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Un proceso puede ser muy capaz (un Cp alto) y aún no producir dentro de

las especificaciones por no tener un centrado adecuado, de allí que sea necesa-

rio un nuevo índice que involucre el centrado del proceso.

Así como antes se refería la potencialidad de un proceso a la fracción de-

fectiva mínima, ahora ocurre algo similar con respecto al índice Cpk. En efecto,

para que un proceso que sea potencialmente capaz, produzca dentro de las

especificaciones, su centrado debe comportarse como se indica a continuación.

L.N.

pmin

SIGNIFICADO

Cp

±3σ 2,7×10-3

27 defect./10000

≥1,00

±4σ 6,4×10-5

64 defect./1000000

≥1,33

±5σ 5,7×10-7

57 defect./100000000

≥1,67

±6σ 19,7×10-10

197 defect /100000000000 ≥2,00

ANALISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS

PREPARADO POR: ING. RAFAEL R. GRATEROL V.

72

EI EI + 3σ ≤ X2/BARRA ≤ ES − 3σ

ES

Observando la figura anterior podemos afirmar que para que un proceso con un

alto potencial para cumplir con las especificaciones como éste, produzca dentro

de dichas especificaciones, y para Límites Naturales del Proceso ±±±±3σσσσ, debe cum-

plirse lo siguiente

EI

X

ES

X

+

σ

σ

3

y

3

Manipulando estas dos desigualdades se puede encontrar un intervalo para el

centrado, dentro del cual éste puede moverse para que sea posible producir den-

tro de las especificaciones, obviamente, siempre y cuando el proceso sea capaz

(Cp ≥ 1 para LN ±3σ); de esta manera se obtiene

σ

σ

3

3

+

ES

X

EI

Análogamente se obtendrá el correspondiente intervalo cuando los LN sean ±4σ ó

±5σ ó ±6σ.

En general, un proceso que sea potencialmente capaz para LN ±±±± kσσσσ estará

produciendo dentro de especificaciones cuando el centrado de éste se encuentra

en el intervalo

σ

σ

k

ES

X

k

EI

+

siendo

6

ó

5

;
4

;
3

=

k

.

Sin embargo, hoy en día en vez de buscar este intervalo se trabaja con un

Índice que involucre al centrado del proceso; tal índice es INDICE DE CAPACI-

ANALISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS

PREPARADO POR: ING. RAFAEL R. GRATEROL V.

73

DAD REAL DEL PROCESO, Cpk, el cual se evalúa a partir de la siguiente

ecuación:

)

1
( K

C

C

p

pk

×

=

Siendo

Estable.

Proceso

del

Centrado

2

2

=

+

=

=

=

=

X

ES

EI

M

M

X

D

EI

ES

W

WD

K

Es importante observar que en esta ecuación el valor de “K” mide en forma relativa

el descentrado del proceso con respecto a la mitad del recorrido de las especifica-

ciones; cuanto mayor sea “D”, más lejos estará el centrado del punto medio de las

especificaciones lo cual traería como consecuencia un mayor porcentaje de

producto fuera de las especificaciones (superior o inferior). Esta afirmación se

puede observar en el siguiente esquema:

(ES − EI)/2

D

M

X2/barra

EI

(ES − EI)

ES

ANALISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS

PREPARADO POR: ING. RAFAEL R. GRATEROL V.

74

Mucha bibliografía especializada en la materia estima el Índice de Capacidad Real

de un proceso, Cpk a partir de la siguiente ecuación:



=

3

;

3

EI

ES

pk

Z

Z

mínimo

C

Siendo

σ

σ

EI

X

Z

X

ES

Z

EI

ES

=

=

Al seleccionar el valor mínimo estaríamos seleccionando el lado más desfavora-

ble, es decir, por la especificación que produce un mayor porcentaje de partes no-

conformes; esta afirmación se puede observar en la siguiente figura.

( X − EI)

X

EI M

ES

En las gráficas que se muestran a continuación se ilustran valores de los

Índices Cp y Cpk para un proceso centrado en el punto medio de las especificacio-

ES – X2/barra

ANALISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS

PREPARADO POR: ING. RAFAEL R. GRATEROL V.

75

nes (M) y otro cuyo centrado está desplazado “σ” unidades a la derecha de ese

punto medio (

σ

+

= M

X

). Cada segmento representa una desviación estándar (s)

PROCESO CENTRADO

PROCESO NO-CENTRADO

6s

6s

EI M

ES EI M + s ES

Cp = Cpk = 1,33

Cp = 1,33; Cpk = 1,00

6s

6s

EI

M

ES

EI M + s ES

Cp = Cpk = 1,00

Cp = 1,00; Cpk = 0,67

M + s

EI

M ES

EI ES

6s

6s
Cp = Cpk = 0,67 Cp = 0,67; Cpk = 0,33

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