Rueda So E

Desarrollo de un refractómetro
interferométrico para medir

flujos laminares
por
Esteban Rueda Soriano

Tesis sometida como requisito parcial para
obtener el grado de
DOCTOR EN CIENCIAS EN EL ÁREA DE
ÓPTICA
en el
Instituto Nacional de Astrofı́sica, Óptica y
Electrónica
Noviembre 2012
Tonantzintla, Puebla
Supervisada por:
Dr. Fermı́n S. Granados Agustı́n
c
!INAOE 2012
El autor otorga al INAOE el permiso de
reproducir y distribuir copias en su totalidad o en
partes de esta tesis
Desarrollo de un refractómetro interferométrico para medir flujos
laminares.
Esteban Rueda Soriano
Dirección: Dr. Fermín Salomón Granados Agustín

A mis Padres, Hermano
... y mi futura esposa Anilu
Agradezco el apoyo del programa de Becas Tesis 2012 CONCYTEP
Agradecimientos
Aprovecho este espacio para agradecer a todas las personas que me ayudaron a ter-
minar con esta maravillosa e increíble aventura. En primer lugar agradecer a mi asesor
el Dr. Ferín S. Granados Agustín el haberme adoptado estos cuatro años y la confianza
para realizar este trabajo doctoral. Al profe Alejandro Cornejo, por sus consejos que solo
se encuentran en un amigo.
A todos los técnicos del taller de Óptica que me brindarón su amistad y conocimientos;
Mayra, Claudia, Emilia, Magda, Miguel, Noe, Valentín, Don Omar, y a la Dra. Elizabeth.
A los amigos del laboratorio de Óptica, Anita Zarate y Pedro Tecuatl.
A todos los amigos que compartieron aventuras, logros y fracasos. Perla C. García,
Benito Canales, Adriana Tecuapetla, Juan C. Morales, Pedro Cebrian, Janet Torrealba,
Edith Palacios, Oscar Arredondo, Juan C. Valdiviezo, Gerardo, Luis Gabriel y Andrea.
Agradecimiento a mi familia, mis padres, Elia Soriano y Esteban Rueda, mi hermano
Raúl, a ellos tres con especial agradecimiento por estar ahí siempre.
A mi futura esposa Anilu, por el apoyo para terminar esta tesis, los consejos de una
amiga, y la comprensión de una novia.
Al INAOE por el apoyo brindado y las facilidades prestadas durante estos años de
trabajo.
Al igual agradecer al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT) por la
beca de doctorado que me otorgó para realizar este trabajo de tesis (2008-2012).
Al Consejo de Ciencia y Tecnología del Estado de Puebla (CONCYTEP) por el apoyo
económico por parte de la beca tesis 2012 para terminar de escribir y presentar el examén
de grado
Y al pueblo de México... ¡Gracias!
Resumen
La necesidad de medir el índice de refracción en materiales transparentes ya sean sóli-
dos o líquidos, siempre ha sido un tópico de investigación, especialmente para el diseño e
instrumentación óptica, pues el índice de refracción es la base de la Óptica, empezando por
la definición del camino óptico de un rayo que viaja del punto A al punto B multiplicado
por el índice de refracción que pasa a través de uno o varios medios, donde el índice de
refracción viene denotado por la letra n y es la razón de la velocidad de la luz en el vacío,
v entre la velocidad de la luz en el medio de propagación. Y es utilizada tanto en la Óptica
Física como Geométrica. Para cumplir este objetivo se han utilizado diferentes métodos,
los cuales han dado lugar a diferentes instrumentos. Uno de ellos es el refractómetro de
Abbe, el cual se basa en la geométrica con la técnica del ángulo límite. Otro método de
medición es de naturaleza interferométrica, donde el interferómetro de Michelson suele ser
el más utilizado en este campo, y los elipsómetros, que trabajan por medio de los cambios
de estados de polarización que sufre la luz al pasar por un material.
En este trabajo de tesis se propone una nueva metodología para medir el índice de
refracción, utilizando interferometría como base de trabajo, debido a la versátilidad que
en algunos ambientes de trabajo de campo se requiere. En específico, se recurre al In-
terferómetro de Difracción por Punto (IDP). Este IDP utiliza un mínimo de elementos
ópticos, no requiere de una óptica auxiliar para generar el frente de onda de referencia,
pues el IDP genera su propio frente de onda de referencia, y por ser un interferómetro de
camino común es insensible a vibraciones, haciendolo estable en la lectura de sus patrones
de interferencia, como desventaja se puede mencionar la dificultad para alinear el sistema,
en especial la placa del IDP que genera la interferencia. Para lograr el objetivo, se utilizan
los cambios comparativos que se tienen de dos patrones de interferencia generados por
el IDP, el primer patrón de interferencia es de referencia, ya que se genera sin la placa
de vidrio a medir, el segundo patrón de interferencia es generado con la placa de vidrio.
Resumen
Lo que se observa en el segundo patrón de interferencia respecto al de referencia es una

variación de magnitud en los anillos del patrón de interferencia, esta diferencia esta rela-
cionada con el índice de refracción de la placa de vidrio y su espesor, en donde, si a priori
se conoce el espesor del vidrio, se puede conocer su índice de refracción.
Un flujo se puede ver como un conjunto ordenado de capas o laminas, considerando
cada una de estas laminas como bidimensionales . El trabajo se enfoca en la medición del
flujo laminar, el cual se logra mediante una celda Hele-Shaw, esta celda es un recipiente lo
suficientemente delgado para considerar al líquido bidimensional. Para una aproximación
válida se sustituyen el flujo laminar con placas de vidrio plano paralelas. Se utilizan placas
de vidrio óptico, por sér estos homogéneos e isótropos, además por su fácil manejo en el
arreglo experimental utilizado .
La metodología desarrollada en este trabajo permite medir el índice de refracción de
materiales dieléctricos transparentes plano paralelos, basado en los cambios del patrón de
interferencia que generan los materiales a probar.
Resumen
Abstract
The need for measuring the refraction index in transparent materials, whether solids or
liquids, has always been a research topic, specially for optics design and instrumentation,
since the refraction index is the base of Optics, starting by the definition of optics path
from a ray that travels from point A to point B multiplied by the refraction index that pass
through one or several environments, where the refraction index is denoted by the letter n
and it is the velocity reason from the light into the vacuum , v, between the light velocity in
the propagation environment. Besides, it is used as much in Physics Optics as Geometric
Optics. To achieve this objective several methods have been used, which have resulted
at different instruments. One of these instruments is the Abbe refractometer, which uses
Geometric Optics with the technique of limit angle. Other method for measuring the
refraction index is from Interferometry nature, where the Michelson Interferometer is the
most used instrument in this field, and the ellipsometers, that work using the changes in
the polarization states that suffer the light when it crosses a material.
This work proposes a new methodology for measuring the refraction index, using
Interferometry as the base of the work, because of the versatility required in some working
field environments. In specific, this work resorts to the Point Diffraction Interferometer
(PDI). This PDI uses a small number of optics elements and it does not require of auxiliary
optics for generating a reference wave front, since PDI generates its own reference wave
front. Besides, PDI is a common path interferometer, which results in an instrument
insensible to vibrations, making it stable in the reading of the interference patterns. As
drawback, it can be mentioned the difficulty to align the system, especially the PDI plate
that generates the interference. To achieve this objective, there are used the comparative
changes obtained from two interference patters generated by the PDI. The first pattern
is used as reference, since it is generated without the glass plate to measure; the second
pattern is generated with the glass plate. The observation made from the second pattern
Abstract
with respect to the reference pattern (the first) is a variation of the magnitude in the rings
from the interference pattern. This difference is related with the refraction index from the
glass plate and it thickness, where if it is known a priori the thickness of the glass, it is
possible to know its refraction index.
A fluid can be considered as an ordered set of layers or sheets, considering each one of
these layers as two-dimensional. This research is focused on the measurement of laminal
fluids, which it is done by a Hele-Shaw cell, that it is a container slim enough for consi-
dering the liquid as two-dimensional. For obtaining a valid approximation, laminal fluids
are replaced by parallel plane glass plates. Optics glass plates are used due to different
characteristics, they are homogeneous and isotropic and besides they are easy to use in
the experimental arrangement. The methodology developed in this work allows measuring
the refraction index from parallel plane dielectric materials, base on the changes of the
interference pattern generated by the proven materials.
Índice general
1. Introducción 1
2. Marco Teórico 5
2.1. Interferómetro de Difracción por Punto . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2.1.1. Principio del funcionamiento del Interferómetro de Linnik . . . . . . 6
2.1.2. Descripción Teórica del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2. Simulaciones de IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
2.2.1. Programa para la simulación del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
2.3. Interferómetro de Michelson . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.4. Ecuación para placas plano paralelas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3. Desarrollo experimental para medir el índice de refracción 27

3.1. Arreglo experimental del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
3.2. Desarrollo de programas para el análisis del patrón de interferencia . . . . 30
3.2.1. Filtro pasa-baja . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.2.2. Programa de máximos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.2.3. Programa de ajuste a un círculo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.3. Caracterización de la placa del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
4. Resultados 43
4.1. Medición del índice de refracción con el IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
4.2. Medición del índice de refracción con el Interferómetro de Michelson . . . . 47
v
Índice
4.3. Medición del índice de refracción con el Refractómetro de Abbe . . . . . . 50

4.4. Discusiones y Resultados finales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
5. Conclusiones 59
5.1. Futuras líneas de investigación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
5.2. Resultados de este trabajo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
Referencias 62
vi
Índice de figuras
2.1. Patrón de interferencia del interferómetro de difracción por punto . . . . . 6

2.2. Descripción gráfica del funcionamiento del interferómetro de Linnik . . . . 7
2.3. Diagrama para el análisis del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.4. Patrones de interferencia simulados, donde ǫ = ǫx = ǫy , posiciones para ǫ:
(a)ǫ=1.50 (b) ǫ=1.55 (c)ǫ=1.60 (d)ǫ=1.65 (e)ǫ=1.70 (f)ǫ=1.75 (g)ǫ=1.80
(h)ǫ=1.85 (i)ǫ=1.90 (j)ǫ=1.95 (k)ǫ=2.00 (l)ǫ=2.05 . . . . . . . . . . . . . 14
2.5. Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : 2010 . . . . . . . . . . 15
2.8. Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : −2010 . . . . . . . . . 16
2.9. Interferograma asociado a los valores ǫx : 1010 y ǫy : −2010 . . . . . . . . . 17
2.10. Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫx : −1010. . . . . . . . . . 17
2.11. Esquema del Interferómetro de Michelson. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.12. Esquema del Interferómetro de Michelson utilizando la fuente de luz láser
para la alineación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.13. Esquema del Interferómetro de Michelson con haz láser extendido . . . . . 19
2.14. Esquema del Interferómetro de Michelson utilizando la fuente de luz blanca 20
2.15. Esquema del desplazamiento de la luz debido a la placa de vidrio plano
paralela . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.16. Esquema para encontrar el desplazamiento d . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
vii
Índice
3.1. Esquema del arreglo experimental del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28

