A c a de mi a I b e r oa me r i c a na de Cr i mi na l s t i c a y E s t u di os F or e ns e s

100 pesos / 8 USD

Ao 2, nm. 2
Segundo semestre de 2012
CHILE
Aplicacin de microsco-
pa electrnica de doble
haz, presin variable
y deteccin de energa
dispersiva de rayos X
(ESEM-FIB-EDX) en la inves-
tigacin forense
L. BUSTAMANTE, L. PAIVA,
P. SEZ, P. SOTO y F. TORRES
Investigacin de coli-
siones de vehculos
mediante microscopa
electrnica con detector
de energa dispersiva de
rayos X (ESEM-FIB-EDX)
L. BUSTAMANTE, L. PAIVA,
P. SEZ, P. SOTO y F. TORRES
ESPAA
Experiencia en el labora-
torio de Criminalstica de
la Guardia Civil en el peri-
taje de escritura rabe
ANTONIO GARCA DAZ
Utilizacin de software
libre en imagen forense
MARIO RUIZ MATEOS
FRANCIA
Physical-Chemistry
Study of Line Crossings
JOS BALBUENA
MXICO
La homologacin de cri-
terios criminalsticos
ESTEBAN ENRIQUE PEA VLEZ
Criminologa, Criminals-
tica y Ciencia del crimen
LUIS RODRGUEZ MANZANERA
C
i
e
n
c
i
a

F
o
r
e
n
s
e

I
N
A
C
I
P
E

o

2
,

n

m
.
2
I
S
S
N

2
0
0
7
-
2
7
0
8
Ciencia Forense 2,2.indd 1 13/11/12 12:10
CForense2/2.indb 2 13/11/12 18:13
INSTITUTO NACIONAL DE CIENCIAS PENALES
CForense2/2.indb 3 13/11/12 18:13
DIRECTORIO
DEL INSTITUTO NACIONAL
DE CIENCIAS PENALES
RAFAEL ESTRADA MICHEL
Director General
CITLALI MARROQUN
Secretaria General de Extensin
MARYSOL MORN BLANCO
Encargada de la Direccin de Publicaciones
JUNTA DIRECTIVA DE LA ACADEMIA
IBEROAMERICANA DE CRIMINALSTICA
Y ESTUDIOS FORENSES
MARVIN SALAS ZIGA
Presidente
FREDERICO GALVO DA SILVA
Vicepresidente
ROBERTO MORENO DILLON
Vocal
FELIPE GUIJARRO OLIVARES
Vocal
JOS ANTONIO LORENTE ACOSTA
Vocal Relaciones Internacionales
CForense2/2.indb 4 13/11/12 18:13
REVISTA DE
CRIMINALSTICA
Y ESTUDIOS FORENSES
Ao 2, nm. 2, julio-diciembre de 2012
ING. MIGUEL SCAR AGUILAR RUIZ
Coordinador
CForense2/2.indb 5 13/11/12 18:13
Revista de Criminalstica y Estudios Forenses
I N A C I P E
CIENCIA FORENSE INACIPE. Revista de Criminalstica y Estudios Forenses, ao 2,
nm. 2, julio-diciembre de 2012, es una publicacin semestral editada por el Instituto
Nacional de Ciencias Penales, a travs de la Direccin de Publicaciones. Calle
Magisterio Nacional nm. 113, Col. Tlalpan, Del. Tlalpan, C.P. 14000, Mxico, D.F.,
Tel. 5487 1571; www.inacipe.gob.mx; correo electrnico: publicaciones@inacipe.gob.
mx. Editor responsable: Instituto Nacional de Ciencias Penales. Reserva de Derecho
al Uso Exclusivo: nm. 04-2012-042012572500-102; ISSN: 2007-2708, ambos otorgados
por el Instituto Nacional del Derecho de Autor; Licitud de Ttulo y Contenido: 15410.
Expediente CCPRI/3/TC/11/19341. Impresa por Impresora y Encuaderna do ra
Progreso S.A. de C.V. (IEPSA), Av. San Lorenzo nm. 244, Col. Paraje San Juan, Del.
Iztapalapa, C.P. 09830, Mxico, D.F. Se termin de imprimir en noviembre de 2012,
con un tiraje de 1 000 ejemplares.
