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Índices de capacidad

Índices de capacidad para procesos con doble especificación


El índice de capacidad potencial del proceso

ES−EI
CP=

Indicador de la capacidad de un proceso

μ−EI
C P i=

ES−μ
CPs=

Indicador de la capacidad real de un Proceso
μ−EI ES−μ
C Pk =minimo [ 3σ
,
3σ ]
e qué tan centrada está la distribución de un proceso con respecto a las especificaciones de una característica de calidad dada
μ−N
K= ∗100
1
( ES−EI )
2
razón de capacidad potencial,

C r=
ES− EI
Índice de Taguchi similar al Cpk que, en forma simultánea, toma en cuenta el centrado y la variabilidad del proceso.
2 2
τ =√ σ + ( μ−N )
ES−EI
C Pm=
6∗τ
Capacidad de largo plazo e índices Pp y Ppk
Índice Pp: Indicador del desempeño potencial del proceso
ES−EI
P P=
6σ L
Índice Ppk: Indicador del desempeño real del proceso
μ−EI ES−μ
P Pk =minimo [ ,
3σ L 3σ L ]
Métricas Seis Sigma

ES−μ μ−EI
Z S= Zi =
σ σ
Z=calidad del proceso

El índice Zm representa la habilidad para controlar la tecnología, 1.5

Z m=Z c −Z L

Métrica Seis Sigma para atributos (DPMO)

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