3.2. Esquema del Interferómetro de Difracción por Punto . . . . . . . . . . . . 28
3.3. Arreglo experimental del IDP en el laboratorio . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.4. Patrón de interferencia grabado con el arreglo del IDP implementado . . . 29
3.5. Esquema del IDP colocando la placa de vidrio plano paralela de prueba . . 30
3.6. Diagrama de flujo para el Filtro pasa-baja . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.7. Perfil central de la imagen capturada antes del filtrado . . . . . . . . . . . 32
3.8. Perfil central de la imagen capturada después del filtrado . . . . . . . . . . 33
3.9. Perfiles de ambas imágenes, en rojo el perfil antes del filtro y en azul después
del filtro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.10. Diagrama del algoritmo para la búsqueda de Máximos y el ajuste a una
circunferencia para el primer máximo del patrón de interferencia. . . . . . 34
3.11. Histograma de los perfiles y en cuadro los puntos máximos que encuentra
el programa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.12. Filtrado de la imagen marcando máximo central de cada franja. . . . . . . 36
3.13. Puntos sobre cada máximo central de las franjas de las cuales se ajustará
un círculo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.14. Esquema del desplazamiento d . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.15. Gráfica de los valores encontrados para cada posición de la Tabla 3.1 . . . 40
3.16. Patrones de interferencia utilizados en la caracterización de la placa del
IDP, se describe de cada imagen su posición (p) y su radio (r); (a)p=2500
r=189.772, (b)p=2550 r=191.419, (c)p=2600 r=193.016, (d)p=2650 r=194.615,
(e)p=2700 r=196.191, (f)p=2750 r=198,270, (g)p=2800 r=199.151, (h)p=2850
r=201.142, (i)p=2900 r=202.026, (j)p=2950 r=204.219, (k)p=3000 r=205.824,
(l)p=3050 r=207.429 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
4.1. Patrones de interferencia generados por el IDP, (a) Patrón de interferencia

de referencia, sin muestra, (b) Patrón de interferencia con la muestra de la
placa de vidrio plano paralela Pyrex . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
viii
Índice
4.2. Patrones de interferencia filtrados con un pasa baja, (a) Patrón de in-
terferencia filtrado, sin muestra, (b) Patrón de interferencia filtrado de la
muestra de la placa de vidrio plano paralela Pyrex . . . . . . . . . . . . . . 45
4.3. Patrones de interferencia con ajuste de un circulo a la primera franja bri-
llante, (a) ajuste de un circulo al patrón de interferencia de referencia, (b)
ajuste de un circulo al patrón de interferencia de la placa de vidrio Pyrex . 45
4.4. Gráfica ajustada de los valores mostrados en el capítulo 3 y de la Figura 3.15 47
4.5. Arreglo experimental del interferómetro de Michelson en el laboratorio . . 48
4.6. Patrón de interferencia del interferómetro de Michelson con luz blanca,
observando las franjas de colores, como una referencia absoluta . . . . . . . 49
4.7. Patrón de interferencia del Michelson con luz blanca, observando las franjas
oscuras al compensar la diferencia del camino óptico debido a introducir la
placa de vidrio Pyrex . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.8. Diagrama de funcionamiento del Refractómetro de Abbe . . . . . . . . . . 52
4.9. Refractómetro de Abbe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.10. Lectura del Refractómetro de Abbe para el índice de refracción de la placa
de vidrio Pyrex . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.11. Gráfica del error absoluto para cada uno de los materiales . . . . . . . . . 57
ix
Índice
x
Índice de tablas
3.1. Datos obtenidos de calibración del IDP teórico. . . . . . . . . . . . . . . . 40
4.1. Datos obtenidos del programa ajuste del círculo . . . . . . . . . . . . . . . 46

4.2. Datos obtenidos del ajuste del círculo y de la gráfica 4.4 . . . . . . . . . . 46
4.3. Datos obtenidos del ajuste del círculo, de la gráfica 4.4, la diferencia entre
las posiciones y de la ecuación 2.25 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
4.4. Datos obtenidos del tornillo micrometrico, tanto para el patrón de referen-
cia como para el modificado. El índice de refracción calculado es mediante
la ecuación 2.18 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
4.5. Datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M=sin medición) 54
4.6. Errores de los datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M
= sin medición) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
4.7. Errores de los datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M
= sin medición) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
xi
Capítulo 1
Introducción
La respuesta de materiales dieléctricos o aislantes a los campos electromagnéticos

interesa a la óptica, especialmente de los dieléctricos transparentes que tienen forma de
lentes, prismas, placas, películas, etc.
El efecto neto de introducir un dieléctrico isótropo y homogéneo es una región del
espacio libre es cambiar la permitividad eléctrica (ǫ0 ) del espacio libre por la del medio(ǫ),
y permeabilidad del espacio libre (µ0 ) por las del medio (µ) en las ecuaciones de Maxwell
[1]. La velocidad de fase en el medio pasa a ser:
√
v = 1/ ǫµ (1.1)
El cociente entre la velocidad de una onda electromagnética en el vacío y en la materia

se denomina índice de refracción absoluto n:
c ǫµ
r
n≡ , (1.2)
v ǫ0 µ0
La característica sobresaliente de los medios conductores en la presencia de un número
de cargas eléctricas libres. En el caso de los metales, estas cargas son por supuesto lo
electrones y su movimiento constituye una corriente. En contraste con los dieléctricos que
no hay electrones libres. Para conductores ideales, se tiene una conductividad infinita,
esto equivale a decir que los electrones impulsados a oscilar por una onda armónica, sim-
plemente seguirían las alteraciones del campo. No habría absorción, solamente reemisión.
1
Todo material tiene un coeficiente de absorción y el inverso del coeficiente de absorción
se le denomina profundidad de campo. Para materiales que son transparentes, la profun-
didad de penetración es mayor a su espesor. La profundidad de penetración en metales es
excesivamente pequeña , los cuales no obstante, pueden hacerse parcialmente transparen-
tes cuando se forman en peliculas delgadas. El lustre metálico familiar de los conductores
corresponde a un alto nivel de reflectancia, la cual se debe a que la onda incidente no
puede penetrar efectivamente en el material.
El conocer el índice de refracción de los materiales dieléctricos transparente es de gran

importancia en Óptica. Pues muchos materiales que son dieléctricos, son utilizados tanto
en la industria como en la vida diaria. Cuando la luz viaja en el espacio y se encuentra
con un material diferente al del aire, la luz cambia de velocidad doblando la luz, ésto esta
relacionado con el índice de refracción.
El índice de refracción es utilizada por los diseñadores ópticos en la ley de Snell, en la

Óptica Física se encuentra al trabajar con interferometría estando presente en la diferencia
del camino óptico (OPD), por citar algunos ejemplos entre otros temas de Óptica.
Para ciertas mediciones del índice de refracción se requiere que éstas sean realizadas
en condiciones experimentales inestables, resultando inconveniente medir el índice de re-
fracción con instrumentos comerciales o métodos que podemos encontrar en la literatura,
algunas formas de medición utilizan la variación de transmisión causada por interferencia
dentre del substrato a medir como función del ángulo incidente [2], el uso de componen-
tes ópticos de referencia, siendo estos prismas y espejos, resulta de una fineza al alinear
y medir pues es importante no tener modificaciones ambientales mientras se graban va-
rios patrones de interferencia antes de realizar los cálculos [3], algunos otros realizan la
medición del índice de refracción por medio de polarización [4], como elipsómetros que
trabajan por medio de los cambios de estados de polarización que sufre la luz al pasar
por un material [5], otros de forma mas compleja utilizan métodos que miden el índice
de refracción en susbstratos parcialmente reflectantes, usando películas en cuña, donde la
preparación de estas películas es especializado por tener un equipo para ello [6], y como
clásicamente se realiza, con la estabilidad que un laboratorio da, contando el número de
anillos de un interferómetro como un Mach -Zehnder [7].
Debido a un interés previo en un proyecto desarrollado en el Centro de Investigación en
Energía de la UNAM (CIE-UNAM) donde se estudio el índice de refracción en los fluidos
laminares sometidos a diversas fuerzas G, y el INAOE participó en la medición cualitativa
del índice de refracción de fluidos laminares [8], ahora en este trabajo se propone una nueva
forma de medición cuantitativa del índice de refracción.
Un fluido se dice que se mueve en laminas cuando éstas son estratificadas, paralelas
unas de otras, ordenadas y suaves; si se logra tomar una de estas laminas, entonces se
habla de un flujo laminar el cuál es bidimensional y homogéneo [9].
En este trabajo de investigación, el objetivo es desarrollar un instrumento óptico y la
metodología científica para la medición cuantitativa del índice de refracción de los fluidos
laminares. Como objetivo particular, se trabaja en la medición del índice de refracción
de placas de vidrio óptico plano paralelas, pues con ellas se espera tener una buena
aproximación para los fluidos laminares.
El Interferómetro de Difracción por Punto (IDP) [10], por su propia versatilidad, se
hace atractivo para utilizarlo en la medición del índice de refracción, debido a ciertas
propiedades importantes [11]: es compacto, robusto e insensible a vibraciones, con las
desventajas de un interferómetro, en la alineación de la placa del IDP, y de la misma
forma, en la realización de la placa del IDP.
Se desarrolla un arreglo experimental con el IDP y un análisis geométrico de éste,
se determina el índice de refracción de placas de vidrio plano paralelas, basándose en el
cambio del patrón de franjas de interferencia.
La estructura de la tesis se ha dividido en cinco capítulos. En el capítulo dos, se pre-
sentan las bases teóricas del funcionamiento del interferómetro de difracción por punto,
realizando una simulación del comportamiento del IDP a partir de la teoría. Dentro de
este mismo capítulo, se realiza una explicación breve del Interferómetro de Michelson
y las ecuaciones que se utilizarán para la medición índice de refracción y comparar los
3
1. Introducción
resultados con los obtenidos con el IDP. En el capítulo tres se explica el desarrollo ex-
perimental propuesto para medir el índice de refracción usando un IDP, obteniendo una
metodología. El capítulo cuatro presenta los resultados obtenidos con el IDP, el Interferó-
metro de Michelson y el Refractómetro de Abbe. Finalmente, en el capítulo cinco se dan
la conclusiones del trabajo presentado.
4
Capítulo 2
Marco Teórico
En este capítulo se expondrán las bases teóricas en las que se fundamenta el Interferó-
metro de Difracción por Punto, el cual se utiliza en este trabajo para la medición del índice
de refracción en fluidos laminares y placas de vidrio plano paralelas. Al mismo tiempo,
se presenta una simulación de este interferómetro programada con el software Matlab.
Posteriormente, se muestra una breve descripción del interferómetro de Michelson y las
ecuaciones que utiliza para la medición del índice de refracción en placas de vidrio. El in-
terferómetro de Michelson será utilizado para comparar los resultados obtenidos con este
trabajo, debido a que se puede hacer mediciones absolutas al utilizar una fuente de luz
blanca. Finalmente se muestran las ecuaciones que se utilizarán en esta propuesta para
medir el índice de refracción de los fluidos laminares y placas de vidrio.
2.1. Interferómetro de Difracción por Punto
En la literatura se encuentran dos clasificaciones de interferómetros, división de frente

de onda y división de amplitud [1]. Sin embargo en este trabajo se considera una tercera
clasificación en donde se usan ambos métodos para producir interferencia. Dentro de
esta tercera clasificación se tiene al Interferómetro de Difracción Punto (IDP). EL IDP
consiste en un sustrato semitransparente usado para generar interferencia de dos frentes
5
2. Marco Teórico
Figura 2.1: Patrón de interferencia del interferómetro de difracción por punto
de onda. Dentro de este sustrato se tiene un micro-orificio para generar una onda esférica
de referencia debido a una división de frente de onda. Por otra parte, la onda bajo prueba
que pasa a través del sustrato semitransparente, reduce su amplitud, teniendo una división
de amplitud.
El IDP, aparece por primera vez en un artículo publicado por W. P. Linnik en 1933
[10], como un instrumento capaz de medir cualitativamente la aberración del frente de
onda formada por un sistema óptico. Una diferencia del Interferómetro de Linnik con el
IDP, es la abertura numérica con la que trabajan, pues en Linnik es menor al IDO. En
la figura 2.1 se muestra un ejemplo de un patrón de interferéncia generado por un IDP,
sabiendo que entre una franja oscura y la siguiente brillante del patrón de interferencia
se tiene media longitud de la luz utilizada.
2.1.1. Principio del funcionamiento del Interferómetro de Linnik
El interferómetro de Linnik parte de la idea de comparar un frente de onda esférico

