Está en la página 1de 1

ANÁLISIS FORENSE

Fluorescencia en Rayos X (XRF)

Técnica analítica donde se Materiales utilizados


determina la composición
química de muestras. Usa la
emisión fluorescente de ARL ADVANT XP Muestra de
Sequential XRF interés
rayos X generada al excitar
una sustancia con rayos X.
Perladora de Inducción series F

Métodos
Usa el método de emisión secundaria o
fluorescente de radiación X.

Miden la longitud de onda e intensidad de los


rayos X emitida por átomos energizados en la
muestra.
Procedimiento
Si se expone un material a rayos X de longitudes de onda cortas o a rayos
gamma, se ionizan sus átomos.
Desprenden electrones fuertemente ligados en los orbitales internos del
átomo. Los de orbitales más elevados “caen” hacia el orbital más bajo.
Se genera energía mediante emisión de un fotón. El material emite radiación
cuya energía es característica de los átomos componentes del material.

Principios del análisis cuando se irradia Generalidades de XRF con radiación


la muestra. monocromática y policromática.

La radiación se dispersa sin pérdida


de energía.

La radiación se dispersa con pérdida


de energía.

Vacancia creada en una capa atómica El haz tiene una sección mucho mayor
y el estado se decae al llenarse la que el espesor de penetración de la
vacancia. radiación en la muestra.

La superficie de la muestra es pulida,


extensa, homogénea y de espesor
infinito.

Descripción de los espectros


fluorescentes.
Ventajas
Los picos corresponden Aplicado a cualquier
a las líneas de emisión elemento de número
y el área representa la
atómico mayor a 4 o 9.
cantidad de fotones que
Las muestras no
llegaron al detector.
sufren daños durante
el análisis y se puede
utilizar las veces que
sea necesario.
Tiene variabilidad de
La radiación viaja hacia el detector. muestras.
Rango amplio de
concentraciones
Los fotones causan ionizaciones convirtiendose
en una señal de voltaje generando un espectro.
Desventajas
Los dispositivos electrónicos mantienen una
relación entre la señal de carga y el pulso de carga. Necesidad de patrones.
Penetración baja.
Datos pueden ser contaminados por ruido pero se reducen Costo muy elevado.
Complejidad alta.

Un detector Un sistema electrónico de


buena calidad
Bibliografía
Laboratorio Nacional de Investigaciones en Forense Nuclear. (2016). ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X. Recuperado de:
https://www.inin.gob.mx/mini_sitios/tercer_plano.cfm?cve_area=LABFON&codigo_opc=180005006
Universidad de Alicante. (2018). ESPECTROSCOPÍA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X. Recuperado de: https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-
cientifica/unidad-de-rayos-x/espectroscopia-de-fluorescencia-de-rayos-x.html
Universidad Santiago de Compostela. (2009). Espectrometría de fluorescencia de rayos x. Santiago de Compostela: USC. Obtenido de
ESPECTROMETRÍA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X.
Valentinuzzi, M. (2008). ANALISIS POR FLUORESCENCIA DE RAYOS X: IMPLEMENTACION DE GUIAS DE HACES EN REFLEXION TOTAL. Cordoba:
FaMAFUNC
Férnandez Ruiz, R. (2010). Fluorescencia de Rayos X por Reflexión Total (TXRF): Una gran desconocida. Anales Química, 05-12.

También podría gustarte