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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

CAPACIDAD Y DESEMPEO
DEL PROCESO

H. Hernndez / P. Reyes
Sept. 2007

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

CONTENIDO

1. Introduccin
a. Definiciones bsicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variacin a corto y a largo plazo

2. Clculo de la capacidad del proceso


a. Condiciones y frmulas para el estudio de capacidad
b. Capacidad a partir de histogramas
c. Capacidad a partir de papel de probabilidad normal
d. Otros ndices de capacidad del proceso

3. Clculo del desempeo de los procesos

4. Capacidad y desempeo de procesos con Minitab

5. Capacidad de procesos no normales

6. Capacidad de procesos por atributos

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

1. Introduccin
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente
importante asegurarse de antemano de que el proceso ser capaz de
mantener las tolerancias. En las dcadas recientes ha surgido el concepto
de capacidad del proceso habilidad del proceso, que proporciona una
prediccin cuantitativa de qu tan adecuado es un proceso. La habilidad
del proceso es la variacin medida, inherente del producto que se obtiene
en ese proceso.

1 a. Definiciones bsicas.
Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas,
herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la
produccin.
Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud,
basada en el desempeo probado, para lograr resultados que se
puedan medir.
Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los lmites de especificaciones de calidad.
Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del
proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el resultado
de la medicin del trabajo realizado por el proceso.
Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadstico, es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles
de variacin.
Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idnticos
sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso est bajo

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control, solo actan las causas comunes de variacin en las


caractersticas de calidad.
Valor Nominal: Las caractersticas de calidad tienen un valor ideal
ptimo que es el que desearamos que tuvieran todas las unidades
fabricadas pero que no se obtiene, aunque todo funcione
correctamente, debido a la existencia de la variabilidad natural.

1b. Objetivos1

1. Predecir en que grado el proceso cumple especificaciones.


2. Apoyar a diseadores de producto o proceso en sus modificaciones.
3. Especificar requerimientos de desempeo para el equipo nuevo.
4. Seleccionar proveedores.
5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura.
6. Planear la secuencia de produccin cuando hay un efecto interactivo de
los procesos en las tolerancias.

LIE LSE

s _
xi
p X

p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de


especificaciones.

1
Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307

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1c. Partes fuera de especificaciones


En el rea sombrada observamos medidas fuera de los lmites de
especificacin.

Para solucionar este problema, podemos reducir la desviacin estndar.

Tambin podramos cambiar la media.

Lo ideal sera, por supuesto cambiar ambas.

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1d. Variacin a corto plazo y a largo plazo


Existen dos maneras de expresar la variabilidad:

Variacin a corto plazo (Zst) Los datos son colectados durante un periodo
de tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya
cambios y otras causas especiales.

Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los datos
considerados, slo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda
a determinar subgrupos racionales importantes.

Variacin a Largo Plazo(Zlt) Los datos son colectados durante un periodo


de tiempo suficientemente largo y en condiciones suficientemente diversas
para que sea probable que incluya todos los cambios de proceso y otras
causas especiales. Aqu todas las familias de variacin exhiben su
contribucin en la variacin del proceso general.

En el caso del corto plazo:

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Para el clculo de Z utilizamos las siguientes formulas:

Z st
lmite especif . nom.
desv.std ST

lmite especif . media


Z LT
desv.std LT

dnde:

Zst = variacin a corto plazo.


nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variacin a largo plazo.

Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5


desviaciones estndar, de acuerdo a lo observado por Motorota Inc.

Zlt = Zst-1.5shift

2. Clculo de la capacidad del proceso


Antes de calcular la capacidad del proceso, el proceso debe estar en
control estadstico.

2a. Condiciones y frmulas para el estudio de capacidad del proceso

Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los


siguientes supuestos2:

2
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404

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El proceso se encuentre bajo control estadstico, es decir sin la influencia


de fuerzas externas o cambios repentinos. Si el proceso est fuera de
control la media y/o la desviacin estndar del proceso no son estables
y, en consecuencia, su variabilidad ser mayor que la natural y la
capacidad potencial estar infravalorada, en este caso no es
conveniente hacer un estudio de capacidad.
Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para
minimizar el error de muestreo para los ndices de habilidad. Si los datos
se componen de menos de 100 valores, entonces deben calcularse los
lmites de confianza inferiores.
Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para
asegurar que las condiciones del proceso presentes durante el estudio
sean representativos de las condiciones actuales y futuras. En el caso de
la industria automotriz se especifican 300 partes mnimo.
El parmetro analizado en el estudio sigue una distribucin de
probabilidad normal, de otra manera, los porcentajes de los productos
asociados con los ndices de capacidad son incorrectos y solo se podrn
determinar los ndices de desempeo del proceso, que no toma en
cuenta si el proceso est en control o no.

