (QV,
QS, QI), mquina de medicin de
redondez y otras caractersticas
geomtricas, equipo de medicin de
contorno (perfil), mquinas de
medicin de dureza, equipo de
medicin
de
rugosidad,
comparadores
pticos
y
microscopios, lo cual permite una
gran variedad de opciones para
resolver eficientemente cualquier tipo
de medicin dimensional.

Incluye 20% de descuento en

refacciones y en servicio de
reparacin durante la vigencia
del contrato

Prioridad en
programacin

Se requiere dibujo o modelo

CAD o instrucciones detalladas
de, que es lo que se desea
medir para
obtener
una
cotizacin y acordar tiempo de
entrega. Este servicio se ofrece
con trazabilidad a patrones
nacionales de longitud. Se
entrega reporte de medicin.

Sin gastos de
viaje dentro de
un radio de 50
km desde
nuestros centros
de servicio

PAQUETES DE
CALIBRACIN
3 equipos 10%
6 equipos 15%
Ms de 6 equipos 20%

Uso de software de
inspeccin original de
Mitutoyo

Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso

Parmetros especficos JIS

Altura de irregularidades de diez puntos

Curvas, Funcin de Densidad de Probabilidad y parmetros

relacionados
Curva de proporcin de material del perfil (Curva Abbot-Firestone)

Suma de la altura promedio absoluta de los cinco picos

ms altos del perfil y la profundidad promedio absoluta
de los cinco valles ms profundas, medidas desde la
lnea media dentro de la longitud de muestreo de un
perfil de rugosidad. Este perfil es obtenido desde el
perfil primario usando un filtro paso banda de fase
corregida con valores de cutoff de lc y ls.

Curva representando la proporcin de material del

perfil como una funcin del nivel corte, c
Lnea media

Rz JIS =

Zp1 + Zp2 + Zp3 + Zp4 + Zp 5 + Z v1 + Zv2 + Zv3 + Zv4 + Zv 5

5

0 20 40 60 100
Rmr(c), %

Longitud de muestreo

Proporcin de material del perfil primario Pmr(c)

Proporcin de material del perfil de rugosidad Rmr(c)
Proporcin de material del perfil de ondulacin Wmr(c)

Longitud de muestreo

Proporcin de la longitud de material de los elementos del perfil

Ml(c) en un nivel dado c a la longitud de evaluacin

Pmr (c), Rmr (c),Wmr (c) =

Ml (c)
ln

Smbolo
RzJIS 82
RzJIS 94

Distancia vertical entre dos niveles de seccin de una

proporcin dada de material

Perfil usado
Perfil de superficie como es medido
Perfil de rugosidad derivado a partir de un perfil
primario usando un filtro paso alto de fase corregida

Desviacin promedio aritmtico del perfil Ra75

Promedio aritmtico de los valores absolutos de las
desviaciones del perfil desde la lnea media dentro de la
longitud de muestreo del perfil de rugosidad (75%). Este
perfil es obtenido a partir de la medicin de un perfil
usando un filtro analogo paso alto con un factor de
atenuacin de 12db/oct y un valor de cutoff de c.

Rdc = c(Rmr1) c(rmr2); Rmr1<Rmr2

ln

Ra75 =

1
Z ( x)d x
ln 0

Tabla 1. Longitudes de muestreo para parmetros

del perfil de rugosidad no peridicos (Ra, Rq, Rsk,
Rku,Rq), curva de proporcin de material, funcin
de densidad de probabilidad y parmetros
relacionados

Proporcin de material relativo del perfil primario Pmr

Proporcin de material relativo del perfil de rugosidad Rmr
Proporcin de material relativo del perfil de ondulacin Wmr

Ra
mm

Proporcin de material determinada en un nivel de

seccin de perfil Rc (o Pc o Wc), relacionada al
nivel de seccin de referencia c0

(0.006)<Ra0.02
0.02<Ra0.1
0.1<Ra2
2<Ra10
10<Ra80

Pmr,Rmr,Wmr=Pmr(c1),Rmr(c1),Wmr(c1)
Donde c1 = c0 Rdc (o Pdc o Wdc)
c0 = c(Pm0, Rmr0, Wmr(0)
Funcin de densidad de probabilidad
Curva de distribucin de amplitud del perfil

Longitud de
muestreo lr
mm
0.08
0.25
0.8
2.5
8

Tabla 2. Longitudes de muestreo para parmetros

del perfil de rugosidad no peridicos (Rz, Rp, Rc, Rt)

Funcin de densidad de probabilidad muestra de la

ordenada Z(x) dentro de la longitud de evaluacin

Rz
Rz1max
mm

Longitud
de
muestreo
lr mm

(0.025)<Rz, Rz1max0.1
0.1< Rz, Rz1max 0.5
0.5< Rz, Rz1max 10
10< Rz, Rz1max 50
50< Rz, Rz1max 200

0.08
0.25
0.8
2.5
8

Lnea media

Longitud de evaluacin

Longitud de
evaluacin ln
mm
0.08
0.25
0.8
2.5
8

Densidad de amplitud

Longitud
de
evaluacin
ln
mm
0.08
0.25
0.8
2.5
8

Tabla 3. Longitudes de muestreo para medicin de

parmetros del perfil de rugosidad peridicos y
parmetros RSm de perfil peridico o no peridico