Las opiniones expresadas por los autores no reejan necesariamente la postura del
editor de la publicacin.
Queda estrictamente prohibida la reproduccin total o parcial de los contenidos e
imgenes de la publicacin sin previa autorizacin del Instituto Nacional de Ciencias
Penales.
CForense2/2.indb 6 13/11/12 18:13
7
CONTENIDO
CHILE
LEONARDO BUSTAMANTE, LEONARDO PAIVA, PEDRO SEZ,
PAULO SOTO, FRANCISCO TORRES
Aplicacin de microscopa electrnica de doble haz,
presin variable y deteccin de energa dispersiva
de rayos X (ESEM-FIB-EDX) en la investigacin forense . . . . . . 9
CHILE
LEONARDO BUSTAMANTE, LEONARDO PAIVA,
PEDRO SEZ, PAULO SOTO, FRANCISCO TORRES
Investigacin de colisiones de vehculos mediante
microscopa electrnica con detector de energa
dispersiva de rayos X (ESEM-FIB-EDX) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
ESPAA
ANTONIO GARCA DAZ
Experiencia en el laboratorio de Criminalstica
de la Guardia Civil en el peritaje de escritura rabe . . . . . . 31
ESPAA
MARIO RUIZ MATEOS
Utilizacin de software libre en imagen forense . . . . . . . . . . . 49
FRANCIA
JOS BALBUENA
Physical-Chemistry Study of Line Crossings . . . . . . . . . . . . . . 59
MXICO
ESTEBAN ENRIQUE PEA VLEZ
La homologacin de criterios criminalsticos . . . . . . . . . . . . . 97
MXICO
LUIS RODRGUEZ MANZANERA
Criminologa, Criminalstica y Ciencia del crimen . . . . . . . . . 103
CForense2/2.indb 7 13/11/12 18:13
CForense2/2.indb 8 13/11/12 18:13
9
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA
DE DOBLE HAZ, PRESIN VARIABLE
Y DETECCIN DE ENERGA DISPERSIVA
DE RAYOS X (ESEM-FIB-EDX)
EN LA INVESTIGACIN FORENSE
Leonardo Bustamante, Leonardo Paiva,
Pedro Sez, Paulo Soto, Francisco Torres*
RESUMEN
L
os microscopios electrnicos de barrido (SEM) son ampliamen-
te utilizados por laboratorios forenses de pases desarrolla-
dos, porque permiten revelar detalles microestructurales de
una gran variedad de evidencias. Sin embargo, en tiempos recien-
tes esta tecnologa ha ampliado sus aplicaciones al disponer de
microscopios electrnicos de doble haz. Este tipo de tecnologa h-
brida incorpora fuentes de iluminacin capaces de producir haces
de diferentes clases; por un lado, un rayo primario de electrones
recorre la supercie del espcimen, a la vez que un haz de iones
partcula de masa mucho mayor que los electrones es deec-
tado de manera sincronizada y enfocado en el mismo plano del
haz de electrones (FIB, del ingls Focused Ion Beam). En este con-
texto, el presente artculo da a conocer una visin de la micros-
copa electrnica de barrido como una herramienta verstil en el
rea de la Criminalstica y sus reales aplicaciones en la resolucin
de los delitos.
INTRODUCCIN
La microscopa es, en trminos generales, la disciplina dedicada
a la observacin de especmenes cuya morfologa y detalles son
imperceptibles al ojo humano. Mediante el uso de diferentes sis-
temas pticos, es posible generar una imagen aumentada de la
* Seccin de Microanlisis del Laboratorio de Criminalstica Central, Poli-
ca de Investigaciones de Chile (PDI).
CForense2/2.indb 9 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
10
muestra o de una parte de ella, revelando caractersticas que van
mucho ms all del poder de resolucin del hombre.
Su evolucin ha acompaado la historia de prcticamente to-
das las reas del quehacer cientco, determinando el desarrollo
de nuevos instrumentos y accesorios destinados a realzar caracte-
rsticas especcas de especmenes de acuerdo con su mbito. De
esta manera, se han diseado y construido instrumentos espec-
cos para el examen de muestras biolgicas y materiales inertes,
capaces de magnicar sus detalles topogrcos o seccin transver-
sal e incluso caracterizar sus propiedades fsicas y qumicas.
