Materials Science & Engineering 09A 651 (-10-2020)

Materials Science & Engineering A

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Análisis de la estructura cristalina CaO en el software VESTA

Margie Silvana Getial
U.T.P. Ciencia de los materiales, Colombia

Palabras claves abstract

Vesta
Simulación
Patrón de difracción This article explains the basic operation of the VESTA program so that it can be used by people who need
Planos this type of information, to project and visualize the crystalline structure of the compound of two elements
cristalográficos
Ca and O (Calcium Oxide or also known as construction lime). that is part of the composition of the cement
Átomos
mix to make concrete. For this, two activities are proposed: powder diffraction pattern that will allow
CaO
understanding the operation of the program and the fundamentals of the utilities in these elements.

El objetivo principal de éste artículo es analizar el comportamiento

1. Introducción.
del patrón de difracción del cristal CaO a través del software VESTA.

El programa VESTA es un software que tiene un sistema de
visualización en 3D para modelos estructurales, datos volumétricos
y morfologías de cristal [1]. Un cristal es una configuración periódica
de átomos, es decir, un patrón geométrico de los átomos que se
repiten a intervalos regulares. Se describe su estructura del embalaje,
dimensiones y ángulos de enlace.
Los modelos estructurales contienen una variedad de cantidades
físicas como densidades de electrones, densidades de dispersión
coherente, densidades nucleares. El software VESTA también posee
utilidades de gran importancia para el estudio tecnológico avanzado
de los materiales como lo es la difracción de rayos X.
En este artículo se explicará minuciosamente una estructura
cristalina (estructuras ordenadas), ya que se desea calcular el patrón
de difracción del polvo del compuesto óxido de calcio (CaO). El óxido
de Calcio se obtiene como resultado de la calcinación de las rocas
calizas o dolomías. Este compuesto tiene muchas aplicaciones, pero
en general se aplica para mejorar la calidad del cemento portland.
El objetivo específico es analizar el material CaO con las diferentes
funciones que brinda el Software VESTA, como lo son los planos
cristalográficos, variación de las posiciones de los átomos.
2. Fundamento teórico.
Planos cristalográficos
Es definido por tres átomos no alineados, en una red cristalina, uniendo tres
nudos de una celdilla, determinados por los índices de Miller. Conversión
universal se escogen un plano que no pase por el origen los índices de un
plano cortado los ejes (no tienen por qué ser ángulos rectos los ejes
coordenados) en:
(1) OX, OY,OZ, en los puntos de las coordenadas:
(2) m, n, p, valor de corte del plano a los ejes.
(3) h, k, l, proporcionales a:
(4) 1/m, 1/n, 1/p: son los más pequeños números enteros

Pueden tener valores negativos, pero siempre enteros.

. Distancia interpretada en el sistema cúbico entre dos planos paralelos muy

cercanos con los mismos índices de Miller (hkl) se designa dkhl igual a la
distancia desde el origen elegido contenido en un plano y otro plano
paralelo con los mismos índices que sea cercano a él. Siendo el parámetro
de la celdilla.

Familias de Planos a los grupos de planos de redes equivalentes que están

relacionados por la simetría del sistema cristalino, y a los índices deuna
familia de planos son encerrados entre llaves, por ejemplo, en el cúbico los
planos (100) (010) (001) desiguales pero colectivamente relacionados por la
simetría del sistema se les denominan {100} a esta familia de planos.
A lo largo de este plano es donde ocurren las fallas de un cristal, trayendo
consecuencias prácticas como la deformación o fractura de un material
sometido a esfuerzo. En el sistema hexagonal, los planos reticulares están
definidos de manera ligeramente diferente.
Se toman cuatro ejes de referencia que pasan por el centro del hexágono de
la base, tres dirigidos según las diagonales de este hexágono forman entre
ellos un ángulo de 120º y el cuarto es el eje del prisma. Esta nomenclatura
de cuatro índices tiene la ventaja de hacer aparecer las simetrías.[2].

