232 CAPÍTULO 8: Cartas de control para atributos

Modificación en el cálculo de los límites de control de las cartas

p y np para mejorar su aproximación a la normalidad
Los límites para las cartas p y np se fundamentan en la distribución binomial y en su aproxi-
mación por la distribución normal. Se sabe que para tener una aproximación razonable se
requiere que np ≥ 5 y n(1 − p) ≥ 5. Por lo que cuando p– o n son pequeños, no se cumplen tales
requerimientos y la aproximación es mala. En Gutiérrez y Camacho (1998) se propone una
pequeña modificación en el cálculo de los límites de control, que mejora la aproximación y
permite aplicar con mayor amplitud y confianza los diferentes criterios de interpretación de
las cartas que se presentan en el capítulo 7. Esta modificación consiste en obtener el límite de
control superior modificado (LCS*) de la carta np de la siguiente manera:

[
LCS * = EM np + 3 np (1 − p ) ]
donde EM[x] es la función mayor entero o igual que x, que a un número entero lo deja igual,
pero a un número no entero lo convierte en el entero inmediato mayor a tal número. Por ejem-
plo, en el caso de la carta de control de la figura 8.2, EM[17.872] = 18. Por lo tanto, LCS* = 18.
La línea central se calcula de la forma tradicional y el límite de control inferior modificado
(LCI*) está dado por

LCI *  np 3S *

donde S* se obtiene de dividir entre tres la distancia entre la línea central y el LCS*, esto es,

LCS * np
S* 
3

De esta manera, las zonas de la carta de control tendrán una amplitud igual a S*.
Por su parte, el límite de control superior modificado (LCS´) para una carta p está dado por

LCS´ = LCS*/n.

La línea central es p–, y el límite de control inferior modificado (LCI´) es

LCI´ = LCI*/n

Cartas c y u (para defectos)

E s frecuente que al inspeccionar una unidad (unidad representa un artículo, un lote de
artículos, una medida lineal —metros, tiempo—, una medida de área o de volumen)
se cuente el número de defectos que tiene en lugar de limitarse a concluir que es o no defec-
tuosa. Algunos ejemplos de unidades que se inspeccionan para contar sus defectos son: una
mesa, x metros de rollo fotográfico, un zapato, z sartenes de teflón, una prenda de vestir, w
metros cuadrados de pintura, etc. Cada una de estas unidades puede tener más de un defecto,
suceso o atributo y no necesariamente se cataloga al producto o unidad como defectuoso.
Por ejemplo, un mueble quizá tenga algunos defectos en su acabado pero puede cumplir con
relativa normalidad la función para la que fue fabricado. Aunque se detecten defectos en la
operación intermedia de un proceso, la unidad inspeccionada podría pasar a la siguiente eta-
pa, caso contrario de lo que ocurre en las cartas p y np. Otro tipo de variables que también es
importante evaluar, que cuentan el número de eventos o sucesos en lugar de defectos, son las
siguientes: número de errores por trabajador, cantidad de accidentes, número de quejas por
 Cartas c y u (para defectos) 233

mal servicio, número de nuevos clientes, cantidad de llamadas telefónicas en un periodo de

tiempo, clientes atendidos en un lapso de tiempo, errores tipográficos por página en un perió-
dico, número de fallas de un equipo, etc. Note que en estas variables la unidad de referencia
es cierto periodo de tiempo o una cantidad de actividades que se realizan.
En términos generales, las variables mencionadas se pueden ver como el número de
eventos que ocurren por unidad, y tienden a comportarse de acuerdo con la distribución de
Poisson (véase capítulo 3). Las variables que se ajusten de manera moderada a esta distribu-
ción pueden examinarse a través de las cartas c y u, que analizan el número de defectos por
subgrupo o muestra (carta c) o el número promedio de defectos por unidad (carta u).

Carta c (número de defectos)

El objetivo de la carta c es analizar la variabilidad del número de defectos por Carta c
subgrupo, cuando el tamaño de éste se mantiene constante. En esta carta se gra- Su objetivo es analizar la variabilidad
fica ci que es igual al número de defectos o eventos en el i-ésimo subgrupo (mues- del número de defectos por subgrupo
o unidad con un tamaño de subgrupo
tra). Los límites de control se obtienen suponiendo que el estadístico ci sigue una constante.
distribución de Poisson; por lo tanto, las estimaciones de la media y la desviación
estándar de este estadístico están dadas por:

Total de defectos
Mc i  c  y S ci  c
Total de subgrupos

por ello, los límites de control de la carta c se obtienen con las expresiones

LCS  c  3 c

Línea central  c

LCI  c 3 c

EJEMPLO 8.3
En una fábrica de muebles se inspecciona a detalle el
acabado de las mesas cuando salen del departamento
de laca. La cantidad de defectos que son encontrados en
cada mesa son registrados con el fin de conocer y mejorar
el proceso. En la tabla 8.3 se muestran los defectos en-
contrados en las últimas 30 mesas. Es claro que estamos
ante una variable que debe ser analizada con la carta c,
debido a que una misma mesa puede tener varios defec-
tos de diferente tipo; además, los defectos son relativa-
mente menores, y aunque influyen en la calidad final del
producto, no causan que la mesa sea rechazada.