En la actualidad, y luego de aos de desarrollo, la microscopa
se conforma en lo fundamental por dos grandes vertientes: la mi-
croscopa de luz, que por lo general utiliza materia del espectro
visible como fuente de iluminacin, y la microscopa electrnica,
que emplea un haz de electrones para iluminar la muestra y gene-
rar una imagen aumentada de sta.
La microscopa electrnica es posterior a la microscopa de luz.
As pues, en 1939 la empresa Siemens produjo el primer micros-
copio electrnico comercial. Desde entonces, la necesidad de res-
ponder a nuevos desafos, la aplicacin de nuevos conocimientos
e incluso el desarrollo de la tecnologa manufacturera han permi-
tido llevar la microscopa electrnica, tanto de transmisin como
de barrido, a lmites que constituyen casi un desafo a las leyes de
la fsica.
Hoy en da, la microscopa electrnica presenta un avance sig-
nicativo, y una de las tcnicas ms empleadas en el mbito fo-
rense es precisamente la microscopa electrnica de barrido.
FUNDAMENTOS GENERALES DE LOS MICROSCOPIOS
ELECTRNICOS DE BARRIDO CONVENCIONALES
Este tipo de microscopios Scanning Electron Microscopy (SEM)
utiliza un haz primario de electrones para recorrer o pincelar la
supercie del espcimen y de esa manera entregar informacin
respecto de sus relieves y formas. Como producto de la interaccin
entre el haz primario de electrones y la muestra, se genera una serie
de seales que son debidamente colectadas por detectores ubicados
en el interior del instrumento, entre las cuales se puede mencionar:
Electrones secundarios (SE): Son electrones de baja energa
que provienen de tomos constituyentes de la propia mues-
CForense2/2.indb 10 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
11
tra y que son removidos de sta al momento de ser colisio-
nados por el haz primario. Estos electrones son proyectados
en distintas direcciones dependiendo de la ubicacin topo-
grca que presenten en la muestra, el ngulo de inciden-
cia del haz de electrones y su cercana respecto del detector
con que se les capta. El detector de SE corresponde por lo
comn a una grilla de metal cargada con un potencial posi-
tivo, de manera que atrae a estos electrones hacia l. Cada
uno de los electrones percibidos se convierte en una se-
al elctrica que luego se amplica y se transforma en una
imagen. En el caso de este tipo de microscopa, el haz pri-
mario de electrones se desplaza a travs del rea sometida
observacin, lo cual hace posible componer una imagen de
toda esa rea y no de slo un punto (que es lo que pasara
si el haz electrnico fuera jo).
Electrones retrodifundidos (BSE): Son partculas de alta energa
que corresponden a constituyentes del haz primario, que al
momento de chocar contra el ncleo de los tomos que
conforman la muestra rebotan y se desvan. De ello se
desprende que los tomos de mayor nmero atmico sern
colisionados por una cantidad superior de electrones del
haz primario, mientras que aquellos que posean un nme-
ro atmico menor sern colisionados con menor frecuen-
cia y, por lo tanto, desviarn una menor cantidad de elec-
trones. Como caracterstica, este tipo de seal es captada
mediante el uso de detectores cargados con un potencial
negativo; de esta manera, los electrones retrodifundidos de
baja energa son rechazados, aunque los de alta energa no
son afectados por ese potencial. Cada uno de los electrones
percibidos se convierte en una seal elctrica que luego se
amplica y se convierte en una imagen. Mientras mayor
sea la cantidad de BSE detectados, la imagen resultar ms
clara; por el contrario, si la cantidad es menor, la imagen
ser ms oscura. Con base en esto, se establece que las im-
genes construidas mediante la deteccin de esta seal dan
cuenta del contraste elemental del espcimen, puesto que
son una medida cualitativa de la heterogeneidad composi-
cional en trminos del nmero atmico de sus elementos
constituyentes.
Rayos X caractersticos (EDX): Corresponden a radiaciones
provenientes de los tomos que componen la muestra, toda
CForense2/2.indb 11 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
12
vez que sta es barrida por el haz primario de electrones.
