UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DEL ESTADO DE

ZACATECAS
DIRECCIÓN DE CARRERA ING EN MANTENIMIENTO
INDUSTRIAL

ENSAYOS DESTRUCTIVOS
U2-T04

TITULAR:
JULIÁN RAMÍREZ CARRILLO

ALUMNO:
DIEGO FERNANDO ALONSO MALDONADO

GRADO Y GRUPO:
8°A MI

NÚMERO DE REFERENCIA: 482000062

CAMPO BRILLANTE
Conocida como microscopía de campo brillante esta es la más simple de las
técnicas de iluminación aplicadas en la microscopía óptica. Y es esta misma
simplicidad lo que lo convierte en uno de los más populares en uso. Su nombre
proviene de la típica apariencia de su imagen que es un fondo brillante con una
muestra opaca u oscura.
En este microscopio la muestra es iluminada desde abajo con luz blanca y se
observa desde arriba. El contraste se genera por la atenuación de luz causada por
las zonas densas de la muestra.

CAMPO OBSCURO
El microscopio de campo oscuro es un instrumento óptico especial utilizado en
ciertos laboratorios. Este es el resultado de una modificación realizada a la
microscopía de campo claro. La microscopía de campo oscuro se puede lograr por
transiluminación o por EPI-iluminación.
El campo oscuro con luz transmitida permite resaltar las estructuras, pudiéndose
observar partículas extremadamente delgadas. Las estructuras se observan con
cierta refringencia o brillo en un fondo oscuro.
Mientras que el efecto de EPI-iluminación se logra con luz incidente u oblicua. En
este caso el microscopio debe estar equipado con un filtro especial en forma de
medialuna.

LUZ POLARIZADA
La luz polarizada es la radiación electromagnética que vibra en un solo plano
perpendicular a la dirección de propagación. La vibración en un plano significa que
el vector campo eléctrico de la onda luminosa oscila de forma paralela a un espacio
de dos componentes rectangulares, como es el caso del plano de polarización y.
Una forma de obtener luz polarizada es haciendo incidir un rayo de luz en un
filtro polarizador, que consiste en una estructura de polímero orientada en una sola
dirección permitiendo pasar solo las ondas que oscilan en un mismo plano mientras
que el resto de las ondas son absorbidas.
SEM
El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Standing Electron Microscopio), utiliza
un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada
de la superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la observación y
caracterización superficial de sólidos inorgánicos y orgánicos.
El microscopio electrónico de barrido está equipado con diversos detectores, entre
los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios para obtener
imágenes de alta resolución SEI (Secundar Electron Image), un detector de
electrones retro dispersados que permite la obtención de imágenes de composición
y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de
energía dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los
Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativo y de
distribución de elementos en superficies.
Se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas
de los distintos materiales con los que trabajan los investigadores científicos y las
empresas privadas, además del procesamiento y análisis de las imágenes
obtenidas. Las principales utilidades del SEM son la alta resolución (~1 nm), la gran
profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes y la
sencilla preparación de las muestras.
La preparación de las muestras es relativamente sencilla las principales
características son: muestra sólida, conductora. Caso contario, la muestra es
recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro
para darle propiedades conductoras a la muestra. De lo contrario, las muestras no
conductoras se trabajan en bajo vacío.
Las aplicaciones del equipo son muy variadas, y van desde la industria petroquímica
o la metalurgia hasta la medicina forense.

TEM
Permite determinar la estructura interna de materiales inclusive biológicos.
Materiales para TEM deben prepararse especialmente para espesores que
permitan transmitir los e- a través de la muestra.
Debido a que λ de los e- es λ << A luz, la resolución óptima adquirida para imágenes
TEM es varios órdenes de magnitud > Microsc. óptico.
TEM muestra detalles de la estructura interna, magnificaciones x350,000 (imágenes
de átomos pueden obtenerse con x15 millones)
La E de los e- en TEM determina el grado de penetración en una muestra. E 400
kV, provee condiciones para la observación de = muestras relativamente gruesas
(<0,2 μm).
La elaboración de especímenes para TEM es en sí mismo un campo de estudio.
Cada tipo de muestra se comporta de diversas maneras y por tanto cada tipo de
muestra puede requerir una preparación diferente. Así las cosas, se necesita hacer
un proceso de ensayo y error, que por lo general conduce a la elaboración de varias
preparaciones por muestra y por tanto del uso de varias rejillas por muestra, por lo
que se recomienda que cada usuario adquiera su "set" de rejillas.

