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Informe de Prctica de Laboratorio

BIOLOGIA CELULAR

Microscopa Electrnica de Barrido.


10/04/15
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Resumen
El primer microscopio ptico fue diseado por Anton Van Leeuwenhoek en 1675, y fue considerado un juguete cientfico al que se le dio el nombre
de Vidrio de mosca, ya que primariamente se utilizaba para observar insectos. Posteriormente, el microscopio ptico fue recibiendo notables
mejoras. Entre ellas, debido al limitado poder de resolucin y gracias a las investigaciones llevadas a cabo desde 1923 acerca de la difraccin
electrnica, sentaron las bases para la construccin del primer microscopio electrnico. La resolucin de ste es 1.000 veces mayor que la luz blanca
utilizada para la iluminacin en el microscopio ptico. La fuente de energa del Microscopio electrnico de barrido depende de factores como el
voltaje de aceleracin, la intensidad de la corriente y el dimetro de haz. Cada muestra debe ser calentada, enfriada y estirada. Los mtodos de
enfriamiento se usan principalmente en la preparacin de muestras biolgicas. El microscopio electrnico de barrido presenta como ventajas su poder
de resolucin, la profundidad del campo y el contraste.

Palabras Clave: Microscopio, mejoras, resolucin, profundidad de campo, visualizacin, contraste, haz de
electrones.____________________________________________________________________________________________________________________________

1. Introduccin
El primer microscopio ptico fue diseado por Anton Van
Leeuwenhoek en 1675, y fue considerado un juguete cientfico
al que se le dio el nombre de Vidrio de mosca, ya que
primariamente se utilizaba para observar insectos. El primer
microscopio electrnico de barrido fue desarrollado en 1930 en
Alemania y en 1949, en Estados Unidos. Finalmente, en 1964
fue presentado el primer modelo comercial por The
Cambridge Scientific Instrument Company; posteriormente
muchos otros fabricantes han desarrollado nuevos modelos. El
principio del sistema del microscopio electrnico de barrido
consiste en que, si se hace incidir sobre la muestra un haz de
electrones finamente enfocado, emite una seal que puede
registrarse en una pantalla mediante un tubo de rayos
catdicos1. Las propiedades de una partcula cargada con
electrones fueron explotadas por Knoll y Ruska, quines
construyeron el primer microscopio electrnico de lente
magntica, utilizando un rayo de 60.000 voltios y obteniendo
imgenes sobre una pantalla fluorescente 2. Debido al limitado
poder de resolucin del microscopio ptico, se probaron varias
fuentes de iluminacin tales como rayos X de muy pequea
longitud de onda (0,5 nm) sin tener xito ya que no pudieron
enfocar estos rayos. Sin embargo, las investigaciones iniciadas
en 1923 sobre difraccin electrnica, sentaron las bases para la
construccin del primer microscopio electrnico3. La necesidad
de tener una mejor resolucin de imagen con respecto a lo ya
obtenido (Microscopio ptico), llev a la aplicacin de estas
investigaciones en la creacin del microscopio electrnico.
Constituye gran importancia para la observacin de material
biolgico, metales, minerales, entre otros 4. Su resolucin, de
mil veces mayor a la del microscopio ptico, ha permitido
grandes avances cientficos y la ptima visualizacin en
investigaciones de todo tipo5.
2. Marco Terico

Resolucin:
Es la capacidad del microscopio de
visualizar los detalles ms finos del objeto. Este fenmeno
fue investigado Matemticamente por primera vez por el
astrnomo Sir George Airy en 1834, quien demostr que la
distribucin de la luz es una medida de la distancia Resoluble
dentro de la imagen. Adems puede demostrarse que esta
distancia h en la imagen se corresponde en el objeto con una
distancia h definida por la ecuacin:
h = 0.61/A.N.
En la cual A.N. es la apertura Numrica del objetivo6.
Electrn: Partcula de carga negativa con una relacin
masa/carga de 5,69x10^-12 kg/C. Tanto el electrn como el
protn fueron descubiertas mediante el estudio del
comportamiento de partculas frente a campos elctricos y
magnticos7.
Iluminacin: Fuente de luz que se proyecta en el plano de la
muestra. Es una de las partes del microscopio que ms puede
influir sobre su desempeo6.
Difraccin: Se conoce como difraccin la tendencia de una
onda a desviarse de la propagacin rectilnea mientras se
propaga o pasa a travs de un obstculo u apertura8.
Lente: Una lente es un objeto transparente que altera la forma
de un frente de ondas que pasa a travs de l. Las lentes
generalmente se construyen de vidrio y se les da forma de tal
modo que la luz refractada forme imgenes similares a las que
ya hemos estudiado u obtenido con anterioridad9.
Porta muestra: Es el lugar que, por su resistencia, material de
fabricacin y grosor se considera adecuado para colocar las
muestras que se sometern a visualizacin10.
Contraste: Un agente de contraste se define como aquella
sustancia o combinacin de sustancias que, introducidas en el
organismo por cualquier va, permiten resaltar y Opacificar
estructuras anatmicas normales y patolgicas. Tambin