Cuando un electrn de una capa energtica interna de un
tomo es expulsado de ste, puesto que es colisionado por
otro electrn, electrones de capas energticas ms exter-
nas saltan transitoriamente al nivel interno a cubrir la
vacante. Este cambio de nivel energtico se acompaa de
la liberacin de radiacin que se encuentra cuanticada
y es propia de cada elemento. Es importante sealar que,
conforme aumenta el Z de un elemento, ms compleja es
su conguracin electrnica, habiendo diferentes tipos de
radiaciones X caractersticas que, en conjunto, constituyen
una familia nica para cada elemento; es como si fuera su
huella digital.
De lo expuesto, se deduce que el anlisis de una muestra me-
diante microscopa electrnica de barrido convencional supone la
obtencin de una gran cantidad de informacin a partir de ella.
Sin embargo, existe una serie de limitantes respecto del tipo de
especmenes susceptibles de ser examinados, lo cual restringe las
posibilidades analticas de este tipo de instrumentos. Para que un
determinado objeto pueda observarse por medio de un microsco-
pio de barrido convencional, debe cumplir por lo menos con los
siguientes requisitos:
Conducir la electricidad.
Estar seco, es decir, carecer absolutamente de humedad.
Resistir las condiciones de alto vaco en el interior del ins-
trumento, las cuales pueden alterar la morfologa o estruc-
tura del objeto.
Pese a lo anterior, estas dicultades pueden subsanarse prepa-
rando previamente las muestras, lo que signica altos costos en
equipamiento, insumos, tiempo de procesamiento y, por encima
de todo, la posibilidad de introducir artefactos y/o enmascarar de-
talles trascendentes en el objeto de estudio.
LA MICROSCOPA ELECTRNICA DE BARRIDO
APLICADA AL REA FORENSE
Como ya se dijo, los microscopios electrnicos de barrido permiten
revelar detalles microestructurales de una gran variedad de evi-
dencias. La relevancia de su aportacin queda de maniesto en
circunstancias en que las tcnicas de microscopa de luz conven-
CForense2/2.indb 12 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
13
cional y otras metodologas instrumentales resultan insucientes
para llevar a cabo la correcta caracterizacin de un determinado es-
pcimen. Esto es fundamental sobre todo en casos en que la mues-
tra es nica o escasa, y cuando de su anlisis depende, por ejemplo,
relacionar a un individuo con el lugar de los hechos o escena del
crimen.
La Polica de Investigaciones de Chile, consciente de la tras-
cendencia que generara la entrada de este tipo de tecnologa en
nuestra regin, realiz a partir de 2007 consultas tcnicas desti-
nadas a la adquisicin de este tipo de instrumental. No obstante,
debido a que nuestro sistema de justicia pretende garantizar a
todas las partes que intervienen en una investigacin la misma
posibilidad de anlisis de una evidencia, la compra del micros-
copio electrnico de barrido convencional resultaba inviable. Lo
anterior, debido a que la mayora de las evidencias examinadas
en nuestro medio no cumplen con los requisitos mnimos para
su estudio mediante estos equipos sin antes ser preparadas o pro-
cesadas.
No obstante, la problemtica se resolvi con la compra de ins-
trumental de ltima tecnologa, nico en Sudamrica, puesto que
fue congurado especcamente para su uso en el anlisis de evi-
dencia forense. La eleccin del equipamiento ms adecuado se
realiz a partir de tres factores fundamentales:
Capacidad de anlisis topogrfco y micromorfolgico.
Capacidad de anlisis qumico elemental de regiones pun-
tuales de la muestra.
Preservacin de la evidencia.
Gracias a la introduccin de esta tecnologa en nuestra rea, ha
sido posible analizar evidencias que, de otro modo, no hubiesen
revelado su valor probatorio. De esta manera, la capacidad de ob-
tener la mayor cantidad de informacin relevante a partir de un
anlisis no destructivo ha transformado a nuestra institucin en
un factor de referencia en el rea de microanlisis forense, tanto a
escala nacional como regional.
