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Muestreo de Aceptacion
Muestreo de Aceptacion
2007
MUESTREO DE
ACEPTACIN
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MUESTREO DE ACEPTACIN P. Reyes / Sept. 2007
CONTENIDO
Preguntas y ejercicios
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CARTAS DE CONTROL
La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos,
cuando se presentan variaciones anormales donde las medias o los rangos salen
de los lmites de control, es seal de que se debe tomar accin para remover esa
fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico proporciona un excelente
medio para reducir la variabilidad.
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DISEO DE EXPERIMENTOS
Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que
tienen influencia en las caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un
mtodo para variar en forma sistemtica los factores controlables del proceso y
determinar los efectos que tienen esos factores en los parmetros finales del
producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que optimicen
el desempeo del proceso.
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ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP
Materias primas,
Componentes, etc.
Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES
Fig. 1.3 Proceso de produccin, entradas y salidas
Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del
proceso, normalmente es necesario modelar la relacin entre estas variables y la
caracterstica de calidad de inters. Para lo cual se puede utilizar el anlisis de
regresin.
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MUESTREO DE ACEPTACIN
Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona e
inspecciona una muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una aceptacin
o rechazo de ese lote mayor, esto ocurre en la recepcin de materias primas y
componentes y en el producto terminado.
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CLIENTE /
PROVEEDOR INSPECCION PLANTA
Materias
primas
RECHAZO
DISPOSICIN DE LOTES
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En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido la
evolucin siguiente:
MUESTREO DE
ACEPTACION
CONTROL DE PROCESO
DISEO DE
EXPERIMENTOS
0%
Tiempo
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El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una,
tomando decisiones de aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero de
unidades.
1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas
corridas de produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones
correctivas para lotes mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es
ms eficiente.
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MUESTREO ALEATORIO
Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes de
las capas superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero y
seleccionar con tablas de nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar el
lote.
Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables
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En este sistema se toma una muestra simple aleatoria del lote (n) cuyo tamao es
(N) y si se encuentra hasta un mximo de partes defectivas (c.) se acepta el lote,
de otra forma se rechaza.
Ejemplo 1.6 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se
obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 2.
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Ejemplo 1.7 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se
obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 4.
Ejemplo 1.8 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se
obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 0.
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c=2
Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para
inspeccin, si el nmero de productos defectivos observados en la muestra d es
menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso contrario se rechaza.
1.2.1 LA CURVA OC
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Ejemplo 1.9 El total de fichas de otro color entre las fichas del color principal representa
la fraccin defectiva en el lote o sea _______. Esto representa solo un punto en la curva
caracterstica de operacin siguiente para n = 20.
Para construir la curva OC completa variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin. En Excel Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la
funcin =distr.binom(c, n, p, 1)
c
n! d nd
Pa P{d c) p (1 p) (1.1)
d 0 d!(n d )!
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0.005 0.98968755 Pa
0.01 0.939689918
0.02 0.736577576
0.03 0.498482838
0.04 0.304158359
Curva OC
0.05 0.172076864
0.06 0.091869347
0.07 0.046819851
0.08 0.022955079
0.09 0.010886432
p
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Pa
c=0, 1, 2
Pa
n=50, 100,200 2
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Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los casos
cuando tengan una fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje defectivo
tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta fraccin defectiva corresponde a
una probabilidad de aceptacin del 10% o rechazo del 90% de las veces. Tambin
se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.
Ejemplo 1.10 Identificar en las curvas del ejercicio 1.9 el AQL y el LTPD aproximados
para cada plan de muestreo o curva OC.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
CURVAS OC TIPO A y B.
La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye cuando
se tiene un lote aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10. En Excel se
utiliza la funcin (Fx Estadsticas) =distr.hipergeom(c, n, fraccin defectiva, N).
La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1,
sin embargo en los niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy parecidas.
Para binomial usar en Excel = distr.binom(c, n, p, 1) y con Poisson =poisson(c,
nxp,1)
Ejemplo 1.11 Para n = 20, n = 2, N =100, construir una curva OC utilizando la distribucin
Hipergeomtrica y la distribucin Binomial y de Poisson.
