1. ¿Qué es XPS?

XPS, siglas de "X-ray Photoelectron Spectroscopy" (Espectroscopía de Fotoelectrones de

Rayos X), también conocido como ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis), es
una técnica analítica utilizada para determinar la composición química y la estructura
electrónica superficial de materiales. En XPS, se bombardea la superficie del material con
rayos X de alta energía, lo que provoca la emisión de fotoelectrones de las capas
superficiales del material. Estos fotoelectrones son analizados en términos de su energía
cinética utilizando un espectrómetro de electrones. La energía cinética de los fotoelectrones
es característica de los átomos presentes en la superficie y su estado de oxidación, lo que
permite identificar los elementos químicos y obtener información sobre su entorno químico.

2. ¿En qué consiste la fluorescencia de rayos x?

El proceso de fluorescencia de rayos X es un fenómeno físico que ocurre cuando un
material es expuesto a radiación de rayos X de alta energía. Consiste en la emisión de
rayos X secundarios, conocidos como rayos X fluorescentes, por parte del material después
de absorber la radiación incidente.
El proceso se lleva a cabo en tres etapas principales:
Excitación: El material objetivo se expone a una fuente de radiación de rayos X de alta
energía, como un tubo de rayos X. Los fotones de rayos X incidentes interactúan con los
átomos del material, transfiriendo energía a los electrones internos del átomo.
Ionización interna: La energía transferida por los rayos X es suficiente para liberar los
electrones internos del átomo de sus órbitas atómicas, creando así agujeros de electrones
en las capas internas.
Emisión de rayos X: Los electrones de las capas externas superiores caen hacia las capas
internas para llenar los agujeros dejados por los electrones liberados. Durante esta
transición, se libera energía en forma de rayos X característicos del material específico.
Estos rayos X fluorescentes tienen energías características que son únicas para cada
elemento químico, lo que permite identificar los elementos presentes en el material

3. ¿Qué átomos no pueden ser analizados por fluorescencia de rayos x?.

Los elementos ligeros, como el hidrógeno (H), el helio (He), el litio (Li) y el berilio (Be), son
difíciles de detectar con fluorescencia de rayos X debido a que sus electrones de valencia
tienen niveles de energía muy bajos y no emiten rayos X en el rango detectable.
Además, los elementos con números atómicos muy bajos, como el carbono (C), el nitrógeno
(N) y el oxígeno (O), también pueden ser difíciles de analizar por fluorescencia de rayos X.
Esto se debe a que los rayos X emitidos por estos elementos están muy cerca de la energía
de la radiación incidente, lo que puede dificultar su detección y su distinción de la radiación
de fondo. Unido a esto, al haber vacancias no existiría fotoelectrones que las llenen. XPS se
da con átomos de Z mayor o igual a 11

4. Existen tres tipos de fuentes de rayos, mencionar cuales.

Tubos de rayos X: Los tubos de rayos X son una fuente comúnmente utilizada en medicina,
investigación científica e industria. Estos tubos consisten en un cátodo y un ánodo ubicados
dentro de un tubo de vidrio evacuado. Cuando se aplica un alto voltaje entre el cátodo y el
ánodo, se genera un flujo de electrones acelerados desde el cátodo hacia el ánodo. Cuando
los electrones chocan con el ánodo metálico, se produce radiación de rayos X.
Aceleradores de partículas Sincrotrón: Los aceleradores de partículas son dispositivos
utilizados en la investigación científica para generar haces de partículas cargadas de alta
energía. Estos haces pueden incluir electrones, protones, iones u otras partículas
subatómicas. En la generación de rayos X, se utilizan aceleradores de partículas de
electrones.

Isótopos radiactivos: Algunos isótopos radiactivos, como el cobalto-60 o el cesio-137, se

utilizan como fuentes de rayos gamma en aplicaciones industriales y médicas. Estos
isótopos emiten radiación de alta energía en forma de rayos gamma durante su proceso de
desintegración radiactiva.

5. tipos de instrumentación en xps

*Espectroscopia de dispersión de longitud de onda: se basa en la separación de longitudes

de onda se necesita un espectrómetro de cristal, similar a un monocromador.

*Espectroscopia de dispersión de energía: en este caso no se toma en cuenta el

espectrómetro de cristal porque solo es necesario tomar en cuenta la energía que perciba el
detector

6. ¿Cómo se produce la generación de electrones Auger a partir de un proceso de

estabilización electrónica por emisión de rayos x?