ESTACIN DE TRABAJO DUAL BEAM
ESEM-FIB-EDX QUANTA 200I 3D
Las estaciones de trabajo de doble haz corresponden a un tipo de
tecnologa hbrida que incorpora fuentes de iluminacin capaces
CForense2/2.indb 13 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
14
de producir haces de diferente naturaleza; por una parte, un rayo
primario de electrones recorre la supercie del espcimen tal como
ocurre con los microscopios electrnicos de barrido convenciona-
les, mientras que un haz de iones partcula de masa mucho ma-
yor que los electrones es deectado de manera sincronizada y
enfocado en el mismo plano del haz de electrones (FIB).
A continuacin, se describen las principales capacidades ana-
lticas de la estacin de trabajo de doble haz de la Polica de Inves-
tigaciones de Chile.
LA CAPACIDAD DE EXAMINAR ESPECMENES
EN SU ESTADO NATURAL
Sin la posibilidad de analizar objetos previamente preparados para
su inspeccin mediante microscopa electrnica de barrido con-
vencional, este instrumento permite examinar evidencias que por
su naturaleza no cumplen con las condiciones mnimas necesa-
rias para su observacin mediante instrumentos tradicionales. De
esta manera, es posible caracterizar muestras que no conducen la
electricidad, que presentan una sensibilidad morfolgica o estruc-
FIGURA 1. Imgenes topogrcas de dos muestras distintas,
no aptas para su anlisis mediante microscopa electrnica
de barrido convencional. A. Granos de polen con un alto contenido
de agua y sensibles a las condiciones de alto vaco. B. Trozo
de tela involucrado en atentado explosivo. La muestra
se encontraba hmeda y no conduca electricidad.
A B
CForense2/2.indb 14 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
15
tural elevada a las condiciones de alto vaco y, lo que es ms im-
portante, es posible analizar evidencias con un alto contenido de
agua e incluso de soluciones de diversos lquidos. Esta capacidad
es de gran relevancia en el mbito forense, dado que minimiza la
manipulacin de especmenes relacionados con investigaciones
criminales en trminos de tratamiento pre-analtico, se elimina
la posibilidad de introducir artefactos en la muestra, y en el caso
de las muestras escasas y nicas una vez efectuado el peritaje
son devueltas en las mismas condiciones en las que fueron reci-
bidas dejando la posibilidad de anlisis posteriores si otra parte
interviniente en la investigacin as lo requiere.
CAPACIDAD DE ANLISIS DE QUMICO
ELEMENTAL NO DESTRUCTIVO
El Laboratorio de Criminalstica Central de la Polica de Investiga-
ciones de Chile cuenta con equipamiento instrumental de ltima
tecnologa destinado a la caracterizacin qumico elemental de
una gran variedad de especmenes (absorcin atmica, ICP-Masa).
No obstante, un requisito fundamental para procesar evidencias
mediante este tipo de equipamiento consiste en la digestin de
muestras mediante el uso de diversos solventes. En muchos casos
esta condicin preanaltica no reviste mayores complicaciones;
sin embargo, en circunstancias en que la muestra escasea o es
nica, las posibilidades de estudio resultan muy limitadas. Una
situacin similar ocurre cuando la regin de la evidencia que re-
viste inters es pequea y se encuentra ntimamente combinada
con el resto del espcimen.
La estacin de trabajo de doble haz se encuentra equipada con
un detector de energa dispersiva de rayos X (EDX). Este aditamen-
to permite conocer la composicin qumico elemental de una re-
gin amplia de la muestra o, de ser necesario, de zonas o puntos
especcos en un mismo campo de observacin, aun cuando se
est trabajando a elevadas magnicaciones. La realizacin de este
estudio tarda apenas unos cuantos minutos, y corresponde a un
anlisis en fase slida que no provoca ningn cambio ni alteracin
en la muestra.
CForense2/2.indb 15 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
16
CAPACIDAD DE MICRORREMOCIN Y DEPSITO
DE MATERIALES (CARACTERIZACIN DE SUBSUPERFICIE)
La observacin de un objeto a travs de un microscopio electrni-
co de barrido produce en la gente una sensacin de tridimensio-
nalidad. La posibilidad de ver los relieves y la forma que presenta
un elemento microscpico genera la percepcin de realidad res-
pecto del espcimen que se convierte en un objeto tangible. Sin
embargo, esta percepcin no es ms que una sensacin, puesto
que en ningn caso se revela ms informacin de lo que permite
ver la propia supercie de la muestra. El empleo de una fuente
de emisin de iones (FIB) representa una revolucin en este sen-
tido, puesto que constituye un verdadero bistur que permite
remover, con alto nivel de precisin, porciones puntuales de la
muestra a n de revelar su subsupercie. Los iones corresponden
a partculas de masa mucho mayor que los electrones, y se usan
en la construccin de imgenes topogrcas de alta calidad; no
obstante, es su peso lo que permite escudriar en el interior del
espcimen, de modo que son utilizados fundamentalmente con
este n.
