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Capacidad de Un Proceso
Capacidad de Un Proceso
CAPACIDAD Y DESEMPEO
DEL PROCESO
H. Hernndez / P. Reyes
Sept. 2007
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
CONTENIDO
1. Introduccin
a. Definiciones bsicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variacin a corto y a largo plazo
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
1. Introduccin
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente
importante asegurarse de antemano de que el proceso ser capaz de
mantener las tolerancias. En las dcadas recientes ha surgido el concepto
de capacidad del proceso habilidad del proceso, que proporciona una
prediccin cuantitativa de qu tan adecuado es un proceso. La habilidad
del proceso es la variacin medida, inherente del producto que se obtiene
en ese proceso.
1 a. Definiciones bsicas.
Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas,
herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la
produccin.
Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud,
basada en el desempeo probado, para lograr resultados que se
puedan medir.
Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los lmites de especificaciones de calidad.
Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del
proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el resultado
de la medicin del trabajo realizado por el proceso.
Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadstico, es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles
de variacin.
Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idnticos
sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso est bajo
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
1b. Objetivos1
LIE LSE
s _
xi
p X
1
Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Variacin a corto plazo (Zst) Los datos son colectados durante un periodo
de tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya
cambios y otras causas especiales.
Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los datos
considerados, slo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda
a determinar subgrupos racionales importantes.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Z st
lmite especif . nom.
desv.std ST
dnde:
Zlt = Zst-1.5shift
2
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404
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Cp
LSE LIE
6 ST
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donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
ST = desviacin estndar a corto plazo
menor Z I , Z S
C pk
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
1.33 .
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275
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El histograma es el siguiente:
Histogram of Datos
40
30
Frequency
20
10
0
160 190 210 230 260 290 310 330 360
Datos
X 264.19 S = 32.15
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Cp
LSE LIE 330 200 .674 < 1.33, el proceso no es hbil.
6S 192.90
Zi
330 264.19 2.046
32.15
Zs
200 264.19 1.996
32.15
menor Z I , Z S 2
C pk 0.66
3 3
Ventajas
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Procedimiento
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13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975
Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent
60
50
40
30
20
10
1
150 200 250 300 350 400
Xj
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Pj
0.84
0.5
Desv. Estndar
Fraccin
Defectiva
LIE X Media Xj
?
? ?
? ?
? ?
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Prediccin
Tiempo
R S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4
Donde,
S = Desviacin estndar de la poblacin
d2 = Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X
-R
C4 = dem al anterior para una carta X - S
Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de
control.
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Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas
x media de medias
R 77.3
33.23
d 2 2.326
El C pk
200 264.06 = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3 33.23
especificaciones.
Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas
x 100
s 1.05
= 1.117
C4 .094
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
El C pk
105 100 1.492
3 1.117
El C p
105 85 2.984
6 1.117
Ejemplo 5:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes, se obtuvo lo
siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3
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(X i X )2
S i 1
n 1
4(n 1)
C4
4n 3
S
LT
C4
Pp
LSE LIE
6 LT
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donde:
Pp = ndice de desempeo potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
LT = desviacin estndar estimada a largo plazo
LSE X
Zs ;
LT
LIE X
ZI
LT
menor Z I , Z S
Ppk
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
1 .33.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus de
que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE = 36,
LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:
d) Determinar el Cp
e) Determinar el Cpk
f) Determinar el Cpm
g) Determinar el Cpkm
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350
Datos
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar
que es normal la distribucin.
60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350 400
Datos
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LSL USL
P rocess Data Within
LS L 200.00000 Ov erall
Target *
USL 330.00000 P otential (Within) C apability
S ample M ean 269.25354 Cp 0.70
S ample N 100 C PL 0.75
C PU 0.66
S tDev (Within) 30.83472
S tDev (O v erall) 30.80011 C pk 0.66
C C pk 0.70
O v erall C apability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
P pk 0.66
C pm *
Interpretacin:
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4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330
6. Estimate R-bar OK
320
_
X=269.3
240
LCL=176.7
160
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 210 240 270 300 330 360
100
50 __
MR=34.8
0 LCL=0
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 200 300 400
Cp 0.70 Overall
Pp 0.70
250
C pk 0.66 P pk 0.66
C C pk 0.70 C pm *
200 Specs
80 85 90 95 100
Observation
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Ejemplo en Minitab
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
USL
P rocess Data O v erall C apability
LS L * Pp *
Target * PPL *
USL 3.50000 PPU 0.85
S ample M ean 0.82279 P pk 0.85
S ample N 100
E xp. O v erall P erformance
S hape 1.24929
P P M < LS L *
S cale 0.88470
P P M > U S L 3795.26
O bserv ed P erformance P P M Total 3795.26
P P M < LS L *
P P M > U S L 10000
P P M Total 10000
El ndice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya
que 0.85<.1.33
3
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarn fuera de los lmites de
especificaciones.
a. Fraccin defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una
carta de control p de fraccin defectiva con tamao de muestra constante
con al menos 25 puntos, y una vez que est en control, se determina su p
media. La capacidad del proceso es
1-P media.
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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO
b. Nmero de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos
25 puntos.
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