Facultad de Ingeniería Química – Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

LICENCIATURA EN INGENIERÍA EN MATERIALES

Asignatura: Nanomateriales
Documento: Primer examen parcial – Parte II: Caracterización de nanomateriales

Nombre del estudiante: Miguel Arturo Meza

Fecha de aplicación (DD/MM/AAAA): 03/11/2022; 10:00 horas; MS-Teams
Fecha de entrega (DD/MM/AAAA): 07/11/2022; 10:00 horas; MS-Teams

PARTE 2: CARACTERIZACIÓN DE NANOMATERIALES

1.- a) Identifique el tipo de microscopía empleado para la obtención de las siguientes imágenes
o micrografías; b) utilícelas para describir la morfología y tamaño del nanomaterial para cada
caso. (Valor: 1.0)

a) b) c)

1 m

2.- Mediante las técnicas TEM y HRTEM, se realizó un estudio dimensional y morfológico de
nanoestructuras de ZnO sintetizadas por el método solvotermal (ver figura abajo). En la imagen
HRTEM adquirida, a) indexe el patrón FFT, b) indique las distancias interplanares de los planos
cristalográficos observados y c) determine el eje de zona. (Valor: 3.0)

Instrucciones: Para realizar el análisis HRTEM refiérase al archivo ZnO-HRTEM.dm3. Valide su

respuesta elaborando un archivo pdf en el que muestre detalladamente el procedimiento realizado, esto
es, pasos, mediciones, operaciones matemáticas, capturas de pantalla, etc.
RESPUESTAS.
1. a)

Se intuye

b)

Se intuye

High resolution TEM image of an AgI nanoparticle recorded parallel to the o1104 zone axis,
exhibiting a truncated octahedral morphology. The planes seen in the figure are labelled. The inset
shows the FFT of the nanoparticle.
c)
Se intuye
2. Para poder obtener el patrón FFT, a partir del archivo ZnO-HRTEM.dm3 es necesario trabajar en
Digital Micrograph. Al abrir el archivo se muestra la siguiente imagen, que concide con la de las
indicaciones.

Fig. 1. Imagen HRTEM de ZnO

El segundo paso es utilizar la función Process y seleccionar FFT

La imagen obtenida es la que se muestra a continuación, por lo que es necesario darle un pequeño
tratamiento para poder observar mejor la red recíproca.

Al haber realizado el tratamiento de la imagen de la red recíproca, se puede observar de mejor

manera el patrón FFT, donde se pueden identificar los vectores.

Fig. Patrón FFT de ZnO

A continuación se identifican los vectores.
 G2
G1

G4
 G3

Se han identificado 4 vectores que fueron asisgnados como G1, G 2, G3 y G4

 1
d=
|G|
⃗

⃗|= Tamaño
|G
2

Tabla 1.
⃗

Vector Tamaño (1/nm) |G | (1/nm) d (nm)

G1 8.018 4.009 0.24944
G2 8.141 4.0705 0.24567
G3 7.075 3.5375 0.28269
G4 14.266 7.133 0.14019
 Vector d (nm) Índices de Miller
G1 0.249439
G2 0.24567
G3 0.282686
G4 0.140193

Referencias:

[1] Thomas, John Meurig; Midgley, Paul A.; Ducati, Caterina; Leary, Rowan K. (2013). Nanoscale electron
tomography and atomic scale high-resolution electron microscopy of nanoparticles and nanoclusters: A
short surveyNanoscale electron tomography and atomic scale high-resolution electron microscopy of
nanoparticles and nanoclusters: A short surveyretain. Progress in Natural Science: Materials
International, 23(3), 222–234. doi:10.1016/j.pnsc.2013.04.003 
[2] Muráth, S., Somosi, Z., Kukovecz, Á. et al. Novel route to synthesize CaAl- and MgAl-layered double
hydroxides with highly regular morphology.  J Sol-Gel Sci Technol 89, 844–851 (2019).
https://doi.org/10.1007/s10971-018-4903-8
[3] Singh, Devinder; Condurache-Bota, Simona (2020). Electron Crystallography || Transmission Electron
Microscopy of Nanomaterials. , 10.5772/intechopen.83201(Chapter 2), –. doi:10.5772/intechopen.92212