Control Estadístico de Procesos

Práctica Dirigida de Gráfico de Control de Variables

Se aplica una capa de Titanio-Tungsteno (TiW) sobre un sustrato utilizando una herramienta de
pulverización catódica, en la siguiente tabla se muestran las mediciones de espesor (en
angstroms) para 20 subgrupos de cuatro sustratos.

Subgrupo X1 X2 X3 X4
1 459 449 435 450
2 443 440 442 442
3 457 444 449 444
4 469 463 453 438
5 443 457 445 454
6 444 456 456 457
7 445 449 450 445
8 446 455 449 452
9 444 452 457 440
10 432 463 463 443
11 445 452 453 438
12 456 457 436 457
13 459 445 441 447
14 441 465 438 450
15 460 453 457 438
16 453 444 451 435
17 451 460 450 457
18 422 431 437 429
19 444 446 448 467
20 450 450 454 454

a) Elaborar los gráficos de control X – R para este proceso. ¿Está el proceso en control?
Revisar los límites de control según sea necesario.

TRABAJO DEACUERDO AL LIBRO DE DALE BESTERFIELD (Para corregir solo se elimina el

punto del gráfico del cual se sale de los límites de control)

x̄ = 8973.75 x̄̄ = 448.6875

R = 333 R= 16.65

Para la media
A2 = 0.729

UCL = 460.83
LCL = 436.55

Para el Rango
D3 = 0
D4 = 2.282
UCL = 38.00
LCL = 0

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Gráfico de Medias

465.00
460.00 460.83
455.00
450.00
448.69
445.00
440.00
435.00 436.55
430.00 Subgrupo 18
425.00
0 5 10 15 20 25

Gráfico de Rangos

40.00
38.00
35.00
30.00
25.00
20.00
15.00 16.65
10.00
5.00
0
0.00
0 5 10 15 20 25

Límites Corregidos

A= 1.5
Medias

LC = 449.68
UCL = 461.81
LCL = 437.55

D1 = 0
D2 = 4.698
Rangos

LC = 16.65
UCL = 37.99
LCL = 0

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465.00
460.83 461.81
460.00

455.00

450.00 449.68
448.69
445.00

440.00
436.55 437.55
435.00

430.00

425.00
0 10 20 30 40 50

40.00
38.00 37.99
35.00

30.00

25.00

20.00
16.65 16.65
15.00

10.00

5.00
0 0
0.00
0 10 20 30 40 50

Una vez que se ha

En este lapso de
corregido las causas que
tiempo se inicia el
originaron los errores,
estudio y se calculan
después de un tiempo, se
los límites iniciales,
extraen muestras
estimándose la media y
adicionales, para verificar
desviación del proceso,
los cambios, se usan los
se puede volver a
valores estándares de  y
graficar
 o los límites corregidos.

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TRABAJO DEACUERDO A LA NORMA ISO

La Norma ISO, para los Gráficos de Control de Shewhart es la ISO 7870-2:2013

En el Perú, la única norma de la familia de normas ISO 7870, aprobada, es la NTP-ISO 7870-
1:2008 (Revisada en el año 2018), ninguna de las otras normas se ha revisado aún, por lo tanto,
no tenemos una norma nacional que de las reglas para el desarrollo de los gráficos de control
de Shewhart, por lo que lo único que se puede hacer, es ceñirse a los lineamientos de la norma
ISO general.

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En la Norma ISO 7870-2: 2013, cuando un punto que tiene causa justificable se sale de los límites
de control, se debe eliminar dicha observación de ambas gráficas y recalcular los límites, la
media y sigma del proceso, para desarrollar este procedimiento haremos uso de Statgraphics.

En donde los resultados son los siguientes:

Gráfico de las medias

Gráfico X-bar para X1-X4

470

460 460.82

450 448.69
X-bar

440
436.56

430

420
0 4 8 12 16 20
Subgrupo

Gráfico para los rangos

Gráfico de Rangos para X1-X4

40
37.98

30
Rango

20
16.65

10

0 0.00
0 4 8 12 16 20
Subgrupo

Siendo los gráficos corregidos:

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Gráfico de las medias corregido

Gráfico X-bar para X1-X4

470

461.88
460

450 449.68
X-bar

440
437.49

430

420
0 4 8 12 16 20
Subgrupo

Gráfico para los rangos corregido

Gráfico de Rangos para X1-X4

40
38.18

30
Rango

20
16.74

10

0 0.00
0 4 8 12 16 20
Subgrupo

Estimados
Período #1-20
Media de proceso 449.684
Sigma de proceso 8.12863
Rango promedio 16.7368
Sigma estimada a partir del rango medio

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b) ¿El grosor de la capa está normalmente distribuido?

