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Planes de muestreo por variables

Planes de muestreo por variables


DEFINICIN Mtodo que consiste en medir una caracterstica cuantitativa por cada artculo de la poblacin o de una muestra tomada de ella.

Campo de aplicacin
Se utiliza el % de producto no conforme para definir calidad del lote y del proceso. Se utiliza cuando la produccin es continua. Se utiliza cuando es iuna sola la caracterstica a medir. Se utiliza cuando el proceso esta bajo control estadstico. Cuan do se especfica los requisitos dentro de un lmites superior, inferior o ambos.

Planes de muestreo por variables


DEFINICIONES PLANES DE MUESTREO POR VARIABLES: Mtodo que consiste en medir una caracterstica cuantitativa por cada artculo de la poblacin o de una muestra tomada de ella. NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (AQL): Es el mximo porcentaje de defectuosos aceptable en el lote.

Planes de muestreo por variables


DEFINICIONES

Mtodos de evaluacin
Mtodo (s) Evalua la aceptabilidad usando la desviacin estandar de la muestra. Mtodo () Evalua la aceptabilidad usando la desvisacin estandar del proceso. Mtodo ( R) Evalua la aceptabilidad del lote usando el rango promedio de mediciones de los artculos en subgrupos de muestras

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DEFINICIONES Lmites de especificacin:
Lmite de especificacin simple:
Cuando slo se ha especificado un lmite de control ya sea superior o inferior.

Lmite de especificacin doble:


Cuando se ha especificado los dos lmites de especificacin (superior e inferior)

Lmite de especificacin separado:


Cuando se especifican los s lmites de espcificacin y estos tienen AQLs separados.

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DEFINICIONES
Constante de aceptabilidad (k) Constante que depende del AQL y del tamao de la muestra y contra la cual se compara el estadstico de calidad para aceptar o rechazar el lote. Estadstico de calidad (Q) Puede ser estadstico del lmite superior (Qs) o estadstico del lmite inferior (Qi) y depende del lmite de especificacin la media y desviacin estandar de la muestra, y es contra el cual se compara la constante de ceptabilidad (k) para aceptar o rechazar el lote.

Planes de muestreo por variables


DEFINICIONES
Estadstico de calidad (Q) y constante de aceptabilidad (k) Qs = LSE s Qi = - LIE s Qs > k se acepta el lote

Qi > k se acepta el lote

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PROCEDIMIENTO
Especificar el mtodo a utilizar ( generalmente el (s) El nivel de inspeccin (generalmente el II) Definir el AQL y que corresponsa a uno d elas tablas. Definir el lmite de especificacin simple, doble, combinada.

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Un lmite de especificacin EJEMPLO 1
La temperatura mnima especificada para la coocin de un alimento es de 60C.Se inspecciona un lote de 100 unidades producidas.Se emplea el mtodo (s) y la inspeccin normal (II), se a especificado un AQL de 2,5%. Se acepta o se rechaza el lote. De la tabla A1 Partiendo del tamao de lote: 100, se escoge el nivel de inspeccin II. se obtiene el cdigo: F De la tabla A2 Con el mtodo (s) inspeccin normal Se obtiene el tamao de la muestra n = 13 De la tabla B1: Plan de muestreo simple para inspeccin normal mtodo (s) Utilizando la letra cdigo F, tamao de la muestra = 13 y el AQL de 2,5% se obtiene el valor de la constante de aceptabilidad (k) = 1,405.

Planes de muestreo por variables


EJEMPLO 1
Se toma la muestra como especifica la tabla A2 n= 13
n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 Media Desviacin estandar (s) T C 53 57 49 58 59 54 58 56 50 50 55 54 57 54,6 3,33

QS = LSE X media S Qs = 60 54,6 3,33 Qs = 1,618 Qs > k 1,618 > 1,405 Se acepta el lote

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EJEMPLO 2
Un dispositivo temporalizador pirotcnico tiene un tiempo de retorno mnimo especificado en 4 segundos. Se ha producido un lote de 1000 unidades, se inspecciona con un tipo de inspeccin II mtodo (s) y un AQL de 0,1%. De la tabla A1 Partiendo del tamao de lote: 1000, se escoge el nivel de inspeccin II. se obtiene el cdigo: J De la tabla A2 Con el mtodo (s) inspeccin normal Se obtiene el tamao de la muestra n = 35 De la tabla B1: Plan de muestreo simple para inspeccin normal mtodo (s) Utilizando la letra cdigo J, tamao de la muestra = 35 y el AQL de 0,1% se ve cha hacia abajo esto significa que tenemos que coger el valor de abajo n = 50 y k= 2,569

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EJEMPLO 2
Se toma la muestra como especifica la tabla A2 n= 13
n 1 2 3 4 6,95 6,4 6,44 6,35 6,68 6,34 6,7 6,83 t segundos 6,65 6,15 6,51 6,96 6,59 6,03 5,94 6,38 6,57 6,67 6,56 6,29

5
6 7 8 9 10 Media

6,8
6,04 6,44 7,17 7,17 5,84 6,5164

6,16
6,03 6,04 6,59 6,25 6,25

6,57
6,52 6,29 6,8 7 6,71

6,77
6,86 6,7 5,92 6,83 6,55

6,87
6,91 6,67 6,53 6,3 6,25

Qi = X media - LIE S Qi = 6,52 4 0,3292 Qi = 7,64

Qi > k
7,64 > 2,569 Se acepta el lote

Desviaci n estandar 0,3291 (s)

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Mtodo grfico Cuando se da el lmite superior X = LSE kS

Cuando se da el lmite unferior X = LIC + kS

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Mtodo grfico
La temperatura mnima especificada para la coocin de un alimento es de 60C.Se inspecciona un lote de 100 unidades producidas.Se emplea el mtodo (s) y la inspeccin normal (II), se a especificado un AQL de 2,5%. Cuando se da el lmite superior X = LSE kS X media : 54,6 S = 3,33 Si el punto de interseccin entre la media y la desviacin estandar cae debajo del rea de la curva se acepta el lote, si cae sobre el rea de la curva se rechaza el lote.

