7.

EQUIPO

7.1 Instrumentos de Arreglo de Fases. El instrumento ultrasónico de arreglo de fases debe ser del
tipo pulso-eco y estará equipado con un control de atenuación o ganancia de dB estandarizado
escalonado en incrementos de 1 dB como mínimo, que contenga múltiples canales emisores /
receptores independientes. El sistema debe ser capaz de generar y mostrar imágenes de B-scan y
S-scan, que se pueden almacenar y recuperar para su posterior revisión.

El sistema de arreglo de fases debe tener software de generación de leyes focales a bordo que
permita la modificación directa de las características del haz ultrasónico. Los cálculos de retardo
específicos pueden ser realizados por el propio sistema o importados de cálculos externos.

El sistema de arreglo en fase debe tener un medio de almacenamiento de datos para archivar los
datos del escaneo. Se puede utilizar un dispositivo de almacenamiento externo, una tarjeta de
almacenamiento extraible o una memoria USB para el almacenamiento de datos. También se
puede utilizar una PC portátil remota conectada al instrumento para este propósito. Si los
instrumentos no almacenan de forma inherente datos A-scan, como algunos instrumentos
manuales, solo se puede grabar la imagen final.

El sistema de arreglo en fase debe estar estandarizado para la linealidad de amplitud y altura de
acuerdo con la Práctica E2491 anualmente, como mínimo.

El instrumento debe ser capaz de emitir impulsos y recibir a frecuencias nominales de 1 MHz a 10
MHz. Para aplicaciones especiales, se pueden usar frecuencias de hasta 20 MHz, pero pueden
requerir instrumentación especial con la digitalización adecuada y aprobación especial.

El instrumento debe ser capaz de digitalizar A-scan's a un mínimo de cinco veces la frecuencia
nominal de la sonda utilizada. La amplitud se digitalizará con una resolución de al menos 8 bits (es
decir, 256 niveles).

El instrumento debe ser capaz de igualar la respuesta de amplitud de un objetivo en una

trayectoria de sonido fija para cada ángulo utilizado en la técnica (ganancia de ángulo corregido
(ACG) proporcionando compensación por la variación de atenuación de la zapata y transmitancia
del eco).

El instrumento también debe estar equipado con instalaciones para ecualizar las amplitudes de las
señales en la base de tiempo (ganancia con corrección de tiempo).

7.2 Transductores de Arreglo de Fases.

Los requisitos de la aplicación dictarán el diseño del transductor utilizado en arreglo de fases. Los
transductores de arreglo de fases se pueden usar con una zapata removible o integral, línea de
retardo o en un modo de sistema de burbujeo localizado o de inmersión. En algunos casos, se
puede utilizar un transductor de arreglo fases sin una zapata de refracción o línea de retardo (es
decir, solo con una superficie resistente al desgaste).

Los transductores utilizados para la examinación de soldaduras pueden ser de diseño 1D, 1.5D o
2D. Solo se deben utilizar arreglos de 1D o arreglos duales configurados con arreglos de
transmisor-receptor en paralelo (como en los transductores de onda longitudinal de transmisión-
recepción) con técnicas de escaneo manual. Para arreglos 2D, que utilizan oscilación electrónica, la
calibración debe realizarse en todos los ángulos sesgados.

La cantidad de elementos en el transductor de arreglo de fases y las dimensiones y el emisor del

elemento se seleccionarán según los requisitos de la aplicación y las limitaciones recomendadas
por el fabricante.

El transductor seleccionado no debe tener más elementos que el número de elementos

direccionables por los emisores-receptores disponibles en el instrumento de arreglo de fases que
se esté utilizando.

Cuando se utilizan zapatas refractoras para ayudar a la dirección del haz, el ángulo de incidencia
natural de la zapata se debe seleccionar de modo que el rango de barrido angular de la técnica de
examinación utilizada no exceda los límites recomendados por el fabricante para el transductor y
el modo (compresión o transversal) utilizado.

Las zapatas refractoras utilizadas en superficies curvas deben requerir un contorno para que
coincida con la curvatura de la superficie si la curvatura causa un espacio entre la zapata y la
superficie de examinación que exceda 0.5 mm (0.020 pulg.) En cualquier punto.

8. ESTANDARIZACIÓN

8.1 Rango.

La pantalla del instrumento debe ser ajustado utilizando los A-Scan's para cada ley focal utilizada
para proporcionar una indicación precisa del recorrido del sonido en el material de prueba. La
estandarización del rango debe incluir la corrección del tiempo de recorrido en la zapata para que
la posición de profundidad cero en el transductor se indique con precisión para cada ley focal.

La linealidad y precisión de la base de tiempo se debe verificar de acuerdo con las pautas de la
Práctica E2491 o la Práctica E317, o ambas.

Las pantallas B-scan o S-scan con volumen corregido deben indicar la profundidad real a los
objetivos conocidos dentro del 5% de la profundidad física o 3 mm, lo que sea menor.

