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Laboratorio 7 Silva Gutiérrez Ronnie José
Laboratorio 7 Silva Gutiérrez Ronnie José
Ingeniería de Materiales
Guía de Laboratorio Metodos de Caracterizacion de Materiales
Ing. Leslie Annjeanet Canahua Sosa
I. OBJETIVOS
Durante el escaneo, las fuerzas intermoleculares, como las fuerzas de Van der Waals,
electrostáticas e hidrofóbicas/hidrófilas, provocan la deflexión del voladizo. Un láser, reflejado
en el voladizo y detectado por fotodiodos, mide la deflexión. La información se procesa para
obtener datos sobre la flexión vertical del voladizo, enviándose al escáner que controla la altura
de la sonda, permitiendo la creación de representaciones topográficas tridimensionales de la
muestra.
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Modos de Operación:
1. Modo de Contacto:
2. Modo de Rozamiento:
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a) Materiales
• Muestras de grafeno
• Microscopio de Fuerza Atómica
• Tablet
• Porta muestras
• Celular
b) Procedimiento:
Preparación de la Muestra:
Software:
Figura 2. AFM de grafeno de pocas capas (a) y el perfil de fricción (b) a lo largo de la línea
seleccionada (amarilla) en (a).
Figura 3. La topografía del grafeno sobre mica (a) y la altura correspondiente y perfil de
fricción (b) de la sección seleccionada definida por la línea roja en (a).
Figura 4. (a) Imagen topográfica de grafeno de 1 a 4 capas sobre SiOx. (b) La imagen de
fricción correspondiente de (a). (c) y (d) son las correspondientes curvas de Fricción-
Carga Normal del área.
Además, se destaca otra técnica de comparación: la variación de la carga normal para observar
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V. CUESTIONARIO
VI. CONCLUSIONES
VII. BIBLIOGRAFIA
1. García, R., & Pérez, R. (2002). Dynamic atomic force microscopy methods. Surface
Science Reports, 47(6-8), 197-301.
2. Butt, H. J., & Jaschke, M. (1995). Calculation of thermal noise in atomic force
microscopy. Nanotechnology, 6(1), 1.
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3. Hansma, P. K., & Drake, B. (1989). Atomic force microscopy of biological samples.
Annual Review of Biophysics and Biophysical Chemistry, 18(1), 407-429.
5. Albrecht, T. R., Grütter, P., Horne, D., & Rugar, D. (1991). Frequency modulation
detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity. Journal of
Applied Physics, 69(2), 668-673.
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https://espanol.libretexts.org/Quimica/Química_Analítica/Métodos_Físi
cos_en_Química_y_Nano_Ciencia_(Barron)/09%3A_Morfología_y_est
ructura_de_la_superficie/9.02%3A_Microscopía_de_Fuerza_Atómica_(
AFM)
https://myscope.training/SPM_SPM_module_Credits
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