FIGURA 2. A. Imagen de contraste elemental de una muestra escasa
de mineral de hierro sustrada ilegalmente. Las partculas de color
blanco presentan la concentracin ms alta de hierro, adems
de otros elementos que en conjunto constituan su espectro
de emisin de energa dispersiva de rayos X. B. Espectro de emisin
de energa dispersiva de rayos X de las partculas de color blanco.
Al ser comparado con los espectros de las muestras
de referencia se pudo establecer su procedencia.
A B
CForense2/2.indb 16 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
17
APLICACIONES DE LA TECNOLOGA ESEM-FIB-EDX
EN EL REA FORENSE
Aun cuando esta tecnologa es relativamente nueva en nuestro
pas, su introduccin ha signicado la posibilidad de resolver de
manera analtica interrogantes que hasta hace poco no podan
abordarse por medio de ninguna otra tcnica instrumental dis-
ponible en la regin. Enseguida se sealan algunas de sus aplica-
ciones.
Anlisis de pinturas y revestimientos
Este tipo de examen apunta sobre todo a la caracterizacin de ca-
pas de materiales ntimamente dispuestos entre s y cuyo espesor
no supera unas cuantas micras. Mediante la fuente de emisin
de iones, es posible remover con sumo cuidado material a la pro-
fundidad requerida para exponer cada una de las capas y llevar a
cabo todas las mediciones necesarias para su debido estudio, in-
cluyendo grosor, caractersticas estructurales y composicin qu-
A B
FIGURA 3. Anlisis de subsupercie de un anillo supuestamente de oro
con incrustaciones de rubes. La naturaleza de la evidencia impeda
la realizacin de anlisis destructivos. A. Fotografa del anillo
periciado. B. Microfotografa topogrca de la remocin de material.
Las dimensiones del oricio son de 20 m de largo por 10 m
de ancho por 7 m de profundidad, suciente para establecer
que se trata de un anillo de cobre con un delgado bao de oro.
CForense2/2.indb 17 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
18
mica de cada una de ellas. En la prctica este anlisis ha permitido
identicar vehculos robados que han sido repintados, investigar
accidentes de trnsito donde uno de los vehculos se ha dado a la
fuga transrindose restos de pintura al otro involucrado, e
investigar estafas en grandes construcciones donde se ha desviado
dinero destinado a la aplicacin de un determinado nmero de
capas de pintura, entre otras.
Anlisis de superposicin de trazos
Este tipo de anlisis es til para establecer el orden cronolgico en
que un trazo o impresin se aplica sobre una supercie. No obs-
tante, a veces la extraordinaria profundidad de campo de este tipo
de instrumentos permite dilucidar esta interrogante; con frecuen-
cia es necesario remover material por medio del haz de iones en
el lugar de superposicin de trazos a n de establecer cul de ellos
fue hecho antes. Cabe sealar adems que el papel soporte ms
comn involucrado en estos casos no conduce la electricidad
y, por lo tanto, no se puede analizar por medio de otros equipos
sin tratamiento previo. Este peritaje se relaciona en especial con
el examen de evidencias documentales asociadas con delitos de
estafa, donde algunos documentos son adulterados con la adicin
de trazos, falsicaciones de rmas o timbres.
FIGURA 4. Anlisis de subsupercie de capas de pintura en los muros
de una construccin. A. Fotografa del aspecto de una porcin
del muro. B. Microfotografa de la seccin transversal
de una muestra tomada del revestimiento donde es posible
apreciar cada una de las capas de pintura aplicadas.
