Fluorescencia de Rayos X
Consiste en irradiar la muestra con radiacin gamma o X, provocando la expulsin de un electrn interno de los tomos presentes en la matriz. El electrn expulsado es sustituido por otro, de una capa superior y este proceso genera la emisin de fotones de rayos X caractersticos de cada elemento presente. El mtodo de fluorescencia requiere de tubos de rayos X de alta intensidad, de unos detectores muy sensibles y de sistemas pticos de rayos X adecuados. Es caractersticos de la fluorescencia de rayos X , es que la muestra absorbe Energa electromagntica(EM) , lo cual lo reemite en corto tiempo. Esta tcnica se usa para el anlisis elemental de un metal Aprovecha la propiedad de los tomos excitados de emitir rayos X de energas caractersticas.
Estas radiaciones estan originadas por transiciones entre los niveles electrnicos internos. Procesos
1) Dispersin de los rayos X a) La dispersin elstica o dispersin Rayleigh, donde un fotn colisiona con un electrn interno, firmemente unido al tomo, y produce un cambio de la direccin del fotn sin perdida de energa. (b) La dispersin inelstica o dispersin Compton, donde la colisin de un fotn con un electrn externo, dbilmente unido al tomo, produce un cambio en la direccin del fotn con prdida de energa.
2) Fotoionizacin El principal responsable de que los rayos X se atenen, al atravesar la materia, es la aparicin del efecto fotoelctrico. Este efecto se caracteriza por el hecho de que un fotn de suficiente energa es capaz de expulsar un electrn del tomo y aumentar su nivel energtico hasta la banda de conduccin del material. En dicha interaccin el fotn incidente es completamente aniquilado y el tomo, en su reestructuracin energtica, reemite un fotn secundario de menor energa y en una direccin diferente. Esta emisin secundaria es fluorescencia de rayos X . Lo que predomina es la fotoionizacin
Anlisis cualitativo para RFX La medida de la radiacin emitida por el sistema es la base de la Fluorescencia de rayos X. La longitud de onda de la radiacin emitida depender de la diferencia de energa entre los dos niveles involucrados en la transicin electrnica ( , , L , L ,..) Al ser las energas de los distintos niveles atmicos caractersticas de cada tipo de tomos, la radiacin X emitida ser caracterstica para cada elemento. Aunque el nmero de radiaciones caractersticas posibles para cada elemento es grande, en la prctica la intensidad de muchas de ellas es muy pequea, y no se puede registrar con los equipos de medida. Adems, el numero de radiaciones que se registran se limita aun mas, debido a que la diferencia de energas entre algunas de ellas es tan pequea que aparecen juntas. Obteniendo una serie de mximo (picos) de fluorescencia. Estos picos se corresponden con las distintas longitudes de onda difractadas y construyen el espectro caracterstico de la muestra.
Aqu ponemos un ejemplo de anlisis cualitativo
Tambin vemos como ejemplo:
El anlisis de la piedra Amatista.
El espectro muestra la composicin: Cu, Fe y Al aparir de sus lneas caractersticas: Cu , Fe , Al Emisin electrnica Auger
Cuando un electrn es arrancado de una de las capas internas de un tomo, dejando una vacante o hueco, un electrn de un nivel de energa externo puede caer en esta vacante, resultando en un exceso de energa. Este exceso de energa es frecuentemente liberada por la emisin de un fotn (fluorescencia de rayos X), aunque tambin puede ser transferida a otro electrn, el cual es emitido del tomo. El segundo electrn emitido es llamado electrn Auger.
La siguiente figura muestra una transicin Auger KLL. El primer electrn fue quitado de la capa K. Un electrn L baja a ocupar la vacante y el exceso de energa es trasferido a un segundo electrn L, el cual es emitido del tomo.