Rsm
mm
(0.013)<RSm0.04
0.04<RSm0.13
0.13<RSm0.4
0.4<RSm1.3
1.3<RSm4

Longitud de
muestreo lr
mm
0.08
0.25
0.8
2.5
8

Longitud de
evaluacin ln
mm
0.08
0.25
0.8
2.5
8

Estimar Ra, Rz, Rz1max RSm de acuerdo a las

formas de onda registradas, inspeccin visual, etc

Estimar la longitud de muestreo desde un valor

estimado y las tablas 1 a 3

Medir Ra, Rz, Rz1max RSm de acuerdo al valor

estimado de la longitud de muestreo

Cada valor medido esta

dentro de los intervalos de las
tablas 1, 2 3?

No

Cambiar a una
longitud de muestreo
mayor o menor

Rugosmetro porttil SJ-210

Perfiles: P, R, DF y R-Motif
Parmetros: Ra, Rq, Rz, Ry, Rv,
Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm,
Rmax*1 Rz1max, S, HSC, RzJIS*2,
Rppi, Ra, Rq, Rlr, Rmr, Rmr(c),
Rc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,
A2, Vo, Rpm, tp, Htp, R, Rx, AR
Normas: JIS'82, JIS'94, JIS'01,
ISO, ANSI, VDA
Filtros digitales: 2CR75 / PC75 /
Gaussian

Si

Ha sido usada una longitud

de muestreo ms corta?

No

Cambiar a una
longitud de muestreo
ms corta

Si
Medir el parmetrom de acuerdo al valor de la
longitud de muestreo final
Figura 1. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un
perfil no peridico si no es especificada

Rugosmetro porttil SJ-500

Con impresora interconstruida

Estimar RSm desde un perfil de rugosidad medido

Estimar la longitud de muestreo desde un valor

estimado y la tabla 3

Medir RSm de acuerdo al valor estimado de la

longitud de muestreo

Cada valor medido esta

dentro de los intervalos de la
tabla 3?

No

Cambiar la longitud
de muestreo para
satisfacer las
condiciones de la
tabla 3

Si
Medir el parmetro de acuerdo a longitud de
muestreo final
Figura 2. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un
perfil peridico si no es especificada

VERIFICACIN GEOMTRICA DE PRODUCTO SIN

CONTACTO CON EQUIPO OPTICO Y LSER
La medicin de piezas sin contacto es
requerida cuando se desea realizar
mediciones repetibles sobre piezas
hechas de materiales facilmente
deformables
Los equipos pticos tradicionalmente
usados para la medicin de piezas
pequeas sin contacto son el
comparador ptico y el microscopio.
Ambos pueden ser utilizados en
conjunto con un procesador de datos
2D para hacer fciles mediciones que
de otra manera son dificiles o
requieren el uso de plantillas o
retculas.

Comparador ptico

El desarrollo de "palpadores lser" que

pueden ser utilizados para tomar una gran
cantidad de puntos sobre una pieza al ser
montados en equipos de medicin 3D tales
como brazos articulados y mquinas de
medicin
por
coordenadas
permite
actualmente verificar con facilidad la
geometra de superficies de forma libre o
aplicaciones de ingeniera inversa.

Microscopio de
taller

Algunos microscopios pueden ser solo

utilizados para observacin como los
estreo microscopios pero otros como
los
microscopios
de
taller
o
microscopios de medicin que estn
provistos de sistemas de medicin de
desplazamiento pueden ser utilizados
para hacer mediciones en 2D e incluso
3D basndose en el enfoque de la
superficie observada.
Algunos microscopios pueden ser
equipados con una unidad de Visin
para
hacer
mediciones
ms
rpidamente al utilizar un software con
herramientas de un clic.

La utilizacin de micrometros lser permite

hacer mediciones de gran exactitud en
piezas de tamao pequeo, siendo
aplicaciones muy comunes la medicin de
alambres, cintas, hojas plasticas, de papel
o metalicas durante sus procesos de
manufactura. Siendo importante hacer las
mediciones an cuando la pieza a medir
esta en movimiento.

La medicin sin contacto a cobrado auge

por la miniaturizacin de diversos
componentes, utilizacin de materiales no
rigidos, necesidad de mantener limpias
partes manufacturadas o evitar daos tales
como pequeas rayaduras que pueden ser
producidas cuando se hace medicin con
contacto.
Microscopio de medicin

Diversas industrias como la automotriz,

electrnica, medica plsticos etc. estn
usando cada vez ms medicin sin
contacto.
A travs de nuestro curso de verificacin
geomtrica de producto sin contacto con
equipo ptico y lser
conocer ms
acerca de este tema. Solicite informes:
capacitacion@mitutoyo.com.mx

Equipos especficamente diseados

para medir mediante Visin (sin
contacto) estn disponibles ya sea
para realizar mediciones manual o
automticamente, permitiendo medir
una gran cantidad de piezas en poco
tiempo
con
alta
exactitud
y
repetibilidad usando poderoso software
con herramientas de un clic.

Micrmetro
lser

Palpador lser

Equipo de medicin por Visin