Marco teórico

Espectroscopia Raman

A principios del siglo XX, se postulaba la posibilidad de la existencia de una dispersión no elástica de la luz en
la interacción entre los fotones y las moléculas. Smekal, Kramers, Heisenberg, Schrodinger y Dirac, entre
otros, consideraban esta posibilidad. Sin embargo, no fue hasta 1923 cuando, en la India, Sir Chandrasehra
Venkata Raman y su colaborador, K. S. Krishnan, descubrieron el fenómeno de dispersión inelástica de la luz
(«un nuevo tipo de radiación»), que publicó en la prestigiosa revista Nature [vol. 121, página 619 (1928)]. La
relevancia científica de este descubrimiento no se escapó a la Academia Sueca, que en el año 1930 concedió
el premio Nobel a Sir C. V. Raman, cuyo apellido dio nombre a dicho fenómeno [Faraldos, M. y Goberna, C.
G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones
científicas ].

El experimento clave de C. V. Raman se ilustra en la figura 1.4.1. Como fuente de radiación se utilizó el Sol,
cuya luz blanca es en realidad una mezcla de muchos colores. Es clásica la utilización del prisma para
descomponer esa luz blanca en sus diferentes componentes. Lógicamente, si la fuente tiene de luz (el Sol)
tenía todos los colores, era difícil poder medir un cambio en la longitud de onda (color) de la radiación
dispersada. Por tanto, se utilizó un filtro violeta de modo que solamente la radiación violeta alcanzara la
muestra. Prácticamente toda la luz que sale de la muestra es igual a la violeta que entra. Esto constituye la
dispersión elástica o de Rayleigh. Sin embargo, no es el 100% de lo que se sale. Raman y Krishnan
demostraron que parte de la luz dispersa tenía un color distinto (longitud de onda distinta) que pudieron
determinar con un filtro verde localizado a la salda de la luz de la muestra [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s.
f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones
científicas ].

Experimento de C. V. Raman. [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de

materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas ].

La espectroscopia Raman es una técnica rápida de caracterización que brinda información relacionada con la
estructura química de los materiales. Este análisis está basado en el estudio de la luz que se dispersa en un
material por efecto de la incidencia de una luz monocromática (laser). Entre las ventajas de esta técnica se
encuentra que las muestras no requieren de una preparación especial para ser analizadas, y no se generan
alteraciones sobre ellas. [Mote, V., Purushotham, Y. y Dole, B. Williamson-Hall analysis in estimation of lattice
strain in nanometer-sized ZnO particles. Journal of Theoretical and Applied Physics. (2012), 6(1), 6. ]

La dispersión es la desviación de la luz de su dirección original de incidencia. La interacción del

vector de campo eléctrico de una onda electromagnética con los electrones del sistema con el que
interactúa da lugar a la dispersión de la luz incidente. Tales interacciones inducen oscilaciones
periódicas en los electrones del compuesto; por lo tanto, produce momentos eléctricos oscilantes.
Esto lleva a tener nuevas fuentes emisoras de radiación, es decir, fuentes que reemiten radiación en
todas las direcciones (la luz dispersada) [Valencia Ramirez, A., & Guzmán Cabrera, R. PCA y
Espectroscopia Raman de nanopartículas de plata para aplicaciones médicas. JÓVENES EN LA
CIENCIA. (2015), 1(2), 1419–1423 ].

Existen dos tipos básicos de dispersión:

 Elástica. Misma frecuencia (longitud de onda) que la luz incidente, llamada dispersión Rayleigh.

 Inelástica. Dentro de la inelástica existen dos tipos, una que tiene frecuencia más baja (longitud de onda
mayor) y la que tiene frecuencia más alta (longitud de onda más corta) que la luz incidente.

Es a la luz dispersada inelásticamente a la que se le llama dispersión Raman y por lo tanto, existen dos tipos
de ella: en uno de ellos la luz dispersada tiene menor energía que la luz incidente (la que tiene menor
frecuencia, mayor longitud de onda) y el efecto se llama dispersión Raman Stokes. En el otro, la luz
dispersada tiene mayor energía que la luz incidente (menor longitud de onda), es decir tiene mayor frecuencia
que la luz incidente, y se le llama dispersión Raman anti-Stokes.