Para determinar la normalidad colocamos todos los datos en una sola columna y en el
menú describir – ajuste de distribuciones – ajuste de datos no censurado, se selecciona:

De maner predeterminada, para la opción prueba de normalidad se usa el estadístico Estadístico

W de Shapiro-Wilk y para la prueba de bondad de ajuste se usa la Prueba de Kolmogorov-Smirnov.

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En donde las hipótesis son:

H0: Los datos siguen una distribución normal.

H1: Los datos NO siguen una distribución normal.

Considerando un valor de  = 5%, en ambas pruebas el valor de P, es mucho mayor que alfa, por lo que al
95% de confianza, se puede inferir que los datos si provienen de una distribución normal.

Prueba
Estadístico W de Shapiro-Wilk

Estadístico Valor-P
0.990419 0.820778

Prueba de Kolmogorov-Smirnov
Normal
DMAS 0.0571711
DMENOS 0.0636842
DN 0.0636842
Valor-P 0.901789

Haciendo un análisis más detallado, si en la ventana de la prueba de bondad de ajuste, le damos clic
derecho y activamos opciones de ventana, tenemos las siguientes pruebas que se pueden incluir:

En los resultados de todas ellas el valor de p siempre es mayor que el de alfa, por lo que se acepta la
hipótesis nula, los datos son normales, recordando el uso de la distribución chi cuadrada (Curso de
Estadística Aplicada a la Ingeniería Industrial), los resultados de la prueba de bondad de ajuste son:

Chi-Cuadrada = 22.3 con 19 g.l. Valor-P = 0.269581 (Con el uso de clases equiprobables)

Chi-Cuadrada = 5.21334 con 7 g.l. Valor-P = 0.633946 (Sin el uso de clases equiprobables)

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c) Si las especificaciones están en 450 ± 30, estimar la habilidad del proceso para cumplir
con las especificaciones.

Al utilizar la opción de Análisis de la Capacidad de Procesos, se puede activar las

siguientes opciones:

Teniendo los resultados preliminares:

Capacidad de Proceso para X1-X4

LIE = 420.0; Nominal = 450.0; LSE = 480.0

16 Normal
Media=448.688
Desv. Est.=9.11056
Cp = 1.24
12 Pp = 1.10
Cpk = 1.18
frecuencia

Ppk = 1.05
K = -0.04
8
DPM a Corto Plazo = 248.36
DPM a Largo Plazo = 1113.93

0
410 430 450 470 490
X1-X4

Sin embargo, en el análisis de índices de capacidad del comando gráficos de control de variables
para medias y rangos, se obtiene:
Índices de Capacidad para X1-X4
Especificaciones
LSE = 480.0
Nom = 450.0
LIE = 420.0

Capacidad
Desempeño
Corto Plazo
Largo Plazo Revisar el libro de Control Estadístico
Sigma 8.128638.1096
Cp/Pp 1.230221.23311
de la Calidad de Gutierrez Pulido,
Cpk/Ppk 1.217271.22013 Capítulo 5, para ampliar la explicación
K -0.0105263 de los índices de capacidad y otros
% fuera de especs. 0.0226187 0.0218631 indicadores.
DPM 226.187 218.631
Con base en límites 6.0 sigma. La sigma de corto plazo se
estimó a partir del rango promedio.

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La diferencia observada en los resultados, se debe a que la opción Análisis de la Capacidad de

Procesos, ha considerado todas las observaciones, y hay que eliminar la observación N° 18 para
que el proceso esté en control.

Capacidad de Proceso para X1-X4

Normal
LIE = 420.0; Nominal = 450.0; LSE = 480.0 Media=449.684
Desv. Est.=8.1096
12 Cp = 1.23
Pp = 1.23
Cpk = 1.22
10 Ppk = 1.22
K = -0.01
DPM a Corto Plazo = 226.19
8 DPM a Largo Plazo = 218.63
frecuencia

0
420 430 440 450 460 470 480
X1-X4

Gráfico X-bar

470

461.88
460
X1-X4

450 449.68

440
437.49

430
0 4 8 12 16 20
Subgrupo

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