CAPACIDAD DE PROCESO: Consiste en conocer la amplitud de la variación natural del proceso en relación con sus especificaciones y su ubicación respecto al

valor nominal, para una característica de calidad dada, y así saber en qué medida se cumple con los requerimientos.

INDICES DE CAPACIDAD DE PROCESO

Tipo Símbolo Nombre Definición Cálculo Interpretación Observaciones
Índice del índice
Proceso Cp Índice de Es un indicador Cp ≥ 2 Clase mundial  Se tiene calidad  Puede aplicarse incluso si
con doble Capacidad de la capacidad Cp = Variación tolerada Seis Sigma los datos no son normales,

especifica Potencial potencial del Variación real o bien, usarse los

ción del Proceso proceso Cp > 1.33 Clase 1  Adecuado percentiles 99.865 y 0.135
Cp = (ES- EI) / 6ơ  En caso de querer saber en
1 < Cp < 1.33 Clase 2  Parcialmente términos de porcentaje o
adecuado, requiere cantidad de partes por
control estricto millón fuera de
especificaciones, revisar
0.67 < Cp < 1 Clase 3  No adecuado.
Tabla 5.2*
Necesario análisis del proceso. Requiere
modificaciones serias para calidad
satisfactoria

Cp < 0.67 Clase 4  No adecuado para el

trabajo. Requiere modificaciones muy serias

Cr Razón de Es un indicador  Es el inverso

capacidad de la capacidad del C p
potencial potencial del  Sus valores
proceso que 6ơ Cr=1.2  se dice que la variación del deben ser
divide la
C r= proceso abarca o cubre 120% de la banda de
ES− EI menores a 1
amplitud de la especificaciones, por lo que su capacidad  Representa la
variación natural potencial es inadecuada. proporción de
de este entre la la banda de
variación especificacion
tolerada. es que es
cubierta por el
proceso.
Cpk Índice de Cpk > 1.25  Indica que el proceso en  Se considera
capacidad Es un indicador realidad es capaz. Satisfactorio la corrección
real del de la capacidad del C p
proceso real de un Cpk < 1  El proceso no cumple por lo  Cpk es igual al
proceso que se menos una de las especificaciones. valor más
 puede ver como
un ajusto al
índice Cp para
C pk =Mínimo
[ μ−EI ES−μ
3ơ
,
3ơ ]
Cpk siempre será ≤ Cp. Cuando son muy
próximos, eso indica que la media del
pequeño entre
Cpi y Cps

tomar en cuenta proceso está muy cerca del punto medio de

el centrado del las especificaciones, por lo que la capacidad
proceso. potencial y real son similares.

Cpk<< Cp  significa que la media del

proceso está alejada del centro de
especificaciones

Cpk > 1.25  el proceso tiene capacidad

satisfactoria (proceso ya existente), Cpk >
1.45 para procesos nuevos.
Cpk = cero o negativos  indican que la
media del proceso esta fuera de las
especificaciones.
K Índice de Es un indicador K = positivo  significa que la media del  Es importante
centrado de que tan proceso es mayor al valor nominal para conocer
del proceso centrada está la la capacidad
distribución de μ−N K=negativo cuando μ<N de un proceso
un proceso con
K= X 100
1 evaluando la
respecto a las ( ES−EI ) K < 20%  en términos absolutos se distribución
2
especificaciones consideran aceptables.  El valor
de una nominal, N, es
característica de K >20%  indica que un proceso muy la calidad
calidad alta. descentrado por lo que se considera baja la objetivo y
calidad del proceso a cumplir sus óptima
especificaciones.
Cpm Índice de Es un índice que Cpm < 1  indica que el proceso no  Cpm si
Taguchi es similar al Cpk, cumple con especificaciones, por problemas cumple las
que, en forma ES−EI de centrado o exceso de variailidad. especificacion
simultánea, toma
C pm=
6τ es no indica
en cuenta el Cpm > 1  el proceso cumple con las que sea buena
centrado y especificaciones y que la media del proceso calidad.
variabilidad del Donde τ está dentro de la 3º parte central de la banda  Debe estar
proceso. de las especificaciones orientada a
τ =√ σ 2 +( μ−N )2 reducir su
Cpm> 1.33  indica que el proceso cumple variabilidad
con especificaciones, pero además la media alrededor del
del proceso está dentro de la 5º parte central valor nominal.
del rango de especificaciones.
Proceso Cpl Índice de Es un indicador Cpi >1.2  Se considera que el proceso es Sólo se esta tomando en cuenta

con una capacidad de la capacidad adecuado en la parte inferior. la mitad de la variación natural

especifica para la de un proceso del proceso

ción especificaci para cumplir con μ−EI La tabla 5.2 ayuda a interpretar
C pi =
ón inferior la especificación 3σ los valores de estos índices

inferior de una unilaterales en términos del

característica de porcentaje de los productos que

calidad no cumplen con las

Cps Índice de Es un indicador Cps >1.2  Se considera que el proceso es especificaciones

capacidad de la capacidad adecuado en la parte superior.