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Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p 0 , despus de
la actividad de inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern
aceptados y otros sern rechazados.
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Pa p( N n)
AOQ
N
(1.2)
Pa p ( N n) (0.9397)(0.01)(10000 89)
AOQ 0.0093
N 10000
AOQ 0.93% en lugar del 1% entrante.
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AOQ Pa p (1.3)
CURVA AOQ
Fraccin defectiva
p Pa Pa . P
AOQ
0.005 0.98968755 0.004948438
0.01 0.939689918 0.009396899
0.02 0.736577576 0.014731552
0.03 0.498482838 0.014954485
AOQL = 1.55%
0.04 0.304158359 0.012166334
0.05 0.172076864 0.008603843
0.06 0.091869347 0.005512161
0.07 0.046819851 0.00327739
0.08 0.022955079 0.001836406
0.09 0.010886432 0.000979779 p
0.03 p
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Ejemplo 1.12
Para construir la curva AOQ variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin binomial multiplicada por la fraccin defectiva. En Excel
Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la funcin =distr.binom(c, n, p, 1) y
multiplicar por p.
ATI n (1 Pa )( N n) (1.4)
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Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden disear
curvas OC equivalentes.
Ejemplo 1.14 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas en una o dos muestras como sigue.
Tomar una muestra y anotar los productos defectuosos d1, si d1 es menor o igual a c1 = 2
se acepta el lote. Si d1 es mayor o igual a c2 = 4 rechazar el lote. Continuar con otro lote.
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5
6
7
8
9
10
Totales Porcentaje
rechazado
Suponiendo que:
n1 = 50
c1 = 1
n2 = 100
c2 = 3
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Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos
valores de p, ya que si p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando
mayores costos de inspeccin.
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INSPECCIN RECTIFICADORA
{PaI ( N n1 ) PaII ( N n1 n2 )} p
AOQ (1.9)
N
Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en los
lotes rechazados, la curva de inspeccin total promedio es,
donde Pa Pa Pa
I II
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En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan
transcurrido las suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin tenga
valores positivos en Xa, 44 en este caso, y no se puede rechazar hasta en la 2.
Muestra.
DESCRIPCIN DE LA NORMA
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- Muestreo doble.
- Muestreo mltiple
- Inspeccin normal.
- Inspeccin estricta.
- Inspeccin reducida.
Hay tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos
usan tamaos de muestra muy pequeos y slo deben usarse cuando los riesgos
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a. Un lote es rechazado.
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Inspeccin Inspeccin
reducida estricta
10 lotes OK 2 lotes rechazados
de 5 recibidos
1 lote rechazado 10 lotes
aceptados
Inspeccin
normal
PROCEDIMIENTO
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Comprobar lo anterior.
DISCUSIN
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El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar MIL-
STD-105E, difiriendo en que:
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La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma
curva caracterstica de operacin con tamao de muestra menor que el que
requerira un plan por atributos. Otra ventaja es que los datos por variables
proporcionan ms informacin del proceso que los atributos. Cuando los AQLs son
muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra requerido en el caso de
muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo. Cuando la
inspeccin es del tipo destructivo, los planes por variables si se aplican son ms
econmicos.
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n=10
Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la
fraccin defectuosa del lote y los que controlan un parmetro del proceso tal como
la media.
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__
LIE X x
Fig. 2.1 Bases del muestreo por variables
Procedimiento 1.
X LIE
Z LIE (2.1)
Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad
establecida, se puede traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k
para ZLIE. De esta forma si ZLIE <= k, se aceptar el lote ya que automticamente la
fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario la fraccin defectiva p es
mayor que la aceptable y se rechazar el lote.
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X LIE 82 100
Z LIE 1.8
10
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LSE X
Z LSE (2.2)
p Zs Zi
0.25 0.6745
0.20 0.8416
0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.05 1.6449
0.02 2.0537
0.01 2.3263
Procedimiento 2.
rea bajo la curva normal debajo de ZLIE, si esta fraccin estimada p, excede un
valor mximo M, se rechaza el lote, de otra forma se acepta.