perfecto (frente de onda esférico de referencia, XY Z) con un frente de onda aberrado
convergente [12], ABC, que proviene de cualquier elemento o sistema óptico O, en la
6
R
O
X
S
A F
P C’
B Y B’
A’
C
C’
P
F’
E D B’
A’
Figura 2.2: Descripción gráfica del funcionamiento del interferómetro de Linnik
Figura 2.2 se muestra esta idea. Físicamente el Interferómetro de Difracción por Punto
esta constituído por una placa de vidrio a la cuál se le llama substrato P , revestida con
una película metálica con transmitancia parcial, que es colocada cerca del punto focal de
la lente O para que el micro-orificio que contiene el substrato, D, esté localizado dentro
del primer máximo secundario de la función de punto extendido, E.
La difracción producida por el micro-orificio da como resultado la generación de una
onda esférica, F , que se propaga y combina con ABC (ahora C ′ , B ′ , A′ divergen fuera del
foco). Ambas ondas son coherentes, y por lo tanto hay interferencia entre ellas, dando
una distribución de intensidades a la derecha de la placa semitransparente P . La teoría
dice que al trabajar con condiciones experimentales se tendrán que hacer las siguientes
consideraciones:
1. La intensidad de la onda difractada F y la onda transmitida C ′ B ′ A′ son aproxima-

damente iguales.
2. El micro-orificio D es sensiblemente más pequeño que el máximo central de la fun-

ción de punto extendido.
7
2. Marco Teórico
3. El sustrato del interferómetro P tiene un efecto insignificante en la onda transmitida

del C ′ B ′ A′ , este efecto se puede observar en el plano S, pues se tiene un segundo
interferograma, producido por el sustrato.
La lente R es enfocada para producir una imagen en la pupila de salida de O en el plano

S. Superpuestas las dos ondas sobre el plano imagen se encuentran las franjas, recordando
que entre franja oscura a franja oscura, ó de franja brillante a franja brillante, se tiene
una diferencia de camino óptico correspondiente a una longitud de onda. La dirección de
divergencia de C ′ B ′ A′ de la esfera de referencia es simplemente ajustada con el movimiento
del micro-orificio de D a D ′ (Figura 2.2). Esto da lugar al correspondiente desplazamiento
lateral de F a F ′ en la posición del frente de onda. El frente de onda aberrado C ′ B ′ A′
desde O no es afectado, por lo tanto el patrón de franjas cambia.
2.1.2. Descripción Teórica del IDP
En la Figura 2.3 se ve un frente de onda cilíndrico, que al propagarse genera dos planos
flocales perpendiculares entre sí, en dirección x, y en dirección y. Para un frente de onda
esférico los planos focales convergen en el mismo punto.
Lente yi y0
Cilíndrica IDP x0
xi
a
ey
ex
Z=0 Z=R
Figura 2.3: Diagrama para el análisis del IDP
8
Las coordenadas (xi , yi ) describen al plano de la placa del IDP, las coordenadas (x0 , y0 )
describen al plano de observación. R es la distancia que separa el plano de observación
de la placa del IDP. El radio del orificio del IDP esta denotada por la letra a, ǫx y ǫy son
las distancias de los planos focales al plano de la placa del IDP, y se toma como origen el
plano donde se encuentra la placa del IDP para los valores de ǫx y ǫy .
La teoría en que se basa el funcionamiento del IDP [13] consiste en aplicar la teoría
de la difracción de Fresnel. La representación analítica de la distribución de amplitud
compleja de la onda esférica esta dada por:
x2 2
ik i + yi
U(xi , yi ) ∝ e 2 ǫx ǫy
. (2.1)
La onda del sistema viaja hasta llegar a la lámina que contiene el micro-orificio, parte
de la onda la atravesará y otra parte se difractará por el micro-orificio que contiene
la lámina, formando así dos ondas. Las amplitudes de ambas ondas se calculan bajo la
aproximación de Fresnel en el plano de observación. En este plano se tiene la superposición
de las ondas.
Para los cálculos se considera que el tamaño de la lámina es infinito, quedando la expresión:
∞
eikR ik [(x0 −xi )2 +(y0 −yi )2 ]
Z
iφ
U(x0 , y0 ) ∝ te U(xi , yi ) e 2R dxi dyi
a iλR
a
eikR ik [(x0 −xi )2 +(y0 −yi )2 ]
Z
+ U(xi , yi ) e 2R dxi dyi , (2.2)
0 iλR
donde t representa la raíz cuadrada de la transmitancia de la lámina, y φ representa la fase

que pueda introducir la propia lámina sobre la onda que la atraviesa, respecto a la onda
que es difractada por el micro-orificio.Para resolver las ecuaciones es necesario reescribir
la ecuación de la siguiente manera:
9
2. Marco Teórico
Z a x2 2
ik i yi ik 2 +(y 2
U(x0 , y0) ∝ (1 − te ) iφ
e 2 ǫx ǫy
e 2R [(x0 −xi ) 0 −yi ) ]
dxi dyi
0
∞ x2 2
Z
ik i yi ik 2 +(y 2
+ te iǫ
e 2 ǫx ǫy
e 2R [(x0 −xi ) 0 −yi ) ]
dxi dyi
0
= (1 − teiφ )I1 + teiφ I2 . (2.3)
Para la solución de la primera integral, I1 , los parámetros ǫx y ǫy son mucho mayo-

res que las coordenadas (xi , yi ) dentro del orificio, y por lo tanto, se tiene la siguiente
aproximación:
x2 2
ik i yi
e 2 ǫx ǫy
≈ 1. (2.4)
Al reescribir las coordenadas cartesianas a polares, donde, r0 es el radio en el plano

de observación, e integrando [14] se obtiene:

akr0 iφ 2
I1 = (1 − te )2πa Jinc , (2.5)
R

akr0
donde Jinc R
se define como:

akr0
R

akr0
Jinc = J1 , (2.6)
R akr0
R
donde J1 es la función Bessel de primer orden. Para resolver la integral I2 se utiliza el

método de fase estacionaria [15] quedando de la siguiente manera:
2
x0 ǫ x x20 ǫx
e −ik
2R (R+ǫx )
+ (R+ǫy )
I2 = teiφ 2πσR r (2.7)
k (R+ǫǫxx)(R+ǫ
ǫy
y)
El valor de la función σ dependerá del signo de ǫx y ǫy , siguiendo la serie de condiciones

de frontera:
10

+i si ǫx · ǫy > 0, siendoǫx > 0






σ = −i si ǫx · ǫy > 0, siendoǫx < 0. (2.8)




+1 si ǫx · ǫy < 0

Por lo tanto, de la ecuación de interferencia, la amplitud resultante en el plano de

observación y despreciando las fases y los factores comunes de ambas ondas, se obtiene:
2
x0 ǫ x x20 ǫx

akr0
e −ik
2R (R+ǫx )
+ (R+ǫy )
U(x0 , y0 ) ∝ (1 − teiφ )a2 Jinc + teiφ σR r . (2.9)
R (R+ǫx )(R+ǫy )
k ǫx ǫy
De la ecuación anterior se observa que, la distribución de la amplitud compleja, en

cada punto del plano de observación, depende de la distancia R, del tamaño del micro-
orificio a, del coeficiente de transmitancia del substrato t, de las distancias ǫx y ǫy y de la
propia fase φ que introduce el substrato.
Sabiendo que al obtener un “buen” contraste en la distribución de amplitud se debe a la

igualación entre las amplitudes de cada onda, el coeficiente de transmitancia del substrato
debe ser pequeño, ya que, la onda de referencia tiene una amplitud proporcional al área
del micro-orificio; aproximando la expresión (1 − t · eiφ ≈ 1); se tiene la intensidad en el
plano de observación:
!2
akr0 Rt
I(x0 , y0 ) = a4 Jin2 + r
R (R+ǫx )(R+ǫy )
k ǫx ǫy
!
2 akr0 Rt
+2a Jin + r cosα (2.10)
R (R+ǫx )(R+ǫy )
k ǫx ǫy
donde el parámetro α esta dado por:
x20 ǫx y02 ǫy

k
α= + −φ−σ (2.11)
2R (R + ǫx ) (R + ǫy )
11
2. Marco Teórico
α puede reescribirse, quedando:

( " ! !# )
k x20 + y02 x20 y02
α= − + −φ−σ . (2.12)
2R R R + ǫx (R + ǫy )
Se tiene que α es la fase debida a la interferencia entre el frente de onda generado
por el micro-orificio del substrato con el frente de onda del sistema. Se puede observar
que la distribución de intensidad de la función Bessel de primer orden (J1 ), es típica en
el fenómeno de difracción de una apertura circular, y el factor cosα es el fenómeno típico
debido a la interferencia de dos ondas.
2.2. Simulaciones de IDP

A continuación se presenta las ecuaciones en que emplea el programa para simular
el funcionamiento de un IDP, así también se presentan imágenes de las simulaciones
realizadas, observando así el comportamiento del patrón de interferencia del IDP cuando
las variables que intervienen en la ecuación son alteradas.
2.2.1. Programa para la simulación del IDP
En la anterior sección se describe la teoría del interferómetro de difracción por punto,

donde se encontro la ecuación que describe la distribución de irradiancia de la super-
posición de las dos ondas que conforman al IDP. Esta última ecuación se analiza para
realizar la simulación del IDP y poder observar el comportamiento que tiene el patrón de
interferencia al modificar alguna de sus variables físicas en el laboratorio.
Para realizar la simulación, se reduce la expresión matemática de interferencia de dos
ondas de igual amplitud y cuya diferencia de fase viene dada por la expresión (2.11)[13],
que es la parte donde se encuentran las características principales para modificar los
patrones de interferencia del IDP. Entonces la ecuación tiene la siguiente forma:
I = 0,5 + 0,5 · cosα. (2.13)
12
2.3. Interferómetro de Michelson
Si recordamos que α se describe como en la ecuación (2.11) se puede modificar la expresión

considerando que R ≫ ǫx , ǫy , obteniendo:
k
2 2
α= (x ǫx + y ǫy ) − φ − σ . (2.14)
2R2 0 0
Observando a la Figura 2.3 donde describe el arreglo propuesto para ésta tesis, se puede
ver el haz de luz converge en el plano focal. Con la Ecuación 2.13 se puede representar la
distribución de intensidad para distintos valores de ǫx y ǫy , estos valores representan las
distancias del punto focal en las cordenas (x, y) a la placa del IDP.
A continuación se presenta una simualación para un frente esférico, ésto es, ǫx = ǫy ,
donde estos valores representan la distancia que hay del punto de convergencia del haz
de luz a la placa del IDP, los valores que toman ǫx y ǫy va desde 1.50 micras aumentando
el valor en 0.05 micras, hasta tener un valor de 2.05 micras. Los demás valores se dejan
constantes.
Las variaciones antes mencionadas se pueden observar en la Figura 2.4, donde se
muestran 12 patrones de interferencia simulados, los cuales dan un comportamiento de ir
de un número de franjas mayores a menores, al mismo tiempo que estas franjas aumentan
en espacio. Ésto da el comportamiento que tiene el IDP para diferentes distancias de R,
es decir, para diferentes distancias entre el plano focal de la lente convergente y la placa
del IDP.
Algunas otras simulaciones realizadas bajo el software de Matlab son mostradas a
continuación, modificando el valor de ǫx en 1.010 milímetros y ǫy en 2.010 milímetros.
Posteriormente, estos valores son intercambiados y algunos se colocan como valores ne-
gativos. Diferentes patrones de interferencia, usando combinaciones de estos valores, son
mostrados en las Figuras 2.5 a 2.10.