OMAES
Se trata de una técnica de análisis, para obtener información química de superficies
de materiales sólidos.
Objetivo:
Determinar la composición y el estado químico de los elementos presentes en la
superficie de materiales sólidos. Materiales aislantes y conductores, pueden ser
analizados en superficie en áreas de unas pocas micras. Su funcionamiento está en
el efecto Auger, que consiste en la emisión de un electrón de energía definida
después de la ionización por producción de un hueco en un nivel interno de un
átomo.
La muestra a estudiar se debe encontrar en condiciones de ultra alto vacío (mejor
que 10e-9), y ser expuesta en estas condiciones frente a una fuente de electrones,
con energía comprendidas entre 1000eV y 5000eV.
Funcionamiento:
Los electrones que provienen de una fuente inciden contra la superficie a analizar.
En la interacción del átomo con fotones o electrones que se hacen incidir sobre la
superficie, se produce un ion, que rebaja su energía rellenando el hueco creado por
un electrón de un nivel más alto, con emisión de la energía sobrante. Esta puede
emitirse en forma de fotón o suministrarse como energía cinética a otro electrón
menos ligado. El segundo efecto, sin emisión de radiación es el efecto Auger. En la
práctica los espectros Auger se miden en forma diferenciada (dan(e)/de),
comúnmente se etiquetan las energías de las transiciones Auger como la
correspondiente a la posición del mínimo (excursión negativa) del pico diferenciado,
que, como vemos no es la de la verdadera transición que está en el máximo del pico
en n(e).

ABERRACIÓN ÓPTICA
Llamamos aberraciones ópticas a estas desviaciones y son debidas
fundamentalmente a que no se cumplen en todo momento las aproximaciones
ópticas que hemos hecho en teoría. En este apartado estudiaremos sus principales
tipos:
• Las aberraciones de Seidel o monocromáticas:
o La aberración esférica
o El coma
o El astigmatismo
o La curvatura de campo
o Distorsión

ABERRACIÓN CROMÁTICA
También conocida como ‘halos de color’ o ‘franjas de color’, la aberración cromática
es un defecto óptico. Se produce como resultado de la dispersión de la lente, cuando
esta no posee capacidad para llevar todas las longitudes de color al mismo plano
focal o cuando se enfocan, dichas longitudes, en diferentes posiciones dentro del
mismo plano.
Al realizar la toma es probable que no te percates de ello, pero cuando das zoom
es habitual observar la imagen borrosa o los elementos fotografiados con bordes de
colores (azul, verde, amarillo, violeta o magenta), sobre todo, en las zonas de alto
contraste.
Las lentes deben enfocar todas y cada una de las longitudes de onda en un solo
punto focal; sin embargo, debido a la calidad de esta y a otras cuestiones como la
distancia focal o la apertura, dichas longitudes de color no llegan al punto de mejor
enfoque (o de menor confusión) sino a lugares anteriores o posteriores. Aberración
cromática axial o longitudinal Aberración cromática lateral o transversal.

ESFÉRICA
Se produce cuando los rayos paralelos próximos al eje óptico (rayos paraxiales) de
una lente esférica o de un espejo esférico se concentran en un punto y los alejados
del eje óptico en otro, en lugar de hacerlo todos en el foco, como en el caso ideal.
Este comportamiento es inevitable y se debe a la propia simetría esférica de las
superficies.

Abajo una lente esférica y arriba un espejo esférico. Los rayos alejados del eje
óptico convergen a distinta distancia que los cercanos al mismo. Este efecto
quedaba disimulado con la aproximación paraxial, al entenderse que todos los rayos
eran próximos al eje.
La aberración esférica puede corregirse de distintas maneras:
utilizando un diafragma que impida el paso de los rayos más alejados del eje óptico
combinando lentes con efectos opuestos
usando superficies parabólicas en lugar de esféricas
FRACTOGRAFÍA
La Fractografía es el estudio de las superficies de fractura de los materiales. Los
métodos criptográficos se utilizan habitualmente para determinar la causa de la falla
en las estructuras de ingeniería, especialmente en la falla del producto y la práctica
de la ingeniería forense o el análisis de fallas. En la investigación de la ciencia de
los materiales, la Fractografía se utiliza para desarrollar y evaluar modelos teóricos
del comportamiento del crecimiento de grietas.
Uno de los objetivos del examen criptográfico es determinar la causa de la falla
mediante el estudio de las características de una superficie fracturada. Los
diferentes tipos de crecimiento de grietas (p. ej., fatiga, agrietamiento por corrosión
bajo tensión, fragilización por hidrógeno) producen rasgos característicos en la
superficie, que pueden usarse para ayudar a identificar el modo de falla. Sin
embargo, el patrón general de grietas puede ser más importante que una sola grieta,
especialmente en el caso de materiales frágiles como cerámica y vidrio.

REFERENCIAS BIBLIOGRAFICAS
o https://materialesdelaboratoriohoy.us/metal/microscopio-de-
campo-brillante/
o https://www.lifeder.com/microscopio-campo-oscuro/
o https://www.lifeder.com/luz-polarizada/
o http://mty.cimav.edu.mx/sem/#:%7E:text=El%20Microscopio%20electr
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o https://365enfoques.com/mejorar-fotos/aberracion-cromatica/
o https://www.fisicalab.com/apartado/aberraciones-opticas