TABLA 8.3 Datos para el ejemplo 8.3.

MESA DEFECTOS ci MESA DEFECTOS ci

1 7 4 2
2 5 5 6
3 10 6 5
234 CAPÍTULO 8: Cartas de control para atributos

(continuación)

MESA DEFECTOS ci MESA DEFECTOS ci

7 4 19 4
8 9 20 7
9 7 21 3
10 5 22 10
11 6 23 6
12 7 24 6
13 8 25 7
14 4 26 4
15 5 27 5
16 12 28 6
17 8 29 8
18 10 30 5

Suma total 191

De la tabla 8.3 se obtiene que el número promedio de

defectos por unidad (mesa) es: LCI = 6.4 − 3 6.4 = −1.2

191
c= = 6.4 Observe que el LCI resulta negativo, pero como no puede
30 haber cantidades negativas de defectos, entonces el límite
inferior se iguala a cero. La carta obtenida se muestra en
por lo tanto, los límites de control de la carta c están da-
la figura 8.3, a partir de la cual se aprecia que el proceso
dos por:
de producción de mesas estuvo funcionando de manera
estable, ya que no hay puntos fuera de los límites ni otro
LCS = 6.4 + 3 6.4 = 14 patrón no aleatorio. Por lo anterior, los límites de control
a usar en el futuro son esos mismos.
Línea central = 6.4

15

12

9
Defectos

0
0 4 8 12 16 20 24 28 32
Mesa

FIGURA 8.3 Carta de control para defectos en las mesas.

 Cartas c y u (para defectos) 235

Interpretación de los límites de control de la carta c

Los límites de una carta c reflejan la variación esperada para el número de defectos por subgru-
po. En el caso del ejemplo 8.3 se espera que, de manera ordinaria, el número de defectos
por mesa varíe entre 0 y 14.0 con un promedio de 6.4. Estos límites no representan ni deben
representar dónde se quiere que estén los datos, más bien representan la realidad. Como las
cantidades de defectos son relativamente altas, se requiere un plan de acción que reduzca esta
problemática y una forma natural de empezar sería estratificar el problema, es decir, localizar
el tipo de defecto con mayor frecuencia y el área donde se presenta. En otras palabras, la ac-
ción de mejora no debe partir de reaccionar ante lo que se observa en una mesa, ya que no hay
problemas especiales. Toda la problemática es común a todas las mesas; por lo tanto, la acción
parte de analizar todo el proceso enfocándose en aquellos problemas con mayor recurrencia.
La carta de control para los defectos en las mesas muestra un proceso estable (en control
estadístico), pero quizá se considera que genera muchos defectos: 6.4 en promedio por mesa.
Si éste fuera el caso, entonces se tendría un proceso estable pero malo, o en otras palabras, un
proceso estable e incapaz. Una ventaja que ofrece la carta es que no sólo ayudará a detectar
y prevenir situaciones anormales en la producción de mesas, sino que además provoca en la
administración una mayor conciencia de la magnitud e importancia del problema, además de
que permite evaluar el impacto de las acciones de mejora.

Carta u (número de defectos por unidad)

Cuando en el tipo de variables que se comentaron al inicio de esta sección (con Carta u
distribución Poisson), el tamaño del subgrupo no es constante, se usa la carta u, Analiza la variación del número pro-
en la cual se analiza la variación del número promedio de defectos por artículo medio de defectos por artículo o
unidad de referencia. Se usa cuando el
o unidad, en lugar del total de defectos en el subgrupo. Así, en esta carta, un tamaño del subgrupo no es constante.
subgrupo lo forman varias unidades. De manera que para cada subgrupo se gra-
fica,
ci
ui =
ni

donde ci es la cantidad de defectos en el subgrupo i y ni es el tamaño del subgrupo i. Para cal-

cular los límites es necesario estimar la media y la desviación estándar del estadístico ui, que
bajo el supuesto de que ci sigue una distribución Poisson, resultan ser

Total de defectos
μui = u =
Total de artículos inspeccionados
u
σ ui =
n

Donde n es el tamaño de subgrupo. De esta manera, los límites de control en la carta u

están dados por:

u
LCS = u + 3
n

Línea central = u

u
LCI = u − 3
n
236 CAPÍTULO 8: Cartas de control para atributos

Cuando n no es el mismo en todos los subgrupos, entonces se sustituye por el tamaño pro-
medio de subgrupo, n–. Otra alternativa es obtener una carta con límites variables, en la que
para cada subgrupo se calculan sus límites en función del tamaño del subgrupo ni y con éstos
se evalúa el proceso para tal subgrupo.

