UNIVERSIDAD

NACIONAL MAYOR DE
SAN MARCOS

FACULTAD: ING.ELECTRONICA, ELECTRICA Y

TELECOMUNICACIONES
ESCUELA: INGENIERIA ELECTRONICA
CURSO: MICRO/NANO SISTEMAS ELECTRONICOS
LABORATORIO Nro. 6: “MODELOS DE FALLOS A
NIVEL DE TRANSISTORES”
ALUMNO:

HORARIO: JUEVES 4-6 PM

 1) Diseñar la función dada usando el estilo CMOS dinámico. Use el
Diagrama de Tiempos (*) dado.

f (X1, X2, X3) = (X1 xor X2) X3

Solución:
f = ( X 1+ X 2 ) ( X ' 1+ X ' 2 ) . X 3
F = ( X 1+ X 2 ) ( X ' 1+ X ' 2 ) . X 3 = X1.X2 + X’1X’2 + X’3

Figura (1)

a) Determinar el número de transistores del circuito que pueden tener

los fallo S-OPEN y fallo S-ON.
N = 7 → números de transistores en el circuito
Números de transistores con fallos S-OPEN y S-ON = 2 x N = 2 x 7 = 14
 Figura (2)

En la imagen de la figura (2), muestra que el circuito esta funcionando

bien y que los transistores no presentan fallos. Un ejemplo es el cuadro
marcado de la figura (2) donde las entradas para (x1, x2, x3) es igual a
(1,1,0) y (101) con Φ= 1, nos da un valor de 0 y 1 lógico en la salida
respectivamente.
S-OPEN
Vector de inicialización: <x1, x2, x3> =<d, d, d>
F =1 y Φ=0
Para el vector de Test: <x1, x2, x3> =<1,1,1> y Φ=1
 Figura (3)

La figura (3) es la imagen del circuito realizado en el DSCH2, el cual

muestra que se le ha dejado abierto la abertura que unen los transistores
x1 y x2 respectivamente. La finalidad de hacer eso es saber si realmente el
transistor x2 presenta fallo alguno.

Figura (4)

En la figura (4) se puede notar que ante los valores de entrada para (x1,
x2, x3) = (1,1,1) se obtiene de salida un valor que no se puede determinar
y que es diferente de cero, el cual se puede deducir que si hay un fallo en el
transistor elegido.
LAYOUT AUTOMATICO EN MICROWIND
En este software, simulamos el circuito en S-OPEN realizado en DSCH2 y
se obtiene la gráfica (5), usando pulse para cada entrada respectivamente.

Figura (5)
 Figura (6)

En la figura (6) que es el comportamiento dinámico, se ve claramente que

ante los valores de entrada para (x1, x2, x3) = (1,1,1) y Φ=1, se obtiene de
salida el valor lógico de “1”, el cual prueba que el transistor tiene fallo.

También mostramos el punto CIR, para verificar los valores mínimos de

W=0.75 y L=0.25
 S-ON
Vector de inicialización: <x1, x2, x3> =<d, d, d>
F =1 y Φ=0
Para el vector de Test: <x1, x2, x3> =<1,0,1> y Φ=1

Figura (7)

La figura (7) es la imagen del circuito realizado en el DSCH2, el cual

muestra que se le ha realizado un corto circuito entre los transistores X1 Y
X2, el cual es independiente del valor que tome la entrada “X2”. La
finalidad de hacer eso es saber si realmente el transistor x2 presenta fallo
alguno.

Figura (8)
En la figura (8) se puede notar que ante los valores de entrada para (x1,
x2, x3) = (1,0,1) se obtiene en la salida un valor de cero, el cual se puede
deducir que si hay un fallo en el transistor elegido ya que si hubiese
resultado el valor lógico “1” no presentaría fallo.

LAYOUT AUTOMATICO EN MICROWIND

En este software, simulamos el circuito en S-ON realizado en DSCH2 y se
obtiene la gráfica (9), usando pulse para cada entrada respectivamente.

Figura (9)

Figura (10)
En la figura (10) que es el comportamiento dinámico, se ve claramente que
ante los valores de entrada para (x1, x2, x3) = (1,0,1) y Φ=1, se obtiene de
salida el valor lógico de “0”, el cual prueba que el transistor tiene fallo.

También mostramos el punto CIR, para verificar los valores mínimos de

W=0.75 y L=0.25

5) Compruebe la obtención del layout mostrado mediante grafos de

Euler:
La tabla de verdad se muestra en la siguiente tabla:

Posteriormente se utiliza el mapa de Karnaugh para ver si se puede

simplificar el circuito:
Por Karnaugh se obtiene la función:
F = D′ + A′B′C ' (pull up) …conectado a Vdd
F '= (D) (A+B+C) (pull Down) …conectado a VSS

El cual se procede a realizar el esquema del circuito final

a) Determinar el número de transistores del circuito que pueden tener

los fallo S-OPEN y fallo S-ON.
N = 8 → números de transistores en el circuito
Números de transistores con fallos S-OPEN y S-ON = 2 x N = 2 x 8 = 16
Simulamos el circuito en el software dsch2 para ver su comportamiento
dinámico.