A B
CForense2/2.indb 18 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
19
Determinacin de residuos de disparo de armas de fuego
Esta tarea ha constituido desde siempre una gran dicultad en
la investigacin criminal, debido a que es imposible contar con
metodologas analticas que permitan establecer con exactitud la
presencia de partculas provenientes de una serie de disparos. En
la actualidad, la nica prueba de certeza disponible es la micros-
copa electrnica de barrido con deteccin de energa dispersiva
de rayos X. Este anlisis tiene por objeto detectar elementos me-
tlicos poco abundantes en la naturaleza plomo, antimonio y
bario, que forman parte de la cpsula fulminante de la mayora
de los cartuchos balsticos disponibles en la actualidad. El anlisis
consiste en buscar partculas esfricas de entre 2 y 15 micrones
FIGURA 5. Anlisis de superposicin de trazos. A. Fotografa obtenida
por medio de microscopa de luz. No es posible pronunciarse respecto
del orden de realizacin de los trazos sobre la matriz de papel.
B. Imagen de contraste elemental de la misma regin del documento.
C. Imagen topogrca donde se puede distinguir el trazo de bolgrafo
sobre la impresin laser. D. Detalle de corte transversal de un
anlisis similar realizado en un laboratorio de Estados Unidos.
A
C
B
D
CForense2/2.indb 19 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
20
de dimetro (forma caracterstica de procesos que involucran al-
tas temperaturas y presiones) y llevar a cabo su anlisis qumico
elemental, el cual revela la presencia de estos tres elementos. Este
anlisis puede realizarse a partir de muestras tomadas tanto de las
manos como de otras zonas del cuerpo de una persona, o incluso
de supercies inertes.
Otras aplicaciones
Los anlisis antes mencionados constituyen slo una pequea
muestra del verdadero potencial analtico de este instrumento.
No obstante, esta tecnologa tambien el podra aplicarse en el an-
lisis de:
muescas, fracturas y correspondencia entre materiales
tipo entomolgico forense
pelos y fbras
granos de polen
carcter qumico elemental no destructivo de joyas y meta-
les valorados
diatomeas
sustancias adheridas a diversos soportes
materiales
FIGURA 6. Anlisis de residuos de disparo de arma de fuego.
A. Imagen de contraste elemental de un oricio de entrada de
proyectil balstico, donde se aprecia un halo claro conformado
por partculas provenientes de la cpsula fulminante del cartucho
(anlisis realizado en un laboratorio forense internacional). B.
Imagen topogrca de una partcula de disparo de arma de fuego.
El anlisis qumico de energa dispersiva de rayos X conrm la
presencia de plomo, antimonio y bario.
A B
CForense2/2.indb 20 13/11/12 18:13
APLICACIN DE MICROSCOPA ELECTRNICA DE DOBLE HAZ
CIENCIA FORENSE
21
CForense2/2.indb 21 13/11/12 18:13
PAIVA/TORRES/SEZ/BUSTAMANTE/SOTO
CIENCIA FORENSE
22
CONCLUSIN
La investigacin criminal incluye la aplicacin de conocimientos
provenientes de diversas reas de la ciencia. En este sentido, la
microscopa y en especial la tecnologa ESEM-FIB-EDX constituyen
una herramienta transversal, puesto que los profesionales del La-
boratorio de Criminalstica Central se valen de sus anlisis y sus
resultados para resolver interrogantes periciales, cualquiera que
sea su mbito de competencia. Las posibilidades analticas de este
tipo de tecnologa son amplias y, de acuerdo con nuestra experien-
cia, dependen en gran medida del conocimiento que los usuarios
tengan de sus capacidades y de la naturaleza de las interrogantes
periciales planteadas por quienes dirigen las investigaciones fo-
renses y criminales en nuestro pas.
BIBLIOGRAFA
Brundle, C. Richard, Charles A. Evans, Jr., y Shaun Wilson, Encyclopedia
of Materials Characterization, Butterworth-Heinemann, 1992.
Garrat-Reed, A.J. y D.C. Bell, Energy Dispersive X-Ray Analysis in the
Electron Microscope, Bios, 2003.
Kuo, John, Electron Microscopy Methods and Protocols, Humana Press To-
towa, 2007.
Zhigang, R. Li, Industrial Application of Electron Microscopy, Marcel De-
kker, 2003.
CForense2/2.indb 22 13/11/12 18:13