CEP (Grfica de Atributos)

Lmite inf. de especs.

Lmite sup. de especs.

Objetivo

Lmite inf. de especs.

Lmite sup. de especs.

Control estadstico del proceso Grficas por atributos

Dime como me mides y te dir como me comporto . Eli Goldratt

Objetivo

INTRODUCCIN
Por qu varan los procesos? Un proceso industrial est sometido a una serie de factores de carcter aleatorio que hacen imposible fabricar dos productos exactamente iguales. Dicho de otra manera, las caractersticas del producto fabricado no son uniformes y presentan una variabilidad. Esta variabilidad es claramente indeseable y el objetivo ha de ser reducirla lo ms posible o al menos mantenerla dentro de unos lmites. El Control Estadstico de Procesos (CEP) es una herramienta til para alcanzar este segundo objetivo. Dado que su aplicacin es en el momento de la fabricacin, puede decirse que esta herramienta contribuye a la mejora de la calidad de la fabricacin. Permite tambin aumentar el conocimiento del proceso (puesto que se le est tomando el pulso de manera habitual) lo cual en algunos casos puede dar lugar a la mejora del mismo. El Control Estadstico de Procesos naci a finales de los aos 20 en los Bell Laboratories. Su creador fue W. A. Shewhart, quien en su libro Economic Control of Quality of Manufactured Products (1931) marc la pauta que seguiran otros discpulos distinguidos (Joseph Juran, W.E. Deming, etc.). Sobre este libro han pasado ms de 80 aos y sigue sorprendiendo por su frescura y actualidad. Resulta admirable el ingenio con el que plantea la resolucin de problemas numricos pese a las evidentes limitaciones de los medios de clculo disponibles en su poca.

Definicin atributos

Planeacin de la calidad

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CEP (Grfica de Atributos)

Muchas caractersticas de calidad se evalan dando resultados como: conforme/disconforme, defectuoso/ no defectuoso, aprobado/reprobado, bueno/malo, pasa/no pasa. Estas caractersticas o propiedades de calidad se conocen como atributos.

La variable aleatoria es discreta, porque puede tomar un nmero finito de valores (nmero de defectuosos). Los grficos np se utilizan para controlar el nmero de defectuosos en una muestra. Entonces, para controlar este proceso, el operario (validador o inspector) se coloca al final de la lnea de produccin y cada hora retira una muestra de n=50 tornillos (por ejemplo), comprueba cada uno con la rosca y anota el nmero de defectuosos.

1.- Grfica por atributos

VENTAJAS: Inspeccin rpida Mediante un solo grfico de control se pueden realizar el seguimiento de varias caractersticas de calidad al mismo tiempo Menor complejidad Abaratamiento de control de calidad DESVENTAJAS: Menor informacin sobra las caractersticas de calidad que se estn controlando. No sabemos cmo se distribuyen. Ejemplo: Supongamos un proceso que fabrica tornillos. Una manera de ensayar cada tornillo sera probarlo con una rosca calibrada.

El resultado de este ensayo slo tiene dos posibles resultados: Pasa No pasa ( ConformeDisconforme).

Si el tornillo no entra en la rosca, se lo considera defectuoso (disconforme o no pasa) Para controlar este proceso, se puede tomar una muestra de tornillos y contar el nmero de defectuosos presentes en la muestra.

Este resultado se anota en una grfica hora por hora y se denomina grfico np. Si se tomara del proceso un slo tornillo Cul es la probabilidad de que sea defectuoso? Imaginando la poblacin de tornillos que podra fabricar el proceso trabajando siempre en las mismas condiciones, una cierta proporcin p de estos seran defectuosos. Entonces, la probabilidad de tomar un tornillo y que sea defectuoso es p. En una muestra de n tornillos, la probabilidad de encontrar:

Planeacin de la calidad

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CEP (Grfica de Atributos)

0 defectuosos 1 defectuoso 2 defectuosos ... n defectuosos

DIA 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 Promedio

Est dada por una distribucin binomial con parmetros n y p. Como sabemos, el promedio de la poblacin es p y la varianza es n. p. (1-p).

2.- Tipos de Grficas por atributos

Datos de Atributos Tipo Medicin Tamao de Muestra ?

Fraccin de partes defectuosas,

defectivas o no conformes

Constante o variable > 30

np

Nmero de partes defectuosas

Constante > 30

Nmero de defectos

Constante = 1 Unidad de inspeccin

MUESTRA RECHAZO FRACCIN 286 14 0.049 281 22 0.078 310 9 0.029 313 19 0.061 293 21 0.072 305 18 0.059 322 16 0.050 316 16 0.051 293 21 0.072 287 14 0.049 307 15 0.049 328 16 0.049 296 21 0.071 296 9 0.030 317 25 0.079 297 15 0.051 283 14 0.049 321 13 0.040 317 10 0.032 307 21 0.068 317 19 0.060 323 23 0.071 304 15 0.049 304 12 0.039 324 19 0.059 289 17 0.059 299 15 0.050 318 13 0.041 313 19 0.061 289 12 0.042 9155 493 0.05385 305.2

LSC 0.087 0.107 0.089 0.092 0.098 0.098 0.095 0.094 0.098 0.097 0.095 0.093 0.097 0.094 0.095 0.096 0.096 0.093 0.091 0.093 0.093 0.093 0.094 0.093 0.092 0.095 0.094 0.092 0.093 0.09368 0.093

LIC 0.011 0.020 0.014 0.016 0.017 0.018 0.018 0.017 0.017 0.016 0.017 0.017 0.016 0.015 0.017 0.016 0.015 0.017 0.016 0.015 0.016 0.017 0.016 0.015 0.017 0.015 0.015 0.016 0.016 0.01402 0.015

Nmero de defectos por unidad

Constante o variable en unidades de inspeccin

Observar que los lmites de control no son constantes.