Figura Dinámica del Circuito

Mediante la figura podemos ver que el circuito esta funcionando
correctamente y que no presenta fallo. Solo 2 casos para verificar lo
aquello: (A, B, C, D) = (0,1,0,1) F=0 y (A, B, C, D) = (1,1,1,0) F=1
b) Elegir un transistor y hallar el vector/vectores de test para detectar el
fallo S-OPEN y el fallo S-ON.
Ahora seleccionamos el transistor para los modelos STUCK-OPEN y
STUCK ON.

c) En el programa DSCH (esquemático) y/o Microwind (layout) inyectar

manualmente y simular los fallos
anteriores. Considerar los transistores de dimensiones mínimas (L=0.25
micras).

Modelo Stuck-Open
Vector de inicialización:
<A, B, C, D> = <0, 0, 0, 1>
F = 1; → C L CARGADO
Vector de Test:
<A, B, C, D> = <1, 0, 0, 1>

{ 0 ; No hay fallo
F = 1; Existe Fallo STUCK −OPEN

figura dinámica
En la figura dinámica se puede ver claramente que el software DSCH no
nos ayuda para saber si realmente el circuito cuenta con o sin falla,
entonces procedemos a simularlo en el MICROWIND.
Luego de obtener el LAYOUT del circuito, procedemos a colocar PULSE
para las entradas.

Comportamiento dinámico

En la figura del comportamiento dinámico notamos que

Existe Fallo STUCK−OPEN en el transistor “A” de la rama N. Ya que ante
las entradas (A, B, C, D) = (1, 0, 0, 1) obtenemos el valor lógico “1” en la
salida F.
Por último, se mostrará el punto CIR, el cual verificaremos que las
medidas de W y L son 0.75 y 0.25 respectivamente.
 Modelo Stuck-On
Vector de Test:
<A, B, C, D> = <0, 0, 0, 1>
“Establece una trayectoria de baja resistencia de V DD a GND

I D= {Alto ; Existe
0 ; No hay fallo
Fallo STUCK−ON

Como vemos, ponemos al transistor “A” de la rama N en corto circuito,

con la finalidad si dicho transistor se encuentre en buen estado o con falla
y lo sabremos mediante la corriente.
Ahora procedemos simularlo en el MICROWIND
Como se muestra en la gráfica, la corriente que sale de la fuente es de
0.536mA y la corriente que va a tierra es de 0.463mA y es máxima, lo que
significa que el transistor “A” de la rama N está en corto circuito a pesar
de que se le ha asignado un valor lógico 0 para que este en circuito
abierto. Se concluye que el transistor “A” existe fallo STUCK ON.

Por último, se mostrará el punto CIR, el cual verificaremos que las

medidas de W y L son 0.75 y 0.25 respectivamente.
6) Determinar el número de transistores del circuito que pueden tener los
fallos S-OPEN y fallo S-ON

Si observamos el circuito elaborado está compuesto por 2 transistores

PMOS y 2 NMOS, en total habrá 4 transistores con fallas S-OPEN y 4 con
fallas S-ON
Elegir y hallar el vector/vectores de test para detectar fallos s-OPEN y
fallos S-ON
Stuck open - Transistor B
Reordenando los valores en la tabla
A B Y SoY
0 0 0 0
1 0 1 1
0 1 1 0
1 1 0 1

Cómo vemos cuando los valores de B son los de 0 en circuito trabaja con
los mismos valores ya que seguirá en abierto, aunque al momento de
cambiar a 1, esté tendrá alteración
Vector de inicialización será:
1 ¿ A , B ,≥¿ 1,0>¿
2< A , B ,≥¿ 0,1>¿

Ya que estás entradas están alteradas y los vectores de test será

Para la inicialización 1: <A, B>=<1, 0>
Para la inicialización 2: <A, B>=<0, 1>

Stuck on - Transistor B
Reordenando los valores en la tabla
A B Y SoY
0 1 1 1
1 1 0 0
0 0 0 1
1 0 1 0

cuando los valores de B, son los de 1 en circuito trabaja con los mismos
valores ya que seguirá conduciendo, aunque al momento de cambiar a 0,
esté tendrá alteración
Vector de inicialización será:
1 ¿ A , B ,≥¿ 0,0>¿
2< A , B ,≥¿ 1,0>¿

Ya que estás entradas están alteradas y los vectores de test será

Para la inicialización 1: <A, B>=<1, 1>
Para la inicialización 2: <A, B>=<0, 1>