La generación de electrones Auger está relacionada con el proceso de desecitación

electrónica que ocurre después de la emisión de rayos X en un átomo o molécula. El
proceso se conoce como decaimiento Auger y se puede describir de la siguiente manera:

Absorción de rayos X: Un átomo o molécula absorbe un fotón de rayos X, lo que provoca la

ionización de un electrón interno en una capa de energía más baja. Este electrón es
expulsado del átomo o molécula.

Vacancia electrónica: Después de que se emite el electrón, se crea una "vacancia

electrónica" en el átomo o molécula. Esta vacancia se refiere a un estado donde falta un
electrón en una capa interna.

Proceso de estabilización: Para estabilizarse, el átomo o molécula puede experimentar un

proceso de reordenamiento electrónico. En el caso del decaimiento Auger, este proceso
implica la transferencia de energía a otro electrón en una capa externa.

Emisión de electrones Auger: El electrón en la capa externa se libera y se convierte en un

electrón Auger. Este electrón Auger se emite del átomo o molécula con una energía cinética
característica.

7. ¿Por qué la energía cinética de los electrones Auger no depende del tipo de fuente que
se utilice para inducir los procesos de emisión de las líneas k?
La fuente que se utilice para inducir los procesos de emisión de las líneas K, ya sea un tubo
de rayos X, un acelerador de partículas u otro, proporciona la energía necesaria para excitar
y excitar los electrones internos. Sin embargo, una vez que se establece el proceso de
desexcitación Auger, la energía cinética del electrón Auger no depende de la fuente
utilizada, sino de las características inherentes del átomo o molécula en cuestión.

Por lo tanto, la energía cinética de los electrones Auger se considera una propiedad
intrínseca del átomo o molécula, y no está influenciada por la fuente utilizada para inducir la
emisión de las líneas K.

8. ¿Qué rango de elementos se pueden medir usando XPS?

XPS puede detectar y analizar una amplia gama de elementos, que abarca desde el
hidrógeno (H) hasta los elementos más pesados.
Sin embargo, la capacidad de detección y resolución de XPS puede variar según los
elementos. Los elementos más ligeros, como el hidrógeno y el helio, presentan desafíos en
la detección debido a su baja sección eficaz de absorción de rayos X y su corto camino libre
medio. XPS es más efectivo para la detección y análisis de elementos de número atómico
(Z) relativamente alto. Se puede lograr una buena resolución y sensibilidad para elementos
con Z a partir de alrededor de 5 o 6 (boro o carbono) hasta los elementos más pesados

9.¿ Cuál es el rango de elementos que se pueden medir usando fluorescencia de rayos x?

La fluorescencia de rayos X tiene un rango de detección y análisis de elementos mucho

más amplio en comparación con XPS. En teoría, todos los elementos de la tabla periódica
pueden ser detectados y analizados mediante fluorescencia de rayos X, desde el hidrógeno
(H) con número atómico 1 hasta el uranio (U) con número atómico 92. pero, la detección y
el análisis de ciertos elementos pueden ser más desafiantes debido a su baja sección eficaz
de absorción de rayos X o a la superposición de líneas de emisión en el espectro. Además,
los elementos ligeros, como el hidrógeno y el helio, son más difíciles de detectar debido a
su baja masa atómica y su menor eficiencia de emisión de rayos X.

10. ¿Por qué no se pueden analizar muestras líquidas en XPS?

Las muestras líquidas no son adecuadas para el análisis directo en XPS debido a las
siguientes razones:

Interferencia del vacío: Las muestras líquidas contienen disolventes y otras moléculas
volátiles que pueden evaporarse y contaminar el vacío dentro de la cámara de XPS. Esto
puede interferir con la detección y el análisis de los fotoelectrones emitidos.

Preparación de la muestra: La preparación de la muestra para XPS implica generalmente la

deposición de la muestra sobre un sustrato sólido y la eliminación de cualquier exceso de
solventes o contaminantes. Esto permite obtener una superficie limpia y estable para el
análisis. En el caso de las muestras líquidas, la preparación adecuada puede ser difícil de
lograr sin alterar la composición y la estructura de la muestra.
Daños al equipo: Los líquidos pueden causar daños al sistema de vacío y a los
componentes del instrumento de XPS. Los solventes pueden corroer los materiales y los
productos de evaporación pueden afectar el rendimiento de los detectores y otros
componentes críticos.