El interferómetro de Michelson es utilizado en este trabajo para caracterizar el material
y poder comparar con los resultados del IDP, teniendo así una referencia. El interferóme-
13
2. Marco Teórico
(a) (b) ( c)
(d) (e) (f)
(g) (h) (i)
(j) (k) (l)
Figura 2.4: Patrones de interferencia simulados, donde ǫ = ǫx = ǫy , posiciones para

ǫ: (a)ǫ=1.50 (b) ǫ=1.55 (c)ǫ=1.60 (d)ǫ=1.65 (e)ǫ=1.70 (f)ǫ=1.75 (g)ǫ=1.80 (h)ǫ=1.85
(i)ǫ=1.90 (j)ǫ=1.95 (k)ǫ=2.00 (l)ǫ=2.05
14
Figura 2.5: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : 2010
15
2. Marco Teórico
Figura 2.8: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : −2010
16
Figura 2.9: Interferograma asociado a los valores ǫx : 1010 y ǫy : −2010
Figura 2.10: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫx : −1010.
17
2. Marco Teórico
tro de Michelson es un interferómetro que trabaja por división de amplitud, siendo un

interferómetro de caminos diferentes, por lo que es muy sensible [16].
El arreglo utilizado por un interferómetro de Michelson se muestra en la Figura 2.11,
las partes ópticas que conforman el interferómetro son dos espejos ópticos planos M1 y
M2 y un divisor de haz de luz 50/50 G1 .
M2
2 d
M’1
M1
G1
S
S2
S1
Figura 2.11: Esquema del Interferómetro de Michelson.
El interferómetro utiliza dos fuentes de luz extendida, un láser y una lámpara de luz
blanca, la primera se utiliza para alinear los elementos ópticos y posteriormente, para
igualar las distancias de los espejos M1 y M2 respecto al cubo divisor de haz G1 . Lo
anterior se muestra en la Figura 2.12. En la alineación del interferómetro, el haz que viene
del láser pasa a través de los elementos ópticos, observando en la pantalla varios puntos
al final del recorrido debido a las reflexiones de haz sobre los elementos ópticos. Estos
puntos se hacen coincidir en uno solo, ajustando los espejos, teniendo así alineado el cubo
divisor y los espejos.
A continuación el haz del láser se expande con un objetivo de microscopio y en la
pantalla P se observa un patrón de interferencia, con anillos concéntricos, esto es debido
a la diferencia de camino óptico que existe entre los espejos de 2∆d como se observa en la
18
M2
2 d
M’1
M1
G1
B
S A C
laser
S2
D
S1
Figura 2.12: Esquema del Interferómetro de Michelson utilizando la fuente de luz láser
para la alineación
M2
2 d
M’1
M1
G1
B
S OM A C
laser
S2
D
S1
Figura 2.13: Esquema del Interferómetro de Michelson con haz láser extendido
19
2. Marco Teórico
V
M2
2Δd
M’1
PT
M1
S
G1
Figura 2.14: Esquema del Interferómetro de Michelson utilizando la fuente de luz blanca
Figura 2.13. Lo que se necesita es que 2∆d sea muy cercano a cero, por ello la importancia
de usar un láser He-Ne, pues con él se pueden observar franjas de interferencia cuando
∆d es grande, contrario a la luz blanca. Para obtener un ∆d cercano a cero, las franjas
obtenidas con el láser ayudan de la siguiente manera; se realiza inclinando un espejo para
que aparezcan franjas con curvatura a la izquierda, se desplaza un espejo observando que
las franjas pasan de ser curvas a rectas. Si se sigue moviendo el espejo, las franjas pasan
de rectas a curvatura a la derecha. Cuando se tienen las franjas rectas, se dice que se
encuentra en la posición donde las distancias del cubo divisor a los espejos son iguales. La
igualdad en las distancias de los caminos ópticos para los dos rayos es indispensable para
producir interferencia con luz blanca. Se registran las tres posiciones del espejo M2 , la
primera posición cuando las franjas pasan de curvatura a la derecha a rectas y un segundo
registro cuando pasan de rectas a curvas a la izquierda y finalmente, la distancia donde
se mantienen rectas las franjas. Estas posiciones son referencia para trabajar con la luz
blanca [17].
Una vez anotadas las posiciones, se cambia la luz láser por una fuente de luz blanca,
como se observa en la Figura 2.14, iluminando el papel translucido P T para tener luz
20
extendida,observando el patrón de interferencia sobre el cubo divisor G1 directamente con

el ojo. Esta observaciíon suele ser difícil de encontrar debido a que es necesario desplazar
lo más finamente posible el espejo M2 entre las posiciones anotadas anteriormente. Se
desplaza M2 de una posición a otra hasta encontrar las franjas de colores.
Ya ajustado el Interferómetro de Michelson y trabajando con la fuente de luz blanca, se
coloca la franja obscura en el centro del patrón de interferencia, esto es, la franja de orden
cero en la cuál se sobreponen todas las longitudes de onda que contiene la luz blanca.
Para la medición del índice de refracción de una placa de vidrio plano paralela, se coloca
la placa de vidrio a medir entre el espejo M1 y el cubo divisor G1 , al colocar la placa en
el camino óptico del interferómetro de Michelson, este camino aumenta haciendo que las
franjas desaparezcan debido a que ∆d > 0. Lo que se hace es compensar la diferencia del
camino óptico introducido por la placa de vidrio, desplazando el espejo M2 , hasta volver
a observar las franjas de colores, lo que significa tener un ∆d ≈ 0. Para medir el índice
de refracción de la placa de vidrio es necesario medir el desplazamiento realizado por el
espejo M2 para compensar el camino óptico. Esta medida es 2∆d que es utilizada con las
siguientes ecuaciones [18],
λ
d1 − d2 = (m1 − m2 ) , (2.15)
2
que puede ser descrita como:
2∆d = ∆mλ, (2.16)
donde d1 es la posición arbitraria de M2 antes de introducir la placa de vidrio y d2 es la

posición de M2 después de introducir la placa de vidrio; m1 y m2 son el número de franjas
que pasan de una posición d1 a d2 y λ es la longitud de onda con que esta trabajando el
interferómetro. La siguiente ecuación relaciona el índice de refracción con el número de
franjas ∆m [18]
(n − 1)t = (∆m)λ, (2.17)
donde t es el espesor de la placa de vidrio. Introduciendo la ecuación (2.16) en (2.17) se
21
2. Marco Teórico
obtiene lo siguiente:
(n − 1)t = ∆mλ,
2∆d
(n − 1)t = λ,
λ
(n − 1)t = 2∆d,
2∆d
n−1= ,
t
2∆d
n= + 1, (2.18)
t
Utilizando la ecuación (2.18) se obtiene el índice de refracción, ya que se conoce ∆d y se
puede conocer t que es el espesor de la placa, la que se mide con un vernier. Así es como
se usa el interferómetro de Michelson para la medición del índice de refracción en una
placa de vidrio de caras plano paralelas conociendo a priori su espesor.
2.4. Ecuación para placas plano paralelas

En esta sección se presenta la ecuación utilizada para determinar el desplazamiento
producido como dispersión de la luz sobre una placa de vidrio, que está en función del
espesor de la placa y del índice de refracción. El efecto que se produce por una placa
de vidrio de caras plano paralelas sobre la longitud de onda de luz, es aprovechado para
medir el índice de refracción de la placa de vidrio [19][7].
Por lo tanto, se puede resolver la ecuación para determinar el índice de refracción de
la placa de vidrio si se conoce el espesor de la placa y el desplazamiento que sufre el haz
de luz al pasar por ella. La Figura (2.15) muestra una lente, la cual se encuentra en el
aire, formando una imagen en el punto P .
La inserción de una placa de vidrio de caras plano paralelas entre la lente y el punto
P , desplaza la imagen al punto P ′ . La ecuación para el desplazamiento y la solución para
obtener el índice de refracción se describe a continuación.
Partiendo de la Figura (2.16) con su respectiva notación y aplicando la ley de Snell
y trigonometría paraxial, se encuentra la ecuación del desplazamiento d. Partiendo de la
22
LF t
P
P’
(nr -1)t
n
Figura 2.15: Esquema del desplazamiento de la luz debido a la placa de vidrio plano
paralela
Figura (2.16(a)) y si sólo se queda uno con los triángulos que se dibujan con el trazo de
rayos, esto es, se trabaja con el triángulo que se observa en la Figura 2.16(b) donde, φi ,
es el ángulo de incidencia del rayo, φr es el ángulo del rayo refractado t es el espesor de
la placa, t′ es la diferencia de (t − d), d es el desplazamiento que necesitamos encontrar.
Partiendo de la Figura (2.16(b))
Cop = tan(φi )t′ ,
Cop = tan(φr )t, (2.19)
donde Cop es el cateto opuesto, y dentro de la zona paraxial es:
φi t′ = φr t. (2.20)
Para la ley de Snell paraxial se tiene

nφi
φr = , (2.21)
n′
donde n es el índice de refracción que esta sumergido en la placa de vidrio, para este caso,
que es el aire n = 1, y n′ es el índice de refracción de la placa de vidrio, que necesitamos
encontrar. Ahora sustituyendo la ecuación (2.21) en (2.20) se obtiene:
nφi
t′ φi = t (2.22)
n′
23
2. Marco Teórico
P P’
(nr -1)t
n
(a)
t
fi
(Cop)
fi P fr P’
d
(t’)
(b)
Figura 2.16: Esquema para encontrar el desplazamiento d
24
Simplificando se obtiene:
tn
t′ = . (2.23)
n′
Encontrando d, donde es igual: d = t − t′ , se sustituye t′ con la Euación (2.23), resolviendo
se obtiene:
d = t − t′ ,
tn
d = t− ′,
n
n
d = t(1 − ′ ),
n
n′ − n
d = t( ),
n
n′ − 1
d = t( ), (2.24)
n′
despejando la ecuación (2.24) en términos del desplazamiento del haz y del espesor de
la placa de vidrio, se obtiene:
t
nr = . (2.25)
t−d
La ecuación (2.25) es la utilizada para calcular el índice de refracción de las placas de
vidrio plano parelas, conociendo a priori el grosor de la misma placa t y el desplazamiento
D.
25
2. Marco Teórico
26
Capítulo 3
Desarrollo experimental para medir el