Importancia de los planos cristalográficos.

Se usan para indicar determinada orientación de un solo cristal o de un

material policristalino. Por ejemplo: Los metales se deforman con más
facilidad en direcciones a lo largo de las cuales los átomos están en contacto
más estrecho.
Difracción de Rayos X

Los rayos X son una forma de radiación electromagnética de elevada energía

y pequeña longitud de onda; del orden de los espacios interatómicos de los
Figura 1. Página Materials Project.
sólidos. Cuando un haz de rayos-X incide en un material sólido, parte de
este haz se dispersa en todas direcciones a causa de los electrones asociados
En la figura 1 se muestra la página de materials project, en la cual se está
a los átomos o iones que encuentra en el trayecto, pero el resto del haz puede
ingresando los elementos; un átomo de calcio, y un átomo de oxígeno.
dar lugar al fenómeno de la difracción de rayos-X, que tiene lugar si existe
una disposición ordenada de átomos y si se cumplen las condiciones que Después de ingresar los elementos mencionados, se carga la página
vienen dadas por la Ley de Bragg que relaciona la longitud de onda de los para que nos genere la información del compuesto que forman estos
rayos-X y la distancia interatómica con el ángulo de incidencia del haz dos elementos.
difractado:

𝑛. 𝜆 = 2𝑑𝑠𝑒𝑛𝜃

Si no se cumple la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no

constructiva y el campo del haz difractado es de muy baja intensidad.
Cuando la interferencia es constructiva obtenemos una respuesta, que se
conoce con el nombre de difractograma, y que nos proporciona información
para identificar y cuantificar los componentes presentes en los materiales,
ya que cada componente tiene un patrón/difractograma único, es, decir, su
huella dactilar.
La difracción de rayos X puede revelar la naturaleza mineralógica de las
fases presentes en el sólido. El principio es que un haz de rayos X penetra
en la muestra, y luego es difractado por los planos cristalinos que contienen
en la muestra. El ángulo y la intensidad de la difracción son característicos
Figura 2. Estructura Cristalina del CaO.
de una estructura cristalina. Todas las líneas de difracción se utilizan para
identificar la naturaleza de los cristales. [3]
En la figura 2 se puede ver la estructura cristalina del CaO y con
la información más relevante de ésta como, por ejemplo, la
densidad, brecha de banda, sus parámetros de celosía entre otros.
3. Método de Simulación.
Después se procede a descargar el archivo (.Cif), seguidamente
Para el desarrollo de este método de simulación se utilizó el software se abre este archivo en el software VESTA como se muestra en la
VESTA como herramienta principal, ya que éste nos proporciona la figura 3.
información deseada.
3.2 Simulación del CaO en VESTA.
3.1 Materials Project.
Teniendo el archivo (. Cif) descargado en nuestro PC,
Para empezar a trabajar en el Software VESTA es necesario tener procedemos abrirlo en el VESTA.
claro el material a estudiar, en nuestro caso es el CaO. También se
debe de tener en cuenta, que para abrir el material en VESTA debe
estar en archivo (. cif), por lo que implica utilizar una página especial
para descargar este tipo de archivos.

Materials Project es la pagina que permite descargar archivos (.cif)

archivos y que es compatible con el Software VESTA. Por tal razón,
el primer paso fue abrir dicha página e ingresar los elementos del
compuesto y descargar.

Algo que no debe de pasar por alto, es que la estructura cristalina que
se va a estudiar debe ser ordenada, porque de lo contrario no se
podría calcular el patrón de difracción.

Figura 3. Estructura cristalina FCC de CaO en VESTA.

Materials Science & Engineering 09A 651 (-10-2020)
Los átomos de color rojo son los átomos de oxígeno y los En la figura 5 podemos observar familias de Planos a los grupos de planos
átomos de color azul son átomos de Calcio. de redes equivalentes que están relacionados por la simetría del sistema
cristalino. En nuestro caso los índices de Miller son (100), (010) y (001).