En la dispersión Rayleigh (misma frecuencia) no hay cambio en la energía de la luz incidente y por tanto en la
longitud de onda (figura 1.4.2) [Valencia Ramirez, A., & Guzmán Cabrera, R. PCA y Espectroscopia Raman de
nanopartículas de plata para aplicaciones médicas. JÓVENES EN LA CIENCIA. (2015), 1(2), 1419–1423 ].

Representación esquemática de los tres tipos de luz dispersada [Valencia Ramirez, A., & Guzmán Cabrera, R.
PCA y Espectroscopia Raman de nanopartículas de plata para aplicaciones médicas. JÓVENES EN LA
CIENCIA. (2015), 1(2), 1419–1423 ].
El efecto de dispersión Raman surge a partir de la interacción de la luz incidente con los electrones de una
molécula iluminada. En la dispersión Raman la energía de la luz incidente no es suficiente para excitar la
molécula a un nivel electrónico de mayor energía. Así el resultado de la dispersión Raman es cambiar el
estado vibracional de la molécula (figura 1.4.3).

Diagrama energético de una molécula mostrando el origen de la dispersión Raman (efecto Raman no
resonante). Nótense los diferentes mecanismos de los efectos Stokes y anti-Stokes. La molécula alcanza,
momentáneamente, un nivel de energía más alto (estado virtual), pero nunca llega a un estado electrónico
excitado. [Valencia Ramirez, A., & Guzmán Cabrera, R. PCA y Espectroscopia Raman de nanopartículas de
plata para aplicaciones médicas. JÓVENES EN LA CIENCIA. (2015), 1(2), 1419–1423 ]

En general, un espectro Raman es una representación de la intensidad de la luz dispersada frente al número
de onda. Se observa una banda central, correspondiente a la dispersión Rayleight, a la misma frecuencia que
el fotón incidente y de gran intensidad, y a cada lado de ella, se sitúan de manera simétrica las mandas
Raman-Stokes y Raman Anti-Stokes (figura 1.4.4) [DARA, L., LUQUE, M. y RUIZ, J. R. Análisis de pigmentos
por espectroscopia Raman de la villa romana de El Ruedo. Universidad de Córdoba. (2015), 1(1), 16]
[Gutierrez Cano, V. y Otero Márquez, J. (2015). Espectroscopía Raman: Fundamento y aplicaciones. The
University of Edinburgh, 1(1), 19. ]
Espectro Raman que muestra la banda de Rayleigh en el centro, a la izquierda la banda Raman-Stokes y a la
derecha Raman Anti-Stokes [Gutierrez Cano, V. y Otero Márquez, J. (2015). Espectroscopía Raman:
Fundamento y aplicaciones. The University of Edinburgh, 1(1), 19. ]

Difracción de Rayos X

Los Rayos X son ondas electromagnéticas cuya longitud de onda se encuentran en el rango de (10−8−10−12)
m, correspondiendo a frecuencias en el rango (106−1020)𝑧, estas no se desvían mediante campos
magnéticos o eléctricos y se propagan en línea recta [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de
analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas ].