índice de refracción
En este capítulo se describe la metodología propuesta para la medición del índice de

refracción mediante el interferómetro de difracción por punto, así como su caracterización.
3.1. Arreglo experimental del IDP
El Interferómetro de Difracción por Punto (IDP), es un interferómetro de camino

común, que es insensible a las vibraciones externas del mismo, haciendo que sea mas
fácil de observar los patrones de interferencia. El montaje del arreglo experimental es
parcialmente fácil de realizar, como se observa en la Figura (3.1), los elementos ópticos
que lo conforman son mínimos. Estos elementos y su aplicación en el arreglo experimental
son descritos a continuación:
El IDP utiliza un láser de He-Ne como fuente de luz, este mismo láser sirve para alinear
todos los elementos que componen el interferómetro. Como primer paso, antes de colocar
los elementos ópticos, se alinea el láser. En pasos posteriores, por cada elemento colocado
éste se va alineando respecto al haz de luz entrante y que saliente. El primer elemento
óptico es el filtro espacial, que consiste en un objetivo de microscopio de amplificación
27
3. Desarrollo experimental para medir el índice de refracción
PC
(LC) Lente (LF) Lente Placa
Colimadora Focalizadora de IDP
Cámara
Láser CCD
He-Ne (L)
Filtro Espacial
(FE)
Figura 3.1: Esquema del arreglo experimental del IDP
de10X con un micro-orificio de 5 micras, con este se genera una fuente de luz puntual,
expandiendo el haz láser. Una lente colimadora (LC) está colocada a su distancia focal
del filtro espacial, haciendo confocales el filtro espacial y la LC. El haz de luz que es
colimado pasa a través de la lente focalizadora (FL) que hace converger el haz de luz al
plano focal de la lente FL. Cerca del plano focal se coloca la placa del IDP, la cual consiste
en un substrato de vidrio bañado en aluminio con una transmitancia del 10 %. Dentro de
la placa del IDP se tiene un micro-orificio del tamaño de 12 micras y transmitancia del
100 %. El frente de onda del haz láser pasa integramente a través de la placa disminuyendo
su intensidad y una mínima parte de la onda pasa a través del micro-orificio difractandose
y generando una onda esférica de referencia que se superpone con la onda que pasa a
través de la placa. Lo anterior se puede observar en el esquema de la figura (3.2).
Placa
del IDP
Frente de Lente Placa de
onda plano convergente prueba
Superposición
de los frentes
de onda
Figura 3.2: Esquema del Interferómetro de Difracción por Punto
Después de la placa del IDP se genera el patrón de interferencia que es grabado por una
cámara CCD (Canon Reflex XS) y posteriormente registrado en memoria para su posterior
28
3.1. Arreglo experimental del IDP
procesado . El arreglo del interferómetro de difracción por punto descrito anteriormente

se puede observar en la Figura (3.3), donde se muestran los diferentes elementos ópticos
que lo componen, el arreglo experimental va de derecha a izquierda según lo escrito en
los puntos anteriores. Un patrón de interferencia grabado por este arreglo es el que se
muestra en la Figura 3.4.
Montura
del IDP
Montura Lente Lente
Camara Focalizadora Colimadora
para la (LF) (LC)
CCD placa de vifrio Filtro Láser
Espacial He-Ne
Figura 3.3: Arreglo experimental del IDP en el laboratorio
Figura 3.4: Patrón de interferencia grabado con el arreglo del IDP implementado
Un esquema del arreglo experimental para la medición del índice de refracción en

placas de vidrio se muestra en la Figura (3.5) , donde se coloca la placa de vidrio de
29
prueba entre el espacio que hay entre la placa del IDP y la lente focalizadora. Esta es
la posición ideal para la medición del índice de refracción, ya que el haz que converge
es desplazado debido al espesor de la placa y sul índice de refracción. Posteriormente, se
realiza el anális del fenómeno del desplazamiento del haz, encontrando la ecuación que
relaciona este desplazamiento y el grosor de la placa de vidrio con el índice de refracción.
Placa
del IDP
Frente de Lente Placa de
onda plano convergente prueba
Superposición
de los frentes
de onda
Figura 3.5: Esquema del IDP colocando la placa de vidrio plano paralela de prueba
3.2. Desarrollo de programas para el análisis del patrón

de interferencia
En esta sección se describen los pasos para obtener los datos cuantitativos que ayudan
a medir el índice de refracción de una placa de vidrio plano paralela. El trabajo, como se
sabe, se basa en interferometría, utilizando como instrumento de medición el Interferóme-
tro de Difracción por Punto. Lo que se tiene son dos patrones de interferencia, uno servirá
de referencia, el cual es obtenido sin la placa de vidrio, el segundo patrón de interferencia
es tomado introduciendo la placa de vidrio.
Para poder cuantificar el cambio entre el patrón de referencia y el patrón modificado
debido a la placa de vidrio, se desarrolló un programa en Matlab c . La forma en la
que trabaja el programa se explica en secciones posteriores. Básicamente lo que hace
el programa es medir el radio del primer anillo máximo de cada uno de los patrones de
interferencia grabados. Esta diferencia de crecimiento en el anillo indica un desplazamiento
30
3.2. Desarrollo de programas para el análisis del patrón de interferencia
en la placa del IDP. Este desplazamiento del IDP, está en función del espesor y del índice
de refracción de la placa de vidrio a estudiar. El programa desarrollado para medir el
radio del anillo principal del patrón de interferencia del IDP se hace sobre la plataforma
de Matlab c . Antes de empezar el análisis, las imágenes de los patrones grabados, se les
aplica un filtro pasa-baja basado en la función de Gauss y la transformada rápida de
Fourier. Como se puede observa en la Figura (3.7) el patrón de interferencia contiene
ruido propio del sistema de grabado que podría dificultar el procesado de las imágenes. Se
elige la función Gauss ya que se ajusta al tipo de láser ocupado para trabajar, al igual que
la intensidad con la que se guarda el patrón de interferencia , da una forma Gaussiana.
3.2.1. Filtro pasa-baja
Los filtros suavizantes hacen que la imagen aparezca algo borrosa pero al mismo tiempo
reducen el ruido [20]. Los bordes y otras transiciones bruscas en los niveles de grises
de una imagen contribuyen significativamente al contenido en altas frecuencias de su
transformada de Fourier. Por lo tanto el difuminado o suavizado se consigue, en el dominio
de la frecuencia, en base de atenuar un rango específico de componentes de alta frecuencia
en la transformada de Fourier de una imagen. Por lo tanto, el filtro pasa-baja que se utiliza,
se calcula usando el teorema de convolución con la transformada rápida de Fourier, esto
es el producto de dos funciones.
G(u, v) = H(u, v)F (u, v), (3.1)
donde F (u, v) es la transformada de Fourier de la imagen a suavizar, H(u, v) es la trans-

formada de Fourier del filtro, el cual es una función gaussiana, resultando G(u, v). La
transforma de Fourier inversa dará entonces la imagen g(x, y) con un suavizado.
El procedimiento del algoritmo se describe en la Figura 3.6. La Figura 3.7 es la imagen
a procesar, la Figura 3.8 muestra la imagen filtrada para trabajarla la cual se guarda para
el siguiente paso, el cual es encontrar los máximos de la imagen.
31
Función Transformada Imagen

Imagen a Transformada Inversa de
procesar de Fourier Filtro H(u,v) Filtrada
Fourier
f(x,y) F(u,v) H(u,v) G(x,y)=H(u,v)F(u,v) g(x,y)
Función Gauss
h(x,y)
Figura 3.6: Diagrama de flujo para el Filtro pasa-baja
PERFIL ORIGINAL
Figura 3.7: Perfil central de la imagen capturada antes del filtrado
32
PERFIL FILTRADO
Figura 3.8: Perfil central de la imagen capturada después del filtrado
180
160
140
120
Niveles de gris
100
80
60
40
20
0
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900
Columnas
Figura 3.9: Perfiles de ambas imágenes, en rojo el perfil antes del filtro y en azul después
del filtro
33
3.2.2. Programa de máximos
El proceso del algoritmo en la búsqueda de los máximos y el ajuste a una circunferencia

se describe en la Figura 3.10.
Imagen a
procesar
Selección de
los perfiles
a trabajar
(4)
Solo se toman los dos
máximos principales
de cada perfil
Lectura de los
perfiles en la
escala de grises
Con los ptos. anteriores
se resuelve la ec. de la 2
(x-a) + (x-b)2=R2
circunferencia,
obtieniendo el radio
Se obtiene la región
cada máximo
local del perfil
Radio del
anillo principal
De cada región
se toma la mitad
obteniendo los
puntos medios
Figura 3.10: Diagrama del algoritmo para la búsqueda de Máximos y el ajuste a una
circunferencia para el primer máximo del patrón de interferencia.
Una vez minimizado el ruido de la imagen, pasando el filtro anterior, se obtiene un

perfil de niveles de grises que pasa por el centro del patrón de interferencia, en forma
sinusoidal como se observa en las Figuras 3.7 y 3.8. En la Figura 3.9 se grafica la posición
34
250
200
Niveles de gris
150
100
50
0
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900
Columnas
Figura 3.11: Histograma de los perfiles y en cuadro los puntos máximos que encuentra el
programa.
del pixel contra su valor en escala de grises. Se observa que la mayor intensidad se obtiene
en el anillo principal. Este es la referencia que se toma para posteriormente cuantificar el
incremento en las franjas del patrón de interferencia y poder realizar un análsis posterior.
Se eligen cuatro perfiles sobre la imagen, los cuales se intersecan en el centro. De cada
perfil se obtienen los máximos locales obteniendo el histograma de cada uno como se
observa en la Figura 3.11. Se toman los dos puntos máximos de cada perfil y se guardan
sus correspondientes coordenadas para su ajuste al círculo. Se tienen un total de ocho
puntos en cada anillo como se observa en la Figura 3.12 .
Para poder trazar estas líneas, una horizontal, otra vertical y dos diagonales, se tienen
que dar las posiciones y luego se guardan los valores, los cuales son mostrados en la Figura
3.11 con el histograma de cada perfil, obteniendo un vector para cada perfil de dimensiones
del tamaño del perfil, con los valores de intensidad en escala de grises, esto es de 0 a 255.
A los datos guardados se les analiza para obtener sus máximos. Como se tiene un
vector para cada perfil, de cada uno se encuentran sus máximos utilizando ventanas de
35
Niveles de gris
Columnas
Figura 3.12: Filtrado de la imagen marcando máximo central de cada franja.
15 pixeles, es decir de cada 15 puntos se encontrá un máximo. El programa se basa en la

propiedad de la derivada, hallar la tangente en un punto a una curva.
f (x + h) − f (x)
f ′ (x) = lı́m , (3.2)
h→0 h
donde, x es la posición inicial, h es el incremento en posición inicial. Y se encuentran

los puntos cuando la tangente es horizontal, indicando que se tienen puntos máximos o
mínimos sobre la curva. Como se observa en la Figura (3.12) y (3.11) se encuentran varios
máximos locales, pero solo los máximos del primer anillo brillante son guardados como se
observa en la Figura (3.13. El tamaño de la ventana en que se buscan los máximos puede
ser variado dentro del programa (h).
Una vez que el programa localiza los dos máximos en todo el vector, se registran las
posiciónes obteniendo así los ocho puntos para realizar el ajuste a un círculo.
36
Niveles de gris
Columnas
Figura 3.13: Puntos sobre cada máximo central de las franjas de las cuales se ajustará un
círculo.
3.2.3. Programa de ajuste a un círculo
Una vez obtenidas las posiciones de los puntos máximos antes mencionados, éstas
son almacenadas en una matriz para resolver la ecuación del círculo y poder calcular los
parámetros del círculo que mejor ajusta a esos puntos, obteniendo a la vez el tamaño de
su radio con el cuál vamos a tomar de referencia. Lo anterior se obtiene aplicando las
ecuaciones siguientes.
Partiendo de la ecuación de la circunferencia:
(x − a)2 + (y − b)2 = R2 (3.3)
donde x, y son las coordenadas de los puntos que conforman al círculo en el espacio, y a, b
son los valores de la coordenada del punto donde se localiza el centro del circulo, siendo
R su radio. De lo anterior se deduce que:
x2 + y 2 + Dx + Dy + F = 0. (3.4)
37
desarrollando la ecuación (3.4) tenemos
Dx + Dy + F = −(x2 + y 2 ) (3.5)
Colocando la ecuación en forma matricial para un número n de puntos:

   
x y 1   x21 + y12
 1 1  D  
 2 2
x2 y2 1   x + y2 
  
 E  = −  2
 
 .. ..  .. 
 