para la de un proceso
especificaci para cumplir con ES−μ
C ps =
ón superior la especificación 3σ
superior de una
característica de
calidad
Largo Pp Índice de Es un indicador ES−EI Pp ≥ 2 Clase mundial  Se tiene calidad No toma en cuenta el centrado

Plazo desempeño del desempeño

P p= Seis Sigma del proceso.
6 σL
potencial potencial del σ L= desviación estándar de
En caso de poder visualizarlo de

del proceso proceso Pp > 1.33 Clase 1  Adecuado mejor forma ver la Tabla 5.2
largo plazo
1 < Pp < 1.33 Clase 2  Parcialmente
adecuado, requiere
control estricto

0.67 < Pp < 1 Clase 3  No adecuado.

Necesario análisis del proceso. Requiere
modificaciones serias para calidad
satisfactoria

Pp < 0.67 Clase 4  No adecuado para el

trabajo. Requiere modificaciones muy serias

Ppk Índice de Es un indicador

[ μ− EI ES−μ
] Si el valor del índice Ppk es mucho más El índice Ppk siempre va a ser

desempeño de desempeño P pk =mínimo , pequeño que el Pp, significa que la media menor o igual que el índice Pp.
3 σL 3σL
real del real del proceso del proceso está alejada del centro de las Cuando son muy próximos, eso

proceso especificaciones. De esa manera, el índice indica que la media del proceso

Ppk estará indicando la capacidad real del está muy cerca del punto medio

proceso, y si se corrige el problema de de las especificaciones, por lo

descentrado se alcanzará la capacidad que la capacidad potencial y real

potencial indicada por el índice Pp. son similares.

 Ppk > 1.25 en un proceso ya existente, se
considerará que se tiene un proceso con
capacidad satisfactoria

Ppk > 1.45 en un proceso nuevo, se

considera que tiene un proceso con
capacidad satisfactoria.

Ppk ≤ 0 indica que la media del proceso

está fuera de las especificaciones.
Métricas Zc Valor del Es un índice Z en Z m=Indice Z a corto plazo−Indice
Z m representa
a largo plazo
la habilidad para controlar la tecnologia
 Si no se
Seis índice Z a el cual se emplea conoce el
Sigma corto plazo la desviación Z m=ZC −Z L Z m=1.5 en promedio valor de
estándar de corto Z m< 1.5 el proceso tiene mejor control Zm se usa
plazo. 3 C pk =Z c 1.5 σ
Z m> 1.5 elcontrol es muy malo
 Para
Para corto plazo Z C =6 y C pk =2 calidad 3
sigma se
usan
Z c =3 y C pk =1
Zl Valor del Valor del índice 3 P pk =Z L Z m representa la habilidad para controlar la tecnologia
 Si no se
índice Z a Z que utiliza la conoce el
largo plazo desviación Z m=ZC −Z L Z m=1.5 en promedio valor de
estándar de largo Z m< 1.5 el proceso tiene mejor control Zm se usa
plazo 1.5 σ
Z m> 1.5 elcontrol es muy malo
Para largo plazo Z L=4.5 y P pk =1.5

PPM Partes por Es el porcentaje Cantindad analizada ( defectos )

PPM aplica cuando la parte cumple o no  Analiza
millón que analiza PPM =
Cantidad Total cumple y se usa una distribución binomial y datos
una cierta su aproximación es normal defectuoso
cantidad de datos s
por cada millón Si PPM=100 % C P y C pk =1

DPMO Defectos Cuantifica los d DPMO se refiere a variables para atributos  DPO mide
por millón defectos
DPO= que siguen una distribución de Poisson
UX 0 la no
de del proceso en un d= defectos calidad de
oportunida millón de U= Número de unidades DPMO= depende de los DPO un
des de error oportunidades de inspeccionadas proceso
error, y se O= Numero de oportunidades  Se puede
obtiene al de erros por unidad utilizar
multiplicar al
 DPO para el
por un millón DPO=1,000,000 XDP 0 análisis de
atributos y
metricas
*Tabla 5.2 del libro Control Estadístico de la Calidad. Humberto Gutierrez Pulido, Román de la Vara Salazar. Ed. Mc Graw Hill. 3ra Edición. 2013. Pág. 100.