Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
2. Materiales
• 2 circuitos integrados correspondientes a la compuerta NOR, uno de los dos debe ser de
familia TTL y el otro de familia CMOS (ver tabla 2).
• 2 circuitos integrados correspondientes a la compuerta NAND, uno de los dos debe ser de
familia TTL y el otro de familia CMOS (ver tabla 2).
• 2 circuitos integrados correspondientes a la compuerta XOR, uno de los dos debe ser de
familia TTL y el otro de familia CMOS (ver tabla 2).
• Resistencias, potenciómetros, LEDs necesarios para los circuitos a implementar.
• Generador de señales, fuente DC, multímetro y osciloscopio.
3. Procedimiento
Para todas las implementaciones propuestas a continuación, los circuitos integrados deben ser
alimentados correctamente con una fuente DC de 5V.
1
Figura 1. Circuito para la comprobación de la tabla de verdad de las compuertas NAND, NOR y
XOR.
3.2. Implemente el circuito de la figura 2, el cual permite variar el valor del voltaje en la entrada
de la compuerta a través del potenciómetro. Registre el voltaje en la entrada y la salida de
la compuerta en suficientes puntos de entrada desde 0V hasta 5V (por lo menos 10 puntos)
y realice la gráfica de esta relación para las dos familias lógicas. Repita el procedimiento
para una compuerta NOR.
Figura 2. Circuito para medición de la relación del voltaje de salida respecto al voltaje de entrada.
3.3. Implemente el circuito de figura 3 con el fin de determinar el tiempo de retardo de una
compuerta individual. La entrada es proporcionada por el generador de señales
configurado para entregar una señal cuadrada de Vmin = 0V y Vmax = 5V. Se deben
visualizar en simultanea las señales de entrada y salida de la compuerta a través del
osciloscopio. La frecuencia del generador debe iniciar en 1 kHz, y se debe aumentar hasta
que sea evidente el retardo, el cual debe ser registrado para las dos familias lógicas.
Compare los resultados y explique las diferencias si existen. Repita el procedimiento para
la compuerta NOR. Analice los resultados.
2
3.4. Repita el procedimiento anterior conectando las cuatro compuertas de los circuitos
integrados NAND y NOR como se observa en la 4. Explique la relación de los resultados
obtenidos en este punto y el punto anterior.
3
Figura 6. Circuito para medición de corriente vs voltaje.
x y a b c d e f g Carácter
0 0 0 1 1 1 1 1 0 U
0 1 1 1 1 0 1 1 0 N
1 0 1 1 1 0 1 1 1 A
1 1 0 0 0 1 1 1 0 L
4
4. Referencias de compuertas lógicas
Las referencias para las compuertas lógicas necesarias para el desarrollo del laboratorio se
presentan en la tabla 2. Para cada familia lógica (TTL y CMOS) existen varias posibilidades, se
recomienda utilizar las referencias que aparecen en la parte superior de la tabla.
5. Preguntas
5.1. ¿Cómo se construyen compuertas lógicas AND, OR, NOT y XOR a partir de las compuertas
NAND y NOR?
5.2. ¿Cómo se interpretan los valores de tensión y corriente de entrada y salida de las
compuertas lógicas (VIH, VIL, VOH, VOL, IIH, IIL, IOH, IOL)? ¿Concuerdan los valores medidos
en la práctica con los especificados por el fabricante?
5.3. ¿Qué es el Margen de Ruido de una compuerta lógica? Con los valores de voltaje medidos
en la parte 2 del procedimiento, calcule el Margen de Ruido de las compuertas utilizadas.
5.4. ¿Qué es el FAN-OUT de una compuerta lógica? Con los valores de corriente medidos en la
parte 5 del procedimiento, calcule el FAN-OUT de las compuertas utilizadas.
5.5. Con los valores de corriente medidos en la parte 5 del procedimiento, calcule la potencia
consumida por las compuertas lógicas utilizadas.
5.6. A la hora de medir tiempos de retardo, ¿Por qué se utiliza una señal cuadrada?
5.7. ¿Qué diferencias encuentra entre las compuertas de la familia lógica TTL y la CMOS?
Explique en que radican estas diferencias.
¡Éxitos!