Está en la página 1de 20

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

INTRODUCCIN A LAS TCNICAS DE CARACTERIZACIN


1.- Introduccin
Desarrollo de nuevos materiales
caracterizacin.

desarrollo de tcnicas de preparacin y

1.1.- Qu es la caracterizacin de Materiales?


Obtencin de informacin a partir de la respuesta de un material al ser perturbado por una
seal. (Caracterizacin anlisis instrumental)
Lugar que ocupa la caracterizacin en la Ciencia e Ing. de Materiales

1.2.- Por qu es necesaria la caracterizacin de materiales?


Conocer o predecir las propiedades de un material y as valorar su utilidad en diversas
aplicaciones.

1.3.- Qu informacin ofrecen las tcnicas de caracterizacin y cmo se utiliza?


Composicin, estructura, topologa, topografa, morfologa, propiedades (Color, Tm, etc.)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

2.- Definiciones previas

2.1.- Tcnica instrumental o de anlisis


Proceso cientfico fundamental que ha demostrado ser til para proporcionar
informacin acerca de la caracterizacin de sustancias y/o materiales (ej. IR).

2.2.- Mtodo instrumental o de anlisis


Aplicacin especfica de una tcnica instrumental para resolver un problema
determinado.
a) Procedimiento.- Son las instrucciones (no detalle) escritas para llevar a cabo un
mtodo (Normas ASTM, American Society for Testing and Materials, son
procedimientos normalizados)
b) Protocolo.- Es un procedimiento detallado (receta) Resultados comparables
(Reproducibilidad)

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

3.- Clasificacin de las Tcnicas y Mtodos de caracterizacin y anlisis

3.1.- Tcnicas Clsicas


a) Separacin.- Destilacin, precipitacin, extraccin.
b) Reacciones qumicas productos con caractersticas fcilmente observables
o medibles
c) Anlisis cualitativo.- color, olor, pto. Fusin, etc. Identificacin
d) Anlisis cuantitativo.- Gravimetras, volumetras. Cantidad de

3.2.- Tcnicas instrumentales


Se basan en la medida de una propiedad fsica de la sustancia a analizar
a) Separacin.- Cromatografa
b) Tipos de Tcnicas instrumentales

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin


Perturbacin

Tcnica

Respuesta

Espectrometra de masas de iones secundarios (Secondary Ion Mass Spectroscopy,


SIMS) Iones, Iones
Espectrometra de iones retrodispersados (Rutherford Backscattering Spectrometry,
RBS). Iones, Iones
Emisin de Rayos X inducida por protones (Proton-Induced X-Ray Emisin, PIXE). Iones,
Fotones
Espectrometra de Electrones Auger (Auger Electrn Spectrometry, AES). Electrones,
Electrones
Microscopa Electrnica Analtica (Analytical Electrn Microscopy, AEM). Electrones,
Electrones
Microscopa Electrnica de Barrido (Scanning Electrn Microscopy, SEM). Electrones,
Electrones
Microanlisis de Rayos X (Electrn Probe Microanalyzer, EPM). Electrones, Fotones
Difraccin de electrones de baja energa (Low-Energy Electrn Diffraction, LEED).
Electrones, Fotones
Espectrometra fotoelectrnica de rayos X (X-Ray Photoelectron Spectrometry, XPS y
ESCA). Fotones, Electrones
Difraccin de rayos X (X-Ray Diffraction, XRD). Fotones, Fotones

Perturbacin
Iones
Fotones
Electrones

Respuesta
Iones
Fotones
Electrones

Fluorescencia de Rayos X (X-Ray Fluorescence, XRF). Fotones, Fotones


Espectroscopia Infrarroja (Infrarred Spectrometry, IR). Fotones, Fotones
Microscopa ptica (Optical Microscopy, OM). Fotones, Fotones
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

Seales analticas y tcnicas instrumentales asociadas


Seal

Tcnicas Instrumentales

Emisin de radiacin

Espectroscopa de emisin (rayos X, UV, visible, de


electrones), fluorescencia, fosoforescencia (rayos X, UV,
visible e IR)

Absorcin de radiacin

Espectrofotometra y fotometra (rayos X, UV, visible, IR);


espectroscopa fotoacstica; resonancia magntica nuclear y
resonancia de espn electrnico

Dispersin de radiacin

Turbidimetra, espectroscopa Raman

Refraccin de radiacin

Refractometra, interferometra

Difraccin de radiacin

Rayos X, electrones, neutrones

Potencial elctrico

Potenciometra

Corriente elctrica

Polarografa, amperometra

Resistencia elctrica

Conductimetra

Relacin masa a carga

Espectrometra de masas

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

4.- Instrumentos (equipos) para la caracterizacin y anlisis


Convierten una seal analtica a un formato entendible por el ser humano.