También podemos ver que la distancia interplanar de los tres planos

cristalográficos es la misma 4,83327 Å . Esta distancia interplanar es la
misma distancia de la estructura 𝑎, 𝑏 𝑦 𝑐 por lo tanto, el material no ha
sufrido ninguna deformación.

3.4 Variación de ocupaciones de los átomos.

Para variar las ocupaciones de los átomos, se debe dar en la opción Edit,
seguidamente Edit Data y dar click en la opción “Structure parameters”.

Figura 4. Información de la estructura cristalina

Como podemos ver en la figura 4, el programa VESTA brinda

mucha información de la estructura Cristalina FCC del CaO.

 Descripción de la simetría del cristal CaO.

 El grupo espacial del CaO P1
 Las distancias de la estructura a, b y c. Podemos ver que
son las mismas 𝑎 = 𝑏 = 𝑐 = 4,83927 Å.
Figura 6. Variación de ocupación de los átomos de Ca.
 Los valores de los ángulos 𝛼 = 𝛽 = 𝛾 = 90𝑜
 Volumen de la celda unitaria 𝑉 = 113,32831

A demás se puede observar las posiciones donde se pueden

encontrar los átomos ya sean de calcio o átomos de oxígeno. Y
también se puede ver que la ocupación de la celda unitaria es de
1, lo cual, se asegura que la estructura cristalina es ordenada.

El programa VESTA también cuantifica el número de átomos y

el número de enlaces de toda la estructura cristalina.

También podemos ver que hay 57 átomos en total y 84 enlaces.

Figura 6. Eliminación de átomos de Ca.
3.3 Planos cristalográficos.
En la figura 6 podemos observar que se han eliminado átomos de Calcio en
Al hablar de materiales cristalinos, a menudo es conveniente especificar las posiciones 1, 2 y 4.
algún plano cristalográfico particular de átomos o alguna dirección
cristalográfica. Convencionalmente se ha establecido que para designar las
direcciones y planos se utilicen tres índices enteros (índices de Miller.)

Figura 7. Variación de ocupación de atomos de Ca y átomos de O.

Figura 5. Planos cristalográficos

Figura 8. Elimación de atomos de Ca y O .

En la figura 7 podemos observar al elimanación de atomos de calcio y

atomos de O, en las posiciones 1, 2, 4, 6 y 8 Esos huecos o espacios libres que
se generdo por la elimanción de atomos se conoce con el nombre de
vacancias.

3.5 Difracción de rayos x.

Para calcular el patrón de difracción del polvo a partir de parámetros de
estructura del cristal CaO. Se recomienda utilizar una sola variable.
Procedimiento:
Figura 12. Patrón de difracción de la estructura cristalina original CaO.
En la figura 12 podemos observar que el pico más intenso, en el eje x
aproximadamente con un valor de 37,50

Figura 13. Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 12.

Ahora vamos a calcular el patrón de difracción para la segunda longitud

Figura 9. Primer paso para calcular el patrón de difracción. de onada 𝜆 = 1,54432.

Figura 10.
Figura 14. Condiciones modificdas para la segunda longitud de Onda.
En la figura 10 podemos observar las condiciones a las que se va a calcular
el patrón de difracción. Como se dijo anteriormente es recomendable
calcular en una variable, por ende, vamos a calcular el patraón de difracción
por separado es decir, para cada longitud de onda.

A continuación, se va a calcular el patrón d difracción para la estructura

cristalina original como se mostró en la figura 3.

Figura 15. Patrón de difracción de la estructura cristalina original CaO.

Teniendo en cuenta las condiciones de la figura 14.
Figura 11. Condiciones modificadas
Materials Science & Engineering 09A 651 (-10-2020)
Podemos observar que el pico más intenso, en el eje x aproximadamente En la figura 18 podemos observar que la intensidad más alta en el eje x se
con un valor de 37,50 da aproximadamente en 190

Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 15.

