a) Descripción de la técnica (utilidad, ventajas sobre otros métodos de análisis).

El microscopio electrónico de barrido es uno de los instrumentos más versátiles disponibles para el
examen y análisis de la morfología de la microestructura y las caracterizaciones de la composición
química. Tiene un diseño único para capturar imágenes atractivas y de alta resolución de las
superficies de una muestra.
Algunos beneficios de usar SEM son:
1. Resolución
2. Patrón rastreable para aumento.

B) Fundamento teórico
La formación de imágenes en el SEM depende de la adquisición de señales producidas por el haz
de electrones y las interacciones de la muestra.

Los electrones incidentes que se dispersan elásticamente a través de un ángulo de más de 90 ° se

denominan electrones retrodispersados (BSE) y producen una señal útil para obtener imágenes de
la muestra.
La dispersión inelástica ocurre a través de una variedad de interacciones entre los electrones
incidentes y los electrones y átomos de la muestra, y da como resultado que el electrón del haz
primario transfiera energía sustancial a ese átomo. La cantidad de energía perdida depende de si
los electrones de la muestra se excitan individualmente o colectivamente y de la energía de enlace
del electrón al átomo.
Como resultado, la excitación de los electrones de la muestra durante la ionización de los átomos
de la muestra conduce a la generación de electrones secundarios (SE), que se pueden usar para
obtener imágenes o analizar la muestra.

Además de las señales que se utilizan para formar una imagen, se producen otras señales cuando
un haz de electrones golpea una muestra, incluida la emisión de rayos X característicos, electrones
Auger y catodoluminiscencia.

C) Instrumentación y sus partes

Cañones de electrones: produce un haz de electrones estable con alta corriente,

Lentes de electrones: se utilizan para demagnificar la "imagen" de la fuente de emisión de modo

que se pueda formar una sonda estrecha en la superficie de la muestra.

Sistema de vacío: para evitar la dispersión del haz de electrones y la contaminación de los cañones
de electrones y otros componentes.

D) Limitaciones (tipos de material, sensibilidad, etc)

Las muestras deben ser sólidas y deben caber en la cámara del microscopio.
las muestras deben ser estables al vacío del orden de 10-5 - 10-6 torr
Se debe aplicar un revestimiento conductor de electricidad a las muestras de
aislamiento eléctrico.
E) Aplicaciones (tipo de muestra, preparación, medición y resultados)
La mayoría de los nanomateriales, por ejemplo, nanotubos de carbono, nanocables,
nanopartículas y materiales nanoestructurados, pueden observarse mediante SEM directamente
cargándolos en cinta de carbono.
La preparación de la muestra es bastante sencilla. Algunos nanomateriales no conductores,
especialmente los nanomateriales bioorgánicos, necesitan un recubrimiento metálico y un
complicado proceso de preparación de muestras

1) adquisición de mapas elementales o análisis químicos puntuales

2) discriminación de fases basada en el número atómico medio
3) mapas de composición basados en diferencias en "activadores" de oligoelementos.
4) identificar fases basadas en análisis químico cualitativo y / o estructura cristalina
F) Referencias en formato APA (al menos 3).
Mathias, J. (2021). Advantages & Disadvantages of Scanning Electron Microscopy. Recuperado
el 21 de octubre de 2021, de https://www.innovatechlabs.com/newsroom/2083/advantages-
disadvantages-scanning-electron-microscopy/

Zhou, Weilie & Apkarian, Robert & Wang, Zhong & Joy, David. (2006). Fundamentals of
Scanning Electron Microscopy (SEM). 10.1007/978-0-387-39620-0_1.

("Scanning Electron Microscopy (SEM)", 2021)

Swapp, S. Scanning Electron Microscopy (SEM). (2021. Recuperado el 21 de octubre de 2021, de

https://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/SEM.html
TEM
a) Descripción de la técnica (utilidad, ventajas sobre otros métodos de análisis).
Con un aumento potencial máximo de 1 nanómetro, los TEM son los microscopios más
potentes. Los TEM producen imágenes bidimensionales de alta resolución, lo que permite
una amplia gama de aplicaciones educativas, científicas e industriales.
Las imágenes son de alta calidad y detalladas
Los TEM pueden proporcionar información sobre las características de la superficie, la
forma, el tamaño y la estructura.

b) Fundamento teórico
Implica un haz de electrones de alto voltaje emitido por un filamento de tungsteno, el eje
del haz se dirige hacia unos lentes magnéticos y pasa a través de una apertura. El haz se
transmite a través de una muestra muy delgada (50 nm), semitransparente a los
electrones y que lleva información sobre la estructura de la muestra.
El rayo hace contacto con la pantalla donde los electrones se convierten en luz y forman
una imagen.
La imagen se puede manipular ajustando el voltaje de la pistola para acelerar o disminuir
la velocidad de los electrones, así como también cambiando la longitud de onda
electromagnética.
c) Instrumentación y sus partes
Cañón de electrones: Produce el haz de electrones, y contiene el sistema
condensador, el cual enfoca este haz sobre la muestra.
Sistema de producción de imágenes: consiste en el objetivo lente, una platina
móvil para las muestras, lentes objetivas, intermedias y de proyección, las cuales
enfocan los electrones que pasan a través de la muestra para formar una imagen
real muy ampliada.
Sistema de grabación de imágenes: Convierte la imagen electrónica en una forma
perceptible para el ojo humano y consta de una pantalla fluorescente para ver y
enfocar la imagen y una cámara.
Sistema de vacío: consta de bombas y sus manómetros, válvulas asociadas y
fuentes de alimentación.

d) Limitaciones (tipos de material, sensibilidad, etc)

Los TEM son grandes y muy caros
Preparación laboriosa de la muestra
 Las muestras se limitan a aquellas que son transparentes a los electrones,
capaces de tolerar la cámara de vacío y lo suficientemente pequeñas como
para caber en la cámara.
e) Aplicaciones (tipo de muestra, preparación, medición y resultados)

• Estudio de la morfología, estructura y composición de partículas finas.

• Determinación de la microestructura de materiales.
• Difracción de electrones.
• Estudio y diagnóstico anatomo-patológico de células y tejidos humanos.
• Estudio de cultivos celulares.

La muestra debe ser transparente a los electrones, la técnica de preparación depende del
tipo de muestra y también de la propiedad de interés; pueden ser:
Pulido electrolítico
Molienda de iones
Sección transversal
Réplica

f) Referencias
Williams, P. (2009). Transmission Electron Microscopy Part 1: Basics. USA: Springer.
Subramanian, K. Fundamentals and applications of nanotechnology. USA: Astral.
Leng, Y. (2008). Materials Characterization Introduction. USA: John Wiley & Sons.