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Nivel Sigma
Nivel Sigma
DEFINICIONES BSICAS
Unidad (U): Es un artculo producido o
procesado disponible para evaluacin contra
un criterio o estndar predeterminado, .
Defecto (D): Cualquier evento que no
cumpla la especificacin de un CTQ o
cuando una caracterstica no cumple con el
estndar.
Falla: resulta cuando una caracterstica no
tiene el desempeo estndar.
Error: resulta cuando una accin no cumple
con el estndar.
Defectuoso: Una unidad que tiene uno o
ms defectos.
DEFINICIONES BSICAS
Oportunidad de defectos (O): Cualquier caracterstica que
pueda medirse y de una oportunidad de no satisfacer un
requisito del cliente.
Las necesidades vitales del cliente se traducen en
Caractersticas Crticas para la Satisfaccin (CTS),
Estas a su vez se traducen a Caractersticas
Crticas para la Calidad, Entrega y Costo (CTQs,
CTDs y CTCs) las cuales tienen impacto en las
CTSs.
Las Caractersticas Crticas para el Proceso (CTPs),
tienen impacto en las CTQs, CTDs o CTCs y son
Oportunidades para control
DEFINICIONES BSICAS
Defectos por unidad (DPU): Es la cantidad de defectos en
un producto.
Defectos por oportunidad (DPO):
DEFINICIONES BSICAS
Rendimiento estndar o de primera pasada YFT: Es el porcentaje de
producto sin defectos antes de realizar una revisin del trabajo
efectuado.
EJEMPLO
EJEMPLO
Un proceso de manufactura de mesas para
telfono tiene cuatro subprocesos: fabricacin de
patas, bastidor, cubierta y pintura. Se toman los
datos de 1510 mesas fabricadas y se observa la
siguiente informacin. Calcule el Sigma del
proceso.
Subproceso
Defectos
Oportunidades/
Patas
212
Unidad
17
Bastidor
545
Cubierta
71
Pintura
54
Totales:
882
32
EJEMPLO 1
Nmero de unidades procesadas = 1510
Nmero total de defectos
882
EJEMPLO 2
Determinar la capacidad en Sigmas del
proceso con los datos siguientes:
Producto
Unidades
10000
Defectos
435
Media
21.2
Desviacin estndar
3.7
Lmites de
LIE=12
especificacin
LSE=30