Para la obtención de Rayos X se emplean tubos específicos de este propósito, un cátodo, un ánodo, sistema
de refrigeración y ventanas de salida. Los electrones, una vez emitidos por el cátodo, son acelerados hacia el
ánodo por un potencial de algunas decenas de kilovolts. En el ánodo, los rayos X se generan por el frenado
de los electrones incidentes y por la excitación de los átomos en el "blanco". Un átomo está compuesto por un
núcleo y numerosos electrones distribuidos en las diferentes capas. Las distintas capas se designan, de la
más próxima al núcleo a la más externa, como 𝑲,,𝑴,𝑵…, en las que se alojan los diferentes electrones de
acuerdo con su energía. El nivel energético de un electrón 𝑲 que ha sido expulsado (por el haz proveniente
del cátodo) debe ser llenado con otro electrón de 𝑳 o de 𝑴. Al suceder este llenado de la capa 𝑲 el átomo
pierde energía, la cual es emitida al exterior. En caso de que el electrón que cae en 𝑲 sea uno del nivel 𝑳, la
radiación emitida se llamará 𝑲𝜶. Si el electrón es de 𝑴, entonces tendremos radiación 𝑲𝜷 y así
sucesivamente [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales.
(2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas] [Fuentes, L. Fuentes Método Rietveld. Sociedad
Mexicana de Cristalografía, A. C. (2004)].
Modelo de transiciones electrónicas permitidas por un átomo [Fuentes, L. Fuentes Método Rietveld. Sociedad
Mexicana de Cristalografía, A. C. (2004) ].

El espectro de Rayos X está constituido por un espectro continuo y un espectro característico, que este a su
vez, genera líneas afiladas, ubicadas en longitudes de onda bien definidas. De manera telegráfica, la
generación del espectro discreto es como sigue. El espectro característico además se presenta como un
conjunto de longitudes de onda aisladas y próximas entre sí (𝑲𝜶 que se desdobla en 𝑲𝜶𝟏, y 𝑲𝜶𝟐, y 𝑲𝜷)
[Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo
Superior de Investigaciones científicas ].
Espectro de rayos X como suma del continuo y del característico [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.).
Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas ].

Difracción de cristales

Los fenómenos de difracción de rayos X por cristales se atribuyen a determinadas relaciones de fase entre
dos o más ondas, como las diferencias de fase producidas por las diferencias en la longitud del trayecto de las
ondas y un cambio de amplitud relacionado con la diferencia de fase. Además, el punto más importante que
debe saber es que dos ondas están completamente en fase si la diferencia en las longitudes de la trayectoria
es cero o un múltiplo entero de la longitud de onda. A continuación se proporcionan algunos detalles
adicionales [Waseda, Y., Matsubara, E. y Shinoda, K. X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction,
Examples and Solved Problems. Springer. (2011) ] [Szwacka, T. INTRODUCCIÓN A LA FÍSICA DEL
ESTADO SÓLIDO CRISTALOGRAFÍA. Departamento de Física, Facultad de Ciencias, Universidad de Los
Andes. (2000). ].

Ley de Bragg

La ley de Bragg permite estudiar la interferencia constructiva de un material, dado que permite predecir los
ángulos en los que los rayos X son difractados por un material con estructura atómica periódica.

La interferencia entre dos ondas es constructiva cuando su diferencia de trayectoria (𝜟𝑳) es igual a un número
estero de longitudes de onda:

𝜟𝑳=𝐧𝝀 con n entero

Difracción del Rayo incidente en los planos de la red cristalina [Marquez, G. Caracterización Estructural y
Propiedades Magnéticas de Nanopartículas de Ferrita Preparadas por el Método de Coprecipitación [Trabajo
de grado no publicado]. Universidad de los Andes. (2007).

La diferencia de recorrido entre las dos ondas incidentes sobre el cristal, después de la reflexión, es la suma
de los trazos AB y BC, según se señala en siguiente ecuación:

Como 𝑨𝑩=𝑩𝑪=𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽

Se tiene que 𝜟𝑳=𝑨𝑩+𝑩𝑪=𝟐𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽

La ecuación puede ser escrita como 𝟐𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽=𝒏𝝀

Donde

𝒅: Distancia entre los planos

𝜽: Ángulo de Bragg

𝒏: Orden de reflexión

𝝀: La longitud de onda de los Rayos X

En relación con esto, la ley de Bragg se puede expresar de una forma ligeramente diferente, si se divide toda
la expresión por n:

𝟐𝒅𝒏𝒔𝒆𝒏𝜽=𝝀 ó 𝟐𝒅𝒉𝒌𝒍𝒔𝒆𝒏𝜽=𝝀

Así una reflexión de orden n de los planos (𝒉 𝒌 𝒍) se puede considerar como una reflexión de orden 1 de los
planos (𝒏𝒉 𝒏𝒌 𝒏𝒍), con espaciado 𝒅𝒉𝒌𝒍=𝒅𝒏. [Marquez, G. Caracterización Estructural y Propiedades
Magnéticas de Nanopartículas de Ferrita Preparadas por el Método de Coprecipitación [Trabajo de grado no
publicado]. Universidad de los Andes. (2007). ].

