PARCIAL PROFESOR JOSE

 El análisis de un material por difracción de rayos x permite:

Determinar el estado de oxidación de los elementos presentes

 El SEM se clasifica entre las técnicas de:

Microscopia electrónica

 La espectroscopia RAMAN se basa en:

La dispersión de radiación por parte de un material

 La espectroscopia infrarroja puede identificar:

Los grupos funcionales presentes en un material

 Las imágenes de microscopia de fuerza atómica pueden ser adquiridas mediante el modo:

Contacto, no contacto y tapping

 Los materiales mesoporosos se encuentran dentro del rango de tamaño de poros de:

2 nm y 50 nm

 Una de las aplicaciones fundamentales de la espectroscopia foto electrónica por rayos x es el estudio de:

Cualquiera de las anteriores

 Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos x se en cuentea:

Todas las anteriores

 La microscopia electrónica de barrido involucra el uso de electrones:

Todas las anteriores

 Una de las principales aplicaciones de la fotoluminiscencia es el análisis de:

Superconductores

 El fenómeno de histéresis está relacionado con:

La alta área superficial del material analizado

 La microscopia SNOM es una modificación de la técnica:

Microscopia electrónica de barrido

 ¿Qué tipo de información se puede obtener mediante la espectroscopia por energía dispersiva de rayos X?

Estructura cristalina

 La técnica mas adecuada para estudiar la presencia de defectos o imperfecciones en la estructura de un

nanomaterial es:

Ninguna de las anteriores

 Con cual técnica se adquieren imágenes con una resolución lateral de escala atómica:

STM