. . 1  . 
 
  F  
x8 y8 1 x28 + y82
A x = −b (3.6)
Resolviendo la ecuación (3.6) para x se obtiene los parámetros del círculo como se observa
en la Figura 3.13.
3.3. Caracterización de la placa del IDP
La técnica para la medición del índice de refracción de las placas paralelas, consiste en
el fenómeno comúnmente conocido en la Óptica, como refracción, que es el doblamiento
que sufre la luz al pasar de un medio a otro. El ángulo que forma este doblamiento de la
luz respecto a la normal a la superficie del medio al que se propaga, depende del índice
de refracción del medio .
Observando el arreglo experimental del IDP, Figura 3.5 se tiene una lente focalizadora
y cerca de su punto focal se encuentra la placa del IDP, la cual genera el patrón de
interferencia del sistema. Entre esta lente y la placa del IDP se coloca la placa de vidrio
para medir su índice de refracción. Ésta es la misma geometría con la que se trabaja en la
ecuación (2.25) basada en la Figura 2.16. Como se sabe, esta ecuación depende de conocer
el espesor de la placa y el desplazamiento del plano focal de la lente focalizadora generada
por la placa de vidrio. Por lo tanto, si se conoce el desplazamiento que sufre el haz de luz
debido a la refracción, se podrá encontrar el índice de refracción del medio.
38
P
P’
(nr -1)t
n
Figura 3.14: Esquema del desplazamiento d
El espesor de la placa se mide mecánicamente mediante un vernier digital capaz de

resolver décimas de micrómetros, con un error de medición de ±5µm, y el desplazamiento
debido a la placa de vidrio se mide utilizando el patrón de interferencia que genera el IDP.
Como dato extra la planicidad de las caras de la placa de vidrio es de λ/4.
Para conocer el desplazamiento debido a la placa de vidrio se utiliza el patrón de

interferencia generado por el IDP, por lo cuál se necesita caracterizar previamente el IDP.
La caracterización parte de la teoría del IDP, pues al modificar la posición de la placa
del IDP longitudinalmente respecto al plano focal de la lente focalizadora, el patrón de
interferencia se modifica. Teóricamente, lo que se realiza es colocar un desplazamiento en
la ecuación (2.13), dando posiciones a ǫx y ǫy los cuales representan la distancia de la
placa al plano focal. La modificación del patrón de interferencia al desplazar la placa del
IDP resulta en un aumento del tamaño de las franjas circulares a la vez que disminuye
el número de franjas. Por lo que se concluye que para cada posición de la placa del IDP,
hay un tamaño y número de franjas. Para el cambio entre dos posiciones pequeñas, el
número de franjas varia muy poco por lo que es imposible cuantificar. El parámetro a
medir entonces, es el tamaño de las franjas, en partícular la primera franja brillante.
Por otra parte, el patrón de interferencia se modifica de igual manera al desplazar el
39
Posición Radio Posición Radio Posición Radio

2500 189.7722 2850 201.1417 3200 212.2500
2550 191.4190 2900 202.0263 3250 213.2245
2600 193.0159 2950 204.2190 3300 215.5246
2650 194.6150 3000 205.8240 3350 216.8027
2700 196.1917 3050 207.4291 4000 219.0775
2750 198.2700 3100 209.8547
2800 199.1514 3150 210.6440
Tabla 3.1: Datos obtenidos de calibración del IDP teórico.
plano focal y la placa del IDP se mantiene fija. Este desplazamiento ocurre al introducir
la placa de vidrio, como se vio en la Figura 2.15. El inconveniente de introducir la placa
del vidrio es no saber cuanto se ha desplazado el plano focal.
Radio vs Posición
220
215
210
Radio (pixeles)
205
200
195
190
185
2460 2660 2860 3060 3260
Posición (micras)
Figura 3.15: Gráfica de los valores encontrados para cada posición de la Tabla 3.1
40
(a) (b) ( c)
(d) (e) (f)
(g) (h) (i)
(j) (k) (l)
Figura 3.16: Patrones de interferencia utilizados en la caracterización de la placa del IDP,

se describe de cada imagen su posición (p) y su radio (r); (a)p=2500 r=189.772, (b)p=2550
r=191.419, (c)p=2600 r=193.016, (d)p=2650 r=194.615, (e)p=2700 r=196.191, (f)p=2750
r=198,270, (g)p=2800 r=199.151, (h)p=2850 r=201.142, (i)p=2900 r=202.026, (j)p=2950
r=204.219, (k)p=3000 r=205.824, (l)p=3050 r=207.429
41
La metodología para conocer el desplazamiento es, primero tener una posición de

referencia y medir el tamaño de la primera franja brillante del patrón de interferencia
generado es esa posición, como segundo paso es desplazar el IDP cada 50µm y anotar la
posición desplazada junto con el tamaño de su primera franja brillante, este segundo paso
se repite por diecinueve veces mas. Algunos de los patrones de interferencia utilizados se
muestran en la Figura 3.16, los valores para la posición y tamaño de radio son descritos
en la Tabla 3.1. Los resulados son graficados como se muesta en la Figura 3.15.
Un ejemplo del procedimiento una vez hecha esta caracterización es de la siguiente
manera. Primero se grabar un patrón de interferencia de referencia, se mide el tamaño de
su primera franja brillante y mediante la gráfica se encuentra la posición que le correspon-
de, P1 . Posteriormente se introduce la placa de vidrio, y nuevamente se mide el tamaño
de la primera franja brillante del patrón de interferencia modificada y se encuentra la po-
sición que le corresponde en la gráfica, P2 . La diferencia entre las posiciones, d = P1 − P2 ,
corresponde al desplazamiento debido a introducir la placa del vidrio.
Hasta aquí se ha presentado la metodología y las herramientas para medir el índice de
refracción, en el siguiente capítulo se muestran los resultados obtenidos en cada etapa de
esta metodología y el índice de refracción como resultado final de este trabajo.
42
Capítulo 4
Resultados
En este capítulo se muestran los resultados del procedimiento desarrollado para la

medición del índice de refracción de placas de vidrio plano paralelas, el cual puede ser
aplicado de igual manera a fluidos laminares. Primero y para explicar gráfica y explíicita-
mente el proceso, se presenta la medición del índice de refracción de las placas de vidrio
PYREX. Posteriormente, con el fin de comparar los resultados obtenidos con la metología
propuesta con otra técnica interferométrica, se presentan los resultados obtenidos por el
interferómetro de Michelson y un refractómetro comercial, el refractómetro de Abbe. Fi-
nalmente, la metodología propuesta se aplica para otras placas de vidrio mostrando sólo
los resultados de estas placas.
4.1. Medición del índice de refracción con el IDP
Para obtener el índice de refracción se utilizan las herramientas descritas en los capítu-
los anteriores. Como primer paso se graba el patrón de interferencia de referencia del IDP,
esto quiere decir que no estará nigún vidrio dentro del arreglo experimental del IDP. Esta
referencia será necesaria para medir el desplazamiento que sufre el punto focal, como en
capítulos anteriores se ha mencionado. La Figura 4.1(a) muestra el patrón de interferencia
de referencia del ejemplo presentado en esta sección.
43
4. Resultados
(a) (b)
Figura 4.1: Patrones de interferencia generados por el IDP, (a) Patrón de interferencia de
referencia, sin muestra, (b) Patrón de interferencia con la muestra de la placa de vidrio
plano paralela Pyrex
Como segundo paso se introduce una placa de vidrio óptico plano paralela Pyrex, entre
la lente focalizadora y la placa del IDP, esto hace que se modifique el patrón de interfe-
rencia, el cual también es grabado. A través de este proceso se tienen los dos patrones de
interferencia necesarios para trabajar, el de referencia y el de la placa de vidrio. La Figura
4.1(b) muestra el patrón de interferencia modificado por la placa de vidrio Pyrex.
El tercer paso es trabajar con los algoritmos programados en Matlab, de los cuales
el primero realiza el procesado en las imágenes para filtrarlas y quitarles el ruido de alta
frecuencia, obteniendo así los patrones de interferencia suavizados como se muestra en la
Figura 4.2(a), para el patrón de interferencia de referencia y Figura 4.2(b) para el patrón de
interferencia con la placa de vidrio Pyrex, en los cuales se pueden observar las diferencias
significativas respecto a las imágenes originales. Posteriormente cada imagen filtrada, es
procesada con el segundo programa, el cual ajusta la primera franja brillante del patrón
de interferencia a un círculo, obteniendo el tamaño del radio del círculo ajustado.
44
4.1. Medición del índice de refracción con el IDP
(a) (b)
Figura 4.2: Patrones de interferencia con un filtro pasa-baja, (a) Patrón de interferencia
filtrado, sin muestra, (b) Patrón de interferencia filtrado de la muestra de la placa de
vidrio plano paralela Pyrex
(a) (b)
Figura 4.3: Patrones de interferencia con ajuste de un circulo a la primera franja brillante,
(a) ajuste de un circulo al patrón de interferencia de referencia, (b) ajuste de un circulo
al patrón de interferencia de la placa de vidrio Pyrex
45
4. Resultados
La Figura 4.3(a) muestra el patrón de interferencia de referencia ajustado al círculo

igual que la Figura 4.3(b) para el patrón de interferencia modificado por la placa de vidrio
Pyrex. Éstos resultados del programa en Matlab son mostrados en la Tabla 4.1, donde se
muestran los valores del radio para cada patrón de interferencia obtenidos.
Nombre Radio (píxles)

Referencia 181.319
Pyrex 228.632
Tabla 4.1: Datos obtenidos del programa ajuste del círculo
Utilizando la gráfica de la Figura 4.4 donde se tiene el tamaño de la primera franja

brillante Vs. posición, se busca el valor de cada uno de los tamaños de los radios encontra-
dos y su correspondiente valor de posición, para posteriormente restar ambas posiciones
y encontrar el desplazamiento que sufre la placa de vidrio Pyrex. Los valores se muestran
en la Tabla 4.2.
Nombre Radio (píxles) Posición (milímetros)

Referencia 181.319 2231
Pyrex 228.632 3705
Tabla 4.2: Datos obtenidos del ajuste del círculo y de la gráfica 4.4
Como último paso para medir el índice de refracción se utiliza la ecuación (2.25).
t
nr = (2.25)
t−d
En la Tabla 4.3 se muestran los datos y resultados para la ecuación (2.25)

Estos resultados son comparados con el interferómetro de Michleson y el refractómetro
de Abbe, los cuales se mostrarán a continuación.
46
4.2. Medición del índice de refracción con el Interferómetro de Michelson
Radio Vs Posición
y = 2E-07x2 + 0.0309x + 111.37
220
215
210
Radio (pixeles)
205
200
195
190
185
2460 2660 2860 3060 3260
Posición (micras)
Figura 4.4: Gráfica ajustada de los valores mostrados en el capítulo 3 y de la Figura 3.15
Nombre Radio (píxles) Posición (milímetros) ∆d(µm) nr