4.1.- Componentes de un instrumento de anlisis


a) Generadores de seal
- La seal procede de la muestra (ej. espectroscopa de emisin atmica)
- La seal no procede de la muestra (ej. espectroscopa de absorcin atmica)
b) Transductores de entrada (Termopar, fotoclula, brazo balanza, etc.)
c) Procesadores de seal (amplificador, filtros, atenuadores, integradores,
rectificadores)
d) Dispositivo de lectura (medidor de escala, registro, microprocesadores)

Seal analtica

Transductor de
entrada o
detector

Seal de entrada
mecnica o elctrica

Procesador
de seales
Registrador
Display digital

0.213

Transductores de salida

Medidor de escala

Generador
de seal

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

4.1.- Componentes de un instrumento de anlisis

Instrumento

Generador
de seal

Seal
analtica

Transductor
de entrada

Seal
transducida

Procesador de
seal

Lectura

Fotmetro

Lmpara de
wolframio,
filtro de vidrio,
muestra

Haz de luz
atenuado

Fotoclula

Corriente
elctrica

Ninguno

Medidor de
corriente

Espectrmetro de
emisin atmica

Llama,
monocromador,
muestra

Radiacin
UV-VIS

Tubo
fotomultiplicador

Potencial
elctrico

Amplificador,
desmodulador

Registrador sobre
papel.
Computador

Difractmetro de
rayos X

Tubo de rayos
X, muestra

Radiacin
difractada

Pelcula
fotogrfica,
contador de fotones
de rayos X

Imagen latente.
Potencial
elctrico

Revelador qumico.
Amplificador,
desmodulador

Imgenes
ennegrecidas en
una pelcula.
Computador

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

5.- Evaluacin de un mtodo instrumental


a)
b)
c)
d)

Conocer en qu se basa la tcnica y en qu consiste el mtodo (teora general)


Ventajas y limitaciones del mtodo (tipo de muestra a utilizar, precisin , etc.)
Instrumentacin ilustrativa y aspectos bsicos del mtodo (dificultad, costo, etc.)
Aplicaciones (ejemplos de utilizacin)

5.1.- Seleccin de una Tcnica y/o mtodo instrumental


a) Definicin del problema

Qu exactitud y precisin se necesitan? (Perfilmetro, AFM)

De cunta muestra se dispone? (DSC, DMTA)

Cul es el intervalo de deteccin que se precisa? (Balanzas)

Qu componentes de la muestra interferirn? (FT-MIR, FT-NIR)

Cuntas muestras deben analizarse?

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):


Criterio cuantitativo

Parmetro de calidad

1. Precisin

Desviacin
estndar
absoluta,
desviacin
estndar
relativa,
coeficiente de variacin, varianza

2. Exactitud

Error absoluto sistemtico,


relativo sistemtico

3. Sensibilidad

Sensibilidad
de
sensibilidad analtica

4. Lmite de deteccin

Blanco ms tres veces la desviacin


estndar del blanco

5. Intervalo de concentracin

Concentracin entre el lmite de


cuantificacin (LOQ) y el lmite de
linealidad (LOL)

6. Selectividad

Coeficiente de selectividad

error

calibracin,

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cualitativos:
- Velocidad
- Facilidad y comodidad
- Habilidad del operador
- Coste y disponibilidad del equipo
- Coste por muestra

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):


Trminos

Definicin*

Desviacin estndar absoluta, s

(x

s=

i) Precisin
Grado de cuidado
con que se realiza
una medida

Desviacin estndar relativa (RSD)