11. ¿Por qué la línea base en un espectro de XPS muestra un incremento a medida que
se aumenta la energía de los electrones?

En XPS, la línea base se refiere a la señal de fondo que se observa debajo de los picos de
intensidad correspondientes a los electrones emitidos desde los niveles de energía atómica.
El aumento en la línea base a medida que se incrementa la energía de los electrones puede
estar influenciado por varios factores:

Inelasticidad de la dispersión de electrones: A medida que la energía de los electrones

aumenta, la probabilidad de que experimenten interacciones inelásticas con los átomos en
la muestra también aumenta. Estas interacciones pueden incluir dispersión inelástica de
electrones (como dispersión Compton) y excitaciones electrónicas en la muestra. Estos
procesos pueden contribuir a la señal de fondo y resultar en un aumento gradual de la línea
base a medida que se incrementa la energía de los electrones.

Emisión secundaria: La emisión secundaria de electrones puede contribuir a la señal de

fondo en los espectros de XPS. Cuando un electrón primario golpea la muestra, puede
liberar electrones secundarios debido a interacciones electrónicas y colisiones en cascada.
Estos electrones secundarios pueden tener energías más altas y contribuir a la línea base
en el espectro de XPS a medida que aumenta la energía de los electrones primarios.

Inhomogeneidad de la muestra: La presencia de impurezas, contaminantes o

heterogeneidades en la muestra puede contribuir a una línea base más alta a medida que
aumenta la energía de los electrones. Estos factores pueden introducir señales adicionales
y ruido de fondo en el espectro, lo que resulta en un aumento gradual de la línea base.

- El electrón cerca del nivel de Fermi no tiene información precisa sobre el átomo.
- L energía de amarre se calcula respecto al nivel de fermi

12. La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) es una técnica ampliamente

utilizada en diversas áreas de la ciencia y la industria. Algunos de los principales usos de
XPS son:

Caracterización de superficies: XPS permite determinar la composición química de la capa

superficial de materiales sólidos. Puede identificar los elementos presentes y proporcionar
información sobre los estados de oxidación, los enlaces químicos y la estructura electrónica
de los materiales.

Análisis de interfaces: XPS es útil para estudiar las interfaces entre diferentes materiales y
capas. Puede proporcionar información sobre la interacción atómica y molecular en la
interfaz, así como sobre la presencia de contaminantes o capas de óxido.
Estudio de materiales avanzados: XPS se aplica en la investigación de materiales
avanzados, como semiconductores, nanomateriales, recubrimientos, catalizadores y
materiales biomédicos. Puede ayudar a comprender las propiedades electrónicas y
químicas de estos materiales y optimizar su diseño y rendimiento.

Análisis de superficies biológicas: XPS se utiliza en biología y medicina para estudiar la

composición química de las superficies biológicas, como tejidos, membranas celulares y
biomateriales. Puede proporcionar información sobre los componentes químicos presentes
y su interacción con el entorno.

Diagnóstico de fallos en materiales: XPS se utiliza para investigar y diagnosticar fallos en

materiales, como la corrosión, la degradación química, el envejecimiento y la
contaminación. Puede identificar los productos de descomposición, los contaminantes y las
modificaciones químicas en la superficie de los materiales.

Análisis de muestras arqueológicas y forenses: XPS se emplea en arqueología y ciencias

forenses para identificar la composición química de muestras históricas, artefactos y
evidencia criminal. Puede ayudar a determinar la autenticidad, el origen y la conservación
de estos materiales.

13. La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente utilizada en

una variedad de campos debido a su capacidad para determinar la composición elemental
de muestras sólidas, líquidas y en polvo. Algunos de los principales usos de XRF son:

Geología y minería: XRF se utiliza para el análisis de minerales, rocas y suelos en la

exploración geológica, la minería y la caracterización de yacimientos. Permite la
identificación de elementos traza y principales, la determinación de concentraciones y la
evaluación de la calidad de los recursos naturales.

Metalurgia y fundición: XRF es ampliamente utilizado en la industria metalúrgica para el

control de calidad de aleaciones metálicas, el análisis de metales preciosos y la
determinación de impurezas en metales y materiales de construcción. Ayuda a garantizar la
conformidad con las especificaciones y a optimizar los procesos de producción.