Referencia 181.319 2231
1474 1.4499
Pyrex 228.632 3705
Tabla 4.3: Datos obtenidos del ajuste del círculo, de la gráfica 4.4, la diferencia entre las
posiciones y de la ecuación 2.25
4.2. Medición del índice de refracción con el Interferó-

metro de Michelson
Un interferómetro utilizado y conocido para la medición del índice de refracción es el

Interferómetro de Michelson, especialmente trabajando con una fuente de luz blanca. Este
interferómetro es utilizado para comparar los resultados del IDP. Los resultados obtenidos
del Interferómetro de Michelson son mostrados a continuación.
En la Figura 4.5 se muestra el arreglo experimental. Entre el espejo E2, y el cubo
divisor de luz, D2, se encuentra la montura que sostiene la placa de vidrio de prueba.
47
4. Resultados
E1
E2
Luz Blanca
D2
Montura para
las placas
de vidrio
Pantalla dispersora
Figura 4.5: Arreglo experimental del interferómetro de Michelson en el laboratorio
Antes de empezar con la medición con la placa de vidrio Pyrex se necesita primero tener la
referencia, la cual es el patrón de interferencia de luz blanca, observando franjas de colores
como se muestra en la Figura 4.6 como punto de referencia absoluta para la medición del
índice de refracción. Posterior a encontrar la franja obscura en el patrón de interferencia
de referencia se anota el valor del tornillo micrométrico en el que se encuentra el espejo
uno dm1 . Los tornillos micrométricos vienen calibrados y se comprueba al observar en un
costado de la base que son movidos por los tornillos, por cada vuelta es un centímetro.
Se coloca la placa de vidrio Pyrex en la montura entre E2 y D2, esto ocasiona que
el patrón de interferencia desaparezca ya que aumentamos el camino óptico de lado del
espejo dos. Para volver a encontrar el patrón de interferencia, se vuelven a igualar los
caminos ópticos de los espejos. Se desplaza el espejo E1 hasta volver a observar franjas
como se muestra en la Figura 4.7. Una vez observadas estas franjas se anota el valor que se
desplazo el tornillo micrométrico, dm2 , la diferencia entre dm1 y dm2 es el desplazamiento
al compensar el camino óptico introducido por la placa de vidrio Pyrex. Los datos que se
obtuvieron se utilizan para resolver la ecuación 2.18 con la que se encuentra el índice de
48
4.2. Medición del índice de refracción con el Interferómetro de Michelson
Figura 4.6: Patrón de interferencia del interferómetro de Michelson con luz blanca, obser-
vando las franjas de colores, como una referencia absoluta
Figura 4.7: Patrón de interferencia del Michelson con luz blanca, observando las franjas
oscuras al compensar la diferencia del camino óptico debido a introducir la placa de vidrio
Pyrex
49
4. Resultados
refracción para la placa con los datos obtenidos anteriormente. Los resultados obtenidos
son mostrados en la Tabla 4.4.
2∆d
n= +1 (2.18)
t
Nombre Posición (µm) ∆2dm (µm) t (µm) nr

Referencia 1000 dm1
2120 4750 1.4463
Pyrex 3120 dm2
Tabla 4.4: Datos obtenidos del tornillo micrometrico, tanto para el patrón de referencia
como para el modificado. El índice de refracción calculado es mediante la ecuación 2.18
4.3. Medición del índice de refracción con el Refractó-

metro de Abbe
El principio básico de un Refractómetro está acorde con la Ley de Snell:
n1 senαi = n2 senαr (4.1)
Siendo n1 y n2 los índices de refracción del medio a ambos lados del límite entre medios
distintos, donde αi es el ńgulo incidente y αr el ángulo de refracción.
Cuando un haz luminoso pasa de un medio ópticamente más denso a otro ópticamente
más ligero, el ángulo de incidencia es menor que el ángulo de refractado. Cuando αi cambia
hasta que αr llegue a ser de 900 , en este caso el ángulo de incidencia se le llama ángulo
crítico.
El principio del refractómetro de Abbe [21] para determinar el índice de refracción se
basa en determinar el ángulo crítico. Una muestra del material con índice de refracción
desconocido n0 se coloca sobre la base de un prisma de referencia con ángulo α = ∠BAC
50
4.3. Medición del índice de refracción con el Refractómetro de Abbe
e índice de refracción n ≫ n0 . Inmersos en aire tanto el prisma como el material, se

hace incidir luz sobre la superficie AB desde cualquier ángulo (Figura 4.8), su ángulo de
refracción es siempre mayor que ϕ. Si observamos el haz emergente, aparece el campo
visual dividido en dos mitades, una oscura y otra clara. Si situamos la línea que delimita
las dos mitades justo en el centro hallamos la posición del ángulo crítico.
ABC es el prisma de refracción cuyo índice de refracción es n. Sobre la superficie AB
se coloca la muestra a medir (líquido o sólido transparente) cuyo índice de refracción es
n0 .
De la Figura 4.8 se concluyen las siguientes relaciones:
n0 sen900 = nsenθ, (4.2)
nsenγ = senϕ, (4.3)
α = θ + γ, (4.4)
sustituyendo las ecuaciones 4.3 y 4.4 en 4.2 obtenemos:
n0 = nsenθ,
n0 = sen(α − γ),
n0 = nsen[senαcosγ − cosαsenγ], (4.5)
utilizando la ecuación 4.3 y elevandola al cuadrado se tiene:
n2 sen2 γ = sen2 ϕ,
n2 (1 − cos2 γ) = sen2 ϕ,
n2 − n2 cos2 γ = sen2 ϕ,
r
n2 − sen2 ϕ
cosγ = , (4.6)
n2
sutituyendo la ecuación 4.6 en 4.5 obtenemos:
51
4. Resultados
B n0 A
a
q
a
g
Figura 4.8: Diagrama de funcionamiento del Refractómetro de Abbe
r
n2 − sen2 ϕ
n0 = nsen[senα − cosαsenγ], (4.7)
n2
sustituyendo la ecuación 4.3 en 4.7 obtenemos:
p
n0 = senα n2 − sen2 ϕ − cosαsenϕ. (4.8)
El ángulo de refracción α y el índice de refracción n del prisma son conocidos, al cono-

cer el ángulo crítico ϕ, podemos conocer en índice de refracción n0 de la muestra. Este
refráctometro fue diseñado por E. Abbe en 1906.
El modo de usar el refractómetro es colocar en la parte posterior de donde esta el
ocular, el vidrio de prueba, el cual se coloca sobre el prisma de referencia al que antes
tiene que tener una gota de aceite. Esto es, el aceite tiene que quedar atrapado entre los
vidrios, el del refractómetro y el de prueba. Posterior se observa por el ocular una línea
brillante, la cual se encuentra moviendo la perilla que esta a un costado del refractómetro,
esta mueve una línea de la escala, la que indica el valor del índice de refracción en cuanto
se localiza la línea brillante. A continuación se muestran las Figuras del refractóemtro de
Abbe y el lector de índice de refracción el cual nos indica el valor del índice de refracción
de la placa de vidrio del Pyrex, que es n=1.469 .
52
4.3. Medición del índice de refracción con el Refractómetro de Abbe
Figura 4.9: Refractómetro de Abbe
Figura 4.10: Lectura del Refractómetro de Abbe para el índice de refracción de la placa
de vidrio Pyrex
53
4. Resultados
4.4. Discusiones y Resultados finales

De acuerdo a los resultados mostrados del interferómetro de Michelson y del refrac-
tómetro de Abbe, la metodología propuesta obtiene el valor cercano a los índices de
refracción deseados, en algunos casos variando sólo en la segunda o tercera cifra. La Tabla
4.5 muestra los resultados obtenidos con diversos tipos de placas plano paralelas. De esta
tabla se puede observar que los resultados obtenidos con el IDP son similares a los valores
reales.
Espesor Abbe Michelson IDP Catálogo

Material
(mm) n ∆dm(µm) n ∆d(µm) n n
Pyrex 4.75 1.473 2.120 1.446 1.474 1.449 1.474
Zerodur 4.80 1.544 2.760 1.575 1.768 1.583 1.5403
F5 4.75 1.591 2.950 1.621 1.778 1.598 1.6034
SF6 4.75 S/M 3.833 1.807 2.147 1.825 1.8051
SF15 4.75 S/M 3.183 1.670 1.832 1.628 1.6989
BK7 4.75 1.517 2.608 1.549 1.615 1.515 1.5168
Tabla 4.5: Datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M=sin medición)
Para conocer el error en una medición F (x, y), la ecuación viene expresada por:
δF (x, y) δF (x, y)
ǫF = ǫx + ǫy (4.9)
δx δy
Para el interferómetro de Michelson, la ecuación 2.18
2∆d
n(t, d) = + 1, (2.18)
t
la ecuación de error para el interferómetro de Michelson es:
δn δn
ǫM ichelson = ǫt + ǫd
δt δd
−2∆d 2
ǫM ichelson = 2
50µm + 50µm (4.10)
t t
54
Para el refractómetro de Abbe, la ecuación 4.8

p
n0 = senα n2 − sen2 ϕ − cosαsenϕ, (4.8)
la ecuación de error para el refractómetro de Abbe es:

δn0 δn0
ǫAbbe = ǫn + ǫϕ
δn δϕ
nsenα cos2 ϕ
ǫAbee = p ǫn + p ǫϕ (4.11)
n2 − sen2 ϕ n2 − sen2 ϕ
Se tiene el problema, por ser un refractómetro comercial, no se puede medir el ángulo
crítico ni el índice de refracción del prisma de referencia. Lo que deja es solo la medicón
realizada, quedando de la siguiente manera:
n0 = M, (4.12)
donde M es la medida que se toma directamente del instrumento, por lo tanto el error
que se tendrá viene dada por la siguiente expresión.
δn0
ǫAbbe = ǫM
δM
ǫAbee = ǫM (4.13)
Si el error del instrumento que menciona el manual es de 0.0002, entonces ǫA bbe es 0.0002
para todas las mediciones.
Para el IDP, la ecuación 2.25
t
nr = , (2.25)
t−d
la ecuación de error para el IDP es:
δnr δnr
ǫIDP = ǫt + ǫd
δt δd
−d t
ǫIDP = 2
50µm + 50µm (4.14)
(t − d) (t − d)2
55
4. Resultados
Espesor Abbe Michelson IDP

Material
(mm) ǫn ∆dm(µm) ǫn ∆d(µm) ǫn
Pyrex 4.75 0.0002 2.120 0.0021 1.474 0.0011
Zerodur 4.80 0.0002 2.760 0.0021 1.768 0.0010
F5 4.75 0.0002 2.950 0.0021 1.778 0.0011
SF6 4.75 S/M 3.833 0.0021 2.147 0.0011
SF15 4.75 S/M 3.183 0.0021 1.832 0.0011
BK7 4.75 0.0002 2.608 0.0021 1.615 0.0011
Tabla 4.6: Errores de los datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M =
sin medición)
Los errores encontrados para cada una de las mediciones realizadas se muestran en la
tabla 4.6.
Se Puede graficar los errores por aproximación, es decir la diferencia entre el valor real y
el valor medido, al mismo tiempo, podemos obtener los errores, relativo y porcentual. Con
ello se observa que se tiene una buena aproximación a los datos deseados. Las ecuaciones
para obtener estos errores son:
Errorabsoluto = V alorreal − V alormedicin , (4.15)
V alorabsoluto
Errorrelativo = , (4.16)
V alorreal