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X LIE
Q LIE n /( n 1) (2.3)
LSE X
Q LSE n /( n 1)
Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin
(el normal es el II), el nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se
pueden usar niveles ms bajos (S3 S4) para reducir costos muestrales si se
toleran riesgos mayores.
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Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Mtodo de S
Especificacin Especificaciones
Unilateral Bilaterales
Tienen 4 secciones:
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Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este
caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la
letra N y AQL= 1.00 negociado entre proveedor y cliente,
se obtiene k = 2.03. Para el caso de inspeccin severa
(escala inferior) k = 2.12. Para el caso de inspeccin
reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y
columna de AQL= 1% obtenindose M= 2.05%. Para inspeccin
severa M = 1.42%. Para inspeccin reducida, de la tabla B-
4 se obtiene k = 3.44%.
4. La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han
sido rechazados
5. La inspeccin reducida se usa cuando los 10 lotes
anteriores se han aceptado y su fraccin defectiva estimada
es menor que un lmite inferior especificado y la produccin
es estable.
Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con
sigma conocida con menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s para
los lotes (al menos para 30). Los planes especficos para este tipo de planes se
deben consultar en el estndar.
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Solucin.
a) De tabla A2, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B1, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 2.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 2.8 = 1.59
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209 180
QS= 1.59 ; PS = 2.19% (de tabla B-5)
8.8
195 180
QI= 1.704; PI = 0.66% (de tabla B-5) por tanto la
8.8
fraccin defectiva total es de
p = 2.85%
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Ejemplo 2.8 Sea LIE= 58,000 psi; tamao del lote 500
artculos;AQL = 1.5%; Inspeccin nivel II, normal. De los
X = 63,000; n = 10 ; = 3,000.
_
datos anteriores se obtuvo
De tabla A-2 se obtiene la letra I.
a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054
respectivamente.
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Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar la
calidad media de un material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo
general que aqu se emplea es el de prueba de hiptesis, lo cual se ilustra con un
ejemplo.
X A 0.3 X A 0.3
1.645 (2.4)
0.1
n n
X A 0.4 X A 0.4
1.282 (2.5)
0.1
n n
X A = 0.355 n= 9
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10. Comente el significado de los ndices NCA (AQL) y NCL (AOQ), su relacin con el
riesgo del productor y riesgo del consumidor.
11. Cul es el propsito de los distintos niveles de inspeccin en las tablas de MIL
STD 105E?
12. Cul es la finalidad de que un esquema de muestreo obtenido mediante las MIL
STD 105E tenga planes normal, reducido y severo o estricto?
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20. Un lote de 480 artculos es sometido a inspeccin con un nivel ll, y un NCA =
1.5%. De acuerdo a las tablas MIL STD 414 o Z1.9. Cul es el plan de muestreo
apropiado n, M? Explique.
21. Suponiendo inspeccin normal, MIL STD 414 o Z1.9, el mtodo de la desviacin
estndar y la variabilidad desconocida, adems de letra cdigo D y AQL = 2.5%, y
una especificacin de inferior de 200g.
22. Para aceptar embarques de 400 bultos que deben pesar 50kg cada uno, se
establece como especificacin inferior para el peso 49.5 y como superior 50.5.
24. Si usted es el vendedor, cul de los dos planes anteriores preferira? Argumente
su respuesta.
10.1.
a) Usando Military Standars 105E, encuentre un proceso de muestreo con
muestra sencilla, fraccin defectuosa, para los lotes de aproximadamente
15 000 y un AQL de 2.5% . Use el nivel ll de inspeccin.
b) Determine los procedimientos a los que cambiar bajo inspeccin ms
severa e inspeccin reducida. Trace las curvas CO para los tres
procesos en la misma grfica.
10.2
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10.3 Repita el problema 10.1 para un producto que se juzga requiere el uso de un ...
10.4 Repita el problema 10.2 para un producto que se juzga requiere el uso de un...
10.5
10.6
10.7
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