Control de calidad industrial: XRF se aplica en la industria para el análisis elemental de

productos, como acero, aluminio, plásticos, cerámicas, vidrios y productos electrónicos.
Permite verificar la composición y calidad de los materiales, detectar contaminantes y
asegurar el cumplimiento de las normas y estándares.

Arqueología y conservación del patrimonio: XRF se utiliza en la caracterización y

autenticación de artefactos, pinturas, cerámicas y otros objetos culturales. Ayuda a
determinar la composición de los materiales, los pigmentos utilizados y las técnicas de
fabricación, lo que permite la conservación y restauración adecuadas.

Ciencias ambientales: XRF se aplica en la investigación y el monitoreo ambiental para el

análisis de muestras de suelos, sedimentos, agua y aire. Permite determinar la presencia de
elementos tóxicos, contaminantes y metales pesados, y evaluar los riesgos ambientales.
14. La espectroscopia Auger, también conocida como espectroscopia de electrones Auger,
es una técnica analítica utilizada para investigar la composición química y la estructura de
superficies sólidas. Algunos de los usos de la espectroscopia Auger son los siguientes:

Caracterización de superficies: La espectroscopia Auger se utiliza para analizar la

composición elemental de la capa superficial de materiales sólidos. Permite identificar los
elementos presentes en la superficie y proporciona información sobre su distribución
espacial y estados de oxidación.

Estudio de capas delgadas: La espectroscopia Auger es útil para investigar las interfaces y
capas delgadas en materiales compuestos o recubrimientos. Permite determinar la
composición química y la estructura de estas capas y comprender su interacción con la
superficie subyacente.

Análisis de materiales semiconductores: La espectroscopia Auger es ampliamente utilizada

en la caracterización de materiales semiconductores, como chips y dispositivos electrónicos.
Permite determinar la concentración y distribución de impurezas, así como investigar los
efectos de los procesos de fabricación en la estructura y composición del material.

**Un elemento de simetría es un objeto geométrico como un punto, una línea o un plano con
respecto al cual se pueden realizar algunas operaciones de simetría particulares.
**Una operación de simetría es un movimiento de una especie tal que después de
completarse, el original y el producto de este movimiento son indistinguibles. Generado por
un elemento de simetría.
**El número y la naturaleza de los elementos de simetría de una molécula dada se indican
convenientemente por su grupo puntual

15. La radiación electromagnética se puede explicar con base en el comportamiento

ondulatorio de los campos eléctricos y magnéticos. ¿Con base en sus conceptos sobre la
descripción vectorial de estos campos, como se describe la polarización de la radiación y
cuando decimos que la radiación está lineal o circularmente polarizada? ¿Por qué es
importante en experimentos de espectroscopia saber si la radiación está o no polarizada?

a) La polarización de la radiación electromagnética se refiere a la orientación del

campo eléctrico de la onda electromagnética en un plano específico. En otras
palabras, describe la dirección en la que vibra el campo eléctrico de la radiación. La
polarización se puede clasificar en dos categorías principales: polarización lineal y
polarización circular.Cuando la radiación está linealmente polarizada, significa que el
campo eléctrico oscila en una dirección fija a lo largo de un plano determinado. Esta
dirección puede ser vertical, horizontal o cualquier otra orientación en el plano
perpendicular a la dirección de propagación de la radiación.Por otro lado, cuando la
radiación está circularmente polarizada, el campo eléctrico describe una trayectoria
circular a medida que la onda se propaga. La dirección del campo eléctrico gira en
un plano perpendicular a la dirección de propagación.
 b) La información sobre la polarización de la radiación es importante en experimentos
de espectroscopia por varias razones:
*Selección de muestra
*Análisis estructural
*identificación de propiedades magnéticas

16. Usando diagramas de superficies de energía potencial explicar las diferencias entre una
transición electrónica, una transición vibracional, dispersión Raman Stokes y anti-Stokes,
dispersión Rayleigh. Explicar qué condiciones se deben cumplir para que la transición o
fenómeno tenga lugar

*Transición electrónica: La transición

electrónica ocurre cuando la energía de la radiación incidente coincide con la diferencia de
energía entre dos niveles electrónicos permitidos.

*Transición vibracional: La transición vibracional ocurre cuando la energía de la radiación

incidente coincide con la diferencia de energía entre dos estados vibracionales permitidos.

