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Analisis de Falla
Analisis de Falla
Captulo I
esfuerzos asociado a la pieza que fall, es desde el punto de vista mecnico uno
de los antecedentes ms relevantes, puesto que el estado de carga incide de
manera importante en la fractura de la pieza. El poseer informacin de situaciones
de falla similares, es decir, el que existe un precedente de falla que involucre
condiciones similares o parecidas, tambin es importante y puede en determinado
momento ser vital en el momento tanto del anlisis como de las conclusiones
finales. Las condiciones de operacin siempre es importante de tener claras
debido a que condiciones de operacin errneas pueden significar precisamente
una falla relacionada con un exceso de esfuerzos o a una condicin anmala de
aplicacin de los mismos. Finalmente los aspectos humanos no son menos
importantes, sobre todo debido a la entrega parcial de la informacin o bien al
temor por eventuales sanciones que pudieran tener lugar por motivo de errores
humanos.
Precedentes,
Material otros casos
similares? Medio
comp. qca.,
ambiente
trat. trmico
Problema
de Anlisis
de Fallas
Condiciones Factores
de operacin humanos:
incidentes? verdades
parciales?
Estado de
esfuerzos
Figura 5.- Representacin esquemtica de los distintos tipo de enteraccin producida entre
el haz de electrones y la muestra.
Tal como se aprecia en la figura anterior, la zona de la muestra que interacta con
el haz de electrones corresponde a una regin tridimensional con forma de pera.
Los electrones secundarios poseen un menor rango de penetracin, situndose en
unos 10 para el caso de metales y en unos 100 para el caso de aislantes. Tal
como se indica en la figura 7, tambin el nmero atmico juega un papel
importante en la penetracin del haz de electrones.Efectivamente, al aumentar el
nmero atmico de la muestra, disminuye la penetracin del haz de electrones.
Figura 7.- Penetracin del haz de electrones en funcin del voltaje incidente y del nmero atmico
de la muestra.
Rayos X
Hay dos interacciones entre el haz de electrones incidentes y la muestra, que
conducen a la generacin de rayos X, dando origen a los dos tipos de espectros
conocidos: continuo y caracterstico.
Cuando un haz de electrones es desacelerado, por impacto con un ncleo, la
prdida de energa se manifiesta por la emisin de un fotn de rayo X, cuya
energa incluso puede llegar a ser igual a la energa del electrn incidente. En
realidad, la energa del fotn producido puede variar de forma continua hasta
eventualmente llegar a ser igual a la energa del fotn incidente, tal como se
muestra en la figura 8.
Figura 8.- Espectro de rayos X del molibdeno como funcin del voltaje aplicado.
X-Ray photon
emitted
Photon
internally
converted and
Auger electron
emitted
K Electrn removido K
Ka Kb
L Electrn removido L
La
M Electrn removido M
Ma
M
N Electrn removido N
N
Normal
R = 0.61 (1)
80 kV =0.04338
100 kV =0.03880
Es interesante tomar en cuenta que en el microscopio ptico, la longitud de onda
usada es del orden de 4000, lo que da una resolucin menor.
Profundidad de campo
La profundidad de campo corresponde a la distancia, medida en forma
perpendicular al haz incidente, que permanece enfocada simultneamente. Una
de las ventajas del microscopio electrnico de barrido es su gran profundidad de
campo.
dp
QQ =
' ''M (2)
As por ejemplo, sabiendo que la resolucin del ojo humano es de 0.1 mm (=0.1
mm), trabajando a 10.000 aumentos, si la resolucin del microscopio es de 50
(=p), y usando una lente con un ngulo de 0.5x10-2 rad se tiene que QQ=1 m,
lo cual es suficiente para los aumentos usados.
Defectos de las lentes electromagnticas
Los defectos de las lentes electromagnticas, son anlogas a las encontradas en
lentes pticas y son las siguientes:
1. Aberracin esfrica: se debe a las distintas fuerzas de enfoque entre el
centro y la periferia de la lente.
s=Cs3 (3)
C=CC(E/Eo) (4)
D=1.22/ (5)
(1), y (2) obligan a disminuir pero por (3) hay que aumentarla, por lo tanto,
existe un ptimo: 0.0039 radianes.
Referencias