permite diferenciar las interfases o densidades entre los


distintos tejidos11.
Haz de electrones: Consiste de un flujo colimado de electrones
libres dotados de una velocidad elevada12.
3. Procedimiento Experimental
Dado a la complejidad que requiere el Microscopio electrnico
y a la delicadez de sus componentes, no se nos permite tener
un contacto directo con l. ste es controlado por un operario
designado, el cul efecta todas las acciones durante la
examinacin y visualizacin de las muestras, mantenimiento
del equipo y dems funciones que ste abarca. De igual
manera, existe un procedimiento riguroso con el cul se
prepara la muestra para tener una aceptable visualizacin en el
microscopio electrnico y se considera necesario anexarlo.
Tambin, cabe destacar que antes de usar el microscopio
electrnico se debe llevar referencia literaria de lo que se aspira
visualizar.
Preparacin de la muestra:
En el microscopio electrnico de barrido se observa la
estructura superficial de la muestra, por lo tanto las fibras
deben prepararse en una seccin longitudinal. Las fibras deben
estar completamente secas. Una vez que se hayan preparado las
fibras deben colocarse sobre el porta muestras. Hay varios
tipos de porta muestras: para la observacin de muestras
normales, para muestras voluminosas, porta muestras con
posibilidad de seleccionar la superficie deseada de la muestra,
porta muestra con microcircuito y con posibilidad de ser
calentada o enfriada, etc13.
La distribucin de la intensidad de seales producidas en la
muestra es funcin de la composicin de sta y de la energa de
los electrones. La intensidad de las seales emitidas por la
muestra viene determinada por la distribucin de seales
producidas y por su absorcin por la propia muestra. La
profundidad normal para que las seales sean emitidas es de
menos de 500A para electrones secundarios. Antes de
introducir la muestra preparada en el microscopio es necesario
aislar la cmara del sistema y luego introducir aire seco o
Nitrgeno antes de retirar todo el soporte del Porta muestras13.

Figura 1: Fotografa de la cabeza de una mosca, tomada con


el microscopio electrnico de barrido del Instituto de
Investigaciones en Materiales de la UNAM. Se logra un
detalle y una profundidad de campo que ningn microscopio
ptico es capaz de proporcionar.

Figura 2: Detalle del ojo de la misma mosca.

Los defectos en el procedimiento se evidencian cuando13:


Hay bajo contraste.
Imagen Borrosa, falta de detalles.
Lneas de difraccin alrededor del rea de la muestra.
La pantalla de observacin no est iluminada
uniformemente.
Una pequea rea con elevada densidad en el centro
del campo
Marcas estticas o grietas en emulsin.
Rayas y puntos blancos.
4. Resultados y Discusin

Figura 3: Aqu se observa con claridad la estructura cbica


de la red cristalina de un mineral.
5. Conclusiones

Resulta importante resaltar sus aplicaciones en la ciencia e


industria, hasta tal punto que se ha convertido en herramienta
para medir la calidad de las fibras en la industria textil. La
explotacin de la veracidad con la que trabaja un electrn, y
llevarlo al mximo de su capacidad es fascinante. En el
mercado, su precio es elevado, esto dificulta el acceso a su uso.
El aprovechamiento de sta tecnologa ha permitido tener un
mayor acceso al estudio de microorganismos, clulas en
general, minerales, metales, entre otros; con un fin
investigativo e innovador. El uso del microscopio electrnico
constituye entonces una ventaja en la investigacin, logrando
presentar grandes avances en diferentes campos cientficos e
industriales.

Figura 2: Universidad Autnoma de Mxico (2011).


Visualizaciones de presentacin al pblico.
Figura 3: Universidad Autnoma de Mxico (2011).
Visualizaciones de presentacin al pblico.

Parmetros de evaluacin ( Espacio para docente)

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Resumen - Palabras clave

Mx

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0.6

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Bibliografa:
(1). Naik, A. (2008). Fundamentos del microscopio electrnico
y su aplicacin en la investigacin textil.
(2). Heidenreich, R. (2010). Fundamentals of transmission
electron microscopy.
(3). Knoll, M. et. al. (1932). Physik. Zeit f Phy 12, 389.
(4). Nixon, W. C. (1969) Introduction to scanning Electron
Microscopy.
(5). Kodak (1999). Electron Microscopy and Photography.
Kodak Publication.
(6). Leica (2012). Leica theory of the microscope. Bfalo, New
York (USA) 14,220-240
(7). Universidad de Alcal (2002). La estructura electrnica de
los tomos. Primera Edicin.
(8). Universidad de Madrid (2007). ptica para estudiantes de
Fsica. Cuarta Edicin.
(9). Instituto Tcnico de La Laguna (2008). ptica y
Matemtica de los Lentes. Unidad 1, Tema 6.
(10). Universidad Central de Venezuela (2003). Gua para
anlisis de muestra por infrarrojo. Gua 20.
(11). Sartori, P. et. al. (2013). Medios de contraste en
imgenes. Revista Argentina de Radiologa, Vol. 77.
(12). Universidad Tecnolgica Nacional de Argentina (2013).
Principios Fsicos Fundamentales en el funcionamiento de la
tecnologa del haz de electrones.
(13).Ooki, K. (2007). Teora y prctica del microscopio
electrnico. Universidad de Crdoba, Argentina.
Figura 1: Universidad Autnoma de Mxico (2011).
Visualizaciones de presentacin al pblico.

Introduccin

1.0

comentarios
Procedimiento experimental

1.0

comentarios
Resultados y Discusin

1.5

comentarios
Conclusiones

0.6

comentarios

Otros ( Bibliografa, presentacin)

0.3

comentarios

Calificacin

5.0

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