La estandarización del rango se debe establecer utilizando las superficies de radio en bloques de
referencia como el bloque IIW y estos bloques estarán hechos del mismo material o material
acústicamente similar que la probeta.

8.2 Sensibilidad.

Los estándares de referencia para la estandarización de sensibilidad-amplitud deberían diseñarse

de manera que la sensibilidad no varíe con el ángulo del haz cuando se utilice la prueba del haz
angular. Los estándares de referencia de amplitud de sensibilidad que logran esto son orificios
laterales paralelos a las superficies principales de la placa y perpendiculares a la trayectoria del
sonido, orificios de fondo plano perforados en el ángulo de prueba y reflectores de radio igual. Las
muescas en la superficie se pueden usar en algunas circunstancias, pero generalmente no se
recomiendan.
La estandarización debe incluir el sistema completo del sistema ultrasónico por arreglo de fases y
se debe realizar antes de usar el sistema en el rango de espesor bajo examen.

La estandarización de los bloques de referencia se debe realizar a partir de la superficie (revestida

o no revestida; convexa o cóncava) correspondiente a la superficie del componente a partir del
cual se realizará el examen.

El mismo acoplante que se usara durante el examen se debe utilizar para la estandarización.

Las mismas zapatas de contacto o sistemas de inmersión / burbujeo utilizados durante el examen
se deben utilizar para la estandarización.

Se utilizará para el examen la misma ley (es) focal (es) utilizada (s) en la estandarización.

Cualquier control que afecte la respuesta de amplitud del instrumento (por ejemplo, duración del
pulso, filtros, promediado, etc.) debe estar en la misma posición para la estandarización y la
examinación.

No debe ser utilizado ningún control que afecte la linealidad del instrumento (por ejemplo,
recorte, rechazo, supresión).

Se debe realizar una evaluación de referencia de la actividad del elemento de acuerdo con el
Anexo A3 de la Práctica E2491.

CALIBRACIÓN
COMPROBACIONES DE LINEALIDAD DEL INSTRUMENTO

Linealidad del control de amplitud. La linealidad del control de amplitud de los instrumentos
ultrasónicos se evaluará de acuerdo con el Apéndice II Obligatorio para cada circuito emisor-
receptor.

REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIÓN

Ley Focal. La ley focal que se utilizará durante el examen se utilizará para la calibración.

Calibración de haz. Todos los haces individuales utilizados en la examinación deben calibrarse para
proporcionar una medición de la distancia y corrección de amplitud sobre la trayectoria del sonido
empleada en la examinación.

CALIBRACIÓN DEL CODIFICADOR

Se debe realizar una verificación de calibración a intervalos que no excedan un mes o antes del
primer uso a partir de entonces, moviendo el codificador una distancia mínima de 20 pulgadas
(500 mm). La distancia de visualización debe estar dentro del 1% de la distancia real recorrida.

EXAMINACIÓN.
REQUISITOS GENERALES DE LA EXAMINACIÓN.

Cobertura de examen.

El volumen requerido de la soldadura y el material base a examinar se debe escanear utilizando

una técnica de escaneo lineal con un codificador. Cada barrido lineal debe ser paralelo al eje de la
soldadura a una distancia de separación constante con la viga orientada perpendicular al eje de la
soldadura.

a) El transductor se mantendrá a una distancia fija del eje de soldadura mediante una guía
fija o un medio mecánico.
b) El ángulo o ángulos de examen para el E-scan y el rango de ángulos para el S-scan serán
apropiados para la junta que se examinará.
c) La velocidad de escaneo debe ser tal que la pérdida de datos sea inferior a 2 líneas de
datos / pulgada. (25 mm) de la longitud de escaneo lineal y que no hay saltos de línea de
datos adyacentes.
d) Para las técnicas de E-scan, el traslape entre las aperturas activas adyacentes (es decir, el
cambio incremental de la apertura) debe ser un mínimo del 50% de la altura efectiva de la
apertura.
e) For S-scan techniques, the angular sweep incremental change shall be a maximum of 1
deg or sufficient to assure 50% beam overlap.
f) Para las técnicas de S-scan, el cambio incremental del barrido angular debe ser de un
máximo de 1 grado o suficiente para asegurar un 50% del traslape del haz.
g) Cuando se requieren múltiples escaneos lineales para cubrir el volumen requerido de
soldadura y material base, el traslape entre escaneos lineales adyacentes debe ser un
mínimo del 10% de la altura de apertura efectiva para E-scan o el ancho del haz para S-
scan.

Registro. Los datos de A-scan deben ser registrados para el área de interés en una forma sin
procesar sin umbral, a una tasa de digitalización mínima de cinco veces la frecuencia de
examinación, y registrando incrementos de un máximo de:

a) 0.04 in. (1 mm) para material < 3 in. (75 mm) espesor.
b) 0.08 in. (2 mm) para material ≥ 3 in. (75 mm) espesor.