Desviacin estndar de la media, sm


Coeficiente de variacin, CV

Error aleatorio
Varianza

i =1

x)2

N 1

RSD =

sm =
CV =

s
x

s
N

s
100%
x

s2

*x
i

= valor numrico de la isima medida

x = media de N medidas =

x
i =1

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

ii) Exactitud
Aproximacin al valor verdadero (error sistemtico o determinado)
Blancos y calibracin (eliminacin de error)
Exactitud = - xt

iii) Sensibilidad
Capacidad de discriminar entre pequeas diferencias en el valor de un parmetro de anlisis.
Factores de los que depende:
-Pendiente de la curva de calibracin
-Precisin
IUPAC(International Union of Pure Applied Chemists)
Sensibilidad Pendiente en curva de calibracin
S = Sbl + mC
(S=seal, Sbl=blanco, m=pendiente y C=concentracin)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

iv) Lmite de deteccin


Menor valor detectable para un nivel de confianza dado
Seal mnima detectable = Sm =< Sbl> + k
bl

Lmite de deteccin =

S m < Sbl >


cm =
m

v) Relacin Seal Ruido


S/N = Amplitud media de la seal/Amplitud media del ruido
Mejora de S/N dispositivos electrnicos (filtros, amplificadores, etc.) o algoritmos
programados (promediado de conjunto, promediado por grupos, transformadas de Fourier,
etc.)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad

Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

vi) Intervalo de medida aplicable


Lmite de cuantificacin, LOQ Lmite de linealidad
Mtodo aplicable intervalo 102

vii) Selectividad
Grado con que se evitan interferencias de especies sin inters analtico

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.- Evaluacin de resultados. Errores


Los datos de fiabilidad desconocida son, en el mejor de los casos, intiles y
en el peor, pueden conducir a una respuesta incorrecta.
6.1.- Tipos de errores
a) Aleatorios (indeterminados)

Distribucin gaussiana de valores


Errores instrumentales

b) Sistemtico (determinado o de procedimiento)

Errores de mtodo
Errores personales

c) Errores grandes
6.2.- Expresin del error
a) Error absoluto Ea = - x
b) Error relativo Er = Ea/

6.3.- Precisin y Exactitud


6.4.- Precisin y cifras significativas

Preciso y exacto

Preciso y no exacto
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales


 Desviacin estndar
-Desviacin estndar muestral, s

s=

(x
i =1

x) 2

N 1

-Desviacin estndar poblacional,

 Desviacin estndar relativa

(x
i =1

x) 2

s
RSD =
x

s
CV = 100
x

 Varianza, s2 2

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales


Lmites de confianza
a) La prueba Q

Qexp =

xq xn

d
=
w x h xl

b) La prueba T

Tn

(
x
=

xn

N de
medidas

Rechazo con 90% de


confianza

Rechazo con 95%


de confianza

Rechazo con 99%


de confianza

0.941

0.970

0.994

0.765

0.829

0.926

0.642

0.710

0.821

0.560

0.625

0.740

0.507

0.568

0.680

0.468

0.526

0.634

0.437

0.493

0.598

10

0.412

0.466

0.568

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales


Lmites de confianza
Los lmites de confianza definen un intervalo de valores a cada lado de la media
calculada que describe la probabilidad de encontrar all la media verdadera.

CL = x

t s
N

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.6.- Sistemas de control y aseguramiento de calidad


Control de calidad
Regulacin de la calidad y el mecanismo con el que se alcanza
Sistema de aseguramiento de la calidad
Conjunto de procedimientos vigentes para asegurar que se lleven a cabo las
actividades del control de calidad. Acreditaciones.
Materiales de referencia certificados (patrones)
6.7.- Grficos de control de calidad

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

7.- Bibliografa
a)

D.A. Skoog, J.J. Leary, Anlisis Instrumental, McGraw-Hill, Madrid


(1996).

b)

Samus P.J. Higson. Qumica analtica. McGraw-Hill, Madrid (2004).

a)

H.H. Willard, L.L. Merritt Jr.,J.A. Dean, F.A. Settle Jr., Mtodos
Instrumentales de anlisis, Grupo Editorial Iberoamericana S.A. de
C.V., Mxico (1991).

b)

Concise Enciclopedia of Materials Characterization. Editors: R.W. Cahn


FRS & E. Lifshin. Pergamon Pres (1993).

c)

Teora de errores: http://vppx134.vp.ehu.es/fisica/agustin/errores/error_p.html

Fco. Javier Gonzlez Benito

También podría gustarte