EJEMPLO 8.4
En una fábrica se ensamblan artículos electrónicos y al
final del proceso se hace una inspección por muestreo
para detectar defectos relativamente menores. En la ta-
bla 8.4 se presenta el número de defectos observados en
muestreos realizados en 24 lotes consecutivos de piezas
electrónicas. El número de piezas inspeccionadas en cada
lote es variable, por lo que no es apropiado aplicar la car-
ta c. Es mejor analizar el número promedio de defecto
por pieza, ui, mediante la carta u. Para calcular los límites
de control a partir de la tabla 8.4, se tiene que:
3  0.38
549
u= = 1.04
525
Como el tamaño de subgrupo o muestra es variable,
se tienen dos alternativas: usar el tamaño de subgrupo
promedio o construir una carta con límites variables. Se
harán ambas. El tamaño de subgrupo promedio se obtie-
ne dividiendo el total de unidades inspeccionadas (525)
entre el número de subgrupos (24); de esta manera, n– =
21.875. Con esto tenemos que los límites de control son:
1.04
LCS  1.04  3  1.69
21.875
Línea central  1.04
1.04
LCI  1.04
21.875
La carta obtenida se muestra en la figura 8.4, en la que se
observa que el proceso no trabaja de manera estable, ya
que en la muestra del lote 21 el número promedio de de-
fectos por pieza sobrepasa el límite de control superior.
En la fabricación de tal lote ocurrió alguna causa especial
que empeoró la calidad de las piezas. Es preciso identifi-
car la causa para evitarla en el futuro. Además del punto
fuera de los límites no existe ningún patrón no aleatorio.

TABLA 8.4 Defectos en piezas electrónicas.

ci ci
TAMAÑO DE DEFECTOS ui = TAMAÑO DE DEFECTOS ui =
LOTE MUESTRA, ni ENCONTRADOS, ci ni LOTE MUESTRA, ni ENCONTRADOS, ci ni

1 20 17 0.85 13 30 40 1.33
2 20 24 1.20 14 30 24 0.80
3 20 16 0.80 15 30 46 1.53
4 20 26 1.30 16 30 32 1.07
5 15 15 1.00 17 30 30 1.00
6 15 15 1.00 18 30 34 1.13
7 15 20 1.33 19 15 11 0.73
8 25 18 0.72 20 15 14 0.93
9 25 26 1.04 21 15 30 2.00
10 25 10 0.40 22 15 17 1.13
11 25 25 1.00 23 15 18 1.20
12 30 21 0.70 24 15 20 1.33

Suma total 525 549

 Cartas c y u (para defectos) 237

1.6

1.2
u

0.8

0.4

0
0 5 10 15 20 25
Lote

FIGURA 8.4 Carta u para defectos en piezas electrónicas, ejemplo 8.4.

Interpretación de los límites de control en la carta u

En la carta u se grafica el número promedio de defectos por unidad. Por ejemplo, en el caso
de las piezas electrónicas se espera que en las muestras de tamaños similares a los de la tabla
8.4 se encuentren entre 0.38 y 1.69 defectos por pieza con un promedio de 1.04.
Lo que procede en el problema bajo análisis es seguir monitoreando el proceso mediante
la carta de control para identificar y eliminar causas especiales de variación. Además se debe
evaluar la posibilidad de generar un proyecto de mejora para identificar y eliminar las causas
comunes de los defectos en los artículos. Un primer paso en tal proyecto de mejora sería iden-
tificar el tipo de defecto que se presenta con mayor frecuencia.

Carta u con límites variables

Para construir una carta u con límites variables para los datos de la tabla 8.4 es nece- Carta u con límites variables
sario calcular los límites de control para cada tamaño de subgrupo. Por ejemplo, Se aplica cuando el tamaño de subgru-
cuando se tiene un tamaño de muestra de 25, los límites para tales lotes son: po ni es muy variable. Para cada ni
se calculan los límites de control
correspondientes.
1.04
LCS  1.04  3  1.65
25

1.04
LCI  1.04 3  0.43
25

Al calcular tantos límites como tamaños de muestra distintos, se obtiene la carta u de la figu-
ra 8.5. La línea central es la misma, independientemente del tamaño de subgrupo. En la carta
se observa que además del punto correspondiente al lote 21, el del 10 también aparece fuera de
control; aunque este último por el límite inferior. De esta manera, en la fabricación del lote 10
ocurrió algo especial que mejoró el desempeño del proceso. Nótese que en la carta con límites
promedio de la figura 8.4 no se había detectado esto, aunque tal punto sí estaba muy cerca del
límite inferior. Además, la amplitud de los distintos límites en la carta u es diferente debido