V alorabsoluto
Errorporcentual = × %, (4.17)
V alorreal
La gráfica del error absoluto se muestra en la siguiente Figura 4.11. Para los valores
obtenidos para cada uno de los errores, ecuaciones 4.15 4.16 4.17 se muestran en la tabla
4.7
56
Error Absoluto
(Error real - Error medido)
0.08
0.06
Abbe
0.04
Michelson
0.02
IDP
0
Pyrex
Zerodur
F5
SF6
SF15
BK7
-0.02
-0.04
-0.06
Figura 4.11: Gráfica del error absoluto para cada uno de los materiales
Abbe Michelson IDP

Material
Eabsoluto E% Eabsoluto E% Eabsoluto E%
Pyrex 0.001 0.0678 0.0280 1.8995 0.0250 1.6960
Zerodur -0.0037 -0.0024 -0.0347 -2.2528 -0.0427 -2.7721
F5 0.0124 0.0077 -0.0176 -1.0976 0.0054 0.3367
SF6 S/M S/M -0.0019 -0.1052 -0.0199 -1.1024
SF15 S/M S/M 0.0289 1.7011 0.0709 4.1732
BK7 -0.0002 -0.0001 -0.0322 -2.1228 0.0018 0.1186
Tabla 4.7: Errores de los datos obtenidos durante el procedimiento experimental (S/M =
sin medición)
57
4. Resultados
58
Capítulo 5
Conclusiones
La necesidad de medir el índice de refracción en flujos laminares en ambientes de

alto ruido y/o vibraciones, ha llevado por optar a la implementación de un interfe-
rómetro insensible a este tipo de ambientes. En este trabajo se propone el uso del
Interferómetro de Difracción por Punto (IDP) como una nueva metodología para
medir el índice de refracción. La medición del índice en fluidos laminares empieza
en la medición para placas de vidrios plano paralelas.
La relación de los parámetros de la ecuación que define al patrón de interferencia

del IDP, son muy importantes en el momento de analizar el comportamiento de sus
franjas. Las cuales como se vió, son modificadas dependiendo de la variación que
sufran los valores de estos parámetros.
La simulación del patrón de interferencia del IDP da una aproximación del com-
portamiento esperado de las franjas. En específico, se modifica el parámetro ǫ de
la Ecuación 2.14. Este parámetro indica la distancia que hay del punto focal de la
lente focalizadora a la placa del IDP. Esta distancia es modificada por la placa de
vidrio a medir, y en su caso por el flujo laminar.
Hay un cambio en la distancia focal de la lente focalizadora al introducir la placa

de vidrio en el arreglo experimental depende no sólo de su índice de refracción, sino
59
5. Conclusiones
también del grosor de la placa de vidrio.
En placas de vidrio delgadas, aproximadamente 1mm de espesor, que podría ser el

tamaño del contenedor para flujos laminares, puede ser medida por los algoritmos
hechos en Matlab, aún que los cambios que sufre el patrón de interferencia son poco
notables al ojo humano. De ahí que surge la necesidad de buscar una alternativa
computacional para encontrar, mediante un algoritmo programa, el tamaño del ra-
dio de la primera franja circular brillante. El espesor máximo en la placa de vidrio
a medir es de aproximadamente 1cm, pues el cambio que sufre el patrón de inter-
ferencia es muy fuerte quedando el plano focal sobre la placa del IDP, lo cuál hace
que se tenga una mancha brillante, imposibilitando la medición.
Los radios en las franjas son la referencia para conocer el desplazamiento que es
necesario en la ecuación descrita capítulo tres, junto con el espesor para obtener el
índice de refracción de la placa
Se utilizaron seis tipos de vidrio para la obtención de su índice de refracción, los

resultados obtenidos del IDP, son comparados con otros dos instrumentos, el primero
es el Interferómetro de Michelson. Este interferómetro es bien conocido dentro de la
literatura y utilizado para este propósito, sin embargo, tiene una alta sensibilidad
a condiciones irregulalres en el ambiente (i.e. ruido y/o vibraciones), además de
que no es un instrumento portable. El segundo instrumento es el refractómetro de
Abbe, muy utilizado en los talleres ópticos, que por su robustez es firme y fuerte en
la medición y el ambiente de trabajo de un taller, haciendo esto mismo un problema
para transportarlo así como el problema de la calibración al cambiarlo de lugar
constantemente. El refractómetro de Abbe utiliza el ángulo límite a diferencia de
los otros que utilizan la interferometría. Los resultados entre interferómetros es
semejante a diferencia del de Abbe.
Los errores entre los resultados, radica en su naturaleza de medición, los patrones
de interferencia del IDP tienen el error de que si la placa tiene diferencias en su
60
5.1. Futuras líneas de investigación
espesor, estas provocan una lectura erronea al encontrar el tamaño del circulo a
medir. Otro factor es el control de calidad de las monturas y los elementos ópticos que
la componen. Esto lleva a tener desventajas en el instrumento óptico de medición.
El trabajo se enfoca en la medición de las placas de vidrio por su homogeneidad y

facilidad, siendo este un punto de referencia para trabajar con los flujos laminares.
5.1. Futuras líneas de investigación
La Aplicación de este sistema para la medición del índice de refracción en fluidos la-
minares, el cual consistirá en desarrollar un recipiente plano paralelo y caracterizarlo
para su aplicación.
Se plantea realizar un software que automatice el proceso de la medición del índice

de refracción, haciendo un solo instrumento el interferómetro y el software. Donde el
interferómetro del IDP genera los patrones de interferencia necesarios para trabajar
y el software se encarga de hacer el proceso de análisis y los cálculos para obtener
el índice de refracción de la placa plano paralela que se desee medir.
Se plantea mejorar la implementación experimental, para un instrumento que sea

compacto, liviano, y robusto.
5.2. Resultados de este trabajo
Parte de este trabajo ha sido presentado en diversos congresos
- Presentación en mural de “Revisión de modelos interferometricos usados en

la medición del índice de refracción” en el LII Congreso Nacional de Física
(Memoria), celebrado en Acapulco Guerrero en 2009
61
5. Conclusiones
- Presentación oral en simultanea del trabajo “Montaje para la calibración del In-
terferómetro de Difracción por Punto, con interferómetro Michelson y Tyman-
Green” en el XXIII Reunión de Óptica (Memoria), Celebrado en Puebla, Pue-
bla.
- Presentación en mural de “Measurement of the refraction index of a glass plate

using a point diffraction interferometer” en: 22nd General Congress of the In-
ternational Commission for Optics (ICO-22) (Memoria) celebrado en Puebla,
México en 2011.
- Presentación del trabajo “Calibration of phase measures for point diffraction

interferometer” en la VII Reunión Ibero Americana de Óptica (RIAO) (Memo-
ria) celebrado en Lima, Perú en 2010.
- Presentación en mural del trabajo “Implementación experimental para la me-

dición del índice de refracción para fluidos laminares”, dentro del décimo pri-
mero Encuentro de Investigación (Memoria) celebrado en las instalaciones del
INAOE
- Trabajo en Proceeding y Presentación en oral con el trabajo “Point Diffraction

Interferometer for measurement of the refraction index of a glass plate” en el
congreso Optics and Photonics de SPIE, celebrado del 13 al 16 de agosto del
2012 en San Diego California, USA.
Publicación del artículo “Measurement of aberration of a solid elastic lens using

a point-diffraction interferometer” optical Enginneering 49(12), 123401 (December
2010)
62
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63
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64
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[21] D. Malacara. Óptica Básica. Fondo de cultura económica, 2th ed., Cap. 6, 2004.
65

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Desarrollo de un refractómetro

interferométrico para medir

Esteban Rueda Soriano

Esteban Rueda Soriano

Dirección: Dr. Fermín Salomón Granados Agustín

Lo que se observa en el segundo patrón de interferencia respecto al de referencia es una

3. Desarrollo experimental para medir el índice de refracción 27

4.3. Medición del índice de refracción con el Refractómetro de Abbe . . . . . . 50

2.1. Patrón de interferencia del interferómetro de difracción por punto . . . . . 6

3.1. Esquema del arreglo experimental del IDP . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28

4.1. Patrones de interferencia generados por el IDP, (a) Patrón de interferencia

3.1. Datos obtenidos de calibración del IDP teórico. . . . . . . . . . . . . . . . 40

4.1. Datos obtenidos del programa ajuste del círculo . . . . . . . . . . . . . . . 46

La respuesta de materiales dieléctricos o aislantes a los campos electromagnéticos

El cociente entre la velocidad de una onda electromagnética en el vacío y en la materia

El conocer el índice de refracción de los materiales dieléctricos transparente es de gran

El índice de refracción es utilizada por los diseñadores ópticos en la ley de Snell, en la

2.1. Interferómetro de Difracción por Punto

En la literatura se encuentran dos clasiﬁcaciones de interferómetros, división de frente

Figura 2.1: Patrón de interferencia del interferómetro de difracción por punto

2.1.1. Principio del funcionamiento del Interferómetro de Linnik

El interferómetro de Linnik parte de la idea de comparar un frente de onda esférico

Figura 2.2: Descripción gráﬁca del funcionamiento del interferómetro de Linnik

1. La intensidad de la onda difractada F y la onda transmitida C ′ B ′ A′ son aproxima-

2. El micro-oriﬁcio D es sensiblemente más pequeño que el máximo central de la fun-

3. El sustrato del interferómetro P tiene un efecto insigniﬁcante en la onda transmitida

La lente R es enfocada para producir una imagen en la pupila de salida de O en el plano

2.1.2. Descripción Teórica del IDP

Figura 2.3: Diagrama para el análisis del IDP

donde t representa la raíz cuadrada de la transmitancia de la lámina, y φ representa la fase

= (1 − teiφ )I1 + teiφ I2 . (2.3)

Para la solución de la primera integral, I1 , los parámetros ǫx y ǫy son mucho mayo-

Al reescribir las coordenadas cartesianas a polares, donde, r0 es el radio en el plano

donde J1 es la función Bessel de primer orden. Para resolver la integral I2 se utiliza el

El valor de la función σ dependerá del signo de ǫx y ǫy , siguiendo la serie de condiciones

Por lo tanto, de la ecuación de interferencia, la amplitud resultante en el plano de

De la ecuación anterior se observa que, la distribución de la amplitud compleja, en

Sabiendo que al obtener un “buen” contraste en la distribución de amplitud se debe a la

donde el parámetro α esta dado por:

α puede reescribirse, quedando:

2.2. Simulaciones de IDP

2.2.1. Programa para la simulación del IDP

En la anterior sección se describe la teoría del interferómetro de difracción por punto,

I = 0,5 + 0,5 · cosα. (2.13)

Si recordamos que α se describe como en la ecuación (2.11) se puede modiﬁcar la expresión

2.3. Interferómetro de Michelson

(d) (e) (f)

(g) (h) (i)

(j) (k) (l)

Figura 2.4: Patrones de interferencia simulados, donde ǫ = ǫx = ǫy , posiciones para

Figura 2.5: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : 2010

Figura 2.6: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : 1010

Figura 2.7: Interferograma asociado a los valores ǫx : 1010 y ǫy : 2010

Figura 2.8: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫy : −2010

Figura 2.9: Interferograma asociado a los valores ǫx : 1010 y ǫy : −2010

Figura 2.10: Interferograma asociado a los valores ǫx : 2010 y ǫx : −1010.

tro de Michelson es un interferómetro que trabaja por división de amplitud, siendo un

Figura 2.11: Esquema del Interferómetro de Michelson.

extendida,observando el patrón de interferencia sobre el cubo divisor G1 directamente con

que puede ser descrita como:

2∆d = ∆mλ, (2.16)

donde d1 es la posición arbitraria de M2 antes de introducir la placa de vidrio y d2 es la

(n − 1)t = (∆m)λ, (2.17)