Método de Scherrer

La ecuación de Scherrer es un método conveniente para determinar el tamaño medio de los cristales. Paul
Scherrer, publicó sus resultados en un artículo que incluía lo que se conoció como la ecuación de Scherrer en
1981 [9].Esta ecuación viene dada por 𝑫=𝒌𝝀(𝜷𝑫𝒄𝒐𝒔𝜽)⁄ donde 𝑫 es el tamaño de partícula cristalina, 𝑲 la
constante de Scherrer igual a 𝟎.𝟗𝟒,𝝀 la longitud de onda monocromática de la radiación X empleada,𝜃 es el
angulo de bragg y 𝜷𝑫 es la anchura del pico a media altura medido en radianes, se puede usar el valor
FWHM (anchura del pico a media altura) si no se conoce la contribución instrumental, o la anchura integrada
definida como el área del pico dividido por su altura [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis
y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas. ].

La amplitud del pico de Bragg es una combinación de efectos dependientes del instrumento y de la muestra.
El 𝜷𝑫 de ensanchamiento corregido por el instrumento se puede estimar usando la relación:

𝜷𝑫𝟐=[(𝜷𝟐)𝒎𝒆𝒅𝒊𝒅𝒐+(𝜷𝟐)𝒊𝒏𝒔𝒕𝒓𝒖𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍] (1.5.2.1)

𝑫=𝒌(𝜷𝑫𝒄𝒐𝒔𝜽) (1.5.2.2)

Esta ecuación se obtiene basándose en el supuesto de que cada átomo (centro de dispersión) dispersa la
radiación entrante de forma independiente y una vez dispersada, la radiación no interactúa con los demás
átomos [McKELVEY, J. P. Física del Estado Sólido y de Semiconductores. LIMUSA. . (1996) ].

1.5.3 Método Williamson-Hall

En 1953 Williamson y Hall propusieron un método utilizando la anchura integral simplificada para
deconvolucionar las contribuciones del tamaño y tensiones de la partícula cristalina, al ensanchamiento de los
picos en función de 𝟐𝜽, este modelo asume un perfil lorentziano para los picos. Las imperfecciones de los
cristales y la distorsión del ensanchamiento de los picos inducidos por la deformación están relacionadas por
𝜺 = 𝜷𝒔 / 𝟒𝒕𝒂(𝜽). La ecuación de Scherrer sigue unadependencia de 𝟏/𝒄𝒐(𝜽) pero no 𝒕𝒂𝒏(𝜽) como método W-
H. Esta diferencia fundamental permite una separación de la reflexión que se ensancha cuando ambas causas
microestructurales, el tamaño pequeño del cristal y la microdeformación, ocurren juntas. Dependiendo de las
diferentes posiciones 𝜽, la separación del tamaño y el análisis de ampliación de deformación se realiza
utilizando Williamson y Hall [Leitao Muniz, F. T., Ribeiro Miranda, M. A., Morilla dos Santos, C. y Sasaki, J. M.
S. The Scherrer equation and the dynamical theory of X-ray diffraction. International Union of Crystallography.
(2006)[ Prabhu, Y. T., Rao, K. V., Kumar, V. S. S. y Kumari, B. S. X-Ray Analysis by Williamson-Hall and Size-
Strain Plot Methods of ZnO Nanoparticles with Fuel Variation. World Journal of Nano Science and
Engineering. (2014), 04(01), 21–28. ].