2.1.- Grfica de la fraccin no conforme ( p ).

Cada punto de la grfica representa el porcentaje del nmero de elementos no conformes (cada elemento rechazado puede tener ms de una no conformidad) en el lote, la produccin de un perodo o alguna otra rea de oportunidad que puede o no ser constante y el tamao de la misma. Los lmites de control se interpretan de la manera usual pero varan de punto a punto de manera inversa al tamao del rea de oportunidad.

EJEMPLO GRFICA p

1:

APLICACIN

DE

2.2.- Grfica del nmero de no conformes ( np ).

Cada punto de la grfica es el nmero de elementos no conformes (cada elemento rechazado puede tener ms de una no conformidad) encontrados en un lote, la produccin de un perodo o alguna otra rea de oportunidad constante. Los lmites de control encierran una zona de probabilidad de 3 desviaciones estndar por arriba y por abajo de la media, por lo que la interpretacin de los puntos

Un fabricante de productos electrnicos dispone de un proceso de soldadura de componentes por estao, el atributo es se sold / No se sold. La tabla siguiente recoge los resultados de la produccin de los ltimos 30 das. Analice este proceso.

Planeacin de la calidad

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CEP (Grfica de Atributos)

fuera de lmites es similar a la de las grficas por variables.

EJEMPLO GRFICA C EJEMPLO 2: GRFICA np

Mismo ejemplo anterior:
DIA 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 Promedio MUESTRA RECHAZO FRACCIN 250 14 14 250 22 22 250 9 9 250 19 19 250 21 21 250 18 18 250 16 16 250 16 16 250 21 21 250 14 14 250 15 15 250 16 16 250 21 21 250 9 9 250 25 25 250 15 15 250 14 14 250 13 13 250 10 10 250 21 21 250 19 19 250 23 23 250 15 15 250 12 12 250 19 19 250 17 17 250 15 15 250 13 13 250 19 19 250 12 12 7500 493 16 250.0 16.43 0.066 LSC 25 30 26 28 29 29 29 29 29 29 29 29 29 28 29 29 29 28 28 28 28 29 29 28 29 29 28 28 28 28 28 28 LIC 3 6 4 4 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5
DIA 1 ERROR 6 DIA 16 ERROR 3 2 7 17 2 3 7 18 0 4 6 19 0

3:

APLICACIN

DE

APLICACIN

DE

Una empresa de desarrollos de SW ha registrado las siguientes tasas de error (medidas en errores por 1000 lneas de cdigo) en los ltimos 30 das. Analice el proceso de desarrollo de SW.
5 8 20 1 6 6 21 2 7 5 22 5 8 8 23 1 9 1 24 7 10 6 25 7 11 2 26 1 12 5 27 5 13 5 28 5 14 4 29 8 15 3 30 8

= (x1 + x2 + x3 ..xn)/30 = 4.467 = (6 + 7 + 7 + 6 + 8.n)/30= 4.467

2.4.- Grfica de no conformidades por unidad (u). 2.3.Grfica del conformidades (c). nmero de no
Cada punto de la grfica representa el cociente entre el nmero de defectos en la muestra, lote, la produccin de un perodo o alguna otra rea de oportunidad que puede o no ser constante y el tamao de la misma. Los lmites de control se interpretan de la manera usual pero varan de punto a punto de manera inversa al tamao del rea de oportunidad.

Cada punto de la grfica es el nmero de defectos encontrado en una muestra, un lote, la produccin de un perodo o alguna otra rea de oportunidad de tamao constante. Los lmites de control encierran una zona de probabilidad de 3 desviaciones estndar por arriba y por abajo de la media, por lo que la interpretacin de los puntos fuera de lmites es similar a la de las grficas por variables.

Planeacin de la calidad

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CEP (Grfica de Atributos)

EJEMPLO GRFICA U
Hora 07:30 08:00 08:30 09:00 09:30 10:00 10:30 11:00 11:30 12:00 12:30 13:00 13:30 14:00 14:30 15:00 15:30 16:00 16:30 17:00 17:30 18:00 18:30 19:00 19:30 20:00 20:30 21:00 21:30 22:00 Promedio

4:

APLICACIN

DE

MUESTRA Nm. Def. tot. Prom. X pz. (n = 5) (m=todos) = (m/n) 5 14 2.8 5 22 4.4 5 9 1.8 5 19 3.8 5 21 4.2 5 18 3.6 5 16 3.2 5 16 3.2 5 21 4.2 5 14 2.8 5 15 3 5 16 3.2 5 21 4.2 5 9 1.8 5 25 5 5 15 3 5 14 2.8 5 13 2.6 5 10 2 5 21 4.2 5 19 3.8 5 23 4.6 5 15 3 5 12 2.4 5 19 3.8 5 17 3.4 5 15 3 5 13 2.6 5 19 3.8 5 12 2.4 150 493 98.6 5.0 16.43 3.29

= 16.43 / 5 = 3.29 LSC = + 3 LIC = - 3

= =

5.72 0.85

PREGUNTAS DE REPASO 1.- Que es atributo. 2.- Cuales son sus ventajas 3.- Cuales son sus desventajas 4.- Elabore una matriz para los cuatro tipos de grfica: Columna 1, anote la formula, columna 2, donde se utiliza.

Planeacin de la calidad

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