Figura 19. Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 18.

Ahora, vamos a calcular el patrón de difracción variando las ocupaciones

de los átomos como se hizo en la sección 3.4.
Para llevar un orden consecutivo de los análisis que se han venido
realizando, vamos a calcular el patrón de difracción de la figura 6 (Variación
de ocupación de los átomos de Ca en las posiciones 1, 2, y 4). De la misma
manera consideramos las mismas condiciones de la figura 11.
Ahora vamos a calcular el patrón de difracción de la figura 7 ( Variación de
ocupación de atomos de Ca y átomos de O en las en las posiciones 1, 2, 4, 6
y 8). De la misma manera consideramos las mismas condiciones de la figura
11.

Figura 20. Patrón de difracción para una variación de átomos de Ca y O.

En la figura 20 podemos observar que la intensidad más alta en el eje x se

da aproximadamente en 190

Figura 16. Patrón de difracción para una variación de átomos de calcio.

En la figura 16 podemos observar que la intensidad más alta en el eje x se

da aproximadamente en 190

Figura 21. Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 20.

Seguidamente vamos a calcular el patrón de difracción teniendo en cuenta

las condiciones de la figura 14.
Figura 17. Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 16.

Seguidamente vamos a calcular el patrón de difracción teniendo en cuenta

las condiciones de la figura 14.

Figura 22. Patrón de difracción para una variación de átomos de Ca y O.

En la figura 22 podemos observar que la intensidad más alta en el eje x se

Figura 18. Patrón de difracción para una variación de átomos de calcio. da aproximadamente en 190
Teniendo en cuenta las condiciones de la figura 14.
Figura 23. Resultados de la dispersión de rayos X de la figura 22.

4. Resultados y discusión.

Aunque el número de tratamientos que se realizó en la simulaciomes para

cualcular el patrón de difracción fueron muy pocos, nos damos cuenta que
la intensidad mas alta cambia mucho siempre y cuando variamos la
ocupación de las posisciones de los atomos. Porque si solo cambiamos el
valor de la longitud de onda y la inetensidad el valor del patrón de
difracción es aprox el mismo.

En el caso de la variación de las posiciones de los átomos de Ca, podemos

decir que hay varios picos de alta intensidad en el eje x. En el caso de la
variación de las posiciones de los átomos tanto del Ca como del O, solo hay
un pico más alto y los demás tratan de estabilizarsen.

Desde mi punto de vista la intesidad del haz difractado depende de la

disposición geometrica de los átomos y de la clase de los átomos presentes.

5. Conclusiones

El programa VESTA es de gran importancia para el estudio de los

materiales. A demas la informacion que proporciona es confiable, lo cual
garantiza que los analisis que efectuemos en dicho material es correcto.

Las variaciones de las posiciones de los átomos pueden generar huecos a lo

que comunmente se le conoce como vacancias.

El valor númerico del patrón de difracción cambia con gran diferencia

siempre y cuando se varían las posiciones de los átomos, y también se puede
decir que depende del tipo de átomos.

6. Agradecimientos.

En primera instacia se agradece al creador del programa VESTA, ya

que nos brinda un infinidad de funciones para estudiar a profudidad
los materiales, ya que hoy en día es necesaro conocer de ellos para
poder avanzar con el desarrllo de la tecnología.

También se agradece al enfoque que nos ha dado la materia “ ciencia

de los materiales”
.

References

[1] https://jp-
minerals.org/vesta/archives/VESTA_Manual.p
df
[2] https://www.academia.edu/9269478/PLANO_CRISTALOGRAFICO
.

[3] https://www.xdataser.com/difraccion-de-
rayos-
x/#:~:text=La%20difracci%C3%B3n%20de%20ra
yos%20X,fases%20presentes%20en%20el%20s%
C3%B3lido.&text=El%20%C3%A1ngulo%20y%2
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A 651 (2016) 198–213