Suponiendo que el tamaño de partícula y las contribuciones de la deformación al ensanchamiento de la línea

son independientes entre sí y que ambos tienen un perfil similar, la amplitud de la línea observada es
simplemente la suma de la ecuación de Scherrer y 𝜺 = 𝜷𝒔 / 𝟒𝒕𝒂(𝜽) da como resultado las siguientes
ecuaciones [Khorsand Zak, A., Abd. Majid, W. H., Abrishami, M. E. y Yousefi, R. X-ray analysis of ZnO
nanoparticles by Williamson–Hall and size–strain plot methods. Solid State Sciences. (2011), 13(1), 251–256.
[,Monshi, A., Foroughi, M. R. y Monshi, M. R. Modified Scherrer Equation to Estimate More Accurately Nano-
Crystallite Size Using XRD. World Journal of Nano Science and Engineering. (2012), 02(03), 154–160. ].

𝜷𝒉𝒌𝒍=𝜷𝑺+𝜷𝑫 (1.5.3.1)

𝜷𝒉𝒌𝒍=𝑲𝝀𝑫𝒄𝒐𝒔(𝜽)+𝟒𝜺𝐭𝐚𝐧(𝜽)

Microscopia electrónica de transmisión

Un microscopio es, básicamente, un sistema óptico que transforma un objeto en una imagen, la cual aumenta
detalles característicos del objeto. En el microscopio electrónico (ME) en vez de luz se utilizan electrones,
acelerados por un cierto potencial que varía entre 50 y 1.000 𝑘𝑒𝑉 ó más, dependiendo del microscopio y en
lugar de lentes de vidrio se utilizan campos electromagnéticos. Un haz de electrones incide sobre una muestra
y de la interacción de estos electrones con los átomos de la misma, surgen señales que son captadas por
algún detector o bien, proyectadas directamente sobre una pantalla (figura 1.6.1). Dentro de la familia de
microscopios electrónicos, se encuentran el microscopio electrónico de transmisión (MET) y el microscopio
electrónico de barrido (MEB). Cada uno de ellos, permite el estudio de diferentes características de una
muestra. El MEB provee información sobre morfología y características de la superficie, mientras que con el
MET podemos observar la microestructura o morfología interna de la muestra. Un gran avance se ha
alcanzado con la incorporación de técnicas de procesamiento de imágenes para revelar detalles específicos
de interés, algunos de ellos ligados a la microestructura o morfología interna de la muestra [Prin, J. L.,
Hernández, G. y Rojas de Gáscue, B. OPERANDO EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO COMO
HERRAMIENTA PARA EL ESTUDIO DE LOS POLÍMEROS Y OTROS MATERIALES. Parte II: EL
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRASMISIÓN (MET). Iberoamericana de Polímeros. (2010), 11(1), 15. ].

Los diferentes tipos de microscopios: a). microscopio óptico (MO), b) Microscopio electrónico de trasmisión
(MET) y c) microscopio electrónico de barrido (MEB) [Prin, J. L., Hernández, G. y Rojas de Gáscue, B.
OPERANDO EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO COMO HERRAMIENTA PARA EL ESTUDIO DE LOS
POLÍMEROS Y OTROS MATERIALES. Parte II: EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRASMISIÓN
(MET). Iberoamericana de Polímeros. (2010), 11(1), 15. ].

La interacción de los electrones con la materia es un fenómeno complejo de múltiples efectos, los cuales son
controlados mediante las técnicas apropiadas y así aprovechados para conocer la estructura interna de los
materiales. La técnica de microscopia electrónica de transmisión se ocupa de la información contenida en
aquellos electrones que traspasan una muestra solida sobre la que se ha hecho incidir un haz electrónico
coherente y a gran velocidad. La heterogénea distribución de densidad electrónica presente en la muestra
provoca en la radiación transmitida la formación de imágenes de interferencia, que adecuadamente
interpretadas, revelan sus características morfológicas y estructurales [Prin, J. L., Hernández, G. y Rojas de
Gáscue, B. OPERANDO EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO COMO HERRAMIENTA PARA EL ESTUDIO
DE LOS POLÍMEROS Y OTROS MATERIALES. Parte II: EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE
TRASMISIÓN (MET). Iberoamericana de Polímeros. (2010), 11(1), 15. ].
1.6.1 Formación de Imagen

Los electrones que se transmiten a través de una muestra sobre la que se ha hecho incidir un haz electrónico
coherente se catalogan en tres tipos:

 Electrones no desviados con cinética idéntica a la de los incidentes.

