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DEPARTAMENTO METALURGIA
ALUMNO:
LABORATORIO
OBJETIVO
Introducir al alumno en la aplicación de la normalización o estandarización (corrección de deriva)
de espectrómetros.
ALCANCE
Espectrómetros de emisión óptica y de fluorescencia de rayos X.
A. DESARROLLO
PRINCIPIOS TEORICOS DE LA NORMALIZACION O ESTANDARIZACION
A.1 Definición
La normalización o estandarización es la operación de ajustar la lectura de un
instrumento a causa de la deriva del mismo, conforme a la calibración.
(Ec. 10-1)
Responsables de cátedra:
Profesores: Dr. Miguel Moreno Entregado: __/__/__ Aprobó:
Jefe T. Prácticos: Tco Federico Brog
Rev :5 – 2017 F 1100-12 Rev.0 - 2008
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2do AÑO METALURGIA
TRABAJO PRACTICO Nº 12 CATEDRA:
PROBLEMA DE INGENIERIA Nº 7 TÉCNICAS DE ANALISIS
UNIDADES TEMATICAS N° 9 y 14
Fecha de
UTN Puesta en servicio y acondicionamiento de Solicitud:
F.R.S.N. espectrómetros normalización o Fecha
estandarización de espectrómetros de Realización:
DEPARTAMENTO METALURGIA
ALUMNO:
LABORATORIO
(Ec. 10-2)
o también:
(Ec. 10-3)
(Ec. 10-4)
(Ec. 10-5)
siendo:
IM corr: intensidad corregida de la muestra en análisis
I M med: intensidad medida de la muestra en análisis
Figura 1
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UNIDADES TEMATICAS N° 9 y 14
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A.2 EJERCITACION
Problema Nº 1
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PROBLEMA DE INGENIERIA Nº 7 TÉCNICAS DE ANALISIS
UNIDADES TEMATICAS N° 9 y 14
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ALUMNO:
LABORATORIO
siendo:
C: concentración del elemento químico medido (S) de la muestra en análisis en %
m/m
A0, A1 y A2: coeficientes de la curva de calibración, obtenidos por cálculo
estadístico mediante el método de mínimos cuadrados
IM corr: Intensidad o relación de intensidades corregida de la muestra en análisis.
A0 A1 A2
- 4,4808 x 10-3 1.10050 x 10-3 -1,64807 x 10-6
Los correspondientes valores nominales de las intensidades o relación de intensidades (o
también llamados “del día cero”), es decir, medidos en el momento de confeccionar la curva
de calibración del elemento azufre, fueron los siguientes:
Iº Alto Iº Bajo
79,449 4,7703
siendo:
IºAlto: Intensidad (o relación de intensidades) nominal (o del “día cero”)
de la muestra de normalización de alta concentración (MRE) Alto
IºBajo: Intensidad (o relación de intensidades) nominal (o del “día cero”)
de la muestra de normalización de baja concentración (MRE) Bajo
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estandarización de espectrómetros de Realización:
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TRABAJO PRACTICO Nº 12 CATEDRA:
PROBLEMA DE INGENIERIA Nº 7 TÉCNICAS DE ANALISIS
UNIDADES TEMATICAS N° 9 y 14
Fecha de
UTN Puesta en servicio y acondicionamiento de Solicitud:
F.R.S.N. espectrómetros normalización o Fecha
estandarización de espectrómetros de Realización:
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ALUMNO:
LABORATORIO
C = A0 + A1 IM corr + A2 IM Corr2
Problema Nº 2 :
A0 A1 A2
- 0,02891 0,05263 -1,17905 x 10-4
Iº Alto Iº Bajo
386,0691 0,4240
En el mes de agosto de 2010, antes de proceder a la determinación del elemento silicio en
una muestra de arrabio de cuchara empleando el mismo espectrómetro de fluorescencia de
rayos X, se llevó a cabo primariamente la corrección de la deriva instrumental (operación
llamada de normalización o estandarización) de dicho elemento en el espectrómetro a
utilizar. Para ello se le efectuaron 3 excitaciones a las correspondientes Muestras de
Referencia (MRE) de alta y baja concentración. Cada una de ellas, arrojó los siguientes
resultados promedio de intensidades o relación de intensidades:
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LABORATORIO
376,4664 0,8567
Posteriormente, se procedió a efectuar la medición del valor de la intensidad o relación de
intensidades (IM med) del elemento silicio de la muestra de arrabio de cuchara, efectuando tres
excitaciones a dicha muestra.
El valor promedio de las tres excitaciones resultó ser el siguiente:
IM med = 11,0637
Calcular:
1. Los coeficientes y β.
2. El valor de la intensidad o relación de intensidades corregido del elemento silicio de la
muestra en análisis.
3. El valor de la concentración de silicio de la muestra en análisis.
B. REALIZACION DEL TRABAJO PRACTICO
(Este espacio se destina para que el alumno tome nota de los aprendizajes del TP,
ya sea comentarios, gráficos, esquemas etc.)
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