Tambin es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos


que la variacin en el sistema de medicin no sea mayor al 10%.

Para calcular la habilidad o capacidad potencial, primero se determina la


desviacin estndar estimada de la poblacin como sigue:
R
ST
d2

Cp
LSE LIE
6 ST

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donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
ST = desviacin estndar a corto plazo

El ndice Cp debe ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con


especificaciones (LIE, LSE)

Los valores Z se determinan como sigue:


LIE X
ZI
ST
LSE X
ZS
ST

Para calcular la habilidad o capacidad real utilizamos la siguiente frmula:

menor Z I , Z S
C pk
3

Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
1.33 .

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2b. Capacidad a partir de histogramas


Procedimiento:
1. Seleccionar un proceso especfico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operacin del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medicin debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la informacin
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
7. Calcular la media y desviacin estndar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso.

Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275

Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos


mostrados en la siguiente tabla:
Intervalo Marca de Frecuencia Frecuencia
Frecuencia
de clase clase relativa acumulada
190-209 199.5 6 0.06 0.06
210-229 219.5 7 0.07 0.13
230-249 239.5 13 0.13 0.26
250-269 259.5 32 0.32 0.58
270-289 279.5 24 0.24 0.82
290-309 299.5 11 0.11 0.93
310-329 319.5 4 0.04 0.97
330-349 339.5 3 0.03 1

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El histograma es el siguiente:

Histogram of Datos

40

30
Frequency

20

10

0
160 190 210 230 260 290 310 330 360
Datos

Observamos que el histograma tiene forma normal.

Calculando la media y la desviacin estndar tenemos:


Descriptive Statistics: Datos

Variable N N* Mean SE Mean StDev Minimum Q1 Median Q3


Datos 99 0 264.19 3.23 32.15 176.00 248.00 265.00 280.00

X 264.19 S = 32.15

La variabilidad del proceso se encuentra en 6 s = 192.90

Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330

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Cp
LSE LIE 330 200 .674 < 1.33, el proceso no es hbil.
6S 192.90

Zi
330 264.19 2.046
32.15

Zs
200 264.19 1.996
32.15

menor Z I , Z S 2
C pk 0.66
3 3

Cpk = menor 1.33, por lo tanto el proceso no cumple especificaciones.

2c. Capacidad a partir de papel normal

Ventajas

1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos


como en el histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es ms sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable
en intervalos de clase como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan
a la lnea de ajuste
4. Permite identificar la media y la desviacin estndar aproximada del
proceso. As como la fraccin defectiva, el porcentaje de datos entre cierto
rango, el Cp y el Cpk.

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Procedimiento

1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente,


asignndoles una posicin ( j ) entre 1 y n.

2. Se calcula la probabilidad de cada posicin con la frmula siguiente:


Pj = (j - 0.5) / n

3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj)

4. Se ajusta una lnea recta que mejor aproxime los puntos

5. Si no hay desviaciones mayores de la lnea recta, se considera normal el


proceso y se procede a hacer las identificaciones:

La media ser el punto en X correspondiente a Pj = 0.5


La desviacin estndar es la diferencia en Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj
= 0.84

Ejemplo 2 . Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y,


clculamos la probabilidad de su posicin (Pj)
Pos. J Xj Pj
1 197 0.025
2 200 0.075
3 215 0.125
4 221 0.175
5 231 0.225
6 242 0.275
7 245 0.325
8 258 0.375
9 265 0.425
10 265 0.475
11 271 0.525
12 275 0.575

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13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975

Con ayuda del grfico podemos obtener la media, la desviacin estndar


y el porcentaje de valores que se encuentran fuera de especificaciones.

El trazo normal es el siguiente:


El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales.

El eje X es un rango lineal de la variable que se est analizando.

Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi,


puede predecirse usando una lnea slida como modelo. Por ejemplo, slo
ms del 20% de los datos del proceso seran valores de 225 o inferiores.

Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent

60
50
40
30
20

10

1
150 200 250 300 350 400
Xj

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Pj

0.84

0.5

Desv. Estndar

Fraccin
Defectiva

LIE X Media Xj

2d. Capacidad a partir de cartas de control

En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son


totalmente inesperadas tenemos un proceso inestable impredecible.

?
? ?
? ?
? ?

Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso


estable. La distribucin ser predecible en el tiempo.

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Prediccin

Tiempo

Clculo de la desviacin estndar del proceso

R S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4

Donde,
S = Desviacin estndar de la poblacin
d2 = Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X
-R
C4 = dem al anterior para una carta X - S

Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de
control.

En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma


rangos / (n -1)

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Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas

comunes: x = 64.06 , R = 77.3


Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

x media de medias

R 77.3
33.23
d 2 2.326

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.

El C pk
200 264.06 = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3 33.23
especificaciones.

Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas

comunes: x 100, s 1.05


Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

x 100
s 1.05
= 1.117
C4 .094

C4 para n = 5 tiene el valor 0.94

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Si el lmite de especificacin es: LIE = 85 y el LSE = 105.

El C pk
105 100 1.492
3 1.117

El C p
105 85 2.984
6 1.117

Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones.

Ejemplo 5:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes, se obtuvo lo
siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:


= X media de medias = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23
[ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326]

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.


El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con
las especificaciones

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2d. Otros ndices de capacidad del proceso

INDICE DE CAPACIDAD Cpm

Es un indicador de capacidad potencial que toma en cuenta el centrado


del proceso:
X T
Si V donde T es el centro de las especificaciones.

Cp LSE LIE
C pm
1V 2
6 2 ( T ) 2

Cuando T es igual a X media del proceso, Cpm = Cp = Cpk

INDICE DE CAPACIDAD Cpkm

Es un indicador de capacidad real que toma en cuenta el centrado del


proceso:
Si T es el centro de las especificaciones.
Cpk
C pkm
T
2

Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk

3. Clculo del desempeo de los procesos

Para determinar el Cp y Cpk se requiere que el proceso est en control


estadstico, ya que la desviacin estndar de la poblacin se estima con
Rango medio / d2 (constante que solo es vlida cuando el proceso est
en control).

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Para el caso de datos histricos, el proceso no est en control y se puede


determinar el desempeo del proceso utilizando la desviacin estndar de
todos los datos ajustada con una constante C4, denominada Sigma a
largo plazo o desviacin estndar Overall.

(X i X )2
S i 1

n 1

4(n 1)
C4
4n 3

S
LT
C4

Con la desviacin estndar a largo plazo se determinan los ndices de


desempeo Pp y Ppk no importando si el proceso est en control o no, en
este ltimo caso los valores no tienen significado prctico.

Para calcular el desempeo potencial del proceso utilizamos la siguiente


frmula:

Pp
LSE LIE
6 LT

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donde:
Pp = ndice de desempeo potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
LT = desviacin estndar estimada a largo plazo

El ndice Pp debe ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con

especificaciones (LIE, LSE)

Las variables transformadas Zs son las siguientes:

LSE X
Zs ;
LT

LIE X
ZI
LT

Para calcular el ndice de desempeo real del proceso utilizamos la siguiente


frmula:

menor Z I , Z S
Ppk
3

Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
1 .33.

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Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus de
que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE = 36,
LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:

Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5

a) Determinar la desviacin estndar del proceso

b) Determinar los lmites de tolerancia natural del proceso

c) Determinar la fraccin defectiva o porcentaje fuera de especificaciones

d) Determinar el Cp

e) Determinar el Cpk

f) Determinar el Cpm

g) Determinar el Cpkm

h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores

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4. Capacidad y desempeo de procesos en Minitab

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin


estndar S = 32.02 con

1. Calc > Random data > Normal


2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estndar deviation
32.02 OK

Considerando Lmites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330

Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba


de Ryan como sigue:

3. Stat > Basic statistics > Normalita Test


4. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK
El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan
normalmente

Probability Plot of Datos


Normal
99.9
Mean 269.3
StDev 30.72
99 N 100
RJ 0.994
95 P-Value >0.100
90
80
70
Percent

60
50
40
30
20
10
5

0.1
150 200 250 300 350
Datos

Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:

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5. Graph > Probability plot > Normal


6. Graph Variable C1
7. Distribution Normal OK

Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar
que es normal la distribucin.

Probability Plot of Datos


Normal - 95% CI
99.9
Mean 269.3
StDev 30.72
99 N 100
AD 0.317
95 P-Value 0.533
90
80
70
Percent

60
50
40
30
20
10
5

0.1
150 200 250 300 350 400
Datos

Determinacin de la capacidad del proceso con Minitab

Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la


capacidad con:

1. Stat > Quality tools > Capability anlisis > Normal


2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330
3. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:

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Process Capability of Datos

LSL USL
P rocess Data Within
LS L 200.00000 Ov erall
Target *
USL 330.00000 P otential (Within) C apability
S ample M ean 269.25354 Cp 0.70
S ample N 100 C PL 0.75
C PU 0.66
S tDev (Within) 30.83472
S tDev (O v erall) 30.80011 C pk 0.66
C C pk 0.70
O v erall C apability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
P pk 0.66
C pm *

210 240 270 300 330 360


O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance E xp. O v erall P erformance
P P M < LS L 10000.00 P P M < LS L 12353.30 P P M < LS L 12272.69
P P M > U S L 30000.00 P P M > U S L 24415.36 P P M > U S L 24288.79
P P M Total 40000.00 P P M Total 36768.66 P P M Total 36561.48

Interpretacin:

La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y d2


(1.128 para n = 2), con esta se determinan los ndices de capacidad
potencial Cp y Cpk, as como el desempeo Within, lo cual es adecuado
para un proceso en control o normal.