 Electrones desviados elásticamente.

 Electrones inelásticos, que son desviados cediendo parte de su energía a la muestra.

Los electrones no desviados y los elásticos son los únicos que contribuyen constructivamente a la formación
de la imagen. La fracción inelástica es por otra parte la responsable del ruido de fondo presente en toda
imagen de microscopia electrónica.

Según la teoría de Abbe (Figura. 1.6.1.1), las interferencias que se producen en un frente de onda transmitido
por una muestra y que a continuación se ha hecho refractar por una lente, originan en el plano focal posterior
una imagen de difracción y a continuación una segunda imagen (imagen secundaria) que representa al objeto
y que define el plano de imagen del lente. El microscopio electrónico permite visualizar alternativamente
cualquiera de estas dos imágenes con lo que es posible llevar a cabo de manera simultánea el análisis de
difracción de electrones y la observación morfológica de una misma muestra.

El modo común de operar en el microscopio electrónico consiste en visualizar la imagen secundaria, la cual se
registra como una proyección bi-dimensional de la densidad electrónica presente en la muestra. Solo en
aquellos casos en que la fluctuación de densidad electrónica sea significativa se obtendrá una representación
lo suficientemente contrastada como para extraer información sobre la naturaleza de la muestra [MUÑOS
GUERRA, S. Microscopia Electrónica de Transmisión y Difracción de Electrones de Polímeros. Universidad
Politecnica de Catalunya. (1991), 11(1), 13. ].
Geometría de la formación de la imagen de un objeto según la teoría de Abbe. 0: objeto, L: lente objetivo, F:
plano focal posterior, I: plano de imagen [MUÑOS GUERRA, S. Microscopia Electrónica de Transmisión y
Difracción de Electrones de Polímeros. Universidad Politecnica de Catalunya. (1991), 11(1), 13. ].

Dado a que la proporción de este tipo de electrones aumenta exponencialmente con la cantidad de materia
colisionada, el espesor de la muestra resulta ser un factor decisivo de la calidad de la imagen que se obtiene.
Así resulta que para una muestra de 100 𝑛𝑚 de grosor, la resolución límite es de 6 𝑛𝑚, un valor casi 40 veces
mayor que el alcanzable por un instrumento convencional. La utilización de muestras ultrafinas (<80 𝑛𝑚) es
pues una exigencia básica en la microscopia electrónica y representa sin duda alguna, el principal factor
limitante en la aplicación de esta técnica [MUÑOS GUERRA, S. Microscopia Electrónica de Transmisión y
Difracción de Electrones de Polímeros. Universidad Politecnica de Catalunya. (1991), 11(1), 13. ].

En conclusión, muestras delgadas y adecuadamente contrastadas resultan ser imprescindibles para la

obtención de buenas imágenes. Por ello la preparación de muestras constituye una etapa esencial en la
metodología de la microscopia electrónica, la cual es necesario conocer y dominar para conseguir una
correcta aplicación de la técnica [MUÑOS GUERRA, S. Microscopia Electrónica de Transmisión y Difracción
de Electrones de Polímeros. Universidad Politecnica de Catalunya. (1991), 11(1), 13. ].

Espectroscopia de luminiscencia

La luminiscencia es la luz de color emitida por cuerpos radiantes negros. No incluye por tanto la luz emitida
por cuerpos incandescentes o calor. El proceso de luminiscencia consiste en la absorcion y posterior emision
de radiaciones electromagnéticas por parte de atomos o moleculas electronicamente excitables. El analito
debe tener capacidad de absorber y emitir fotones. Atomos, moleculas o partes de estas que absorben
fotones se denominan cromoforos. Pero todos los cromoforos no fluorescen. Los cromoforos que se
desactivan emitiendo toda o parte de su energia de excitation en forma de radiacion fotoluminiscente se
denominan fluoroforos.