X = LSE - k
58,60 57,89 57,19 56,49 55,79 55,08 54,38 53,68 52,98 60 60 60 60 60 60 60 60 60

s
1 1,5 2
TC 61.00 60.00 59.00 58.00 57.00

TC f(s)

1,405 1,405 1,405 1,405 1,405 1,405 1,405 1,405 1,405

2,5 3 3,5 4 4,5 5

56.00
55.00 54.00 53.00 52.00 51.00 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 y = -1.405x + 60 R = 1 4.5 5 5.5 6 6.5

Series1 Linear (Series1)

Desviacin Estandar (s)

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Dos lmites de especificacin
Debemos definir la mxima desviacin estandar media (MDEM) Smxima = (LSE LIE)x fs Si la desviacin estandar calculada (s) es mayor que la S mxima el lote se rechaza S Calculada > Smxima se rechaza el lote. Pero si: SCalculada < Smxima No se sabe si el lote se rechaza, para saber si el lote se rechaza debemos hacer el mtodo grfico

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EJEMPLO 3
La temperatura mnima especificada para un dispositivo es de 60C y la mxima es de 70C. Se produce 95 productos. Se se utiliza el nivel de inspeccin II, mtodo (s) y se ha especificado un AQL de 1,5% Se acepta o se rechaza el lote. De la tabla A1 Partiendo del tamao de lote: 95, se escoge el nivel de inspeccin II. se obtiene el cdigo: F De la tabla A2 Con el mtodo (s) inspeccin normal Se obtiene el tamao de la muestra n = 13 De la tabla D1: Valores de fs para MDEM para control de limites doble, inspeccin normal, mtodo (s) Letra cdifo F, AQL del 1,5% da un valor de fs = 0,274.

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EJEMPLO 3
Se toma la muestra como especifica la tabla A2 n= 13
n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 Media Desviacin estandar TC 65,5 60 65,2 67,1 69 67,1 60 66,4 62,8 68 63,4 60,7 65,8

Smxima = (LSE-LIE )x fs Smxima = (70-60)x0,274 Smxima = 2,74 S calculada > S mxima 3,05 > 2,74

Se rechaza el lote

64,7
3,05

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EJEMPLO 4
Con los datos del ejemplo 3, si variamos el AQL al 4%. La temperatura mnima especificada para un dispositivo es de 60C y la mxima es de 70C. Se produce 95 productos. Se se utiliza el nivel de inspeccin II, mtodo (s) y se ha especificado un AQL de 4% Se acepta o se rechaza el lote. De la tabla A1 Partiendo del tamao de lote: 95, se escoge el nivel de inspeccin II. se obtiene el cdigo: F De la tabla A2 Con el mtodo (s) inspeccin normal Se obtiene el tamao de la muestra n = 13 De la tabla D1: Valores de fs para MDEM para control de limites doble, inspeccin normal, mtodo (s) Letra cdifo F, AQL del 4 % da un valor de fs = 0,328.

Planes de muestreo por variables


EJEMPLO 3
Se toma la muestra como especifica la tabla A2 n= 13
n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 Media Desviacin estandar TC 65,5 60 65,2 67,1 69 67,1 60 66,4 62,8 68 63,4 60,7 65,8

Smxima = (LSE-LIE )x fs Smxima = (70-60)x0,328 Smxima = 3,28 S calculada > S mxima 3,05 < 3,28 No se sabe si se rechaza el lote Hay que hacer el mtodo grfico

64,7
3,05

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Mtodo grfico
Para lmite superior X = LSE kS Para el lmite inferior X = LSE +kS X media : 64,7 S = 3,05 Para letra cdigo F, n: 13 y AQL 4% k= 1,189 Si el punto de interseccin entre la media y la desviacin estandar cae entre las reas de las curvas se acepta el lote, si cae fuera del rea entre curvas se rechaza el lote.
71.00

X = LSE - k
70,00 68,81 68,22 67,62 67,03 66,43 65,84 65,24 64,65 64,06 70 70 70 70

xs 0 1 1,5 2

X = LIE + k
60,00 61,19 61,78 62,38 62,97 63,57 64,16 64,76 65,35 65,95 60

s
0

70.00
69.00 68.00 67.00 66.00 65.00 64.00 63.00 62.00 61.00 60.00 59.00 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 5.5 X LsE x LiE

1,189 1,189 1,189 1,189

1,189

60
60 60 60 60 60 60 60 60

1,189
1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189

1
1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5 5

70
70 70 70 70 70

1,189
1,189 1,189 1,189 1,189 1,189

2,5
3 3,5 4 4,5 5

Planes de muestreo por variables


X = LSE - k
70,00 68,81 68,22 67,62 67,03 66,43 65,84 65,24 64,65 70 70 70 xs 0 1 1,5
71.00

1,189 1,189 1,189

70.00
69.00 68.00 67.00 66.00 65.00 64.00 X LsE x LiE

70
70 70 70 70 70 70

1,189
1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189

2
2,5 3 3,5 4 4,5 5

64,06

X = LIE + k
60,00 61,19 61,78 62,38 62,97 63,57 64,16 64,76 65,35 65,95 60 60 60 60 60 60 60 60 60 60

s
0 1 1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5 5

63.00 62.00 61.00 60.00 59.00 0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 5.5

1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189 1,189