La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar de


los datos ajustado por el factor C4.

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Opcin Six Pack para mostrar toda la informacin relevante:

Determinar la capacidad con:

4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330
6. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:

Process Capability Sixpack of Datos


I C har t C apability H istogr am
UCL=361.8
Individual Value

320
_
X=269.3
240

LCL=176.7
160
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 210 240 270 300 330 360

M oving Range C har t Nor mal P r ob P lot


1
1 A D: 0.317, P : 0.533
UCL=113.6
Moving Range

100

50 __
MR=34.8

0 LCL=0
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 200 300 400

Last 2 5 O bser vations C apability P lot


Within
Within O v erall
300
S tDev 30.83472 S tDev 30.80011
Values

Cp 0.70 Overall
Pp 0.70
250
C pk 0.66 P pk 0.66
C C pk 0.70 C pm *
200 Specs
80 85 90 95 100
Observation

En este caso de la grfica de probabilidad normal, los datos siguen una


distribucin normal.

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5. Capacidad de procesos no normales.

Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opcin para


realizar el estudio de capacidad de procesos es mediante la distribucin
Weibull o alguna otra distribucin que ajuste a los datos.

Ejemplo en Minitab

En una compaa se manufacturan losetas para piso, el problema que se


tiene es referente a la deformacin en las mismas. Se toman 100 mediciones
durante 10 das. El lmite superior de especificacin (USL) = 3.5 mm Realice
un estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e interprete los
resultados.

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor


de escala = 1 con

8. Calc > Random data > Weibull


9. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale
parameter 1 Threshold parameter 0 OK

Considerando Lmites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5

Determinar la capacidad con:

7. Stat > Quality tools > Capability anlisis > NonNormal


8. Single column C1 Distribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5
9. OK

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

Los resultados se muestran a continuacin:

Process Capability of Datos1


Calculations Based on Weibull Distribution Model

USL
P rocess Data O v erall C apability
LS L * Pp *
Target * PPL *
USL 3.50000 PPU 0.85
S ample M ean 0.82279 P pk 0.85
S ample N 100
E xp. O v erall P erformance
S hape 1.24929
P P M < LS L *
S cale 0.88470
P P M > U S L 3795.26
O bserv ed P erformance P P M Total 3795.26
P P M < LS L *
P P M > U S L 10000
P P M Total 10000

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5

El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el


modelo y los datos, ya que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo
observamos que algunos datos caen fuera del lmite superior de
especificacin. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformacin
ser mayor a 3.5 mm.

El ndice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya
que 0.85<.1.33

3
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarn fuera de los lmites de
especificaciones.

Tambin se cuenta con la opcin Six Pack para esta opcin.

6. Capacidad de procesos por atributos

Para el caso de atributos, se tienen varios casos:

a. Fraccin defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una
carta de control p de fraccin defectiva con tamao de muestra constante
con al menos 25 puntos, y una vez que est en control, se determina su p
media. La capacidad del proceso es
1-P media.

La capacidad del proceso equivalente para un Cp de debe ser de:


Al menos 99.73% para una capacidad de +- 3 sigmas equivalente a
un Cp de 1
Al menos de 99.9936% para un acapacidad equivalente a +-4 sigmas
equivalente a un Cp de 1.33.
Para otro valor de P la capacidad equivalente en sigmas se determina
dividiendo el valor de P / 2 y obteniendo el valor de Z correspondiente
a esa rea bajo la curva. La capacidad ser de +-Z sigmas.

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

b. Nmero de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos
25 puntos.

La referencia son el nmero de defectos X que el cliente acepte. Con la


lnea media indicando el promedio de defectos o C media, entramos a la
tabal binomial o de Poisson tomando como Lamda la C media y como X los
defectos aceptables por el cliente.

La probabilidad de aceptacin mnima debe ser de 99.73% equivalente a


un Cp de 1 o de 99.9936% para un Cp de 1.33, cualquier valor inferior
indicar falta de capacidad del proceso.

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL

Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son:


n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.729 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078

Las constantes para lmites de control en las cartas X-S son:


n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .
5 0.940 1.342 1.427 0.000 2.089 0.000 1.964
6 0.952 1.225 1.287 0.030 1.970 0.029 1.874
7 0.959 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.969 1.000 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.973 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.975 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.978 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.610
13 0.979 0.832 0.850 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.982 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.984 0.750 0.763 0.448 1.552 0.440 1.526
17 0.985 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.985 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.986 0.688 0.698 0.497 1.503 0.490 1.483
20 0.987 0.671 0.680 0.510 1.490 0.504 1.470
21 0.988 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.988 0.640 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.989 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.989 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.990 0.600 0.606 0.565 1.435 0.559 1.420

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