Por tanto, la espectroscopia de luminiscencia esta muy relacionada con la de absorcion. Los espectros de
absorcion y emision de fluorescencia de una molecula son imagenes especulares, estando normalmente el de
fluorescencia desplazado a longitudes de onda mayores.

Las energias absorbidas y emitidas son caracteristicas de cada analito. La diferencia entre ambas permite
separar ambas senales antes de llegar al detector, y hace la fluorescencia mas sensible que los metodos de
absorcion. [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011),
Consejo Superior de Investigaciones científicas ].

La fluorescencia atomica es una propiedad general de todos los monoatomos en fase gaseosa. Generalmente
la frecuencia corresponde a la emision de resonancia. La excitacion de resonancia es muy selectiva y evita
interferencias.

En el caso de la fluorescencia molecular, el retomo del estado excitado al estado fundamental no siempre
tiene lugar con emision de energia radiante (fluorescencia). Esta puede tener lugar por:

- Desactivacion no radiante: mediante colisiones con moleculas de disolvente, disipacion de calor, foto-
oxidacion, transferencia de energia a otras moleculas presentes en el medio (amortiguacion colisional, etc.),
transferencia a distancia, etc.

- Fluorescencia: emite un foton sin cambiar su multiplicidad de espin.

- Fosforescencia: emite un foton y cambia la multiplicidad de su espin.

La absorcion y emision de energia por un atomo o molecula viene representada por el diagrama propuesto por
el cientifico polaco Jablonskii en 1935, donde S y T representan los estados singlete y triplete, y cada nivel
electronico consta de diversos niveles vibracionales y rotacionales (Figura 3.1). La energia total de una
molecula es la suma de las energias transnacional, rotacional, vibracional, electronica, electronica de
orientation de espin y nuclear de orientation de espin, pero únicamente los niveles electronicos, rotacionales y
vibracionales estan involucrados en la absorcion de fotones. Asi cuando un atomo o molecula absorbe un
foton de energia apropiada, se excita un electron desde el nivel vibracional menor del estado singlete
fundamental a un nivel vibracional de un estado singlete excitado cualquiera. . [Faraldos, M. y Goberna, C. G.
(s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones
científicas ].

Diagrama de jabblonski . [Faraldos, M. y Goberna, C. G. (s. f.). Técnicas de analisis y caracterización de

materiales. (2011), Consejo Superior de Investigaciones científicas ].

Formas de fotoluminiscencia

 Radiación Resonante: En la radiación resonante, se absorbe un fotón de una longitud de onda

particular y se emite inmediatamente un fotón equivalente, a través del cual no se involucran
transiciones de energía internas significativas del sustrato químico entre absorción y emisión y el
proceso suele ser de un orden de 10 nanosegundos.

 Fluorescencia: Cuando el sustrato químico experimenta transiciones internas de energía antes de

relajarse a su estado fundamental emitiendo fotones, parte de la energía absorbida se disipa de
manera que los fotones de luz emitidos son de menor energía que los absorbidos. Uno de esos
fenómenos más familiares es la fluorescencia, que tiene una vida útil corta (10 -8 a 10 -4 s).

 Fosforescencia: La fosforescencia es una transición radiacional, en la que la energía absorbida se

somete a cruce intersistémico a un estado con una multiplicidad de espín diferente. La vida útil de la
fosforescencia suele ser de 10 -4 - 10 -2 s, mucho más larga que la de Fluorescencia. Por lo tanto, la
fosforescencia es incluso más rara que la fluorescencia, ya que una molécula en estado triplete tiene
una buena probabilidad de someterse a un cruce intersistémico al estado fundamental antes de que
pueda ocurrir la fosforescencia.