*Dispersión rayleigh: ocurre cuando se produce una colisión elástica, la energía del fotón así
como la energía de la molécula no cambia después de la colisión

*Dispersión Raman Stokes: La energía vibracional de la molécula aumenta después de la

colisión y la energía del fotón disminuye

*Dispersión Raman anti-stokes: La energía vibracional de la molécula disminuye y la

energía del fotón aumenta después de la colisión.

18. A diferencia de las técnicas de absorción y emisión en la región visible del espectro, en
espectroscopia infrarroja la adquisición de la señal se hace de forma diferente y se requiere
el uso de interferómetros. Explicar cómo se adquiere, y cómo se tratan los datos para tener
finalmente un espectro IR.

En resumen, en la espectroscopia IR, la adquisición de la señal se realiza mediante

interferómetros, como en la espectroscopia FTIR. La señal interferida se convierte en un
espectro mediante la transformada de Fourier, que muestra la absorción de energía en
función de la frecuencia. El espectro se interpreta para identificar las vibraciones
moleculares y grupos químicos presentes en la muestra. Se aplican correcciones y
pretratamientos a los datos adquiridos para obtener un espectro IR de calidad.
No se puede usar un interferómetro de michelson: Este método utiliza una fuente de luz que
al pasar por un divisor de haz se divide en dos. Cada uno de esos haces de luz se refleja
hacia el divisor de haz que luego combina sus amplitudes utilizando el principio de
superposición.

19. ¿Qué requisitos debe cumplir una molécula para que efectivamente pueda ser
detectada mediante espectroscopia de absorción en el infrarrojo? Dar mínimo tres ejemplos
de moléculas di- o triatómicas que sí puedan ser detectadas y otras tres que no sean
detectables.

Poseer modos vibracionales activos en el rango infrarrojo: La molécula debe tener modos
vibracionales que sean activos en el rango de frecuencias del infrarrojo. Estos modos
vibracionales corresponden a las vibraciones de los átomos dentro de la molécula y están
asociados con cambios en los momentos dipolares.

20. cual es la regla de selección usada para la espectroscopia de fluorescencia de rayos x:

En la espectroscopia de fluorescencia de rayos X, las reglas de selección establecen las
condiciones bajo las cuales se producirá la emisión de rayos X desde una muestra. Estas
reglas determinan qué transiciones electrónicas son permitidas y qué transiciones están
prohibidas. A continuación se presentan las reglas de selección más comunes:

Regla de selección de conservación del momento angular: Esta regla establece que la
diferencia entre los números cuánticos de momento angular orbital (l) entre los niveles inicial
y final debe ser Δl = ±1. Esto significa que la transición de un electrón debe estar
acompañada por un cambio en el momento angular orbital en una unidad.

Finalidad de la espectroscopia IR: busca información sobre los grupos funcionales.

Finalidad de la espectroscopia Raman: busca la caracterización del esqueleto carbonado de
sustancias organicas y polimeros.

Principio de la espectroscopia Raman: Cuando la radiación monocromática incide sobre una

muestra, esta luz interactúa con la muestra de alguna manera. Puede reflejarse, absorberse
o dispersarse de alguna manera. Es la dispersión de la radiación que se produce lo que da
información sobre la estructura molecular.
Raman se basa en la dispersión. La muestra se irradia con una fuente coherente,
típicamente un láser. La mayor parte de la radiación se dispersa elásticamente (llamada
dispersión de Rayleigh).
Una pequeña porción se dispersa elásticamente (dispersión Raman, compuesta de
porciones Stokes y anti-Stokes). Esta última parte es lo que nos interesa particularmente
porque contiene la información que nos interesa.
El espectro se mide con la línea láser como referencia. Por lo tanto, los picos se miden
como el cambio de la línea láser.Las posiciones de los picos están determinadas por las
energías vibratorias asociadas con los enlaces en la molécula(s) que componen la muestra.
Debido a esto, el espectro termina luciendo muy similar a un espectro IR y se interpreta de
manera similar.Sin embargo, hay una nota a pie de página, ya que se aplica el principio de
exclusión mutua. Es decir, los picos que se enfatizan en IR (enlaces polares con momentos
dipolares altos) pierden un poco de énfasis en Raman.

instrumentacion Raman Instrumentacion IR

: