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Espectroscopia foto electrnica

de rayos x (XPS)
Mario Gutirrez
Octubre 29 de 2013

Definiciones

Espectroscopia (Espectros de las radiaciones)


Espectroscopia fotoelectronica (Tecnica de ionizacion)
XPS:
Tcnica analtica de espectroscopia electrnica
Permite la caracterizacin de las superficies mediante el anlisis cualitativo
y cuantitativo de los elementos {H y He}
Aplicable hasta profundidades de 2nm

Imagen tomada de http://www.icp.csic.es/xps/XPS.pdf

Fundamentos tericos de la tcnica


Tcnica fundamentada en el efecto foto elctrico: Hertz 1885, Einstein 1905, Siegbahn 1967.

Se basa en la medicin de la velocidad de emisin de los foto electrones y/o electrones Auger mediante un Espectrmetro.

Imagen tomada de http://www.icp.csic.es/xps/XPS.pd

Procedimiento experimental y equipos

Espectrmetro de rayos X
Fuente de fotones de rayos X monocromticos dotadas de nodos de Mg o
Al
Contenedor de la muestra (Fijo)
Analizador (campo electrostatico)
Detector (plomo o vanadio)
Procesador de seal y lectura

Imagen tomada de: http://datateca.unad.edu.co/contenidos/


401539/exe-2%20de%20agosto/leccin_25_espectroscopia_fotoe
lectrnica_de_rayos_x_xps.html

Aplicaciones de la XPS

Polmeros y adhesivos
Catlisis heterognea
Metalurgia
Microelectrnica
Imagen tomada de http://www.icp.csic.es/xps/XPS.pd
Fenmenos de corrosin
Caracterizacin de superficies de slidos en general

Caracterizacin de nuevos materiales y recubrimientos

Resultados que se obtienen con la XPS

Imagen tomada de: http://www.aecientificos.es/empresas/aecientificos/arti


culo_feliu.pdf

Artculo
de
investigacin
relacionado
con
la
XPS:
Estructura electrnica y atmica de pelculas delgadas amorfas con XPS de alta
resolucin:
Ejemplos
de
las
aplicaciones
y
limitaciones
Qu se hizo?
Se analiz el uso de la alta resolucin de la XPS de fotoelectrones para estudiar Calcogenuros
de vidrio en pelculas delgadas.
Cmo se hizo?

Estructura de As 2 S 3 pelculas delgadas se compara con la estructura de los vidrios a granel.

Cintica de disolucin inducida por Ag en As 2 S 3 en pelculas delgadas se estudi por XPS.

Qu se encontr?
XPS de alta resolucin pueden ser utilizados eficazmente para la caracterizacin de los slidos
amorfos, incluyendo pelculas delgadas.

La oxidacin en la superficie de pelculas delgadas amorfas se estudi por XPS.


Cambios estructurales foto inducidos en la superficie de pelculas delgadas se estudiaron por
XPS.

Conclusiones
La tcnica XPS permite el anlisis cuantitativo y cualitativo de todos los
elementos, excepto el hidrgeno. Permite conocer la evolucin del porcentaje
atmico en la superficie de cualquier material como resultado de su tratamiento
y obtener informacin valiosa para llevar a cabo correlaciones entre el
contenido de un elemento determinado y el comportamiento del material.

Bibliografa

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309313001300
http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema8.pdf
http://www.youtube.com/watch?v=fu-JJrDeiFM
http://datateca.unad.edu.co/contenidos/401539/exe-2%20de%20agosto/leccin_25_espec
troscopia_fotoelectrnica_de_rayos_x_xps.html
http://www.aecientificos.es/empresas/aecientificos/articulo_feliu.pdf
http://ssyf.ua.es/es/formacion/documentos/cursosprogramados/2012/especifica/tecnicas-instrumentales-en-el-analisis-desuperficie/sesion-19-de-noviembre.pdf
http://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-de-rayos-x/espectroscopiafotoelectronica-de-rayos-x.html
http://www.icn.cat/index.php/es/servicios-e-instalaciones/analisis-espectroscopico-